JPS6348403A - 変位検出装置 - Google Patents
変位検出装置Info
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- JPS6348403A JPS6348403A JP19333386A JP19333386A JPS6348403A JP S6348403 A JPS6348403 A JP S6348403A JP 19333386 A JP19333386 A JP 19333386A JP 19333386 A JP19333386 A JP 19333386A JP S6348403 A JPS6348403 A JP S6348403A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、振動物体の変位を非接触で検出するもので、
特に、光学的記録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特
性全測定する装置に関するものである。
特に、光学的記録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特
性全測定する装置に関するものである。
従来の技術
振動物体の変位を非接触で測定する方法としては、+1
用いたもの、導体間のギャップを静電容量として検出す
るもの、うず電流で検出するもの等がある。一般的に光
学的記録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特性の測定
にはホトニックセンサがよく利用されている。また、レ
ーザビームの一部を対物レンズの一部で遮り、通過光の
光量変化全検出する方法や、レーザ・ドツプラー振動計
を用いた方法等もある。ホトニックセンナは投光及び受
光ファイバからなり、被測定振動物体に投光ファイバか
ら光音照射し、被測定振動物体との間隔の変化により、
受光ファイバから得られる光量が変化することを利用し
て駆動物体の変位を検出するものである。
用いたもの、導体間のギャップを静電容量として検出す
るもの、うず電流で検出するもの等がある。一般的に光
学的記録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特性の測定
にはホトニックセンサがよく利用されている。また、レ
ーザビームの一部を対物レンズの一部で遮り、通過光の
光量変化全検出する方法や、レーザ・ドツプラー振動計
を用いた方法等もある。ホトニックセンナは投光及び受
光ファイバからなり、被測定振動物体に投光ファイバか
ら光音照射し、被測定振動物体との間隔の変化により、
受光ファイバから得られる光量が変化することを利用し
て駆動物体の変位を検出するものである。
光学的記録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特性の測
定は、第6図に示すようにホトニックセンサ29のプロ
ーブ30を駆動部分31に間隔をあけて設定し、駆動部
分31の動きを検出する。
定は、第6図に示すようにホトニックセンサ29のプロ
ーブ30を駆動部分31に間隔をあけて設定し、駆動部
分31の動きを検出する。
検出された信号はサーボアナライザ28により解析され
、駆動部分31の動特性、即ち、周波数振幅特性及び位
相特性が求められる。レーザビームの一部を振動物体で
遮り、通過光の光量変化で振動物体の変位全検出する方
法を第6図に示す。
、駆動部分31の動特性、即ち、周波数振幅特性及び位
相特性が求められる。レーザビームの一部を振動物体で
遮り、通過光の光量変化で振動物体の変位全検出する方
法を第6図に示す。
He −Neレーザ光源32から出射されたHe −N
o レーザビーム33中心に光学的記録再生装置の対
物レンズ部分36がくるように設定し、2分割フォトデ
ィテクタ34に等しく通過光が入射するように2分割フ
ォトディテクタ34の位置を調整する。サーボアナライ
ザ39から所望の周波数、及び振幅の正弦波駆動信号を
対物レンズ36を駆動せしめる駆動コイル37に印加す
る。対物レンズ36は印加された信号に応じて駆動する
ため、通過光の光量が変化し、2分割フォトディテクタ
34に入射する光量も変化する。差動増幅器36で各々
の光量の差、即ち変位を検出する。
o レーザビーム33中心に光学的記録再生装置の対
物レンズ部分36がくるように設定し、2分割フォトデ
ィテクタ34に等しく通過光が入射するように2分割フ
ォトディテクタ34の位置を調整する。サーボアナライ
ザ39から所望の周波数、及び振幅の正弦波駆動信号を
対物レンズ36を駆動せしめる駆動コイル37に印加す
る。対物レンズ36は印加された信号に応じて駆動する
ため、通過光の光量が変化し、2分割フォトディテクタ
34に入射する光量も変化する。差動増幅器36で各々
の光量の差、即ち変位を検出する。
第7図は変位に対する差動増幅器35の差動出力を示し
たものである。第7図に示すように変位に対する差動出
力がリニアである領域、即ち、直線五−Bに一致してい
る部分では、5p−pの変位はTp−pの差動出力とし
て得られる。このようにして得られた変位信号と駆動コ
イル37に流れる電流をモニタする駆動電流検出抵抗3
8の両端の電圧信号によりサーボアナライザ39で、被
測定物の振幅特性、及び位相特性が求められる。
たものである。第7図に示すように変位に対する差動出
力がリニアである領域、即ち、直線五−Bに一致してい
る部分では、5p−pの変位はTp−pの差動出力とし
て得られる。このようにして得られた変位信号と駆動コ
イル37に流れる電流をモニタする駆動電流検出抵抗3
8の両端の電圧信号によりサーボアナライザ39で、被
測定物の振幅特性、及び位相特性が求められる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記に示す測定方法には、次に示すよう
な問題点がある。
な問題点がある。
ホトニックセンサを用いる方法についてまず説明する。
第8図はホトニックセンサの投光・受光ファイバと反射
面(被測定面)との距離と出力信号との関係を示したも
のである。第8図からも明らかなように、ホトニックセ
ンサを用いる方法は、検出感度のリニアリティーが悪い
という問題点がある。図中に示すように、Sl及びSl
の区間のみしかリニアリティーの良い変位検出はできな
い。
面(被測定面)との距離と出力信号との関係を示したも
のである。第8図からも明らかなように、ホトニックセ
ンサを用いる方法は、検出感度のリニアリティーが悪い
という問題点がある。図中に示すように、Sl及びSl
の区間のみしかリニアリティーの良い変位検出はできな
い。
又、Slと82では検出感度が異なっているといった問
題点もある。さらに、反射面の形状や反射率により検出
感度がかわるといった問題点もある。
題点もある。さらに、反射面の形状や反射率により検出
感度がかわるといった問題点もある。
このようなことから、ホトニックセンサを用いる方法で
は精度の高い安定な測定はできない。
は精度の高い安定な測定はできない。
一方、レーザビームを遮断する方法では、検出可能範囲
が狭く、又、検出感度のリニアリティーが悪いといった
問題点がある。これは、光源として用いているHe−N
eレーザ光のパー−分布が一様でないため、又、ビーム
径が0.8mm程度しかないためである。例えば、エキ
スパンディングプリズム等を用いて検出方向にビームを
拡大すれば、拡大部分だけ検出可能範囲は広がる。しか
しながら、レーザビームのパワー分布を補正することは
できないのでリニアリティーの改善はのぞめない。
が狭く、又、検出感度のリニアリティーが悪いといった
問題点がある。これは、光源として用いているHe−N
eレーザ光のパー−分布が一様でないため、又、ビーム
径が0.8mm程度しかないためである。例えば、エキ
スパンディングプリズム等を用いて検出方向にビームを
拡大すれば、拡大部分だけ検出可能範囲は広がる。しか
しながら、レーザビームのパワー分布を補正することは
できないのでリニアリティーの改善はのぞめない。
このように、従来の方法では、検出可能範囲が狭く、又
、リニアリティーが悪く、精度の高い変位測定はできな
いといった問題点があった。
、リニアリティーが悪く、精度の高い変位測定はできな
いといった問題点があった。
さて、第9図(Δ)K示すように可動部分27が本来y
方向のみに可動する可動物体が、第9図(b)に示すよ
うにy方向のみならず、X方向にも可動する場合、従来
の方法では、同時に2方向の変位を測定することはでき
なかったので、正確な変位測定はできなかった。例えば
、光学的記録再生装置における対物レンズ駆動装置では
、第9図(b)に示すようなことが十分考えられる。即
ち、y方向はトラッキング駆動方向、X方向はディスク
のトラック方向に対応される。
方向のみに可動する可動物体が、第9図(b)に示すよ
うにy方向のみならず、X方向にも可動する場合、従来
の方法では、同時に2方向の変位を測定することはでき
なかったので、正確な変位測定はできなかった。例えば
、光学的記録再生装置における対物レンズ駆動装置では
、第9図(b)に示すようなことが十分考えられる。即
ち、y方向はトラッキング駆動方向、X方向はディスク
のトラック方向に対応される。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明の変位検出装置は
