SU985752A1 - Device for sheet material reflection factor - Google Patents
Device for sheet material reflection factor Download PDFInfo
- Publication number
- SU985752A1 SU985752A1 SU813272016A SU3272016A SU985752A1 SU 985752 A1 SU985752 A1 SU 985752A1 SU 813272016 A SU813272016 A SU 813272016A SU 3272016 A SU3272016 A SU 3272016A SU 985752 A1 SU985752 A1 SU 985752A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sheet material
- sheet
- antenna
- metal sheet
- axes
- Prior art date
Links
Landscapes
- Aerials With Secondary Devices (AREA)
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ. КОЭФФИЦИЕНТАОТРАЖЕНИЯ ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛОВ(54) DEVICE FOR MEASUREMENT. COEFFICIENT REFLECTIONS OF SHEET MATERIALS
1one
Изобретение относитс к технике измерений на сверхвысоких частотах и может использоватьс дл измерени коэффициента отражени неметаллических листовых материалов.The invention relates to a technique for measuring at ultrahigh frequencies and can be used to measure the reflection coefficient of non-metallic sheet materials.
Известно устройство дл измерени коэффициента ,отражени листовых, материалов , содержащее приемопередатчик с антенной, подключенный к регистратору, и металлический лист, образующий с исследуемым листовым материалом дев ностоградусный уголковый отражатель, установленный в поле излучени антенны с возможностью вращени относительно оси, проходтцей через его ребро, opHSHTiipoванное ортогонально направлению излуче НИН антенны С1 .A device for measuring coefficient, sheet reflection, materials, comprising a transceiver with an antenna connected to a recorder, and a metal sheet, forming a virgin angle angle reflector installed in the radiation field of the antenna, with the possibility of rotation about the axis, passing through its edge, opHSHTiipovanny orthogonal to the direction of the radiation NIN antenna C1.
Однако известное устройство не рбес печивает высокую точность измерени .However, the known device does not produce a high accuracy of measurement.
и.ель изобретени - повышение, точности измерений.and the invention of the invention is an increase in measurement accuracy.
Поставленна цель достигаетс тем, что металлический лист и исследуемый листовой материал имеют форму полу2The goal is achieved by the fact that the metal sheet and the sheet material under investigation are semi2
эллипсов с ос ми а 7/4 л , Ь(1,3 1 ,5) а , где о и Ъ - мала и больша оси эллипса соответственно; Д - длина рабочей волны в свободном пространстве. На фиг. 1 приведена структурна схе- 5 ма предлагаемого устройства;на фиг. 2конструкци дев ностоградусного уголкового отражател .ellipses with axes a 7/4 l, b (1.3 1, 5) a, where o and b are small and the major axis of the ellipse, respectively; D - the length of the working wave in free space. FIG. 1 shows the structural scheme of the proposed device; FIG. 2 designs of virgin angle reflector.
Устройство содержит приемопередат чик 1 с антенной 2, подключённый к регистратору 3, и металлический лист 4, образующий с исследуемым листовым материалом 5 дев ностоградусный уголковый отражатель, установленный в поле излуче ни антенны 2 с возможностью вращени относительно оси, проход5пцей через его ребро, ориентированное ортогонально направлению излучени антенны 2, и датчик 6 угла поворота, при этом металлический The device contains transceiver 1 with antenna 2, connected to recorder 3, and metal sheet 4, which forms a virgin angle reflector with an examined sheet material 5, mounted in the radiation field of antenna 2 with rotation possibility about an axis orthogonal through its edge the direction of radiation of the antenna 2, and the angle sensor 6, with the metal
20 лист 4 и исследуемый листовой матери- ал 5 имеет форму полуэллипсов.20 sheet 4 and the sheet material under study 5 has the shape of half ellipses.
Устройство работает следующим обра .зом.The device works as follows.
Сверхвысокочастотные колебани генерируютс передающим устроЙЬтвом и излучаютс антенной 2 в направлении металлического листа 4 и исследуемого листового материала 5. Дл измерени коэффи- 5 шента отражени при требуемом угле ,падени металлический лист 4 поворачиваетс вокруг оси на угол ,. равный углу падени на образец, - исследуемый листовой материал 5, отсчитанный от нормали О к его поверхности (фиг. 1). The microwave oscillations are generated by the transmitting device and radiated by the antenna 2 in the direction of the metal sheet 4 and the sheet material 5 under study. To measure the reflection factor at the required angle, the metal sheet 4 is rotated around the axis by an angle. equal to the angle of incidence on the sample, is the sheet material 5, counted from the normal O to its surface (Fig. 1).
