SU1420340A1 - Способ определени радиусов вогнутых поверхностей - Google Patents

Способ определени радиусов вогнутых поверхностей Download PDF

Info

Publication number
SU1420340A1
SU1420340A1 SU853957741A SU3957741A SU1420340A1 SU 1420340 A1 SU1420340 A1 SU 1420340A1 SU 853957741 A SU853957741 A SU 853957741A SU 3957741 A SU3957741 A SU 3957741A SU 1420340 A1 SU1420340 A1 SU 1420340A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plates
radius
plate
distance
additional
Prior art date
Application number
SU853957741A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Владимирович Евдокимов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3724
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3724 filed Critical Предприятие П/Я А-3724
Priority to SU853957741A priority Critical patent/SU1420340A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1420340A1 publication Critical patent/SU1420340A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к способам измерени  параметров, св занных известной математической зависимостью с радиусом объекта, с послед ующим вычислением радиуса. Целью изобретени   вл етс  повышение точности определени  радиуса. Способ реализуют следующим образом. На поверхность измер емой сферы 3 параллельно друг другу устанавливают две пластины 1 и 2 известных длин С, и С и вычисл ют радиус R, св занный известной математической зависимостью с рассто нием h между пластинами 1, 2 и их: длинами С и С. Выполн ют дополнительные операции, позвол ющие определить рассто ние h между пластинами 1,2 более точно. Пластины 1 и 2 соедин ют между собой дополнительной пластиной 4, длина которой EF известна, измер ют острый угол о1 между пластиной 4 и одной из основных пластин 1,2, вычисл ют рассто ние h по длине EF пластины 4 и по величине измеренного угла 0. Дл  обеспечени  плотного контакта с целью исключени  люф- товых погрешностей одну из основных и дополнительную пластины 2, 4 намагничивают . 1 з.п. ф-лы, 2 ил. i (Л 4ib Ю О САЭ

Description

1
1 20340
25
Изобретение относитс  к техническим измерени м, а именно к измерению параметров, св занных известной математической зависимостью с радиу- , сом объекта с последующим вьмисле- нием радиуса.
Цель изобретени  - повышение точности определени  радиуса за счет косвенных измерений,)0
На фиг. 1 изображена схема опреелени  радиуса объекта, реализующа  анный способ при помощи накладного устройства; на фиг. 2 - схема увеличени  чувствительности определени  )5 радиуса объекта данным способом.
Накладное устройство состоит из параллельно расположенных пластин 1 и 2, устанавливаемых на объект 3. Пластины шчеют верхние отражающие 20 поверхности, известные длины С и С™ и неизвестное рассто ние h между пластинами 1 и 2. Дополнительную пластину 4 устанавливают между основными 1 и 2. Пластина 4 имеет длину EF и отражающую поверхность. Угол между одной из основных пластин 1,2 и дополнительной пластиной 4 определ ют посредством автоколлиматора 5. Пластина 2 имеет отверсти  дл  про- хож;дени  лучей А и D от автоколлиматора 5, луч В отражаетс  от пластины 2.
Способ заключаетс  в следующем.
На сферическую поверхность объекта 3 устанавливают пластину 1 и параллельно ей пластину 2 с магнитно св занной пластиной 4. По автоколлиматору 5 при помощи лучей А и В контролируют параллельность установки пластин 1 и 2, а при помощи лучей D измер ют угол d между пластиной 4 с дл1гной EF и пластины 2 с длиной С р. По известной длине EF и измеренной величине угол d вычисл ют рассто ние между основными пластинами h по формуле
h EF-sino(.
R сферической поверхности вычисл ют по известной формуле
30
35
40
45
5
0
0
5
0
5
R
lif
)+с:
t-C,-4-h ------ ;.L,.
Разность высот сегментов (рассто ние между параллельно расположенными пластинами) при непосредственном измерении известным способом при различных радиусах R, и R2 сферической поверхно сти характеризуетс  значением L,, в то врем , как зта разность высот сегментов по предлагаемому способу характеризуетс  значением L. При этом LJ K-L,, где К 0. Значение коэффициента К зависит от , известного закона. если плоскость зеркала отклонить на угол 9, то отражение падающего на него луча отклонитс  на угол 26. Кроме того, чем длиннее луч, отраженный от пластины, тем больше К, а значит и больше значение L при одном и том же значении L (действие оптического рычага).
Таким образом, предлагаемый способ Повышает точность измерений радиусов сфер, в том числе и усеченных.

Claims (2)

1.Способ определени  радиусов вогнутых поверхностей, заключающийс  в том, что на Поверхность вдоль ее хордовых направлений параллельно одна другой устанавливают две пластины и по рассто нию между пластинами и их длинам определ ют радиус поверхностей , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности определени  радиуса, между пластинами размещают соедин ющую их дополнительную пластину и измер ют угол между одной .из основных пластин и дополнительной пластиной, а рассто ние основными пластинами опре- дел ют по длине дополнительной пластины и измеренному углу.
2.Способ по п. I, отлича ю- щ и и с   тем, что пластины вьтол- н ют из магнитного материала и одну из основных и дополнительную пластины намагничивают перед измерением.
фаз. 2
SU853957741A 1985-09-26 1985-09-26 Способ определени радиусов вогнутых поверхностей SU1420340A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853957741A SU1420340A1 (ru) 1985-09-26 1985-09-26 Способ определени радиусов вогнутых поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853957741A SU1420340A1 (ru) 1985-09-26 1985-09-26 Способ определени радиусов вогнутых поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1420340A1 true SU1420340A1 (ru) 1988-08-30

Family

ID=21198871

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853957741A SU1420340A1 (ru) 1985-09-26 1985-09-26 Способ определени радиусов вогнутых поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1420340A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Бондарев В.И. Метрологическое обеспечение измерений радиусов и кривизны изделий и калибров.РСФСР, ЛДНТП, Ленинград Знание, 1981, с. 22. Авторское свидетельство СССР 1095027, кл. G 01 В 5/08, 1983. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4813782A (en) Method and apparatus for measuring the floating amount of the magnetic head
JPH0363001B2 (ru)
SU1420340A1 (ru) Способ определени радиусов вогнутых поверхностей
SU531502A3 (ru) Устройство дл измерени силы с выходным сигналом в цифровой форме
SU1026007A1 (ru) Способ измерени неплоскостности
SU1032374A1 (ru) Способ измерени показател преломлени
SU1186940A1 (ru) Голографический интерферометр дл измерени формы сферических оптических поверхностей
SU970146A1 (ru) Измеритель крут щих моментов
RU2054619C1 (ru) Способ определения кривизны зеркально-отражающей поверхности
SU1055963A1 (ru) Отражатель угломера
SU1193459A1 (ru) Способ определени параметров диэлектрической пленки
SU654855A1 (ru) Способ определени угла наклона отражающего элемента
SU1293484A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
SU1320658A1 (ru) Способ измерени линейных размеров объектов с отражающей поверхностью
SU1384942A1 (ru) Способ контрол плоскостности зеркальной поверхности издели
SU1620823A1 (ru) Устройство дл измерени вибраций
SU1578464A1 (ru) Способ контрол параллельности осей цилиндрических поверхностей
SU416555A1 (ru)
RU2117245C1 (ru) Устройство контроля малых угловых смещений
SU1693369A1 (ru) Устройство дл определени нулевого положени объекта
SU1421994A1 (ru) Способ определени остаточных напр жений в пластинах
SU1413412A1 (ru) Способ измерени линейных перемещений светоотражающих объектов
SU1464046A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний
SU1308829A1 (ru) Способ определени толщины кристаллической пластины
SU1449842A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали