SU1348760A1 - Устройство дл измерени напр женности магнитного пол - Google Patents
Устройство дл измерени напр женности магнитного пол Download PDFInfo
- Publication number
- SU1348760A1 SU1348760A1 SU843786416A SU3786416A SU1348760A1 SU 1348760 A1 SU1348760 A1 SU 1348760A1 SU 843786416 A SU843786416 A SU 843786416A SU 3786416 A SU3786416 A SU 3786416A SU 1348760 A1 SU1348760 A1 SU 1348760A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- magnetic field
- magnetic
- magneto
- field
- polarizer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к магнитным измерени м. В устройство дл измерени напр женности магнитного по-г л в качестве магнитооптического элемента берут набор магнитных пленок 2 с различной величиной пол однородного зарождени и располагают его между анализатором 3 и пол ризатором 1, на котором имеетс шкала , что упрощает конструкцию устройства и снижает его габариты. 1 ил. ч ч ч ч ч 00 СХ) О5 I 1x1 I I I
Description
Устройство относитс к средствам магнитных измерений и предназначено дл измерени напр женности посто нных и импульсных магнитных полей.
Целью изобретени вл етс упрощение конструкции с одновременным снижением габаритов, что дает возможность производить магнитные измерени в труднодоступных местах малого объема.
На чертеже показана схема устройства .
Устройство включает пол ризатор 1, магниточувствительный элемент, содержащий набор магнитооптических плецок 2, анализатор 3 и щкалу, нанесенную на пол ризатор и проградуи- рованную в единицах напр женности магнитного пол , причем используютс магнитные одноосные пленки, доменна структура которых может наблюдатьс с помощью магнитооптического эффекта (например, пленка феррит- гранатов} .
Кажда пленка характеризуетс величиной пол однородного зарождени , значение которого определ етс формулой
где Q KH - А D К
2ПМ|
А (-2ПМГ
константа одноосной анизотропии магнитной пленки; намагниченность насыщени магнитной пленки; константа обмена магнитной пленки; толщина пленки.
Устройство работает следующим образом.
Дл измерени магнитного пол в объем исследуемого пол вноситс магниточувствительный элемент, состо щий из набора магнитооптических пленок. Кажда пленка, вход ща в элемент, обладает определенной величиной пол однородного зарождени . Измерение пол происходит по изменению характера доменной структуры (ДС). В исходном состо нии пленки обладают лабиринтной ДС, после воздействи исследуемого пол на элемент , его ДС переходит в ДС, соответствующую однородному зарождению.
котора качественно отличаетс от лабиринтной ДС.
Переход ДС от лабиринтной к ДС, соответствующей однородному зарождению , происходит при строго определенных значени х внешнего магнит - ного пол , приложенного в плоскости элемента. После прекращени дейст10 ВИЯ пол на элемент, ДС соответствующа однородному зарождению, остаетс в пленке и может переходить в ДРУг:/ю только при воздействии пол , приложенного перпендикул рно плос15 кости образца, равному полю насыщени . Наблюдение ДС осуществл етс с помощью магнитооптического эффекта. При изменении конфигурации ДС от лабиринтной в ДС, соответствующей
20 однородному зарождению, измер ют
величину напр женности внешнего магнитного полд, так как моменту однородного зарождени соответствует определенное значение напр женности
25 пол .
Таким образом, под действием внешнего магнитного пол лабиринтна ДС пленки, обладающей определенным по величине полем однородного зарожде30 ни , переходит в доменную структуру ), пол однородного зарождени , качест- (1) венно отличающуюс от лабиринтной ДС. Зна величину пол однородного зарождени , присущую каждой магнит2t ной пленке, вход щей в магниточувствительный элемент, можно определить цену делени шкалы, нанесенной на пол ризатор в единицах напр женности магнитного пол .
40 Предлагаемое устройство может быть использовано дл допускового . контрол изготовл емых магнитных систем, у которых доступ к точкам
измерени обычными методами затруд- . нен, при этом полученна информаци о напр женности пол может сохран тьс элементом на неограниченное врем .
