SU1486765A1 - Способ измерения деформации объекта - Google Patents

Способ измерения деформации объекта Download PDF

Info

Publication number
SU1486765A1
SU1486765A1 SU874327616A SU4327616A SU1486765A1 SU 1486765 A1 SU1486765 A1 SU 1486765A1 SU 874327616 A SU874327616 A SU 874327616A SU 4327616 A SU4327616 A SU 4327616A SU 1486765 A1 SU1486765 A1 SU 1486765A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
strip
resistance
light
measuring
electrode
Prior art date
Application number
SU874327616A
Other languages
English (en)
Inventor
Vasilij F Chekurin
Petr V Yavorskij
Original Assignee
Vasilij F Chekurin
Petr V Yavorskij
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vasilij F Chekurin, Petr V Yavorskij filed Critical Vasilij F Chekurin
Priority to SU874327616A priority Critical patent/SU1486765A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1486765A1 publication Critical patent/SU1486765A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относится к измерительной технике, к определению деформаций на поверхностях деталей и конструкций полупроводниковыми датчиками. Цель изобретения - повышение точности и снижение трудо2
емкости посредством измерения деформаций в различных направлениях одним чувствительным элементом. На поверхность объекта устанавливают чувствительный элемент в виде круглой пластины с двумя электродами, один из которых наносят в центр пластины в виде точки, а другой концентрично первому в виде кольца. После каждого этапа нагружения объекта и замера сопротивления чувствительного элемента полоску света перемещают вращением ее' вокруг оси, проходящей через точечный электрод.
2 ил.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций на поверхностях деталей и конструкций полупроводниковыми датчиками.
•Цель изобретения - повышение точности й снижение трудоемкости посредством измерения деформаций в различных направлениях одним чувствительным элементом.
На фиг. 1 приведена схема чувствительного элемента( на фиг. 2 зависимость деформации от угла поворота полоски света.
Чувствительный элемент изготовлен в виде круглой пластины 1 из полупроводникового тензо- и фоточувствительного материала с нанесенными на ее поверхность металлическими кольцевым и центральным точечным электродами 2 и 3. Пластину 1 освещают полоской 4 света.
Способ осуществляется следующим образом.
На поверхности объекта устанавливают чувствительный элемент в виде круглой пластины 1 (фиг. 1) с двумя электродами 2 и 3, один из которых наносят в центр пластины в виде точки, а другой - концентрично первому в виде кольца. Чувствительный элемент жестко устанавливают на поверхности объекта. Пластина 1 чувствительного элемента и металлические электроды 2 и 3 могут быть изготовлены, например, путем напыления в вакууме на подложку или непосредственно на поверхность объекта .
Электроды 2 и 3 через токовыводы подключают к прибору для измерения сопротивления. Освещают чувствительный элемент полоской 4 света, максимум спектральной характеристики кото-
3 1486765 4
рого лежит в полосе поглощения используемого полупроводникового материала. Длину полоски выбирают равной радиусу кольцевого электрода 2 и $
ориентируют ее радиально так, чтобы один конец находился на центральном электроде 3. При этом сопротивление чувствительного элемента вследствие повышения концентрации носителей токаю В месте освещения уменьшается. Увеличивая интенсивность света до тех пор, пока сопротивление чувствительного элемента не станет меньшим его же значения в отсутствие освещения. 15 При этом полное сопротивление чувст- * вительного элемента определяется в основном сопротивлением его Освещенной части. Не/нагружая объект и не изменяя светового потока, повора- 20 чивают полоску света вокруг оси, проходящей через центр пластины, и регистрируют зависимость Κ0(ψ) сопротивления чувствительного элемента от угла поворота полоски ψ. Нагру- 25 жагот объект и, не изменяя светового потока,, измеряют зависимость сопротивления чувствительного элемента от угла поворота. На основании полученных данных определяют зави- 30 симость относительно приращения сопротивления чувствительного элемента
АК β К£(Ч>) ~ Ко(Ч>)
86 Ко (ιρ) 35
от угла поворота.
Деформацию ζ (Ср) в направлении,
задаваемом углом φ, определяют по формуле
•ке(д>) - к0 (у)
κ(ψ)κ0(γ) , >
40
где К(ΐρ) - значение коэффициента тензочувствительности материала чувствительного эле- 45 мента в направлении, задаваемом углом ψ, которое определяют по известной / методике.
- ‘ 50
Строят зависимость деформации с от угла поворота (р (фиг. 2) и находят экстремальные значения £(и ,
которые являются главными значениями деформации. Углы Ср,- и , соответствующие деформациям и’ £2 »
определяют главные направления деформации. При однородном деформированном состоянии деформация £_(<$
в направлении, задаваемом углом численно равна деформации ,£ ( φ + 1?) в направлении, задаваемом углом (р .
В частности, соответствующие экстремальные значения деформации должны совпадать £, = =£^, а .
соответствующие им углы (р( и<р‘ ,
г и(р2 отличаются друг от друга на уг ол 17.
В случае, когда объект находится в неоднородном деформированном состоянии , значение £ (ψ) равно средне му значению деформации на расстоянии длины полоски. При этом£(ср) / /βίίρ+'ίΓ), а величина
δ (ς, + Ί?)- £(Ср)
?>
где г - внутренний радиус кольцевого электрода, определяет градиент деформации В. направлении, задаваемом углом ср. .
В частности, £,= и £г £
Кроме того, (р‘, / ψ, + Т и ίρ'2= ίρζ +'ΐϊ', угол Δ Ч> = <р- (р, -Т = - Т .
, определяет, поворот главных направлений в связи с неоднородностью дефор ;мированного состояния объекта.
Таким образом, предлагаемый способ позволяет измерить деформацию объекта в каждом направлении, определить главные направления и главные значения деформации, определить градиент деформации в каждом направлении, изменение главных значений и поворот главных осей деформации в связи с неоднородностью деформированного состояния. Все измерения производятся с помощью одного датчика за один акт измерения.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ измерения деформации объекта, заключающийся в том, что на по верхности объекта устанавливают чувствительный элемент с двумя электродами, изготовленный из полупроводникового тензо- и фоточувствительНого материала, измеряют его начальное сопротивление, нагружают объект, одновременно с нагружением объекта проводят засветку части чувствительного элемента полоской света, вновь измеряют сопротивление, после каждого этапа нагружения и замера сопротивления перемещают полоску света
    5
    1486765
    6
    по поверхности чувствительного элемента и по изменению сопротивления определяют деформации объекта, о т личающийс я тем, что, с цетлью повышения точности и снижения трудоемкости, чувствительный элемент изготавливают в виде круглой пластины, один электрод наносят в . центр пластины в виде точки, а другой-в виде кольца, концентрично первому, полоску света ориентируют так, что один ее конец освещает точечный электрод, а другой - коль цевой, а перемещение полоски-света осуществляют вращением ее вокруг оси, проходящей через точечный электрод .
SU874327616A 1987-11-17 1987-11-17 Способ измерения деформации объекта SU1486765A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874327616A SU1486765A1 (ru) 1987-11-17 1987-11-17 Способ измерения деформации объекта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874327616A SU1486765A1 (ru) 1987-11-17 1987-11-17 Способ измерения деформации объекта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1486765A1 true SU1486765A1 (ru) 1989-06-15

