Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к магнит . ным измерительным приборам, и позв л ет измер ть радиус кривизны пост нных и импульсных магнитных полей превышающих заданный предел. Известно устройство дл определ ни силовых линий магнитного пол , предназначенное дл определени то пографии пол осесимметричных или плоских электромагнитных двумерных систем. Оно выполнено в виде двух соосно расположенных концентрических наборов катушек с одинаковым числом витков, один из которых установлен неподвижно относительно исследуемой системы соосно с ней, а другой соединен с механизмом перемещени вдоль оси системы и регистратором положени катушек, причём одноименные концы обоих наборов соединены между собой коммутатором а другие концы включены в цепь индикатора . Устройство позвол ет с достаточной точностью измер ть ради альные и осевые координаты точек ли НИИ одной и той же напр женности С1 Однако по своему исполнению такое устройство имеет большие размеры и не обладает способностью запоминать информацию, поэтому разрешаю ща способность датчика мала и оно не может быть использовано дл измерений в малых объемах и труднодоступных местах. Известен магнитооптический датчи дл измерени напр женности магнитного пол , содержащий магнитооптический активный элемент, размещенны между оптическими пол ризатором ианализатором , снабженный шкалой отсчета и подложкой, на которой щен магнитооптический активный элемент , а шкала отсчета установлена пов анализатора. Дл измерени указанных характеристик магнитного пол магнитооптический активный элемент выполнен в виде двухслойной магнитной пленки с различными средними температурами магнитной компенсации в сло х и с монотонным изменением результирующей намагниченности в каждом слое. Работа устройства основана на в лении возникновени излома плоской доменной границы на поверхности раз дела между сло ми, в результате чего доменна граница принимает вид ступеньки, и изменении ширины этой ступеньки при изменении напр женнос ти магнитного пол действующего нор мально к поверхности датчика. Точность измерени напр женности пол определ етс точностью измерени шщэины уширенной области ГЗ}. Известное устройство не позвол ет измер ть характеристики посто нных и импульсных магнитных полей с достаточным разрешением, в силу использовани двухслойной магнитной пленки, имеющей в обоих сло х одинаковое направление оси легкого намагничени . Цель изобретени - повышение разрешающей способности устройства. Поставленна цель достигаетс тем, что в устройстве дл измерени радиуса кривизны магнитного пол , содержащем мгйгнитооптический активный элемент, расположенный между пол ризатором и анализатором и снабженный шкалой отсчета, магнитооптический элемент выполнен в виде двух скрепленных между собой слоев магнитоодноосной пленки с лабиринтной доменной структурой с наклоном оси легкого намагничени относительно нормали к поверхности активного элемента, первый слой которого вл етс зеркальным отображением оси легкого Намагничени второго сло . На чертеже представлена структурна схема устройства дл измерени радиуса кривизны посто нных и импульсных магнитных полей. Устройство содержит пол ризатор 1, магнитооптический элемент 2 в виде двухслойной магнитной пленки , вырезанной из монокристалла или выращенной, например, методом жидкофазной эпитаксии на монокристаллической подложке, анализатор 3, шкалу 4. Активный элемент расположен между анализатором и пол ризатором, скреплены любым клеем, не нарушающим магнитооптические свойства устройства, а шкала приклеиваетс на анализатор. Оба сло магнитооптического активного элемента характеризуютс углом наклона оси легкого намагничени относительно нормали к поверхности элемента, который выбираетс в зависимости от диапазона измерени радиуса кривизны. Предельный угол наклона определ етс областью существовани лабиринтной доменной струкуры в отсутствии внешних полей дл используемого магнитооптического маериала . Устройство основано на использовании эффекта однородного зарождени оменной структуры в одноосной магнитной пленке. Зарождение доменной структу11Ы, сосоответствующее однородному зарождению , происходит при перемагничивании образца магнитным полем перпеникул рно его легкой оси. В этом случае доменна структура состоит из равнопол рных доменов одинаковой площади, но резко отличаетс от лабиринт ной доменной структуры. Устройство работает следующим обра зом,, Прй действии на датчик магнитного ол , превышающего заданный предел ( определ емый магнитными свойствами датчика), происходит однородное зарождение доменной структуры в том объеме датчика, где направление касательной к силовой линии и оси легкого намагничени взаимно-перпендикул рно . Нижний предел исследуемого магнитного пол определ етс минимальным значением пол одноосной анизотропии, при которой существует лабиритна доменна структура, В виду разной ориентации оси легкого намагничени в каждом слое датчика, зоны однородного зарождени возникают на рассто нии J друг от друга. Это рассто ние зависит от радиуса кривизны пол в плоскости, проход щей через ось легкого намагничени обоих слоев, и угла наклона V оси легкого намагничени относительно нормали к пленке. Fla чертеже видно, что .рассто ние 1 есть хорда, ст гивающа дугу .окружности с центральным углом 24 и радиусом R. Следователь но, радиус кривизны измер емого пол в заданной плоскости определ етс по формуле Формула получена в приближении, что R h, где h - толщина одного сло датчика. При измерении в малых объемахможно считать, что поле имеет центральную симметрию. При измерении радиуса кривизны маг нитных полей по шкале фиксируетс местоположением зон однородного зарождени в каждом из слоев датчика, соответ ствующее определенному значению радиуса кривизна магнитного пол . Пределы измерени величины радиуса кривизны магнитных полей цпредел ютс размерами активного элемента 2 и углом наклона оси легкого намагничени к нормали элемента. Точность измерени определ етс точностью измерени рассто ни между зонами однородного зарождени в сло х активного элемента и может быть весьма высокой за счет использовани методов оптической микроскопии . Дл исследовани структуры неоднородных магнитных полей широко используютс фигуры Биттера, индукционные , магниторезисторные датчики , датчик Холла. Однако, если необходимо построить векторное распределение пол , создаваемое объектом малых размеров (например, посто нным микромагнитом, токовой аппликацией , зазором магнитной ), то разрешающа способность перечисленных датчиков оказываетс недостаточной . Предлагаемое устройство может быть использовано при измерении радиуса кривизны магнитных полей в магнитных системах, в которых к точкам измерени затруднен обычными методами, при этом полученна информаци о радиусе кривизны измер емого пол может сохранитьс в устройстве неограниченное врем . Магнитооптическа визуализаци с помощью предлагаемого устройства позвол ет эффективно исследовать распределени произвольных пространственно неоднородных магнитных полей, контролировать магнитные }сарактеристики роторов из посто нных магнитов в микроминиатюрных двигател х с достаточной разрешающей способностью устройства.