SU1425434A1 - Interfercmeter for measuring linear displacements of object - Google Patents

Interfercmeter for measuring linear displacements of object Download PDF

Info

Publication number
SU1425434A1
SU1425434A1 SU864139983A SU4139983A SU1425434A1 SU 1425434 A1 SU1425434 A1 SU 1425434A1 SU 864139983 A SU864139983 A SU 864139983A SU 4139983 A SU4139983 A SU 4139983A SU 1425434 A1 SU1425434 A1 SU 1425434A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
quarter
wave plate
corner reflector
crystal
directed
Prior art date
Application number
SU864139983A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Яковлевич Бараш
Геннадий Степанович Пресняков
Александр Леонидович Резников
Original Assignee
Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы filed Critical Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Метрологической Службы
Priority to SU864139983A priority Critical patent/SU1425434A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1425434A1 publication Critical patent/SU1425434A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к интерференционным измерени м линейных перемещений. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени . Излучение от источника 1 светоделителем 2 раздел етс  на два потока, один из которых направл ют на отра жающее покрытие светоделител  2, а другой - на трехгранный уголковый отражатель 3. После отражени  его от боковой грани поток направл ют на дво копреломл ющий кристалл 8, а на выходе из него - на четвертьволновую пластину 7, затем на плоское зеркало 6, после которого поток попадает снова на четвертьволновую пластину 7, котора  сообщает ему линейную пол ризацию. Указанный поток направл ют на дво копреломп ю- щий кристалл В, который отклон ет его на основание трехгранного уголкового отражател  3 и т.д. Далее поток проходит по тому Же пути, но в обратном направлении. Фотоприемник 8 воспринимает усредненную интенсивность интерференционного пол , по которой определ ют величину перемещени . 1 ил. (ЛThe invention relates to interference measurements of linear displacements. The aim of the invention is to improve the measurement accuracy. The radiation from the source 1 by the splitter 2 is divided into two streams, one of which is directed to the reflecting coating of the splitter 2, and the other to the three-sided corner reflector 3. After reflecting it from the side face, the flow is directed to the double-refractive crystal 8, and at the exit from it, onto a quarter-wave plate 7, then onto a flat mirror 6, after which the stream falls again onto the quarter-wave plate 7, which tells it linear polarization. This flow is directed to a double copreusable crystal B, which diverts it to the base of the triangular corner reflector 3, etc. Further, the flow goes the same way, but in the opposite direction. The photodetector 8 senses the averaged intensity of the interference field, from which the magnitude of the displacement is determined. 1 il. (L

Description

DD

1C СЛ 1C SL

4 004 00

Изобретение относитс  к интерфе- ренционным измерени м линейных перемещений .The invention relates to interference measurements of linear displacements.

Цель изобретени  - повышение точности измерени .The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy.

На чертеже представлена схема интерферометра.The drawing shows the scheme of the interferometer.

Интерферометр содержит источник 1 и|злучени , светоделитель 2 в виде Kk76-npH3Mbi с зеркальным покрытием I грани I-I, противоположной источнику 1| излучени , дел щий излучение на два потока, трехгранный уголковый отражатель 3 с отражающим покрытием 4 в сече- кии со стороны вершины, параллельном (Основанию, отражатель 5, состо щий из фследовательно установленных плоско- rjo зеркала 6, четвертьволновой пласти- 7, дво копреломл ющего кристал- 8 и ориентированных параллель- нр друг другу и основанию трехгран- н0го уголкового отражател  3, отража 5 установлен с возможностью перемещени  в одном из потоков от светоделител  2 со смещением относительно трехгранного уголкового от- рджател  3 и фотоприемник 9, установленный в другом потоке от светодели- тЬл  2.The interferometer contains a source of 1 and | radiation, a beam splitter 2 in the form of Kk76-npH3Mbi with a mirror coating of the I face I-I opposite to the source 1 | radiation, dividing radiation into two streams, a triangular angular reflector 3 with a reflective coating 4 in the section from the apex side, parallel (Bottom, reflector 5, consisting of the subsequently mounted flat-rjo mirrors 6, quarter-wave plate 8 and oriented parallel to each other and the base of the triangular corner reflector 3, reflecting 5 is mounted to move in one of the streams from the splitter 2 with an offset relative to the triangular angle reflector 3 and ph The receiver 9 installed in another stream from the beam splitter 2.

