SU1293484A1

SU1293484A1 - Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали

Info

Publication number: SU1293484A1
Application number: SU853843862A
Authority: SU
Inventors: Александр Владимирович Бакеркин
Original assignee: Предприятие П/Я Г-4149
Priority date: 1985-01-11
Filing date: 1985-01-11
Publication date: 1987-02-28

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике. Цель изобретени - обеспечение возможности измерени деталей с большим радиусом кривизны Устанавливают перед деталью объектив с вогнутой сферической поверхностью так, что этой поверхностью он обращен к детали. При измерении радиуса кривизны выпуклой поверхности оптической детали первоначально определ ют радиус кривизны R последней поверхности объектива и рассто ние s от вершины последней поверхности объектива до плоскости фокусировки излучени , затем с помощью этого объектива фокусируют излучение в вершину измер емой поверхности, смещают деталь по направлению к объективу на рассто ние, меньшее измер емого радиуса кривизны, добива сь вторичной фокусировки излучени в вершину поверхности детали после дополнительного последовательного отражени излучени от поверхности детали и последней поверхности объектива, определ ют разность OL отсчетов, сн тых по шкале, в положени х детали при фокусировках излучени в вершину ее измер емой поверхности, а радиус кривизны R определ ют как R 4a/f(S - 2a)/(s -a) + (R,-s +2q)/(R,-s +ci).. 4 ил. 9

Description

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано , например, при измерении радиусов кривизны пробных стекол боль- тпой величины (радиус 1-5 м) ,

Цель изобретени - обеспечение возможности измерени деталей с большим радиусом кривизны.

На фиг.1 и 2 дано взаимное положение объектива 1 и плоского зеркала 2 при измерении величины S и по- казан ход лучей) на фиг.З и 4 дано взаимное положение детали 3 и объектива 1 в двух положени х при фокуси- .ровке излучени в вершину измер емой поверхности детали и показан ход лучей при измерении радщ -са кривизны выпуклой поверхности.

Способ осуществл ют следующим об- .

Сначала измер ют величину R любым известным способом, например, с помощью дополнительного объектива (не показан) автоколлимационным методом по разности двух отсчетов при фокусировке излучени в центр кривизны поверхности измер емого объектива и в вершину его поверхности. Дгшее измер ют величину S объектива 1 автоколлимационным методом с использованием плоского зеркала 2. Излучение с.помощью измер емого объектива 1 фокуси-- руют на поверхность плоского зеркала 2, Фиксируют положение А плоского зеркала, смещают.его по направлению к измер емому объекту до положени А 5 при котором происходит фокусировка излучени в вершину поверхности объектива 1, обращенной к плоско- ну зеркалу 2. Величину S объектива 1 определ ют как:

2 У А

А,

;(2

Затем плоское зеркало 2 замен ют на деталь 3, радиус кривизны выпуклой поверхности которой треб5 етс измерить . С помощью объектива 1 фокусируют излучение в вершину измер емой поверхности детали, при этом фикси- руют положение А детали. Затем смещают деталь 3 по направлению к объективу 1 до положени , при котором из-, лучение вторично фокусируетс в вершину измер емой поверхности детали, фиксируют новое положение А детали.

Разность d отсчетов положени де- тали а А - А,1, измеренные радиус кривизны R. и рассто ние S поззол -

ют определить радиус кривизны R поверхности детали

R

4а

llSli a S -a R,-S +Q J

При измерении радиуса кривизны выпуклой поверхности детали величина

смещени а , определ юща величину измер емого радиуса R, зависит от величины радиуса R. кривизны поверхности объектива 1, обращенной к детали, и рассто ни S от вершины этой по- веркности до плоскости фокусировки излучени .

Приемлема точность измерений достигаетс при мм и мм, что дает возможность вести измерени при, смещени х а , не превьппающих

750 мм. Величины R и S определ ют и длину отсчетной шкалы.

Claims

Формула изобретени

Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической

0

5

танавливают перед деталью объектив с вогнутой сферической поверхностью так, что этой поверхностью он обращен к детали, фокусируют с помощью объектива излучение в вершину измер емой поверхности детали,фиксируют относительное положение детали, смещают деталь по направлению к объективу и определ ют радиус кривизны, отличающийс тем, что, с целью обеспечени возможности измереQ ки деталей с большим радиусом кривизны , измер ют радкгус кривизны пй- зерхности объектива, обращенной к детали , измер ют рассто ние от верши- нь этой поверхности объектива до

с плоскости фокусировки излучени , смещают деталь по направлению к объективу до положени , при котором излз че- ние вторично фокусируетс в вершину измер емой поверхности детали, фиксируют это положение детали, а радиус кривизны определ ют по формуле

4Q

0

R

Г§::2з RilS:+2q

IS -Q . R,-s + a j

a - разность зафиксированных отсчетов в положени х детали при фокусировке излучени в вершину ее поверхности.

рассто ние от вершины поверх ности объектива, обращенной к измер емой детали, до плос кости фокусировки излучени ,

/

радиус кривизны поверхности объектива, обращенной к HSW- р емой детали.

Фиг. 2.

Редактор М. Товтин

Составитель Л. Лобзова

Техред Л.Сердюкова Корректор И. Эрдейи

Заказ 370/41 Тираж 678Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4

Фиг.