SU1499119A1 - Устройство дл определени координаты светового п тна - Google Patents
Устройство дл определени координаты светового п тна Download PDFInfo
- Publication number
- SU1499119A1 SU1499119A1 SU874196042A SU4196042A SU1499119A1 SU 1499119 A1 SU1499119 A1 SU 1499119A1 SU 874196042 A SU874196042 A SU 874196042A SU 4196042 A SU4196042 A SU 4196042A SU 1499119 A1 SU1499119 A1 SU 1499119A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plate
- contacts
- light spot
- ohmic contacts
- center
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике. Цель изобретени - повышение технологичности изготовлени фотоприемника. Поток излучени формируетс источником 1 света, проходит линзу 2, прерыватель 3 и падает на пластину 4 цилиндрической формы, выполненную из однородного полупроводникового материала. Под воздействием потока излучени измен етс локальна проводимость пластины 4. К контактам 5,6 подключен источник напр жени , к контактам 7, 8 и 8, 9 - резисторы 11, 12 и усилители 13, 14. Усилители 13, 14 фиксируют разность потенциалов, возникающую на контактах 7, 8 и 8, 9 при перемещении светового п тна по координатам Х и У. 1 ил.
Description
- 1
4
tb со
со
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени перемещений различных объектов,
Цель изобретени - повышение технологичности изготовлени фотоприемника .
На фиг.1 представлена функциональна схема устройства; на фиг.2 - график зависимости выходных напр жений от величины перемещени светового п тна.
Устройство содержит оптически св занные источник 1 света, линзу 2, пре рьшатель 3, пластину 4 цилиндрической формы, выполненной из однородно- го полупроводникового материала с п тью омическими контактами 5-9, расположенными на одинаковых рассто ни х от центра пластины 4, контакты 5 и 6, расположены на линии, проход щей через центр пластины 4, контакты 7 и 8 расположены симметрично относительно контакта 5 на лини х, проход щих через центр пластины 4 под углом 45 относительно линии, на которой расположены контакты 7 и 8, контакт 9 расположен на лцнии, проход щей через контакт 7 и центр пластины 4, источник 10 напр жени (тока), подключенный к контактам 5 и 6, резисторы 11 и 12, подключенные к контактам 7,8 и 8,9, усилители 13 и 14, подключенные к контактам 7,8 и 8,9.
Устройство работает следующим образом .
Поток излучени , формируемьм источником 1 света, проходит линзу 2, прерьюатель 3 и падает на пластину 4
Источник 10 напр жени (тока), подключенный к контактам 5 и 6 пластины 4, формирует в полуороводниковом материале пластины 4 ток.
Под воздействием потока излучени падающего на пластину 4 в виде светового п тна, измен етс локальна
проводимость пластины 4, что приводит к изменению потенциалов между j контактами 7 и 8 при перемещении светового п тна по оси X и Y и между контактами 8 и 9 при перемещении светового п тна по этой оси.
Разность потенциалов на контак- тах 7,8 и 8,9 вьодел етс на резисторах 11 и 12 и усиливаетс усилител ми 1 3 и 1 4 .
Использование предлагаемого устройства повышает технологичность его изготовлени ,так как используетс пластина, выполненна из полупроводникового материалаi не имеющего р-п- перехода.
Claims (1)
- Формула изобретениУстройство дл определени координаты светового п тна, содержащее полупроводниковый фотоприемник, выполненный в виде пластины цилиндрической формы с четьфьм омическими контактами, расположенными на одинаковых рассто ни х от центра пластины , первый и второй омические контакты расположены на линии, проход щей через центр пластины, источник напр жени тока, резистор, подключенный к третьему и четвертому омическим контактам, отличающее с тем, что, с целью повьш1ени технологичности изготовлени фотоприемника , пластина выполнена из однородного полупроводникового материала , третий и четвертый омические контакты расположены симметрично относительно первого омического контакта на лини х, проход щих через центр пластины под углом 45, относительно оси, на которой расположены первый и второй омические контакты , к которым подключен источник напр жени или тока.1.0ka/уГх;0.10.10.3л;уфиг. I
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874196042A SU1499119A1 (ru) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | Устройство дл определени координаты светового п тна |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874196042A SU1499119A1 (ru) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | Устройство дл определени координаты светового п тна |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1499119A1 true SU1499119A1 (ru) | 1989-08-07 |
Family
ID=21286150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874196042A SU1499119A1 (ru) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | Устройство дл определени координаты светового п тна |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1499119A1 (ru) |
-
1987
- 1987-01-07 SU SU874196042A patent/SU1499119A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Якушенков Ю.Г. Основы оптико- электронного приборостроени . М. : Советское радио, 1977, с.145-147, рис.43. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4744661A (en) | Device for measuring small distances | |
US4717255A (en) | Device for measuring small distances | |
JPS5852514A (ja) | 光源−観測面間距離測定装置 | |
US3788741A (en) | Distance indicating optical probe | |
JPS5759107A (en) | Method and device for measuring plate thickness | |
JPS63313075A (ja) | 電位を光学的に測定するための機械式プローブ | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
US4340814A (en) | Electro-optical position transducer | |
SU1499119A1 (ru) | Устройство дл определени координаты светового п тна | |
US5269070A (en) | Instrument for measuring flatness or uniformity of curvature | |
JPS62212507A (ja) | レ−ザ干渉計で校正を不要とした触針式表面形状検出器 | |
US3632226A (en) | Method and apparatus for determining opacity of an object | |
JPS57179629A (en) | Apparatus for measuring focused spot diameter | |
US5497228A (en) | Laser bevel meter | |
JPS6120834A (ja) | レンズメ−タのp.d測定装置 | |
US3572947A (en) | Apparatus for measuring uniformity of sheet material by light transmission | |
JPS57211506A (en) | Non-contact type measuring device for shape of surface | |
SU641333A1 (ru) | Дифференциальный рефрактометр | |
JPH044167Y2 (ru) | ||
JPS60218006A (ja) | 微小すきま測定器 | |
SU1548669A1 (ru) | Оптический профилометр | |
JPS63133068A (ja) | 回路電圧検出装置 | |
SU449235A1 (ru) | Оптический измеритель перемещений | |
SU1560996A1 (ru) | Измеритель атмосферного давлени | |
SU603842A1 (ru) | Фотоэлектрический измеритель прогибов полупроводниковых пластин |