SU1384931A1

SU1384931A1 - Способ измерени деформации объекта

Info

Publication number: SU1384931A1
Application number: SU853997013A
Authority: SU
Inventors: Василий Феодосиевич Чекурин
Original assignee: Институт Прикладных Проблем Механики И Математики Ан Усср
Priority date: 1985-12-27
Filing date: 1985-12-27
Publication date: 1988-03-30

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени высокоградиентных полей одноосной деформации, например в окрестности концентраторов напр жений. Целью изобретени вл етс повышение точности при измерении неоднородной деформации путем измерени ее распределени . Дл этого чувствительный элемент из тензо- и фоточувствительного материала устанавливают на объект и освещают его последовательно перемещающейс полоской света. При этом, измер изменение сопротивлени чувствительного элемента в нагруженном и ненагруженном состо нии объекта, дл каждого положени полоски света определ ют распределение деформации объекта вдоль длины чувствительного элемента. 1 ил.

Description

со 00

со

00

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени высокоградиентных полей одноосной деформации, например, в окрестности концентраторов напр жений.

Целью изобретени вл етс повышение точности при измерении неоднородной деформации путем измерени ее распределени .

На чертеже изображена схема осуществлени способа при помощи помещенного на объект чувствительного элемента 1 с

электродами, освещаемого полоской света 3.

Способ осуществл етс следующим образом .

На поверхность объекта устанавливают чувствительный элемент 1, изготовленный из полупроводникового тензо- и фоточувствительного материала в виде пр моугольной пластины, направление максимальной тензо- чувствительности материала пластины совпадает с продольной осью пластины, если направление деформации совпадает с направлением градиента деформации, или с поперечной осью, если направление деформации и ее градиента взаимно перпендикул рны. Электроды 2 нанос т на продольные боковые грани пластины, а пластину устанавливают на объект так, что направление максимальной тензочувствительности совпадает с направлением деформации. Измерени производ т в два этапа. На первом этапе, не нагружа объекта, освещают пластину чувствительного элемента 1 у одного ее кра полоской света 3 и измер ют сопротивление чувствительного элемента между электродами 2. Параметры светового потока подбирают так, чтобы сопротивление освещенной части чувствительного элемента было намного меньще, чем у неосвещенной части. Дл этого используют источник света, максимум спектральной характеристики которого лежит в области поглощени используемого полупроводникового материала и увеличивают интенсивность задающего света до тех пор, пока сопротивление чувствительного элемента при освещении не станет значительно меньщим неосвещенной части чувствительного элемента . При этом полное сопротивление освещенного чувствительного элемента, которое складываетс из параллельно включенных сопротивлений освещенной в неосвещенной частей, определ етс в основном сопротивлением освещенной части пластины чувствительного элемента 1. Затем, не измен светового потока, перемещают световую полоску вдоль оси пластины чувствительного

0

5

0

5

0

5

0

5

0

элемента 1 и измер ют зависимость сопротивлени чувствительного элемента 1 Ro(x) от положени полоски света. На втором этапе нагружают объект и производ т измерение зависимости R(X) сопротивлени чув- ствительцого элемента 1 от положени полоски света. Определ ют относительное приращение сопротивлени чувствительного

Р/у Iv)

элемента 1 -п/Ч Дл каждого поKo (xj

ложени полоски определ етс деформацией Е(х) пластины чувствительного элемента 1 в месте освещени

R(X)- Ro(x) тл.р, ч

,

где К - коэффициент тензочувствительности материала чувствительного элемента в направлении деформации (определенной по изЕвестной методике). С учетом полученных данных определ ют распределение деформации объекта вдоль длины чувствительного элемента 1.

Claims

Формула изобретени

Способ измерени деформации объекта , заключающийс в том, что на поверхности объекта устанавливают чувствительный элемент, изготовленный из полупроводникового тензо- и фоточувствительного материала, определ ют его начальное сопротивление , одновременно с нагружением объекта производ т засветку чувствительного элемента, вновь измер ют сопротивление и по изменению сопротивлени определ ют деформацию объекта, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности при измерении неоднородной деформации путем измерени ее распределени , чувствительный элемент изготавливают в виде пр моугольной пластины так, что направление максимальной тензочувствительности материала совпадает с продольной осью пластины, если направление деформации совпадает с направлением градиента деформации, или с поперечной осью, если направление деформации и ее-градиента взаимно перпендикул рны , электроды нанос т на продольных боковых гран х пластины, которую устанавливают на объект так, что направление максимальной тензочувствительности совпадает с направлением деформации, засветку провод т полоской света, ориентированной перпендикул рно электродам и после каждого этапа нагружени и замера сопротивлени перемещают полоску света параллельно самой себе.

X

gnati &

/2J

/

/

/