SU892205A1 - Устройство дл контрол фокусных рассто ний положительных линз - Google Patents

Description

.. изобретение относитс  к оптичес- кому приборостроению и может быть использовано дл  контрол  фокусных рассто ний положительных линз или объективов. Известно устройство дл  контрол  фокусных рассто ний положительных линз, в котором использован метод увеличени  при конечных рассто ни х до предмета и изображени  1}.. Недостатком известного устройства  вл етс  низка  точность контрол  фокусных рассто ний из-за вли ни на результаты контрол  погрешности измерени  рассто ни  между -главными плоскост ми, контролируемой линзы,по решности определени  рассто ни  между сеткой и шкалой, днсторсии контролируемой линзы. Наиболее.близким по технической .сущности к предлагаемому  вл етс  устройство, использующее метод увеличени  и содержащее объектив, в пе редней фокальной плоскости которого находитс  сетка со штрихами и окул  микрометр, расположенный в задней ф кальной плоскости КОнтролируемой лин зы t2 . Недостаток устройства - низка  точность контрол  фокусных рассто 1й линз из-за погрешности измерени  рассто ни  между изображени ми штрихов сетки. Цель изобретени  -.повышение точности контрол  фокусного рассто ни  . линз. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство, содержащее сетку с двум  параллельными штрихами, контролируемую линзу, объектив и окул рмикрометр , введены два клина, обращенные друг к другу основани ми, расположенными на оптической оси, при этом сетка располагаетс  в фокальной плоскости контролируемой линзы, а ее штрихи параллельны основани м клиньев. На фиг, 1 представлена оптическа  схема устройства) на фиг. 2 - поле зрени  окул р-микрометра при значении фокусного рассто ни  контролируемой линзы, равном номинальному; на фиг. 3 - то же, при значении фокусного рассто ни  контролируемой линзы, большем номинального; на фиг. 4 то же, при значении фокусного рассто ни , контролируемой линзы, меньшем номинального. Устройство содержит сетку 1 с двум  штрихами А и в, два клина 2,

объектив 3, окул р-микрометр 4 и контролируемую линзу 5.

Контролируемую линзу 5 помещают между сеткой 1 и. клинь ми 2 так, чтобы сетка 1 находилась в ее передней фокальной плоскости.

Устройство работает следующим образом .

Два коллимированных пучка лучей посЛё контролируемой линзы, соответсвующие двум штрихам А и В сетки 1, отклон ютс  клинь ми 2 и попадают на объектив 3, который дает изображение двух штрихов оетки 1 в своей задней фокальной плоскости, где находитс  окул р-микрометр 4.

В случае отсутстви  клиньев 2 в фокальной плоскости объектива 3 образуютс  изобраокени  штрихов л и

1

Наличие клина 2 с индексом I вызовет смещение изображений штрихов Ад и В в положение А , а наличие клина 2 с индексом ТI вызовет смещение изображений штрихов АО и В в положение (фиг. 2).

Угол отклонени  клиньев у. выбираетс  таким, чтобы обеспечить совпадение изображений штрихов А и В в случае, когда фокусное рассто ние контролируемой линзы fjj равно номинальному f/J .

Параметры а и а,, (фиг. 2) определ ютс  по формулам

0 и а.. 1. f;,

и Ч - углы отклонени  световых пучков клинь ми с инденксами I и fl соответственно; фокусно рассто ние объектива.

Измер   рассто ние ЛУ между штрихами сетки А и в1 (фиг. 3 и 4) с помощью окул ра-микрометра или по шкале, помещенной в задней фокальной плоскости объектива, можно определить величину отклонени  фокусного рассто ни  контролируемой линзы от номинального.

Абсолютна  погрешность измерени  фокусного рассто ни  контролируемой линзы 4 определ етс  по формуе ле

й. c(f;-F;).

где {1 - относительна  погрешность

определени , рассто ни  между штрихами;

0 л фокусное рассто ние контролируемой линзы,

номинальное значение фокусного рассто ни .

В известном устройстве абсолютна  5 погрешность измерени  фокусного рассто ни  4 2

Из сравнени  л.и Лпвидно, что ,

Таким образом, устройство обеспечивает более высокую точность конт0 рол  фокусных рассто ний.

Claims (2)

1.Кривов з Л.М. и др. Практика оптической измерительной лаборатории, М., Машиностроение, 1974, с. 1950 рис. 116.

2.Гвоздева Н.П. -и, др. Прикладна  оптика и оптические измерени . М., Машиностроение, 1976, с. 328, рис. 253 (прототип).

в;

Лг

.

v«

т

а

Фие.