SU1548669A1 - Оптический профилометр - Google Patents

Оптический профилометр Download PDF

Info

Publication number
SU1548669A1
SU1548669A1 SU884427755A SU4427755A SU1548669A1 SU 1548669 A1 SU1548669 A1 SU 1548669A1 SU 884427755 A SU884427755 A SU 884427755A SU 4427755 A SU4427755 A SU 4427755A SU 1548669 A1 SU1548669 A1 SU 1548669A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
photodetector
lens
coordinate
radiation
reflected radiation
Prior art date
Application number
SU884427755A
Other languages
English (en)
Inventor
Нина Дмитриевна Морозова
Павел Владимирович Мясников
Сергей Евгеньевич Солодов
Original Assignee
Московский Институт Электронного Машиностроения
Физический Институт Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Институт Электронного Машиностроения, Физический Институт Ан Ссср filed Critical Московский Институт Электронного Машиностроения
Priority to SU884427755A priority Critical patent/SU1548669A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1548669A1 publication Critical patent/SU1548669A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  микрогеометрии поверхностей. Цель изобретени  - увеличение точности и повышение быстродействи  устройства за счет снижени  погрешности от флуктуаций и дискретности считывани . Излучение лазера 1 фокусируетс  на измер емой детали объективом 2, отраженное излучение собираетс  тем же объективом 2 и делитс  светоделителем 3 на опорный поток, поступающий на опорный фотоприемник 4, и информационный поток, который через фокусирующую шину 5 поступает на координатно-чувствительный фотоприемник, состо щий из пластины 6 с линейным изменением оптической плотности и широкополосного фотоприемника 7. Выходы опорного фотоприемника 4 и координатно-чувствительного фотоприемника соединены с входами блока 8 делени . 1 ил.

Description

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения микрогеометрии поверхностей.
Цель изобретения - увеличение точности и быстродействия устройства.
На чертеже представлена блок-схема профилометра.
Профилометр состоит из источника jq
Излучения, оптически связанного с объективом 2. По ходу отраженного излучения установлен светоделитель 3, делящий отраженное излучение на два ^потока: опорный, который поступает 15 на опорный фотоприемник 4, и информационный, который через фокусирующую линзу 5 попадае·? на координатночувствительный фотоприемник, состоящий из пластины 6 с линейным измене- 20 нием оптической плотности, установленной в фокальной плоскости фокусирующей линзы 5, и широкополосного 'фотоприемника 7. Выходы опорного и 'координатно-чувствительного фотопри- 25 емников соединены с соответствующими входами блока 8 деления.,При этом светоделитель 3 и фокусирующая линза 5 представляют оптическую систе' му отраженного излучения.
Профилометр работает следующим образом.
Излучение источника 1 фокусируется на поверхности измеряемой детали объективом 2, отраженное от поверх, ности излучение собирается этим же объективом 2 и с помощью светоделителя 3 разделяется на два потока: ; опорный и- информационный. Опорный : поток попадает на опорный фотоприемник 4. Информационный'поток, пройдя через фокусирующую линзу 5, попадает на координатно-чувствитель-. ный фотоприемник, состоящий из пластины 6 с линейным изменением оптической плотности, и широкополосного фотоприемника 7. Отраженное излуче,, ние фокусируется линзой 5 на поверхности пластины 6, имеющей линейное изменение оптической плотности и позволяющей определять положение измеряемой поверхности относительно нуля, после чего световой поток попадает на Широкополосный фотоприемник 7. Электрические выходы опорного и широкополосного фотоприемников соединены с соответствующими входами блока 8 деления, по сигналу которого судят о характере микрорельефа измеряемой поверхности.

Claims (1)

  1. Формула изо бретения
    Оптический профилометр, содержащий излучатель, объектив, оптическую систему для отраженного излучения, координатно-чувствительный фотоприемник, блок обработки информации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерен ний и быстродействия, он снабжен опорным фотоприемником, оптическая система отраженного излучения выполнена в виде расположенного по ходу отраженного излучения светоделителя, предназначенного для деления излучения на информационный и опорный потоки, и фокусирующей линзы, установленной по ходу информационного потока, координатно-чувствительный фотоприемник выполнен 35 в виде пластины с линейным из^менением оптической плотности установленной в фокальной плоскости линзы, и широкополосного фотоприемника, оптически связанного с пласти40 ной, выходы опорного и координатночувствительного фотоприеыника соединены с соответствующими входами блока обработки информации, выполненного в виде блока деления, источник излучения выполнен в виде лазера,- а объектив является общим для падающего и отраженного излучений.
SU884427755A 1988-05-20 1988-05-20 Оптический профилометр SU1548669A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884427755A SU1548669A1 (ru) 1988-05-20 1988-05-20 Оптический профилометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884427755A SU1548669A1 (ru) 1988-05-20 1988-05-20 Оптический профилометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1548669A1 true SU1548669A1 (ru) 1990-03-07

Family

ID=21376015

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884427755A SU1548669A1 (ru) 1988-05-20 1988-05-20 Оптический профилометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1548669A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994028373A1 (fr) * 1993-05-28 1994-12-08 Vladimir Pavlovich Tychinsky Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Bertani D., Getica M. Ciliber- tos. - Fast optical profilometer - Optics communications, v.46, 1983, № 1. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994028373A1 (fr) * 1993-05-28 1994-12-08 Vladimir Pavlovich Tychinsky Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4079252A (en) Photoelectric grating displacement measuring apparatus
EP0047250A1 (en) DIMENSION MEASURING DEVICE.
CN111721235B (zh) 一种光电式边缘检测系统及其检测方法
JPS5759107A (en) Method and device for measuring plate thickness
US3658426A (en) Alignment telescope
ATE81907T1 (de) Optische messapparate.
JPH0652170B2 (ja) 光結像式非接触位置測定装置
US4485309A (en) Apparatus for contact-free sensing of a moving coherent mass of material
SU1548669A1 (ru) Оптический профилометр
US5870199A (en) Method and apparatus for highly accurate distance measurement with respect to surfaces
JPS5979104A (ja) 光学装置
JPS57149912A (en) Optical position detector
CN208254426U (zh) 便携式二维动态光电自准直仪装置
ATE453851T1 (de) Optischer sensor zur messung des abstands und der neigung einer fläche
JP2698446B2 (ja) 間隔測定装置
JPS57199909A (en) Distance measuring device
JPS57113342A (en) Eccentricity measurement
RU2094756C1 (ru) Устройство для измерения отклонения от прямолинейности
JPH03115920A (ja) 零点位置検出装置
SU1211603A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
SU1472760A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени размеров деталей
RU2155321C1 (ru) Устройство для измерения линейного смещения объекта
SU1138642A1 (ru) Интерференционное устройство дл дистанционного измерени малых перемещений
JPS59211811A (ja) 表面あらさ測定装置
SU1675665A1 (ru) Устройство дл измерени рассто ни до объекта