SU1275205A1 - Interferometer for measuring linear displacements of object - Google Patents
Interferometer for measuring linear displacements of object Download PDFInfo
- Publication number
- SU1275205A1 SU1275205A1 SU843717834A SU3717834A SU1275205A1 SU 1275205 A1 SU1275205 A1 SU 1275205A1 SU 843717834 A SU843717834 A SU 843717834A SU 3717834 A SU3717834 A SU 3717834A SU 1275205 A1 SU1275205 A1 SU 1275205A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- reflector
- beam splitter
- radiation
- source
- reflective coating
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение касаетс интерференционных измерений перемешений. Целью изобретени вл етс повышение чувствительности путем устранени паразитных вибраций, привод щих к разъюстировке. Излучение от источника 1 диагональной гранью светоделител 2 раздел етс на два потока, один из которых направл ют на отражающее покрытие светоделител 2, а другой - на отражатель 4. Поток, отразившись от отражател 4, попадает на отражатель 3, отразившись от которого, снова попадает на отражатель 3 и т. д. Так продапжаетс п раз, пока излучение не попадает на сечение отражател 4, отразившись от которого излучение возвращаетс по тому же пути и попадает на светоделитель 2, пространственно совмеща сь с потоком, отраженным от отражающего покрыти светоделител 2. Фотоприемник 5 воспринимает усредненную интенсивность интер$ ференционного пол , по которой определ ют величину перемещени . 1 ил. (ЛThe invention relates to interference interference measurements. The aim of the invention is to increase sensitivity by eliminating parasitic vibrations leading to misalignment. The radiation from the source 1 by the diagonal edge of the beam splitter 2 is divided into two streams, one of which is directed to the reflective coating of the beam splitter 2, and the other to the reflector 4. The stream, reflected from the reflector 4, hits the reflector 3, reflecting from which, again on the reflector 3, etc. This is sold n times until the radiation falls on the cross section of the reflector 4, reflecting from which the radiation returns along the same path and hits the beam splitter 2, spatially combined with the flux reflected from the reflector digging beamer 2. The photodetector 5 senses the average intensity of the interference field, from which the magnitude of the displacement is determined. 1 il. (L
Description
ю | ел toyu | ate to
о елabout ate
Изобретение касаетс интерференционных измерений перемещений, в частности перемещений при вибраци х.The invention relates to interference measurements of displacements, in particular movements during vibrations.
Цель изобретени - повьпиение чувствительности путем устранени паразитных вибраций, привод щих к разъюстировке.The purpose of the invention is to increase sensitivity by eliminating parasitic vibrations leading to misalignment.
На чертеже представлена схема интерферометра .The drawing shows the scheme of the interferometer.
Интерферометр содержит источник 1 излучени , светоделитель 2, два трехгранных уголковых отражател 3 и 4, один из которых 4 установлен с возможностью перемещени в направлении, перпендикул рном излучению от источника 1, оба уголковых отражател 3 и 4 смонтированы в другом потоке от светоделител 2 диаметрально противоположно один другому, на отражателе 4 выполнено сечение с отражающим покрытием, параллельным основанию, фотоприемник 5, установленный в одном из потоков от светоделител 2, который выполнен в виде куб-призмы на одну грань которой со стороны, противоположной источнику 1 излучени , нанесено отражающее покрытие.The interferometer contains a radiation source 1, a beam splitter 2, two trihedral corner reflectors 3 and 4, one of which 4 is mounted for movement in a direction perpendicular to the radiation from source 1, both corner reflectors 3 and 4 are mounted in another stream from a beam splitter 2 diametrically opposite one another, on the reflector 4, a section with a reflective coating parallel to the base is made, the photodetector 5 installed in one of the streams from the beam splitter 2, which is made in the form of a cube-prism for one edge of which From the side opposite to the radiation source 1, a reflective coating was applied.
Интерферометр работает следующим образом .The interferometer works as follows.
Излучение от источника диагональной гранью светоделител 2 раздел етс на два потока, один из которых направл ют на отражающее покрытие светоделител 2, а другой - на отражатель 4.The radiation from the source by the diagonal edge of the beam splitter 2 is divided into two streams, one of which is directed to the reflective coating of the beam splitter 2, and the other to the reflector 4.
Поток, отразившись от отражател 4, попадает на отражатель 3, отраг ивщись от которого, снова попадает на отражатель 3The flow, reflected from the reflector 4, falls on the reflector 3, the enemy from which, again falls on the reflector 3
и т. д. Так продолжаетс 12 раз, пока излучение не попадет на сечение отражател 4, отразившись от которого излучение возвращаетс по тому же пути и попадает на светоделитель 2, пространственно совмеща сь с потоком, отраженным от отражающего покрыти светоделител 2.etc. This continues 12 times until the radiation hits the cross section of the reflector 4, reflected from which the radiation returns along the same path and hits the beam splitter 2, spatially combined with the flux reflected from the reflective coating of the beam splitter 2.
Фотоприемник 5 воспринимает усредненную интенсивность интерферирующего пол , по которой определ ют величину перемещени .The photodetector 5 senses the averaged intensity of the interfering field, from which the magnitude of the displacement is determined.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843717834A SU1275205A1 (en) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | Interferometer for measuring linear displacements of object |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843717834A SU1275205A1 (en) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | Interferometer for measuring linear displacements of object |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1275205A1 true SU1275205A1 (en) | 1986-12-07 |
Family
ID=21110155
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843717834A SU1275205A1 (en) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | Interferometer for measuring linear displacements of object |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1275205A1 (en) |
-
1984
- 1984-03-30 SU SU843717834A patent/SU1275205A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Крылов К. И. др. Применение лазеров в машиностроении и приборостроении.: Машиностроение, 1987, с. 241. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1275205A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements of object | |
SU1668864A1 (en) | Laser interfering flatness meter | |
SU1506269A1 (en) | Interferometer for measuring angular and linear position of object | |
SU1578458A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements | |
SU1578457A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements | |
SU1425435A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements of object | |
SU1384936A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements | |
SU1290061A1 (en) | Interferometer for measuring angles of object turn | |
SU1425434A1 (en) | Interfercmeter for measuring linear displacements of object | |
SU1559250A1 (en) | Device for measuring small mechanic oscillations | |
SU1299319A1 (en) | Device for measuring absolute value of free fall acceleration | |
SU1364866A1 (en) | Interference device for measuring angular displacements | |
SU1288498A1 (en) | Interferometer | |
SU1518663A1 (en) | Interferometer for measuring transverse displacements | |
SU1534298A1 (en) | Device for measuring displacement of object | |
SU1472754A1 (en) | Interference method of measuring linear movements | |
SU1525444A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements of objects | |
SU1268947A1 (en) | Interferometer of rotational shift | |
SU1118852A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements | |
SU1411580A1 (en) | Device for checking displacements for rectilinearity | |
RU1779913C (en) | Interferometer for measuring motions of object | |
SU1196686A1 (en) | System for object angular displacement compensation of double-reflecting interferometric displacement meters | |
SU1132147A1 (en) | Laser displacement interferometer | |
SU1315799A1 (en) | Device for measuring linear displacements | |
SU1413415A1 (en) | Method of determining diameter of holes |