SU1548669A1 - Оптический профилометр - Google Patents
Оптический профилометр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1548669A1 SU1548669A1 SU884427755A SU4427755A SU1548669A1 SU 1548669 A1 SU1548669 A1 SU 1548669A1 SU 884427755 A SU884427755 A SU 884427755A SU 4427755 A SU4427755 A SU 4427755A SU 1548669 A1 SU1548669 A1 SU 1548669A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- photodetector
- lens
- coordinate
- radiation
- reflected radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл измерени микрогеометрии поверхностей. Цель изобретени - увеличение точности и повышение быстродействи устройства за счет снижени погрешности от флуктуаций и дискретности считывани . Излучение лазера 1 фокусируетс на измер емой детали объективом 2, отраженное излучение собираетс тем же объективом 2 и делитс светоделителем 3 на опорный поток, поступающий на опорный фотоприемник 4, и информационный поток, который через фокусирующую шину 5 поступает на координатно-чувствительный фотоприемник, состо щий из пластины 6 с линейным изменением оптической плотности и широкополосного фотоприемника 7. Выходы опорного фотоприемника 4 и координатно-чувствительного фотоприемника соединены с входами блока 8 делени . 1 ил.
Description
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения микрогеометрии поверхностей.
Цель изобретения - увеличение точности и быстродействия устройства.
На чертеже представлена блок-схема профилометра.
Профилометр состоит из источника jq
Излучения, оптически связанного с объективом 2. По ходу отраженного излучения установлен светоделитель 3, делящий отраженное излучение на два ^потока: опорный, который поступает 15 на опорный фотоприемник 4, и информационный, который через фокусирующую линзу 5 попадае·? на координатночувствительный фотоприемник, состоящий из пластины 6 с линейным измене- 20 нием оптической плотности, установленной в фокальной плоскости фокусирующей линзы 5, и широкополосного 'фотоприемника 7. Выходы опорного и 'координатно-чувствительного фотопри- 25 емников соединены с соответствующими входами блока 8 деления.,При этом светоделитель 3 и фокусирующая линза 5 представляют оптическую систе' му отраженного излучения.
Профилометр работает следующим образом.
Излучение источника 1 фокусируется на поверхности измеряемой детали объективом 2, отраженное от поверх, ности излучение собирается этим же объективом 2 и с помощью светоделителя 3 разделяется на два потока: ; опорный и- информационный. Опорный : поток попадает на опорный фотоприемник 4. Информационный'поток, пройдя через фокусирующую линзу 5, попадает на координатно-чувствитель-. ный фотоприемник, состоящий из пластины 6 с линейным изменением оптической плотности, и широкополосного фотоприемника 7. Отраженное излуче,, ние фокусируется линзой 5 на поверхности пластины 6, имеющей линейное изменение оптической плотности и позволяющей определять положение измеряемой поверхности относительно нуля, после чего световой поток попадает на Широкополосный фотоприемник 7. Электрические выходы опорного и широкополосного фотоприемников соединены с соответствующими входами блока 8 деления, по сигналу которого судят о характере микрорельефа измеряемой поверхности.
Claims (1)
- Формула изо бретенияОптический профилометр, содержащий излучатель, объектив, оптическую систему для отраженного излучения, координатно-чувствительный фотоприемник, блок обработки информации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерен ний и быстродействия, он снабжен опорным фотоприемником, оптическая система отраженного излучения выполнена в виде расположенного по ходу отраженного излучения светоделителя, предназначенного для деления излучения на информационный и опорный потоки, и фокусирующей линзы, установленной по ходу информационного потока, координатно-чувствительный фотоприемник выполнен 35 в виде пластины с линейным из^менением оптической плотности установленной в фокальной плоскости линзы, и широкополосного фотоприемника, оптически связанного с пласти40 ной, выходы опорного и координатночувствительного фотоприеыника соединены с соответствующими входами блока обработки информации, выполненного в виде блока деления, источник излучения выполнен в виде лазера,- а объектив является общим для падающего и отраженного излучений.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884427755A SU1548669A1 (ru) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | Оптический профилометр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884427755A SU1548669A1 (ru) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | Оптический профилометр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1548669A1 true SU1548669A1 (ru) | 1990-03-07 |
Family
ID=21376015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884427755A SU1548669A1 (ru) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | Оптический профилометр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1548669A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994028373A1 (fr) * | 1993-05-28 | 1994-12-08 | Vladimir Pavlovich Tychinsky | Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode |
-
1988
- 1988-05-20 SU SU884427755A patent/SU1548669A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Bertani D., Getica M. Ciliber- tos. - Fast optical profilometer - Optics communications, v.46, 1983, № 1. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994028373A1 (fr) * | 1993-05-28 | 1994-12-08 | Vladimir Pavlovich Tychinsky | Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4079252A (en) | Photoelectric grating displacement measuring apparatus | |
EP0047250A1 (en) | DIMENSION MEASURING DEVICE. | |
CN111721235B (zh) | 一种光电式边缘检测系统及其检测方法 | |
JPS5759107A (en) | Method and device for measuring plate thickness | |
US3658426A (en) | Alignment telescope | |
ATE81907T1 (de) | Optische messapparate. | |
JPH0652170B2 (ja) | 光結像式非接触位置測定装置 | |
US4485309A (en) | Apparatus for contact-free sensing of a moving coherent mass of material | |
SU1548669A1 (ru) | Оптический профилометр | |
US5870199A (en) | Method and apparatus for highly accurate distance measurement with respect to surfaces | |
JPS5979104A (ja) | 光学装置 | |
JPS57149912A (en) | Optical position detector | |
CN208254426U (zh) | 便携式二维动态光电自准直仪装置 | |
ATE453851T1 (de) | Optischer sensor zur messung des abstands und der neigung einer fläche | |
JP2698446B2 (ja) | 間隔測定装置 | |
JPS57199909A (en) | Distance measuring device | |
JPS57113342A (en) | Eccentricity measurement | |
RU2094756C1 (ru) | Устройство для измерения отклонения от прямолинейности | |
JPH03115920A (ja) | 零点位置検出装置 | |
SU1211603A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещений | |
SU1472760A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени размеров деталей | |
RU2155321C1 (ru) | Устройство для измерения линейного смещения объекта | |
SU1138642A1 (ru) | Интерференционное устройство дл дистанционного измерени малых перемещений | |
JPS59211811A (ja) | 表面あらさ測定装置 | |
SU1675665A1 (ru) | Устройство дл измерени рассто ни до объекта |