Переотраженные радиоволны принимаютс антенной 2, преобразуютс приемником приеглопередатчика 1 в сигнал, пропорциональный прин той мощности,и ре- 15 гистрируютс регистратором 3 одновременно с сигналом датчика 6 угла поворота дев ностоградусного уголкового отражател , несущим информацию о величине угла / .20The re-reflected radio waves are received by antenna 2, converted by receiver of transceiver 1 into a signal proportional to the received power, and recorded by recorder 3 simultaneously with the signal of angle sensor 6 of the ninth-degree corner reflector, carrying information about the angle / .20
Измерение коэффициента отражени ) выполн етс в два этапа. На первом этапе; измер етс мошнэсть Р, отраженна от уголкового отражател , образованного металлическим листом 4 и исследуемым 25 листовым материалом 5. На втором этапе исследуемый листовой материал 5 замен етс металлическим равновеликим листом и снова измер етс отраженна мощность РО . Искомый коэффициент отра-зо жени PCtp)определ етс как отношение измеренных мощностей Р и Р. Дл повышени точности измерений минимальный размер О металлического листа 4 и исследуемого листового материала 5 выбран услови а : 4Л , что обеспечивает значительное превышение пере отраженной мощности над мощностью, рассеиваемой кромками металлического листа 4 и исследуемого листового материала 5, котора вл етс источником погрешностей,The reflection coefficient measurement is performed in two steps. At the first stage; measured is the purity P reflected from the corner reflector formed by the metal sheet 4 and the 25 sheet material 5 being examined. In the second stage, the sheet material 5 being replaced is replaced by a metal sheet of equal size and the reflected power PO is measured again. The sought reflection coefficient PCtp) is defined as the ratio of the measured powers P and P. To improve the measurement accuracy, the minimum size O of the metal sheet 4 and the sheet material 5 is selected: 4L, which provides a significant excess of the reflected power over the power dissipated the edges of the metal sheet 4 and the sheet material 5, which is the source of the error,
Дл дальнейшего уменьшени вли ни вклада рассе ни на кромках в переотраженный с 1гнал металлическому листу 4 и исследуемому листовому материалу 5 придана форма отсеченного по малой оси полуэллипса с соотношением осей Ъ (1,3 - 1,5)с(.To further reduce the influence of the contribution of the scattering on the edges, the metal sheet 4, re-reflected from 1 signal, and the sheet material 5 under study, are given a semi-ellipse cut along the minor axis with a ratio of axes b (1.3 - 1.5) s (.
Предлагаемое устройство позвол ет йовьгсить точность измерений и расширить диапазон измер емых коэффициентов отражени в сторону малых значений. Ф о рмула изобретени The proposed device allows for measuring accuracy and extending the range of measured reflection coefficients in the direction of small values. F o rmula of the invention
Устройство дл измерени коэффициента отражени листовых материалов, содержащее приемопередатчик с антенной, подключенный к регистратору, и металлический лист, образующий с исследуемым листовым материалом дев ностоградусный уголковый отражатель, установленный в поле излучени антенны с возможностью вращени . относительно оси, проход щей через его ребро, ориентированное ортогонально направлению излучени антенны, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерений, металлический лист и исследуемый листовой материал имеют форму полуэллипсов с ос ми а , 4 ,Ь (1.3-1.5)с( , где а и Ъ - мала и больша оси эллипг сов соответственно, А - длина рабочей волны в свободном пространстве. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизеA device for measuring the reflection coefficient of sheet materials, comprising a transceiver with an antenna connected to the recorder and a metal sheet forming a virgin angle angle reflector installed in the radiation field of the antenna rotatably with the test sheet material. with respect to the axis passing through its edge, oriented orthogonal to the direction of radiation of the antenna, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurements, the metal sheet and the sheet material under study are in the form of semi-ellipses with axes a, 4, b (1.3-1.5) s ( where a and b are small and large are the axes of the ellipses, respectively, A is the length of the working wave in free space. Sources of information taken into account in the examination
1. Авторское свидетельство СССР № 511552, кл. G 01 R 27/О6, 1974 (прототип)..1. USSR author's certificate No. 511552, cl. G 01 R 27 / O6, 1974 (prototype) ..
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813272016A SU985752A1 (en) | 1981-04-03 | 1981-04-03 | Device for sheet material reflection factor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU813272016A SU985752A1 (en) | 1981-04-03 | 1981-04-03 | Device for sheet material reflection factor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU985752A1 true SU985752A1 (en) | 1982-12-30 |
Family
ID=20952037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU813272016A SU985752A1 (en) | 1981-04-03 | 1981-04-03 | Device for sheet material reflection factor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU985752A1 (en) |
-
1981
- 1981-04-03 SU SU813272016A patent/SU985752A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11437729B2 (en) | Terahertz leaky-wave antenna measuring system | |
Robertson | Targets for microwave radar navigation | |
CA2500191A1 (en) | Apparatus and method for microwave determination of at least one physical parameter of a substance | |
JPH0120375B2 (en) | ||
US4274048A (en) | Three-dimensional measurement of radiant energy scattering characteristics with a turntable-type scanning interferometer | |
US4131845A (en) | Microwave moisture sensor chute | |
WO2020113671A1 (en) | System and method for detecting electromagnetic characteristic of object by using terahertz electromagnetic wave | |
SU985752A1 (en) | Device for sheet material reflection factor | |
Kodis | Diffraction measurements at 1.25 centimeters | |
Culshaw | The Fabry-Perot interferometer at millimetre wavelengths | |
US4255702A (en) | Measurement of radiant energy scattering characteristics with a turntable-type scanning apparatus | |
Talpey | Optical methods for the measurement of complex dielectric and magnetic constants at centimeter and millimeter wavelengths | |
Lengyel | A Michelson-type interferometer for microwave measurements | |
SU1332242A1 (en) | Device for measuring the reflection factor | |
RU2063641C1 (en) | Method of and device for measuring effective dissipation area | |
SU420958A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF THE REFRIGERATION RADIO ABSORBING L \ ATERIAL COEFFICIENT | |
SU1046708A1 (en) | Device for measuring coefficient of reflection in different angles of incidence of electromagnetic wave on specimen | |
US4386356A (en) | Antenna system employing a self-referencing microwave interferometer for direction finding | |
SU1363085A1 (en) | Device for measuring reflection factor | |
Barbano | Phase center distributions of spiral antennas | |
RU2003991C1 (en) | Device for measuring dielectric permeability of material | |
RU2117952C1 (en) | Method determining specular reflectance of surface of substance | |
SU623145A1 (en) | Method of non-destructive checking of dielectric material mechanical anisotropy | |
SU1377690A1 (en) | Apparatus for measuring moisture content in materials | |
SU559192A1 (en) | Device for measuring the reflection coefficient |