SU1100496A1 - Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта - Google Patents

Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта Download PDF

Info

Publication number
SU1100496A1
SU1100496A1 SU833550289A SU3550289A SU1100496A1 SU 1100496 A1 SU1100496 A1 SU 1100496A1 SU 833550289 A SU833550289 A SU 833550289A SU 3550289 A SU3550289 A SU 3550289A SU 1100496 A1 SU1100496 A1 SU 1100496A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
transparent
transparent plate
sensitive
measuring object
object surface
Prior art date
Application number
SU833550289A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Всеволодович Кордубан
Александр Павлович Гресько
Валерий Абдулмеджидович Алиев
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6668
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6668 filed Critical Предприятие П/Я Р-6668
Priority to SU833550289A priority Critical patent/SU1100496A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1100496A1 publication Critical patent/SU1100496A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА, содержащее источник когеренттюго света, чувствительный элемент, выполненньй в виде прозрачной пластины, и светорегистратор , отличающеес  тем, что, с целью сн1сжени  трудоемкости и повьппетш  вибростойкости, оно снабжено чувствительным слоем прозрачного магнитоодноосного материала с полосковой доменной структурой, нанесенным на поверхность прозрачной пластины и зеркальным покрытием, нанесенным на поверхность чувствительного сло , а прозрачна  пластина выполнена из немагнитного материала. S о 4 СО а

Description

Изобретение относитс  к измерению деформаций оптическими методами. Известно устройство дл  измерений деформаций, содержащее чувствительный элемент из пермалло , источник тока и измеритель тока 3. Недостатками устройства  вл ютс  невысока  точность измерени  и наличие гальванического съема, вызванное необходимостью питани  датчика элект рическим током. Наиболее близким к изобретению  лл етс  устройство дл  измерени  де формаций поверхности объекта, содержащее источник когерентного света, чувствительный элемент, вьтолненный в виде прозрачной пластины и светоре гистратор Г2 L Недостатками такого устройства  вл ютс  значительна  трудоемкость и мерений и невысока  вибростойкость устройства, вызванные высокой прецизионностью голографических измерений Цель изобретени  - снижение трудо емкости и повьпцение .вибростойкости. Цель достигаетс  тем, что устройство дл  измерени  деформаций поверх ности объекта, содержащее источник когерентного света, чувствительный злемент, вьтолненный в виде прозрачной пластины, и светорегистратор, снабжено чувствительным слоем про зрачного магнитоодноосного материала с полосковой доменной структурой, нанесенным на поверхность прозрачной пластины, и зеркальным покрытием, нанесенным на поверхность чувстви7ельного сло , а прозрачна  пластина выполнена из немагнитного материала, .,. „ На чертеже показатга схема устройства . Устройство дл  измерени  деформаций поверхности объекта содержит источник когерентного света 1, прозрачную пластину 2, выполненную, например , из граната, чувствительНьй слой 3 прозрачного магнитоодноосного материала с полосковой доменной структурой , нанесенньй на поверхность прозрачной пластины 2, зеркашьное покрытие 4, нанесенное на поверхность чувствительного сло  3, и светорегистратор , 5. Зеркальное покрытие 4 закреплено на поверхности объекта.6/ Устройство дл  измерени  деформаций поверхности объекта работает следующим образом. Из источника 1 луч когерентного света падает на поверхность прозрачной пластины 2, отражаетс  от зеркального покрыти  4 и затем проходит через чувствительньш слой 3 магнитоодноосного материала с полосковой доменной структурой, в котором под воздействием измер емой деформации поверхности объектов происходит изменение его общей энергии. Это приводит к изменению периода полосковой доменной структуры, в результате которого измен етс  дифракционна  картина света, соответствующа  недеформированному состо нию объекта 6. Дифракционна  картина регистрируетс  светорегистратором 5, по изменению выходного сигнала которого суд т .о деформации объекта 6. Предложенное устройство по сравнению с известными поз,вол ет значительно снизить трудоемкость юстировки устройства при измерени х, исключить сложную математическую обработку результатов измерений и йовысить вибростойкость измерений.

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА, содержащее источник когерентного света, ' чувствительный элемент, выполненный в виде прозрачной пластины, и светорегистратор, о тличающе е с я тем, что, с целью снижения трудоемкости и повышения вибростойкости, оно снабжено чувствительным слоем прозрачного магнитоодноосного материала с полосковой доменной структурой, нанесенным 'на поверхность прозрачной пластины и зеркальным покрытием, нанесенным на поверхность чувствительного слоя, а прозрачная пластина выполнена из немагнитного материала.
    1 1100496
SU833550289A 1983-02-08 1983-02-08 Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта SU1100496A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833550289A SU1100496A1 (ru) 1983-02-08 1983-02-08 Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833550289A SU1100496A1 (ru) 1983-02-08 1983-02-08 Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1100496A1 true SU1100496A1 (ru) 1984-06-30

Family

ID=21048906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833550289A SU1100496A1 (ru) 1983-02-08 1983-02-08 Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1100496A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР № Д91055, кл. G 01 В 7/2А, 1974. 2. Автометри , 1982, № 1, с, 17-24 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4939368A (en) Polychromatic optical strain gauge
US4432239A (en) Apparatus for measuring deformation
US3850526A (en) Optical method and system for measuring surface finish
GB2197466A (en) Strain monitoring
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
SU1100496A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций поверхности объекта
Pryor et al. The diffractographic strain gage: Small strains can be accurately measured using the diffraction of light through an aperture which is fixed to a structure so that its size is a function of strain
US3093741A (en) Photovoltaic device for translating signals
ATE8180T1 (de) Vorrichtung zum messen der dicke.
EP0509849A2 (en) Measuring the cross-sectional distribution of the refractive index of an optical waveguide
US3551056A (en) Apparatus for automatically measuring the thickness of transparent films on silicon wafers
US4738537A (en) Method and apparatus for measuring a quantity of a greasy product on a surface to be investigated, and a take upstrip for the greasy product
JPS5735760A (en) Current measuring device
EP0119356A1 (en) Apparatus for measuring parameters of optical fibres
SU898354A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности слабых магнитных полей
SU1698821A1 (ru) Магнитооптическа головка дл считывани сигналограммы с магнитной ленты
SU945652A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности
US2882787A (en) Micro-measurement apparatus
RU2025656C1 (ru) Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в фиксированной точке
RU1805445C (ru) Способ определени дифракционной эффективности голограмм
SU1530940A1 (ru) Устройство дл измерени температуры поверхности ферромагнитных тел
SU1701779A1 (ru) Способ определени макрошероховатости дорожного покрыти и устройство дл его осуществлени
SU1384931A1 (ru) Способ измерени деформации объекта
SU864205A1 (ru) Способ определени величины магнитного пол
SU916975A1 (ru) Устройство дл измерени углового положени объекта