SU1499293A1 - Способ измерени магнитного пол - Google Patents

Способ измерени магнитного пол Download PDF

Info

Publication number
SU1499293A1
SU1499293A1 SU874333056A SU4333056A SU1499293A1 SU 1499293 A1 SU1499293 A1 SU 1499293A1 SU 874333056 A SU874333056 A SU 874333056A SU 4333056 A SU4333056 A SU 4333056A SU 1499293 A1 SU1499293 A1 SU 1499293A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnetic field
film
plane
measured magnetic
output
Prior art date
Application number
SU874333056A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Васильевич Рандошкин
Original Assignee
В.В.Рандошкин,
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.В.Рандошкин, filed Critical В.В.Рандошкин,
Priority to SU874333056A priority Critical patent/SU1499293A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1499293A1 publication Critical patent/SU1499293A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

Изобретение касаетс  магнитных измерений и предназначено дл  использовани  в технике магнитооптических датчиков магнитных полей. Целью изобретени   вл етс  повышение чувствительности. Устройство, реализующее способ, содержит последовательно расположенные на одной оптической оси источник 4 света, пол ризатор 2, магнитоодноосную пленку 1, анализатор 3, фотодетектор 5, регистрирующее устройство 6. Пленка 1 помещена между полюсами посто нного магнита 7. При измерении перпендикул рного к плоскости пленки магнитного пол  пленку 1 намагничивают до насыщени  полем посто нного магнита 7, параллельным плоскости пленки, с напр женностью, превышающей поле одноосной анизотропии. Регистрируют интенсивность магнитного пол , прошедшего через пол ризатор 2, пленку 1 и анализатор 3, определ ют напр женность и направление измер емого магнитного пол . Способ имеет высокую чувствительность. 1 ил.

Description

4 СО СО
со
Од
Изобретение относитс  к магнитным измерени м и может быть использовано в магнитооптических датчиках магнитных полей.
Цель изобретени  - повышение чувствительности .
На чертеже приведена структурно- функциональна  схема устройства реализации способа.
Устройство содержит магнитоодноос- ную пленку j пол ризатор 2, анализатор 3, источник 4 света, фотодетек- тор 5, регистрирующее устройство 6,
посто нный магнит 7. Источник 4, по- 15 пленки магнитного .пол  и испйл-ьзова- л ризатор 2, магнитооднооснона  плен- ние полученной калибровочной зависика 1, анализатор 3 и фотодетектор 5 последовательно расположены на одной оптической осио Электрический выход фотодетектора 5 подключен к входу .20 регистрирующего устройства 6, Магнито- одноосна  пленка помещена между
полюсами посто нного магнита 7 так,
1
что ее плоскость параллельна силовым
25
лини м.
Способ осуществл етс  следующим образом.
Воздействие на магнитоодноосную пленку посто нным полем магнита 7, Приложенным параллельно плоскости апенки, с напр женностью ti, превышающей после одноосной анизотропии пленки II jjs приводит к намагничиванию пленки до насьшдени  вдоль направлени  посто нного магнитного пол . Под действием измер емого магнитного пол  Hj,, приложенного перпендикул рно плоскости пленки,вектор намагниченности выходит из плоскости пленки. Это приводит к повороту в пленке плоскости пол ризации сформированного источникйм 4 и пол ризатором 2 светового пучка, однозначна св занно1-1у с проекцией намагниченности
мости Н„з(Л1) в измерени х,
При скрещенных прл ризаторе 2 и анализаторе 3 сигнал на выходе устройства равен нулю. Воздействие измер емого магнитного пол  вдоль нормали к плоскости пленки приводит к по влению сигнала на выходе устройства, Дп  определени  направлени  измер емого магнитного пол  оси пропускани  пол ризатора и анализатора можно уста новить под углом 45. При этом в отсутствие , измер емого магнитного пол  сигнал на выходе устройства равеи 30 половине его максимального.значени , По мере увеличени  угла выхода на- магниченности из плоскости пленки под действием измер емого магнитного пол  : сигнал на выходе устройства уменьшает- 35 с  при одном его направлении и увели чиваетс  при другом.
Воздействие магнитного пол  на пленку, намагниченную до насьш1ени  в плоскости пленки, не приводит к 40 заролсдению доменов и доменных стенок Отсутствуют характерные дл  прототипа, предусматривающего намагничивание до насыщени  перпендикул р но плоскости пленки, ограничени  на
на направление распространени  света, 5 чувствительность, обусловленные суУказанный поворот вызывает изменение интенсивности света, пропускаемого анализатором 3 на фотодетектор 5, и, следовательно, сигнала, регистрируемо- го устройством 6, Таким образом, из- менение &I сигнала на выходе устройства 6 есть функци  угла выхода вектора намагниченности из плоскости пленки, т.е.
М f(0e),(О 55
где бе У1 ол между вектором намагниченности и осью легкого намагничивани , перпендикул рной плоскости
ществованием порогового пол  заролще ни  домена с обратной намагниченностью на дефекте.

