SU1332242A1 - Device for measuring the reflection factor - Google Patents

Device for measuring the reflection factor Download PDF

Info

Publication number
SU1332242A1
SU1332242A1 SU853889919A SU3889919A SU1332242A1 SU 1332242 A1 SU1332242 A1 SU 1332242A1 SU 853889919 A SU853889919 A SU 853889919A SU 3889919 A SU3889919 A SU 3889919A SU 1332242 A1 SU1332242 A1 SU 1332242A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
reflector
antenna
truncated cone
transmitting
material under
Prior art date
Application number
SU853889919A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вадим Иванович Гончаров
Владимир Георгиевич Жирнов
Original Assignee
МВТУ им.Н.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by МВТУ им.Н.Э.Баумана filed Critical МВТУ им.Н.Э.Баумана
Priority to SU853889919A priority Critical patent/SU1332242A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1332242A1 publication Critical patent/SU1332242A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к технике измерений. Цель изобретени  - повышение точности и локализации измерений . Устройство содержит-СВЧ-г-р 1, передающую и приемную антенны 2 и 5, отражатель 3, исследуемый материал (ИМ) 4 и приемник 6. Сигнал от г-ра 1 с помощью антенны 2 излучаетс  в сторону отражател  3. Геометри  отражател  3 выбрана такой, что отраженный от его поверхности сигнал попадает в середину ИМ 4, расположенного на оси усеченного конуса, образующего отражатель 3. Отразившись от ИМ 4 и вновь от отражател  3, сигнал попадает в антенну 5, а затем на приемник 6. Наличие отражател  3 позвол ет повысить точность измерени  коэффициента отражени  за счет уменьшени  св зи антенны 2 и 5 при больших углах падени  и существенного сужени  диаграмм направленности антенн 2 и 5 в горизонтальной плоскости, а также локализовать рабочую зону устройства. 2 ил. i (ЛThis invention relates to a measurement technique. The purpose of the invention is to improve the accuracy and localization of measurements. The device contains-microwave-1, transmitting and receiving antennas 2 and 5, the reflector 3, the material under study (IM) 4 and the receiver 6. The signal from g-1 using the antenna 2 is radiated towards the reflector 3. Geometry of the reflector 3 chosen such that the signal reflected from its surface falls into the middle of IM 4, located on the axis of a truncated cone forming reflector 3. Reflected from IM 4 and again from reflector 3, the signal enters antenna 5 and then to receiver 6. The presence of reflector 3 allows to increase the accuracy of measurement of the reflection coefficient due to reduce the communication of antenna 2 and 5 at large angles of incidence and a significant narrowing of the radiation patterns of antennas 2 and 5 in the horizontal plane, as well as localize the working area of the device. 2 Il. i (L

Description

Изобретение относитс  к технике ысокочастотных измерений и может быть использовано дл  определени  коэффициентов отражени  от материа- ов при падении электромагнитных волн в диапазоне углов.The invention relates to a technique for high-frequency measurements and can be used to determine reflection coefficients from materials when electromagnetic waves are dropped in a range of angles.

Целью изобретени   вл етс  повышение точности и локализации измерений.The aim of the invention is to improve the accuracy and localization of measurements.

На фиг. 1 представлена структурна  схема устройства дл  измерени  коэффициента отражени ; на фиг. 2 - вид А на фиг.1.FIG. 1 is a block diagram of a device for measuring reflection coefficient; in fig. 2 shows view A in FIG.

Устройство дл  измерени  коэффициента отражени  содержит СВЧ-гене- ратор 1, выход которого соединен с передающей антенной 2, отражатель 3, образованный внутренней поверхностью усеченного конуса, ограниченного поверхностью , проход щей через ось усеченного .конуса, исследуемый материал 4, расположенный вдоль усеченного конуса, приемную антенну 5, соединенную с входом приемника 6. При этом приемна  и передающа  ан t тенны 5 и 2 расположены под равными углами к поверхности исследуемого материала 4, обращены к отражателю 3 и установлены в одной плоскости, перпендикул рной оси усеченного конуса и с возможностью вращени  относительно ее. Приемна  и передающа  антенны 5 и 2 установлены между исследуемым материалом 4 и отражателем 3.The device for measuring the reflection coefficient contains a microwave generator 1, the output of which is connected to the transmitting antenna 2, a reflector 3 formed by the inner surface of a truncated cone bounded by the surface passing through the axis of the truncated cone, the material 4, located along the truncated cone, receiving antenna 5 connected to the input of the receiver 6. In this case, the receiving and transmitting antennas 5 and 2 are located at equal angles to the surface of the material 4, facing the reflector 3 and installed in one loskosti perpendicular to the axis of the truncated cone and rotatably relative to it. Receiving and transmitting antennas 5 and 2 are installed between the material under study 4 and the reflector 3.

Устройство дл  измерени  )ици- ента отражени  работает следующим образом .The device for measuring the reflection of the reflection operation works as follows.

