SU1379615A1 - Устройство дл измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано , например, при измерении больших по величине радиусов кривизны вы5 / сокоточных особо чистых поверхностей оптических деталей. Цель изобретени  - измерение поверхностей с большим по величине радиусом кривизны. Устройство содержит автоколлимационный микроскоп 1, механизм 5 перемещени , отсчетную шкалу 6 с индексом 7, три плоских зеркала 2, 3, 4, установленных перпендикул рно оптической оси микроскопа 1, одно из зеркал 2 с центральным отверстием установлено перед фокальной плоскостью микроскопа 1, а два других зеркала 3 и 4 установлены за фокальной плоскостью микроскопа 1, жестко св заны друг с другом, с механизмом 5 перемещени  и индексом 7 отсчетной шкалы 6, а зеркальные поверхности зеркал 3 и 4 обращены во взаимно противоположные стороны. 1 ил. (Л со о 05 ел

Description

Изобретение (относитс  к и змсри- тельмой технике и может быть использовано , например, при измерении больших гю г еличине (cBi.iiiie 1000 мм) ра- диугов кривизны высокочастотных осо- Гк) чист1,1х noHepxHocTeii оптических деталей .

Цель изобретени  - измерение поверхностей с радиусом кривизны свыше 1000 мм.

На чертеже изображена принципиальна  схема устройства дл  измерени  радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали.

Устройство содержит автоколдима- пионный микроскоп 1, плоское зеркало 2 с отверстием и плоские зеркада 3 и Д, жестко св занные /фуг с другом , механизм 5 перемещени  плоских зеркал 3 и 4, отсчетную шкалу 6 с индексом 7, который св зан с зеркалами ч и 3 .

Устройство работает следующим образом .

Деталь 8 со сферической поверхностью , радиус которой надо измерить , при отсутствии зеркал 3 и 4 располагают на оптической оси автоколлимационного микроскопа 1, при этом совмещают фокус F-микроскопа 1 с центром С кривизны измер емой поверхности . Совмещение точек F и С определ ют по резкому автокодлимаци онному изображению сетки микроскопа 1. Затем устанавливают зеркала 3 и Зеркала смещают по направлению к а токодлимационному микроскопу 1 до совпадени  точки F с поверхностью плоского зеркада 3.

При этом по шкале 6 с помощью индекса 7 снимают отсчет А о положении зеркал 3 и 4, Посде этого зеркала 3 и 4 смещают по направлению к д тади 8 до тех пор, пока излучение, последовательно отраженное от зерка 3 и 4, испытуемой поверхности детали 8 не сфокусируетс  на поверхност зеркада 4. При этом снимают отсчет AI. Положение, при котором излучени

Редактор О.Юрковецка 

Состави Техред Л

фокусируетс  на поверхности зеркал 3 и 4, опредед ют по резкому изображению сетки микроскопа 1. Величину измер емого радиуса R определ ют по формуле

I

1

а+г

л -1

(а+1)(а+л)

де а I А 2 -А , I Л разность отсчетов в положени х зеркал 3 и 4;

рассто ние между отражающими поверхност ми зеркал 3 и 4;

рассто ние от точки F до поверхности зеркала 2.

При измерении радиуса кривизны поверхности детали приемлема  точность достигаетс  при смещении зеркал 3 и 4 на величину о , не превышающую 300-400 мм, а диапазон измерений величин R большой.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Устройство дл  измерени  радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали, содержащее автоколлимационный микроскоп, механизм перемещени  и отсчетную шкалу с индексом , отличающеес  тем, .что, с целью измерени  поверхностей с радиусом кривизны свыше 1000 мм, оно снабжено трем  плоскими зеркалами , установленными перпендикул рно оптической оси микроскопа, одно из которых имеет центральное отверстие и установлено перед фокальной плоскостью микроскопа, а два других зеркала за фокальной плоскостью микроскопа так, что обращены зеркальными поверхност ми в противоположные стороны и жестко св заны друг с другом, а также с механизмом перемещени  и индексом отсчетной шкалы.

   Корректор М.Шароши

   Заказ 970/42

   Тираж 680

   ВНИИПИ Государственного комитета СССР

   по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5

   Подписное