SU1275205A1 - Interferometer for measuring linear displacements of object - Google Patents

Interferometer for measuring linear displacements of object Download PDF

Info

Publication number
SU1275205A1
SU1275205A1 SU843717834A SU3717834A SU1275205A1 SU 1275205 A1 SU1275205 A1 SU 1275205A1 SU 843717834 A SU843717834 A SU 843717834A SU 3717834 A SU3717834 A SU 3717834A SU 1275205 A1 SU1275205 A1 SU 1275205A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
reflector
beam splitter
radiation
source
reflective coating
Prior art date
Application number
SU843717834A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Яковлевич Бараш
Геннадий Степанович Пресняков
Александр Леонидович Резников
Original Assignee
Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы filed Critical Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы
Priority to SU843717834A priority Critical patent/SU1275205A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1275205A1 publication Critical patent/SU1275205A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение касаетс  интерференционных измерений перемешений. Целью изобретени   вл етс  повышение чувствительности путем устранени  паразитных вибраций, привод щих к разъюстировке. Излучение от источника 1 диагональной гранью светоделител  2 раздел етс  на два потока, один из которых направл ют на отражающее покрытие светоделител  2, а другой - на отражатель 4. Поток, отразившись от отражател  4, попадает на отражатель 3, отразившись от которого, снова попадает на отражатель 3 и т. д. Так продапжаетс  п раз, пока излучение не попадает на сечение отражател  4, отразившись от которого излучение возвращаетс  по тому же пути и попадает на светоделитель 2, пространственно совмеща сь с потоком, отраженным от отражающего покрыти  светоделител  2. Фотоприемник 5 воспринимает усредненную интенсивность интер$ ференционного пол , по которой определ ют величину перемещени . 1 ил. (ЛThe invention relates to interference interference measurements. The aim of the invention is to increase sensitivity by eliminating parasitic vibrations leading to misalignment. The radiation from the source 1 by the diagonal edge of the beam splitter 2 is divided into two streams, one of which is directed to the reflective coating of the beam splitter 2, and the other to the reflector 4. The stream, reflected from the reflector 4, hits the reflector 3, reflecting from which, again on the reflector 3, etc. This is sold n times until the radiation falls on the cross section of the reflector 4, reflecting from which the radiation returns along the same path and hits the beam splitter 2, spatially combined with the flux reflected from the reflector digging beamer 2. The photodetector 5 senses the average intensity of the interference field, from which the magnitude of the displacement is determined. 1 il. (L

Description

ю | ел toyu | ate to

о елabout ate

Изобретение касаетс  интерференционных измерений перемещений, в частности перемещений при вибраци х.The invention relates to interference measurements of displacements, in particular movements during vibrations.

Цель изобретени  - повьпиение чувствительности путем устранени  паразитных вибраций, привод щих к разъюстировке.The purpose of the invention is to increase sensitivity by eliminating parasitic vibrations leading to misalignment.

На чертеже представлена схема интерферометра .The drawing shows the scheme of the interferometer.

Интерферометр содержит источник 1 излучени , светоделитель 2, два трехгранных уголковых отражател  3 и 4, один из которых 4 установлен с возможностью перемещени  в направлении, перпендикул рном излучению от источника 1, оба уголковых отражател  3 и 4 смонтированы в другом потоке от светоделител  2 диаметрально противоположно один другому, на отражателе 4 выполнено сечение с отражающим покрытием, параллельным основанию, фотоприемник 5, установленный в одном из потоков от светоделител  2, который выполнен в виде куб-призмы на одну грань которой со стороны, противоположной источнику 1 излучени , нанесено отражающее покрытие.The interferometer contains a radiation source 1, a beam splitter 2, two trihedral corner reflectors 3 and 4, one of which 4 is mounted for movement in a direction perpendicular to the radiation from source 1, both corner reflectors 3 and 4 are mounted in another stream from a beam splitter 2 diametrically opposite one another, on the reflector 4, a section with a reflective coating parallel to the base is made, the photodetector 5 installed in one of the streams from the beam splitter 2, which is made in the form of a cube-prism for one edge of which From the side opposite to the radiation source 1, a reflective coating was applied.

Интерферометр работает следующим образом .The interferometer works as follows.

Излучение от источника диагональной гранью светоделител  2 раздел етс  на два потока, один из которых направл ют на отражающее покрытие светоделител  2, а другой - на отражатель 4.The radiation from the source by the diagonal edge of the beam splitter 2 is divided into two streams, one of which is directed to the reflective coating of the beam splitter 2, and the other to the reflector 4.