Claims (1)

  1. Поскольку воздействие измер емого магнитного пол  приводит к однородному по площади йленки повороту векторов намагниченности, ои обладает высоким ( 1 не) быстродействием, что  вл етс  дополнительным положительным эффектом. Формула изобретени 
    Способ измерени  магнитного пол , заключающийс  в том, что в измер емо магнитное поле помещают магнитооднопленкн . Он св зан с перпендикул рным плоскости пленки измер емым магнитным полем следующим соотношением:
    (Нц - Ms)sin dgcos вр-
    -ь )(arctg -S - е),(2)
    и ЭЛЛ
    где Mg - намагниченность насьщени .
    Соотношени ми .(О и (2) боснова г на калибровка сигнала на выходе регистрирующего устройства 6 по напр женности перпендикул рного к плоскости
    пленки магнитного .пол  и испйл-ьзова- ние полученной калибровочной зависи
    5
    мости Н„з(Л1) в измерени х,
    При скрещенных прл ризаторе 2 и анализаторе 3 сигнал на выходе устройства равен нулю. Воздействие измер емого магнитного пол  вдоль нормали к плоскости пленки приводит к по влению сигнала на выходе устройства, Дп  определени  направлени  измер емого магнитного пол  оси пропускани  пол ризатора и анализатора можно установить под углом 45. При этом в отсутствие , измер емого магнитного пол  сигнал на выходе устройства равеи 0 половине его максимального.значени , По мере увеличени  угла выхода на- магниченности из плоскости пленки под действием измер емого магнитного пол  : сигнал на выходе устройства уменьшает- 5 с  при одном его направлении и увеличиваетс  при другом.
    Воздействие магнитного пол  на пленку, намагниченную до насьш1ени  в плоскости пленки, не приводит к 0 заролсдению доменов и доменных стенок Отсутствуют характерные дл  прототипа, предусматривающего намагничивание до насыщени  перпендикул рно плоскости пленки, ограничени  на
    ществованием порогового пол  заролще- ни  домена с обратной намагниченностью на дефекте.
    Поскольку воздействие измер емого магнитного пол  приводит к однородному по площади йленки повороту векторов намагниченности, ои обладает высоким ( 1 не) быстродействием, что  вл етс  дополнительным положительным эффектом. Формула изобретени 
    Способ измерени  магнитного пол , . заключающийс  в том, что в измер емое магнитное поле помещают магнитоодноосную пленку, воздействуют на пленку посто нным магнитным полем и плоско пол ризованным светом, отличающийс  тем, что, с целью повы тени  чувствительности, посто нное магнитное поле с напр женностью, пре- вьшающей поле одноосной анизотропии пленки, прикладывают в плоскости
    пленки перпендикул рно направлению . измер емого магнитного пол  и регистрируют интенсивность плоскопол ризованного света, последовательно прошедшего через магнитоодноосную.пленку и анализатор, по которой определ ют напр женность и направление измер емого магнитного пол .
SU874333056A 1987-11-24 1987-11-24 Способ измерени магнитного пол SU1499293A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874333056A SU1499293A1 (ru) 1987-11-24 1987-11-24 Способ измерени магнитного пол

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874333056A SU1499293A1 (ru) 1987-11-24 1987-11-24 Способ измерени магнитного пол

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1499293A1 true SU1499293A1 (ru) 1989-08-07

Family

ID=21338155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874333056A SU1499293A1 (ru) 1987-11-24 1987-11-24 Способ измерени магнитного пол

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1499293A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002029479A1 (fr) * 2000-10-03 2002-04-11 Mikhail Yurievich Gusev Procede de generation d'une image optique d'un champ magnetique
WO2009025581A1 (ru) * 2007-08-17 2009-02-26 Gusev, Mikhail Yurievich Устройство для получения изображения магнитного поля

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 459999, кл. G 01 R 33/032, 1973. Куделькин Н.Н. и др. Доклады АН СССР, 1985, т.281, № 4, с. 848-851, *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002029479A1 (fr) * 2000-10-03 2002-04-11 Mikhail Yurievich Gusev Procede de generation d'une image optique d'un champ magnetique
WO2009025581A1 (ru) * 2007-08-17 2009-02-26 Gusev, Mikhail Yurievich Устройство для получения изображения магнитного поля

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2657163B1 (fr) Capteur de detection et de mesure de l'angle de rotation d'un plan de polarisation de la lumiere.
SU1499293A1 (ru) Способ измерени магнитного пол
KR970029393A (ko) 자기광학특성 측정장치
RU1768963C (ru) Способ измерени механических напр жений
SU966631A1 (ru) Способ измерени пол магнитной анизотропии тонких магнитных пленок
SU177973A1 (ru) Способ измерения остаточных и околонулевых переменных токов в сильноточных цепях
JPH0820421B2 (ja) 探傷方法及び探傷装置
JPH0322595B2 (ru)
SU1580298A1 (ru) Магнитометр
SU1691796A1 (ru) Способ неразрушающего контрол намагниченности насыщени магнитных пленок
SU1348760A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности магнитного пол
SU1674027A1 (ru) Способ измерени магнитного пол
RU1817028C (ru) Способ аттестации и поверки пол ризационно-оптических преобразователей переменных и импульсных электрических и магнитных величин
SU139367A1 (ru) Индикатор нул магнитного пол
SU1420559A1 (ru) Устройство дл измерени магнитных полей
SU757990A1 (ru) Оптико-электронный измеритель тока 1
SU580533A1 (ru) Магнитооптический гистериограф
SU864205A1 (ru) Способ определени величины магнитного пол
SU737897A1 (ru) Способ измерени коэрцитивной силы цилиндрических тонких магнитных пленок
RU1818602C (ru) Устройство дл определени пространственного распределени магнитного пол
EP3734313A1 (en) Method for extracting a transverse magneto-optic effect signal
SU855566A1 (ru) Способ определени максимальных значений индукции импульсных магнитных полей
SU1170392A1 (ru) Устройство дл измерени статических магнитных характеристик ферромагнитных материалов
KR100563628B1 (ko) 광자계센서 및 상기 광자계센서를 이용한 광자계측정장치
SU1513530A1 (ru) Способ калибровки электромагнита