Family

ID=21336062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874327616A SU1486765A1 (ru) 1987-11-17 1987-11-17 Способ измерения деформации объекта

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1486765A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1038034A (en) Measuring cell for determining oxygen concentrations in a gas mixture
SU1486765A1 (ru) Способ измерения деформации объекта
US4045725A (en) Rotating asymmetric electrode for measuring characteristics of electrochemical cells
SU705299A1 (ru) Устройство дл определени сдвиговых характеристик грунта
SU1403740A1 (ru) Фольговый датчик дл измерени параметров развити поверхностных трещин
SU1384931A1 (ru) Способ измерени деформации объекта
SU1723316A1 (ru) Датчик угла наклона буровой скважины
SU1095027A1 (ru) Способ определени радиусов объектов
JPS55146040A (en) Measuring method of concentration
JPS5816146B2 (ja) ゲル内沈降反応測定法
US4719344A (en) Method of and apparatus for measuring amount of solar radiation received directly
SU958904A1 (ru) Способ определени линейного износа
SU1408225A1 (ru) Устройство дл определени смещений
SU916969A1 (ru) Устройство дл измерени параметров эллипсных отверстий
SU1081501A1 (ru) Способ измерени концентрации растворов электролитов
SU1038823A1 (ru) Способ оценки технического состо ни двигател внутреннего сгорани
SU1379629A1 (ru) Устройство дл определени угла наклона
SU1651078A1 (ru) Способ контрол шага резьбы
SU681332A1 (ru) Дилатометрический сигнализатор температуры
SU857456A1 (ru) Устройство дл измерени углов разворота
SU1442820A1 (ru) Способ измерени толщины оптических деталей
SU976290A1 (ru) Тензометрический датчик усталости деталей
SU873020A1 (ru) Способ определени контурной площади контакта поверхностей пар трени
Lukhvich The Application of the Divided Thermal-EMF Method for Testing Coating Thicknesses
SU977965A1 (ru) Способ определени положени оси вращени ротора