Поток, отразившись от отражател  4, попадает на отражатель 3, отраг ивщись от которого, снова попадает на отражатель 3The flow, reflected from the reflector 4, falls on the reflector 3, the enemy from which, again falls on the reflector 3

и т. д. Так продолжаетс  12 раз, пока излучение не попадет на сечение отражател  4, отразившись от которого излучение возвращаетс  по тому же пути и попадает на светоделитель 2, пространственно совмеща сь с потоком, отраженным от отражающего покрыти  светоделител  2.etc. This continues 12 times until the radiation hits the cross section of the reflector 4, reflected from which the radiation returns along the same path and hits the beam splitter 2, spatially combined with the flux reflected from the reflective coating of the beam splitter 2.

Фотоприемник 5 воспринимает усредненную интенсивность интерферирующего пол , по которой определ ют величину перемещени .The photodetector 5 senses the averaged intensity of the interfering field, from which the magnitude of the displacement is determined.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Интерферометр дл  измерени  линейных перемещений объекта, содержащий источник излучени , светоделитель, дел щий падающее от источника излучение на два потока, два трехгранных уголковых отражател , один из которых уст-ановлен с возможностью перемещени  в направлении, перпендикул рном излучению от источника, и фотоприемник , установленный в одном из потоков от светоделител , отличающийс  тем, что, с целью повышени  чувствительности, светоделитель выполнен в виде куб-призмы, на одну грань которой со стороны, противоположной источнику излучени , нанесено отражающее покрытие, оба уголковых отражател  смонтированы в другом потоке от светоделител  диаметрально противоположно один другому, а на установленном с возможностью перемещени  отражателе со стороны верщины выполнено сечение с отражающим покрытием, параллельным основанию.An interferometer for measuring the linear displacement of an object, containing a radiation source, a beam splitter, dividing the radiation from the source into two streams, two triangular corner reflectors, one of which is mounted to move in a direction perpendicular to the radiation from the source, and a photodetector mounted in one of the streams from the beam splitter, characterized in that, in order to increase the sensitivity, the beam splitter is made in the form of a cube-prism, on one side of which from the side opposite to the source zlucheni, a reflective coating is applied, both corner reflector mounted on a different thread from the beamsplitter diametrically opposite one another and on installed movably reflector side verschiny formed with a reflective coating section parallel to the base.
SU843717834A 1984-03-30 1984-03-30 Interferometer for measuring linear displacements of object SU1275205A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843717834A SU1275205A1 (en) 1984-03-30 1984-03-30 Interferometer for measuring linear displacements of object

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843717834A SU1275205A1 (en) 1984-03-30 1984-03-30 Interferometer for measuring linear displacements of object

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1275205A1 true SU1275205A1 (en) 1986-12-07

Family

ID=21110155

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843717834A SU1275205A1 (en) 1984-03-30 1984-03-30 Interferometer for measuring linear displacements of object

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1275205A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Крылов К. И. др. Применение лазеров в машиностроении и приборостроении.: Машиностроение, 1987, с. 241. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1275205A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of object
SU1668864A1 (en) Laser interfering flatness meter
SU1506269A1 (en) Interferometer for measuring angular and linear position of object
SU1578458A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements
SU1578457A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements
SU1425435A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of object
SU1384936A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements
SU1290061A1 (en) Interferometer for measuring angles of object turn
SU1425434A1 (en) Interfercmeter for measuring linear displacements of object
SU1559250A1 (en) Device for measuring small mechanic oscillations
SU1299319A1 (en) Device for measuring absolute value of free fall acceleration
SU1364866A1 (en) Interference device for measuring angular displacements
SU1288498A1 (en) Interferometer
SU1518663A1 (en) Interferometer for measuring transverse displacements
SU1534298A1 (en) Device for measuring displacement of object
SU1472754A1 (en) Interference method of measuring linear movements
SU1525444A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of objects
SU1268947A1 (en) Interferometer of rotational shift
SU1118852A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements
SU1411580A1 (en) Device for checking displacements for rectilinearity
RU1779913C (en) Interferometer for measuring motions of object
SU1196686A1 (en) System for object angular displacement compensation of double-reflecting interferometric displacement meters
SU1132147A1 (en) Laser displacement interferometer
SU1315799A1 (en) Device for measuring linear displacements
SU1413415A1 (en) Method of determining diameter of holes