SU1348760A1 - Устройство дл измерени напр женности магнитного пол - Google Patents

Устройство дл измерени напр женности магнитного пол Download PDF

Info

Publication number
SU1348760A1
SU1348760A1 SU843786416A SU3786416A SU1348760A1 SU 1348760 A1 SU1348760 A1 SU 1348760A1 SU 843786416 A SU843786416 A SU 843786416A SU 3786416 A SU3786416 A SU 3786416A SU 1348760 A1 SU1348760 A1 SU 1348760A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnetic field
magnetic
magneto
field
polarizer
Prior art date
Application number
SU843786416A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Владимирович Дубинко
Александр Дмитриевич Крамарь
Николай Александрович Грошенко
Игорь Константинович Пухов
Original Assignee
Симферопольский государственный университет им.М.В.Фрунзе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Симферопольский государственный университет им.М.В.Фрунзе filed Critical Симферопольский государственный университет им.М.В.Фрунзе
Priority to SU843786416A priority Critical patent/SU1348760A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1348760A1 publication Critical patent/SU1348760A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к магнитным измерени м. В устройство дл  измерени  напр женности магнитного по-г л  в качестве магнитооптического элемента берут набор магнитных пленок 2 с различной величиной пол  однородного зарождени  и располагают его между анализатором 3 и пол ризатором 1, на котором имеетс  шкала , что упрощает конструкцию устройства и снижает его габариты. 1 ил. ч ч ч ч ч 00 СХ) О5 I 1x1 I I I

Description

Устройство относитс  к средствам магнитных измерений и предназначено дл  измерени  напр женности посто нных и импульсных магнитных полей.
Целью изобретени   вл етс  упрощение конструкции с одновременным снижением габаритов, что дает возможность производить магнитные измерени  в труднодоступных местах малого объема.
На чертеже показана схема устройства .
Устройство включает пол ризатор 1, магниточувствительный элемент, содержащий набор магнитооптических плецок 2, анализатор 3 и щкалу, нанесенную на пол ризатор и проградуи- рованную в единицах напр женности магнитного пол , причем используютс  магнитные одноосные пленки, доменна  структура которых может наблюдатьс  с помощью магнитооптического эффекта (например, пленка феррит- гранатов} .
Кажда  пленка характеризуетс  величиной пол  однородного зарождени , значение которого определ етс  формулой
где Q KH - А D К
2ПМ|
А (-2ПМГ
константа одноосной анизотропии магнитной пленки; намагниченность насыщени  магнитной пленки; константа обмена магнитной пленки; толщина пленки.
Устройство работает следующим образом.
Дл  измерени  магнитного пол  в объем исследуемого пол  вноситс  магниточувствительный элемент, состо щий из набора магнитооптических пленок. Кажда  пленка, вход ща  в элемент, обладает определенной величиной пол  однородного зарождени . Измерение пол  происходит по изменению характера доменной структуры (ДС). В исходном состо нии пленки обладают лабиринтной ДС, после воздействи  исследуемого пол  на элемент , его ДС переходит в ДС, соответствующую однородному зарождению.
котора  качественно отличаетс  от лабиринтной ДС.
Переход ДС от лабиринтной к ДС, соответствующей однородному зарождению , происходит при строго определенных значени х внешнего магнит - ного пол , приложенного в плоскости элемента. После прекращени  дейст10 ВИЯ пол  на элемент, ДС соответствующа  однородному зарождению, остаетс  в пленке и может переходить в ДРУг:/ю только при воздействии пол , приложенного перпендикул рно плос15 кости образца, равному полю насыщени . Наблюдение ДС осуществл етс  с помощью магнитооптического эффекта. При изменении конфигурации ДС от лабиринтной в ДС, соответствующей
20 однородному зарождению, измер ют
величину напр женности внешнего магнитного полд, так как моменту однородного зарождени  соответствует определенное значение напр женности
25 пол .
Таким образом, под действием внешнего магнитного пол  лабиринтна  ДС пленки, обладающей определенным по величине полем однородного зарожде30 ни , переходит в доменную структуру ), пол  однородного зарождени , качест- (1) венно отличающуюс  от лабиринтной ДС. Зна  величину пол  однородного зарождени , присущую каждой магнит2t ной пленке, вход щей в магниточувствительный элемент, можно определить цену делени  шкалы, нанесенной на пол ризатор в единицах напр женности магнитного пол .
40 Предлагаемое устройство может быть использовано дл  допускового . контрол  изготовл емых магнитных систем, у которых доступ к точкам
измерени  обычными методами затруд- . нен, при этом полученна  информаци  о напр женности пол  может сохран тьс  элементом на неограниченное врем .
50
55