、2本のレーザビームにより形成される平面内で各々の
レーザビームを走査し、被測定物の可動部に2方向から
照射するとともに、可動部で遮られなかった各々のビー
ムの通過光を各々光検出器で受光するように構成されて
いる。
、2本のレーザビームにより形成される平面内で各々の
レーザビームを走査し、被測定物の可動部に2方向から
照射するとともに、可動部で遮られなかった各々のビー
ムの通過光を各々光検出器で受光するように構成されて
いる。
作用
本発明は上記に示した構成により、受光した信号から可
動部の2本のレーザビームの走査方向の変位量を測定し
、従来の変位検出装置にくらべ、2方向の変位を同時に
測定でき、かつ、検出可能範囲の拡大及び精度の向上が
図れる。
動部の2本のレーザビームの走査方向の変位量を測定し
、従来の変位検出装置にくらべ、2方向の変位を同時に
測定でき、かつ、検出可能範囲の拡大及び精度の向上が
図れる。
実施例
以下本発明の一実施例の変位検出装置について図面全参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
第1図は本発明の原理を示す図である。第1図において
、レーザ光源1.2から同一平面内でレーザビームを可
動部9に対して走査する。走査レーザビーム3及び4は
可動部9により一部遮られる。遮られず、通過したビー
ムは光検出器6及び7で受光される。可動部9の動きに
応じて、光検出器6及び7で受光する各々の通過ビーム
の受光時間が変化するので、その検出信号6及び8の時
間的変化から可動部9の変位が検出できる。
、レーザ光源1.2から同一平面内でレーザビームを可
動部9に対して走査する。走査レーザビーム3及び4は
可動部9により一部遮られる。遮られず、通過したビー
ムは光検出器6及び7で受光される。可動部9の動きに
応じて、光検出器6及び7で受光する各々の通過ビーム
の受光時間が変化するので、その検出信号6及び8の時
間的変化から可動部9の変位が検出できる。
第2図は、一つのレーザビーム走査光源から、ビームを
2本に分離して変位検出に用いる構りl示す図である。
2本に分離して変位検出に用いる構りl示す図である。
第2図において、レーザビーム走査用のレーザ光源10
から走査されたレーザビームは、ビームスプリッタ11
により、2つのレーザビーム12、及び13に分離され
る。各々のビーム12及び13は反射ミラー14及び1
5によυ光路を曲げ、可動部9に直交方向に照射するよ
うに構成されている。可動部9の変位検出方法は第1図
と同様である。
から走査されたレーザビームは、ビームスプリッタ11
により、2つのレーザビーム12、及び13に分離され
る。各々のビーム12及び13は反射ミラー14及び1
5によυ光路を曲げ、可動部9に直交方向に照射するよ
うに構成されている。可動部9の変位検出方法は第1図
と同様である。
第3図は第2図全基本とした具体的な構成例を示す図で
ある。第2図にくらべ、走査用のレーザ光源10とビー
ムスプリッタ11の間にコリメートレンズ16を挿入し
、可動部9に走査ビームが平行光として照射するように
なっている。コリメートレンズ16の焦点位置にレーザ
光源10を配置すればコリメートレンズ16がら出射さ
れるビームは平行ビームとなる。可動部9により遮られ
なかったビームを第1図、第2図と同様に光検出器5及
び7で検出する。
ある。第2図にくらべ、走査用のレーザ光源10とビー
ムスプリッタ11の間にコリメートレンズ16を挿入し
、可動部9に走査ビームが平行光として照射するように
なっている。コリメートレンズ16の焦点位置にレーザ
光源10を配置すればコリメートレンズ16がら出射さ
れるビームは平行ビームとなる。可動部9により遮られ
なかったビームを第1図、第2図と同様に光検出器5及
び7で検出する。
光検出器6及び7から得られた信号6及び8がら可動部
9の変位を検出する方法を第3図及び第4図を用いて説
明する。レーザビームをθの角度だけ走査するためのビ
ーム掃引信号23は、0点から@点までを鋸歯状波的に
変化する。光検出器5で受光される信号は、可動部9に
より一部遮られるので、−周期のうち、0点がら0点ま
での区間のみである。光検出器5がら得られる検出信号
6を2値化すると、ビーム掃引信号23に対してパルス
幅に変換された信号24が得られる。光検出器5に入射
するビームの走査方向に可動部9が移動すると、0点か
ら0点までの区間が変化し、光検出器の受光時間も変化
する。即ち、2値化された検出信号において、パルス幅
が変化したことになり、このパルス幅変化が可動部の変
位に相当する。言い換えれば、変位がPWM信号として
得られるわけである。このPWM信号を一般的なアナロ