50
55
Claims (1)
- Формула изобретениУстройство дл измерени напр женности магнитного пол , содержащее магниточувствитёльньй элемент, в виде магнитооптической пленки, ана - лизатор, пол ризатор, отличающеес тем, что, с целью снижени габаритов с одновременным - упрощением конструкции, в устройстФормула изобретениУстройство дл измерени напр женности магнитного пол , содержащее магниточувствитёльньй элемент, в виде магнитооптической пленки, ана - изатор, пол ризатор, отличающеес тем, что, с целью снижени габаритов с одновременным - упрощением конструкции, в устройст31348760во введена шкала, нанесенна на по- чиной пол однородного зарождени , л ризатор, а в качестве магнитоопти- при этом магнитооптический элемент ческого элемента используетс набор расположен между анализатором и по- магнитных пленок и различной вели- л ризатором.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843786416A SU1348760A1 (ru) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | Устройство дл измерени напр женности магнитного пол |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843786416A SU1348760A1 (ru) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | Устройство дл измерени напр женности магнитного пол |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1348760A1 true SU1348760A1 (ru) | 1987-10-30 |
Family
ID=21136896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843786416A SU1348760A1 (ru) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | Устройство дл измерени напр женности магнитного пол |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1348760A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5281912A (en) * | 1991-03-01 | 1994-01-25 | Teijin Seiki Co., Ltd. | Magneto-optic magnetic-field measuring apparatus for measuring a magnetic field intensity by measuring an angle of diffraction |
-
1984
- 1984-09-04 SU SU843786416A patent/SU1348760A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Чеперииков В.И. Магнитные изме зеии . МГУ, 1969. Авторское свидетельство СССР № 842652, кл. G 01R 33/00, 1979. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5281912A (en) * | 1991-03-01 | 1994-01-25 | Teijin Seiki Co., Ltd. | Magneto-optic magnetic-field measuring apparatus for measuring a magnetic field intensity by measuring an angle of diffraction |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Berger et al. | Quantitative vector magnetometry using generalized magneto-optical ellipsometry | |
KR960035055A (ko) | 자기광학소자 및 광자계센서 | |
US5521500A (en) | Thin-film magnetic field detector having transverse current and voltage paths intersecting in a common plane | |
SU1348760A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности магнитного пол | |
Deeter et al. | Faraday-effect magnetic field sensors based on substituted iron garnets | |
Eisenstein et al. | High precision de Haas-van Alphen measurements on a two-dimensional electron gas | |
SU1038894A1 (ru) | Способ измерени магнитного пол | |
SU1513530A1 (ru) | Способ калибровки электромагнита | |
SU1499293A1 (ru) | Способ измерени магнитного пол | |
SU917150A1 (ru) | Способ определени структуры тонких магнитных пленок | |
SU741134A1 (ru) | Ямр-термометр | |
Massey et al. | Laser sensing of electric and magnetic fields for power transmission applications | |
Beun et al. | Further researches on the magnetic properties of potassium chromium alum below 1° K | |
Craik | The measurement of magnetization using Hall probes | |
RU2298202C1 (ru) | Способ измерения напряженности магнитного поля | |
SU1170392A1 (ru) | Устройство дл измерени статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов | |
SU1674026A1 (ru) | Способ регистрации пространственного распределени локального магнитного пол | |
Deeter et al. | Magneto-optic characterization of iron garnet crystals using photoelastic modulation | |
SU434343A1 (ru) | Способ определения градиента магнитногополя | |
RU1798617C (ru) | Способ измерени толщины немагнитного покрыти на ферромагнитном основании | |
SU855571A1 (ru) | Устройство дл измерени статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов | |
SU1674027A1 (ru) | Способ измерени магнитного пол | |
SU1323942A1 (ru) | Способ определени механических свойств изделий из ферромагнитных материалов | |
SU763771A1 (ru) | Градуировочный образец дл измерител остаточной намагниченности | |
SU785812A1 (ru) | Устройство дл измерени магнитной индукции |