SU136094A1 - Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ванне - Google Patents
Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ваннеInfo
- Publication number
- SU136094A1 SU136094A1 SU633677A SU633677A SU136094A1 SU 136094 A1 SU136094 A1 SU 136094A1 SU 633677 A SU633677 A SU 633677A SU 633677 A SU633677 A SU 633677A SU 136094 A1 SU136094 A1 SU 136094A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electron
- density
- automating
- calculating
- spatial charge
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Beam Exposure (AREA)
Description
Известен способ моделировани электронно-оптических систем в электроотитической ванне, позвол ющий решать различные задачи по исследованию электрических полей радиоламп с учетом пространственного зар да. Моделирование пространственного зар да производитс путем введени токов в электролит с помощью токоввод щих электродов , распределенных по поверхности дна ванны. Решение задач по моделированию полей с учетом пространственного зар да производитс методом последовательных приближений. Широкое практическое применение этого метода ограничиваетс большой трудоемкостью отдельных этапов работы, из которых складываетс процесс моделировани .
Предлагаемый способ служит цел м автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ванне, с использованием автоматического траектографа, работаюш,его на основе динамической модели электрона, таким образом, что в каждо) точке пол обеспечиваетс пропорциональность скорости перемешени зондового устройства в ванне и скорости движени электрона в исследуемом объеме. Пишущее устройство траектографа питают импульсным напр жением так, что каждому импульсу соответствует одна точка на бумаге, и, следовательно, траектории электронов воспроизвод тс в виде пунктирных кривых. После построени всего семейства траекторий область, занимаема электронным потоком, оказываетс представленной полем точек. Среднее число mi точек в /-том элементе будет равно
т (1)
Р-/ У: /
№ 136094
где / - частота импульсов, питающих пишущее устройство;
Vi -средн скорость зондового устройства при прохождении через г-тый элемент; / - рассто ние между соседними траектори ми при выходе
из катода (посто нное дл всех траекторий); Si - площадь /-того элемента.
Частоту f импульсов напр жени , питающего пищущее устройство при Построени данной траектории, задают пропорцио.нальной плотности IK электронного тока с того участка катода, от которого эта траектори начинаетс . Тогда среднее число точек (удельна плотность точек ) получают равным
ш, А,-(2,
Плотность пространственного зар да в /-том элементе определ етс как
V 2i где cpt -средн величина потенциала в г-том элементе.
Сопоставл выражени (1) и (2) и принима во внимание, что при нулевых начальных скорост х электронов Vi пропорциональноу получают
от,- Л, р,- Si(3)
Таким образом, удельна плотность точек в каждом элементе площади снимаемой картины оказываетс пропорциональной величине пространственного зар да в соответствующем элементе объема вакуумного оригинала.
При рещенни практических задач представл ет интерес не только распределенне пространственного зар да, но и величины моделирующих его токов, вводимых через токоввод щие элементы в ванну. Велич и ы токов /г св заны с плотностью моделируемого пространственного зар да соотношением
р; h Si ii -- где 7. и h - соответственно электропроводимость и глубина электролита;
ео - диэлектрическа посто нна вакуума.
Задава частоту импульсов, питающих пишущее устройство, пропорциональной произведению плотности электронного тока с катода на глубину и электропроводимость электролита, получают удельную плотность точек на элементе площади сн той картины, пропорциональную величине тока, который необходимо ввести в соответствующий элемент объема электролита дл моделировани пространственного зар да при сн тии следующего приближени решаемой задачи
mt A-i-fi(4)
Коэффициенты пропорциональности Ль Ла и Лз в выражени х (2), (3) и (4) определ ютс путем абсолютной калибровки моделирующего устройства .
Предмет изобретени
1. Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптиа ,- Vi I
V-i
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU633677A SU136094A1 (ru) | 1959-07-13 | 1959-07-13 | Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ванне |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU633677A SU136094A1 (ru) | 1959-07-13 | 1959-07-13 | Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ванне |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU136094A1 true SU136094A1 (ru) | 1960-11-30 |
Family
ID=48292383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU633677A SU136094A1 (ru) | 1959-07-13 | 1959-07-13 | Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ванне |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU136094A1 (ru) |
-
1959
- 1959-07-13 SU SU633677A patent/SU136094A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3022426C2 (ru) | ||
ES469457A1 (es) | Un metodo de bombardear un objetivo o blanco con un haz de iones | |
DE68926923T2 (de) | Mikrowellenionenquelle | |
DE1671463A1 (de) | Elektrochemische Zelle | |
SU136094A1 (ru) | Способ автоматизации процессов расчета распределени плотности пространственного зар да при моделировании электронно-оптических систем в электролитической ванне | |
Mann | Stationary electrode polarography with a staircase voltage sweep | |
Ponce | Effective weak Hamiltonian for the Δ b= 1 nonleptonic decays in the six-quark model | |
GB1170472A (en) | Charge Control Apparatus | |
JPS5633500A (en) | Averaging apparatus of distribution of plating electric current | |
JPS5571970A (en) | Divice for visualizing current density distribution in electric charge particle beam | |
Prugovečki | Time-energy uncertainty and relativistic canonical commutation relations in quantum spacetime | |
DE3274471D1 (en) | Precipitation or depositing of particles from a solution | |
US2617076A (en) | Electrostatic deflection system | |
MacAlpine et al. | Positive corona in air using a point/cup electrode system | |
Pfluger | THE RELATION BETWEEN RATES OF GENERAL BASIC CATALYSIS IN DIFFERENT REACTIONS | |
Geary et al. | Charged-sheath model of cathode-directed streamer propagation | |
JPS55146036A (en) | Polarograph of step wave semidifferentiation and integration | |
WU | Field distribution inside a box with aperture[Ph. D. Thesis] | |
HARVEY | Surface currents on a conducting sphere due to a non-isotropic emitted pulse of electrons(Pulsed electron motion equations for surface current analysis on conducting sphere)[M. S. Thesis] | |
JPS55159168A (en) | Low speed electron measuring apparatus | |
JPS5494092A (en) | Mass analyzer | |
JPS55107934A (en) | Observing method of educed substance in metal material | |
SU781843A1 (ru) | Устройство дл моделировани задач теории пол в электролитической ванне | |
Hughes | Experimental Limit for the Electron-Proton Charge Difference | |
Kanavets | Electron-beam excitation of eddy fields in electrodynamical systems |