グの信号に置換するには、いろいろな方法が考えられる
が、ここでは、サンプル・ホールド罠よる方法全説明す
る。
9の変位を検出する方法を第3図及び第4図を用いて説
明する。レーザビームをθの角度だけ走査するためのビ
ーム掃引信号23は、0点から@点までを鋸歯状波的に
変化する。光検出器5で受光される信号は、可動部9に
より一部遮られるので、−周期のうち、0点がら0点ま
での区間のみである。光検出器5がら得られる検出信号
6を2値化すると、ビーム掃引信号23に対してパルス
幅に変換された信号24が得られる。光検出器5に入射
するビームの走査方向に可動部9が移動すると、0点か
ら0点までの区間が変化し、光検出器の受光時間も変化
する。即ち、2値化された検出信号において、パルス幅
が変化したことになり、このパルス幅変化が可動部の変
位に相当する。言い換えれば、変位がPWM信号として
得られるわけである。このPWM信号を一般的なアナロ
グの信号に置換するには、いろいろな方法が考えられる
が、ここでは、サンプル・ホールド罠よる方法全説明す
る。
第4図において、2値化された検出信号の立上り信号で
サンプリング信号25を生成し、ビーム掃引信号23i
サンプルホールド信号26に示すようにサンプルホール
ドする。このサンプルホールド信号26を低域フィルタ
ー通せば、アナログに変換された変位信号が得られる。
サンプリング信号25を生成し、ビーム掃引信号23i
サンプルホールド信号26に示すようにサンプルホール
ドする。このサンプルホールド信号26を低域フィルタ
ー通せば、アナログに変換された変位信号が得られる。
このように本実施例では、従来の検出方法とは異なり、
変位’iiPWM信号として得るところに大きな特徴が
ある。
変位’iiPWM信号として得るところに大きな特徴が
ある。
光検出器6及び7で得られた信号8及び9から前記に示
すような方法により変位信号が得られる。
すような方法により変位信号が得られる。
処理回路19及び20を介して従来のアナログ信号に変
換された各々の信号S/ 、 9/は、多チヤンネルサ
ーボアナライザ22に入力され2方向の動特性が同時に
測定評価される。一方、この各々の信号8′、9′テ、
オシロスコープ21 (DI−Y−TI−一ドを利用す
れば可動部の2次元的な動きが実時間で観測できる。こ
のように本実施例による構成では、可動部9の2次元的
な動きがオシロスコープでモニタでき、さらに多チヤン
ネルサーボアナライザを用いれば同時に2方向の動特性
が測定できる。尚、可動部9と光検出器6及び7の間に
凸レンズを挿入すれば、図中に示すような受光面積の広
い光検出器を用いなくても良くなる。
換された各々の信号S/ 、 9/は、多チヤンネルサ
ーボアナライザ22に入力され2方向の動特性が同時に
測定評価される。一方、この各々の信号8′、9′テ、
オシロスコープ21 (DI−Y−TI−一ドを利用す
れば可動部の2次元的な動きが実時間で観測できる。こ
のように本実施例による構成では、可動部9の2次元的
な動きがオシロスコープでモニタでき、さらに多チヤン
ネルサーボアナライザを用いれば同時に2方向の動特性
が測定できる。尚、可動部9と光検出器6及び7の間に
凸レンズを挿入すれば、図中に示すような受光面積の広
い光検出器を用いなくても良くなる。
さて、レーザビームの走査方法には、ポリゴンミラー(
回転多面鏡)や、ガルバノミラ−による方法があるが、
いずれも応答性の点から高い周波数での応答性は期待で
きないため、高い周波数の変位検出はできない。高い周
波数の特性を測定するための走査源としては、音響光学
光偏向器が考えられる。音響光学光偏向器は超音波によ
る光の回折現象である音響光学効果を利用したものであ
り、数百KHz程度の応答性がある。従って、光学的記
録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特性全測定するに
は十分である。
回転多面鏡)や、ガルバノミラ−による方法があるが、
いずれも応答性の点から高い周波数での応答性は期待で
きないため、高い周波数の変位検出はできない。高い周
波数の特性を測定するための走査源としては、音響光学
光偏向器が考えられる。音響光学光偏向器は超音波によ
る光の回折現象である音響光学効果を利用したものであ
り、数百KHz程度の応答性がある。従って、光学的記
録再生装置の対物レンズ駆動部分の動特性全測定するに
は十分である。
尚、本実施例は、光学的記録再生装置の対物レンズ駆動
部分の2方向の動特性評価のためのものだが、これにこ
だわることなく、2方向に可動する可動体ならいずれの
場合にも利用できる。
部分の2方向の動特性評価のためのものだが、これにこ
だわることなく、2方向に可動する可動体ならいずれの