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Устройство дл  измерени  напр женности магнитного пол , содержащее магниточувствитёльньй элемент, в виде магнитооптической пленки, ана - лизатор, пол ризатор, отличающеес  тем, что, с целью снижени  габаритов с одновременным - упрощением конструкции, в устройст
    Формула изобретени 
    Устройство дл  измерени  напр женности магнитного пол , содержащее магниточувствитёльньй элемент, в виде магнитооптической пленки, ана - изатор, пол ризатор, отличающеес  тем, что, с целью снижени  габаритов с одновременным - упрощением конструкции, в устройст31348760
    во введена шкала, нанесенна  на по- чиной пол  однородного зарождени , л ризатор, а в качестве магнитоопти- при этом магнитооптический элемент ческого элемента используетс  набор расположен между анализатором и по- магнитных пленок и различной вели- л ризатором.
SU843786416A 1984-09-04 1984-09-04 Устройство дл измерени напр женности магнитного пол SU1348760A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843786416A SU1348760A1 (ru) 1984-09-04 1984-09-04 Устройство дл измерени напр женности магнитного пол

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843786416A SU1348760A1 (ru) 1984-09-04 1984-09-04 Устройство дл измерени напр женности магнитного пол

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1348760A1 true SU1348760A1 (ru) 1987-10-30

Family

ID=21136896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843786416A SU1348760A1 (ru) 1984-09-04 1984-09-04 Устройство дл измерени напр женности магнитного пол

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1348760A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5281912A (en) * 1991-03-01 1994-01-25 Teijin Seiki Co., Ltd. Magneto-optic magnetic-field measuring apparatus for measuring a magnetic field intensity by measuring an angle of diffraction

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Чеперииков В.И. Магнитные изме зеии . МГУ, 1969. Авторское свидетельство СССР № 842652, кл. G 01R 33/00, 1979. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5281912A (en) * 1991-03-01 1994-01-25 Teijin Seiki Co., Ltd. Magneto-optic magnetic-field measuring apparatus for measuring a magnetic field intensity by measuring an angle of diffraction

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Berger et al. Quantitative vector magnetometry using generalized magneto-optical ellipsometry
KR960035055A (ko) 자기광학소자 및 광자계센서
US5521500A (en) Thin-film magnetic field detector having transverse current and voltage paths intersecting in a common plane
SU1348760A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности магнитного пол
Deeter et al. Faraday-effect magnetic field sensors based on substituted iron garnets
Eisenstein et al. High precision de Haas-van Alphen measurements on a two-dimensional electron gas
SU1038894A1 (ru) Способ измерени магнитного пол
SU1513530A1 (ru) Способ калибровки электромагнита
SU1499293A1 (ru) Способ измерени магнитного пол
SU917150A1 (ru) Способ определени структуры тонких магнитных пленок
SU741134A1 (ru) Ямр-термометр
Massey et al. Laser sensing of electric and magnetic fields for power transmission applications
Beun et al. Further researches on the magnetic properties of potassium chromium alum below 1° K
Craik The measurement of magnetization using Hall probes
RU2298202C1 (ru) Способ измерения напряженности магнитного поля
SU1170392A1 (ru) Устройство дл измерени статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов
SU1674026A1 (ru) Способ регистрации пространственного распределени локального магнитного пол
Deeter et al. Magneto-optic characterization of iron garnet crystals using photoelastic modulation
SU434343A1 (ru) Способ определения градиента магнитногополя
RU1798617C (ru) Способ измерени толщины немагнитного покрыти на ферромагнитном основании
SU855571A1 (ru) Устройство дл измерени статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов
SU1674027A1 (ru) Способ измерени магнитного пол
SU1323942A1 (ru) Способ определени механических свойств изделий из ферромагнитных материалов
SU763771A1 (ru) Градуировочный образец дл измерител остаточной намагниченности
SU785812A1 (ru) Устройство дл измерени магнитной индукции