Сигнал от СВЧ-генератора 1 с помощью передающей антенны 2 излучаетс  в сторону отражател  3. Геометри  отражател  3 выбрана такой, что отраженный от поверхности отражател  3 .сигнал попадает в середину исследуе- |мого материала 4, расположенного на оси усеченного конуса, образукщего отражатель 3. Отразившись от исследуемого материала 4 и вновь от отражател  3, сигнал попадает в приемнуюThe signal from the microwave generator 1 is transmitted to the side of the reflector 3 by the transmitting antenna 2. The geometries of the reflector 3 are chosen such that the signal reflected from the surface of the reflector 3 falls in the middle of the material under investigation 4 located on the axis of the truncated cone forming the reflector 3 Reflected from the material under study 4 and again from the reflector 3, the signal enters the receiving

5five

00

5five

00

5five

00

5five

антенну 5, а затем на приемник 6. При синхронном повороте передающей и приемной антенн 2 и 5 относительно оси усеченного конуса, образующего отражатель 3, измер ют коэффициент отражени  в диапазоне углов падени  электромагнитной волны от эталонного материала при калибровке и от исследуемого материала 4- при измерении. Наличие.отражател  3 позвол ет повысить точность измерени  коэффициента отражени  за счет уменьшени  св зи передающей и приемной антенн 2 и 5 при больших углах падени  и существенного сужени  диаграмм направленности передающей и приемной антенн 2 и 5 в горизонтальной плоское- . ти, локализовать рабочую зону устройства .antenna 5 and then to receiver 6. With synchronous rotation of the transmitting and receiving antennas 2 and 5 relative to the axis of the truncated cone forming the reflector 3, the reflection coefficient is measured in the range of angles of incidence of the electromagnetic wave from the reference material during calibration and from the test material 4- at measurement. The presence of a reflector 3 makes it possible to increase the accuracy of the reflection coefficient measurement by reducing the communication of the transmitting and receiving antennas 2 and 5 at large angles of incidence and substantially narrowing the transmitting and receiving antennas 2 and 5 in the horizontal plane. ti, localize the working area of the device.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Устройство дл  измерени  коэффициента отражени , содержащее СВЧ-ге- нератор, к выходу которого подключена передающа  антенна. Приемник, вход которого соединен с приемной антенной , исследуемый материал и отражатель , причем передающа  и приемна  антенны расположены под равными углами к поверхности-исследуемого материала , отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности и локализации измерений, отражатель образован частью внутренней поверхности усеченного конуса, ограниченного поверхностью , проход щей через ось усеченного конуса, исследуемый материал расположен вдоль оси усеченного конуса , а приемна  и передающа  антенны расположены между отражателем и исследуемым материалом и обращены к поверхности отражател , приемна  и передающа  антенны расположены в одной плоскости, перпендикул рной оси усеченного конуса, и установлены с возможностью вращени  относительно нее.A device for measuring the reflection coefficient, containing a microwave generator, to the output of which a transmitting antenna is connected. The receiver, the input of which is connected to the receiving antenna, the material under study and the reflector, the transmitting and receiving antennas being located at equal angles to the surface of the material under investigation, characterized in that, in order to improve the accuracy and localization of measurements, surface bounded through the axis of the truncated cone, the material under study is located along the axis of the truncated cone, and the receiving and transmitting antennas are located between the reflector and the material under study and facing the surface of the reflector, the receiving and transmitting antennas are located in one plane, perpendicular to the axis of the truncated cone, and are installed with the possibility of rotation relative to it. ВиЗ fViz f Фиг. IFIG. I
SU853889919A 1985-04-26 1985-04-26 Device for measuring the reflection factor SU1332242A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853889919A SU1332242A1 (en) 1985-04-26 1985-04-26 Device for measuring the reflection factor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853889919A SU1332242A1 (en) 1985-04-26 1985-04-26 Device for measuring the reflection factor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1332242A1 true SU1332242A1 (en) 1987-08-23

Family

ID=21175185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853889919A SU1332242A1 (en) 1985-04-26 1985-04-26 Device for measuring the reflection factor

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1332242A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2503021C2 (en) * 2011-12-30 2013-12-27 Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва" Method to measure coefficient of reflection of flat reflector in microwave range and device for its realisation

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Мицмахер М.Ю., Торгованов В.А. Безэховые камеры СВЧ. М,,: Радио и св зь, 1982, с. 96-98. Труды,Ленинградского института авиационного приборостроени , 1968, вып. 59, с. 97-101. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2503021C2 (en) * 2011-12-30 2013-12-27 Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва" Method to measure coefficient of reflection of flat reflector in microwave range and device for its realisation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE7904696L (en) DEVICE FOR DETERMINATION OF OBJECTIVITY IN WOOD, ESPECIALLY IN SAGAT WOOD
US5256978A (en) Microwave moisture content analyzer
GB1489554A (en) Method for classifying timber
US5502394A (en) Compact, portable device for measuring the reflection coefficient of a structure exposed to microwave radiation
SU1332242A1 (en) Device for measuring the reflection factor
JPS6454323A (en) Temperature measuring method and apparatus
USH821H (en) Means and method for performing shielding effectiveness measurements using mode-stirred chambers
SU1363085A1 (en) Device for measuring reflection factor
JPS5635078A (en) Distance measuring unit
SU1270720A1 (en) Device for measuring reflection factor of radioabsorbing materials
SU643817A1 (en) Ice thickness measuring method
JPS5590845A (en) Dielectric constant surveilance device
SU985752A1 (en) Device for sheet material reflection factor
JPS56153268A (en) Distance measuring device
JPS57125868A (en) Side looking aperture radar
SU1364868A1 (en) Method of measuring thickness of dielectric article
SU1046708A1 (en) Device for measuring coefficient of reflection in different angles of incidence of electromagnetic wave on specimen
JPS5765934A (en) Appreciating device for capability of eliminating incident
SU420958A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF THE REFRIGERATION RADIO ABSORBING L \ ATERIAL COEFFICIENT
SU1377690A1 (en) Apparatus for measuring moisture content in materials
SU862083A1 (en) Method of measuring effective area of frontal dispersion of objects having cylindrical shape
RU2117952C1 (en) Method determining specular reflectance of surface of substance
SU1374151A1 (en) Method of measuring gain factor of radar antenna
SU1536326A1 (en) Apparatus for measuring characteristics of radar scattering of object
SU1661699A1 (en) Method of locating geoactive disturbed region in solar wind