場合にも利用できる。
尚、本実施例による方法では、従来の方法にくらべ、変
位検出信号’iii7PWM信号で得ており、光ビーム
の分布が一様でなくとも比較的精度良く変位検出できる
という利点がある。さらに走査幅も任惹に設定できるこ
とから、従来問題となった検出可能範囲の狭さも解消で
きる。
位検出信号’iii7PWM信号で得ており、光ビーム
の分布が一様でなくとも比較的精度良く変位検出できる
という利点がある。さらに走査幅も任惹に設定できるこ
とから、従来問題となった検出可能範囲の狭さも解消で
きる。
発明の効果
以上のように本発明は、可動部の2方向の変位が同時に
測定でき、多チヤンネルサーボアナライザを用いれば2
方向の動特性が同時に計測可能である。さらにオシロス
コープのX−Yモードを利用すれば、2方向の動きが実
時間で観測できるという効果もある。又、従来の方法に
くらべ精度の向上が図れ、さらに検出可能範囲の拡大も
図れるものである。
測定でき、多チヤンネルサーボアナライザを用いれば2
方向の動特性が同時に計測可能である。さらにオシロス
コープのX−Yモードを利用すれば、2方向の動きが実
時間で観測できるという効果もある。又、従来の方法に
くらべ精度の向上が図れ、さらに検出可能範囲の拡大も
図れるものである。
第1図は本発明の原理全示す各構成部分の配置図、第2
図は本発明の原理を変形して構成した各部の配置図、第
3図は本発明の具体的な構riX、’に示す配置図、第
4図は本発明による変位検出の信号処理方法を示す波形
図、第6図は従来のホトニックセンナ全量いた方法を示
すブロック図、第6図は従来のレーザビームの遮断によ
る方法を示すブロック図、第7図は第6図における変位
に対する出力2示す特性図、第8図はホトニックセンサ
の変位に対する出力を示す特性図、第9図は2方向に可
動する可動部を示す状態図である。 1.2・・・・・・レーザ光源、3,4・・・・・・レ
ーザ走査ビーム、5,7・・・・・・光検出器、9・・
・・・・可動部、11・・・・・・ビームスプリッタ、
14.15・・・・・・反射ミラー、21・・・・・・
オシロスコープ、22・・・・・・多チヤンネルサーボ
アナライザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名転
0 第4図 り 第5図 30−・−ア0−7゜
図は本発明の原理を変形して構成した各部の配置図、第
3図は本発明の具体的な構riX、’に示す配置図、第
4図は本発明による変位検出の信号処理方法を示す波形
図、第6図は従来のホトニックセンナ全量いた方法を示
すブロック図、第6図は従来のレーザビームの遮断によ
る方法を示すブロック図、第7図は第6図における変位
に対する出力2示す特性図、第8図はホトニックセンサ
の変位に対する出力を示す特性図、第9図は2方向に可
動する可動部を示す状態図である。 1.2・・・・・・レーザ光源、3,4・・・・・・レ
ーザ走査ビーム、5,7・・・・・・光検出器、9・・
・・・・可動部、11・・・・・・ビームスプリッタ、
14.15・・・・・・反射ミラー、21・・・・・・
オシロスコープ、22・・・・・・多チヤンネルサーボ
アナライザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名転
0 第4図 り 第5図 30−・−ア0−7゜
Claims (6)
- (1)所望の周期で、所望幅間を走査して形成された第
1のレーザビームを所望の周波数で少なくとも一方向に
振動する可動体の可動部分に照射し、かつ、前記第1の
レーザビームの走査により形成された略同一平面上で、
所望の周期で、所望幅間を走査して形成された第2のレ
ーザビームを前記第1のレーザビームとは異なる位置か
ら照射し、前記可動部分により、前記2つのビームの一
走査期間中において遮断されずに通過した時間、若しく
は、遮断された時間を少なくとも2つの光検出器で検出
するように構成してなる変位検出装置。 - (2)第1及び第2のレーザビームは可動部分に対して
平行光として照射するように構成してなる特許請求の範
囲第(1)項記載の変位検出装置。 - (3)可動物体と光検出器との間に所望の焦点距離を有
する集光レンズが挿入された構成の特許請求の範囲第(
1)項記載の変位検出装置。 - (4)可動物体の可動部分は、光学的記録再生装置の対
物レンズ駆動装置の対物レンズ部分であり、前記2つの
レーザビームが走査される平面に対して、前記対物レン
ズのフォーカス駆動方向が垂直になるように位置固定さ
れている特許請求の範囲第(1)項記載の変位検出装置
。 - (5)レーザビームの走査源は音響光学光偏向器を用い
