SU434343A1

SU434343A1 - Способ определения градиента магнитногополя

Info

Publication number: SU434343A1
Application number: SU1899418A
Authority: SU
Original assignee: А. Г. Жучков, В. Г. Клепарский, А. И. Лапшин, С. Н. Матвеев; , В. Д. Мочалов
Priority date: 1973-03-30
Filing date: 1973-03-30
Publication date: 1974-06-30

Description

1

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол параметров магнитных полей, например, при тарировании установки дл измерени параметров магнитоодноосных монокристаллов.

Известны способы определени градиента магнитного пол путем аналитических вычислений либо путем непосредственного измерени , например, датчиком Холла.

Однако аналитические вычислени градиента не всегда обеспечивают достаточную точность , поскольку предполагают р д допущений , а измерение датчиком Холла достаточно сложно и требует дополнительного громоздкого оборудовани .

Весьма часто возникает необходимость определени градиента .магнитного пол в воздушном зазоре между двум магнитопроводами , обеспечивающими взаимно противоположное направление магнитных потоков, например , при измерении параметров магнитоодноосных монокристаллов. Дл этого образец указанного материала помещают в воздушный зазор между двум магнитопроводами и формируют в нем плоскую доменную стенку. При этом вычисление градиента н„ обеспечивает необходимой точности, а его замер извест.ыми способами доста-счно сложен.

Цель изобретени - повышение точности измерений.

Цель достигаетс тем, что по предлагаемому способу на образец монокристалла дополнительно воздействуют однородным магнитным полем смещени , перпендикул рным к

плоскости образца, измер ют изменение положени доменной стенки и определ ют искомый градиент как отношение изменени однородного магнитного пол к соответствующему изменению положени доменной стенки в

плоскости образца.

Ца чертеже приведена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Два магнитопровода 1 и 2 соответственно с помощью обмоток 3 и 4, по которым протекает посто нный ток, создают градиентное поле с напр женност ми HI и HZ в зазоре между ними, поскольку направлени потоков в магнитопроводах взаимно противоположны. В зазоре магпитопроводов 1 и 2 помещена

пластинка 5 из монокристаллического магнитоодноосного оптически прозрачного материала (ортоферрит, ферритгранат). Соленоид 6 создает однородное магнитное поле, перпендикул рное к плоскости пластины.

Если в градиентное поле двух магнитопроводов 1 и 2 поместить тонкую пластинку магнитоодноосного монокристаллического материала , то в последней формирзетс плоска стенка, образованна двум противоположно

намагниченными област ми. Если теперь на

намагниченную таким образом пластинку 5 воздействовать однородным магнитным полем от обмотки соленоида, И1меющим определенную величину и направленным согласно с полем , например, магнитооровода 1, то доменна стенка сместитс вправо, поскольку больша часть пластинки оказываетс намагниченной по полю магнитопровода 1.

Таким образом, дискретно увеличива однородное магнитное поле Я соленоида 6 и измер смещение доменной стенки Д/, стро т зависимость ДЯ f (Л/) и вычисл ют градиент пол в любой его точке,

grad« f.

Таким образом, предлагаемый способ по сравнению с известным имеет более высокую точность, поскольку тарировка прибора, реализующего этот способ, производитс при наличии испытуемого образца монокристалла, свойства которого исследуют на тарируемом приборе.

Предмет изобретени

Способ определени градиента магнитного пол , создаваемого двум противоположно направленными магнитными потоками, основанный на формировании плоской доменной

стенки в магнитоодноосном монокристалле, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности, на образец монокристалла дополнительно воздействуют однородным магнитным полем смещени , перпендикул рным к

плоскости образца, измер ют изменение положени доменной стенки и определ ют искомый градиент как отнощение изменени однородного магнитного пол к соответствующему изменению положени доменной стенки в

плоскости образца.