SU1379625A1

SU1379625A1 - Устройство дл контрол качества поверхности

Info

Publication number: SU1379625A1
Application number: SU864080911A
Authority: SU
Inventors: Александр Александрович Шарц; Михаил Геннадиевич Круглов; Анатолий Павлович Ефимочкин
Original assignee: Московский станкоинструментальный институт
Priority date: 1986-07-04
Filing date: 1986-07-04
Publication date: 1988-03-07

Abstract

Изобретение относитс к конт- рольногизмерительной технике и может быть использовано дл контрол качества поверхности. Целью изобретени вл етс увеличение точности и информативности измерений за счет сужени диаграммы направленности оптического сигнала, отраженного от контролируемой поверхности под углом предельного зеркального отражени , и введени многоканальной системы измерени . Устройство работает следующим образом. Лазер 1 в системе двух зеркал - полупрозрачного 2 и отражени 3 подает на исследуемую поверхность 15 два параллельных когерентных луча под углом предельного зеркального отражени ( , определ емым по формуле h A/2 cosv, где h - величина неровностей; л- длина волны источника излучени ; i/- угол предельного зеркального отражени . Отраженные от поверхности 15 лучи проход т через пол ризационный анализатор 4, сужающий их диаграммы направленности, на входы фотоприемников 5. При отсутствии неоднороднос- тей на исследуемой поверхности сигналы с выходов фотоприемников максимальны . В случае наличи на поверхности волнистости, неровности типа выпуклости или прогиба хот бы один из выходных сигналов становитс в процессе сканировани минимальным. Это регистрируетс блоком 6 контрол , сигнал с выхода которого поступает на блок 13 останова сканировани . Аналогичным образом строитс устройство с числом каналов больше двух. 2 ил. (Л со со О) го ел У//////////

Description

Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике н может 6Ь1ТЬ использовано дл контрол качества поверхности,

Целью изобретени вл етс увеличение точности и информативности измерений за счет сужени диаграммы направленности оптического сигнала, отраженного от контролируемой по- верхности под углом предельного зеркального отражени , и введени многоканальной системы измерени .

На фиг.1 представлена функциональна схема двухканального устройства; на фиг.2 - структурна схема блока контрол .

Устройство содержит лазер 1, полупрозрачное зеркало 2, отражающее зеркало 3, пол ризационный анализатор 4 фотоприемники 5, блок 6 контрол , усилители 7, формирователи 8, ключи 9, индикаторы 10, схему ИЛИ 11, усилитель 12 мощности, блок 13 останова и блок 14 сканировани ,

Устройство работает следующим образом .

Лазер 1 в системе двух зеркал - полупрозрачного 2 и отражающего 3 подает на исследуемую поверхность 15 два параллельных когерентных луча под углом предельного зеркального отражени ц, который определ етс , Например, из формулы

2ТГ-со5Ц

где h - величина неровностей;

д - длина волны источника излучени ; Ч - угол предельного зеркального

отражени .

Отраженные от поверхности 15 лучи проход т через пол ризационный анализатор 4, сужающий их диаграммы нап- равленности. При отсутствии неоднород ностей сигналы с выходов фотоприемников 5 максимальны. Производитс сканирование исследуемой поверхности лазерными лучами. Сканирование может быть различных видов (продольное, поперечное, ступенчатое и т.д.), В случае наличи на поверхности волнистости , неровности типа выпуклости или прогиба один из выходных сиг-

0 5

0

5

0

0 5

налов становитс минимальным. Сигналы с фотоприемников 5 усиливаютс усилител ми 7, преобразуютс в импульсные формировател ми 8 и подаютс на ключи 9, которые управл ют индикаторами 10. Включение того или иного индика- JTopa дает информацию о том, какой луч зафиксировал по вление неровности. Кроме того, с выходов ключей 9 сигналы поступают на схему ИЛИ 11. Сигнал через последнюю поступает на усилитель 12 мощности, который управл ет блоком 13 останова сканировани .

Схема может работать и с движущейс исследуемой поверхностью. При этом частота сканировани должна быть выбрана исход из заданной скорости движени дл исключени пропуска неисследованных участков, а вместо блока останова используетс маркер.

Применение изобретени позвол ет повысить точность измерени неровностей в 2-3 раза. Принцип построени устройства позвол ет наращивать его канальность, что увеличивает информативность измерений.

Claims

Формула изобретени

Устройство дл контрол качества поверхности, содержащее лазер, блок сканировани , фотоприемник, о т л и- ч ающеес тем, что, с целью увеличени точности и информативности , оно снабжено расположенным по ходу падающего луча светоделителем на п параллельных лучей, где п 2, п-канальным блоком контрол , расположенными по ходу отраженных лучей пол ризационным анализатором и п-канальным фотоприемником, выходы которого соединены с входами п-канально- го блока контрол , каждый из каналов которого состоит из последовательно соединенных усилител , формировател , ключа и индикатора, усилителем мощности и блоком останова сканировани , схемой ИЛИ, входы которой соединены с выходами ключей, а вьтход через усилитель мощности - с входом блока останова сканировани , причем лазер установлен с возможностью поворота линии излучени на угол предельного зеркального отражени .

Фиг 2

Ьлон

останова