る特許請求の範囲第(1)項記載の変位検出装置。 - (6)一方向に走査されたレーザビームをビームスプリ
ッタを用いて、第1及び第2のレーザビームに分割し、
各々或いは一方の光路を反射ミラーで変え、前記可動部
分に対して異なる方向から照射するように構成してなる
特許請求の範囲第(1)項記載の変位検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19333386A JPS6348403A (ja) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | 変位検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19333386A JPS6348403A (ja) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | 変位検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6348403A true JPS6348403A (ja) | 1988-03-01 |
Family
ID=16306145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19333386A Pending JPS6348403A (ja) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | 変位検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6348403A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006184161A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Seiko Epson Corp | 計測装置、液滴吐出装置、および計測方法 |
JP2013256416A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Godo Shigen Sangyo Kk | ヨウ化リチウム無水物の製造方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57505A (en) * | 1980-05-31 | 1982-01-05 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring device for extent of eccentricity |
JPS5957106A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-04-02 | Chugoku Kikai Seisakusho:Kk | 検寸装置 |
JPS607005B2 (ja) * | 1981-04-24 | 1985-02-21 | 住友金属工業株式会社 | 低温用棒鋼の製造法 |
-
1986
- 1986-08-19 JP JP19333386A patent/JPS6348403A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57505A (en) * | 1980-05-31 | 1982-01-05 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring device for extent of eccentricity |
JPS607005B2 (ja) * | 1981-04-24 | 1985-02-21 | 住友金属工業株式会社 | 低温用棒鋼の製造法 |
JPS5957106A (ja) * | 1982-09-27 | 1984-04-02 | Chugoku Kikai Seisakusho:Kk | 検寸装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006184161A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | Seiko Epson Corp | 計測装置、液滴吐出装置、および計測方法 |
JP2013256416A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Godo Shigen Sangyo Kk | ヨウ化リチウム無水物の製造方法 |
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