I Интерферометр работает следующим образом.I The interferometer works as follows.

I Излучение от источника 1 диагональной гранью светоделител  2 раздел етс  на два потока, один из кото направл ют на отражающее покры- светоделител  2, а другой - на т|)ехгранный уголковый отражатель 3, отражени  от его боковой грани потока направл ют на дво копреломл ю щий кристалл 8, а на выходе из него на четвертьволновую пластину 7, котора  сообщает ему циркул рную пол ризацию , а затем на плоское зеркало 6, после которого поток поцадает снова на четвертьволновую пластину 7, котора  сообщает ему линейную лол риза- щпо. Указанный поток направл ют на , дво копреломл ющий кристалл 8, котоI Radiation from the source 1 by the diagonal face of the splitter 2 is divided into two streams, one of which is directed to the reflecting cover of the splitter 2 and the other to the infrared corner reflector 3, and reflections from its side face of the flow are directed to The head crystal is 8, and at the exit from it is a quarter-wave plate 7, which informs it of circular polarization, and then a flat mirror 6, after which the stream reappears on the quarter-wave plate 7, which informs it of linear laser. This flow is directed to a double-refractive crystal 8, which

Редактор Л.ЗайцеваEditor L.Zaytseva

Составитель Н. Техред М. ДидыкCompiled by N. Techred M. Didyk

Q 5 0 5 0Q 5 0 5 0

5five

Н. кN. to

рый отклон ет его на угол (90 -oi), где аС - угол преломлени  потока, в дво копреломл ющем кристалле Вив свою очередь направл ет на основание трехгранного уголкового отражател  3 и т.д. Поток, отраженньй от покрыти  4, направл ют на дво копреломл ющий кристалл 8 по тому же пути, но в обратном направлении. Фотоприемник 8 воспринимает усредненную интенсивность интерференционного пол , по которой определ ют величину перемещени . Величина перемещени  определ етс  либо способом счета интерференционных полос, либо способом нулей функции Бессел .It deflects it by an angle (90-oi), where aC is the angle of refraction of the flow, in a double-rimming crystal, Viv, in turn, directs to the base of the trihedral corner reflector 3, etc. The flow reflected from the coating 4 is directed to the double rifle crystal 8 along the same path, but in the opposite direction. The photodetector 8 senses the averaged intensity of the interference field, from which the magnitude of the displacement is determined. The magnitude of the displacement is determined either by the method of counting interference fringes or by the method of zeros of the Bessel function.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Интерферометр дл  измерени  линейных перемещений объекта, содержащий источник излучени , светоделитель, дел щий излучение от источника на два потока, два отражател , один из которых выполнен в виде трехгранного уголкового отражател  с отражающим покрытием в сечении со стороны верщи- ны, параллельном основанию, второй установлен с возможностью перемещени  в одном из потоков от светоделител  в направлении, перпендикул рном излучению от источника, и фотоприем- иик, установленный в другом потоке, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности, он снабжен последовательно расположенными четвертьволновой пластиной и дво ко- преломл ющим кристаллом, второй от- .An interferometer for measuring the linear displacements of an object containing a radiation source, a beam splitter that divides radiation from a source into two streams, two reflectors, one of which is designed as a triangular corner reflector with a reflective coating in cross section on the side of the top parallel to the base, the second is installed movable in one of the streams from the beam splitter in a direction perpendicular to the radiation from the source, and a photodetector mounted in another stream, characterized in that, in order to increase the NOSTA, it is provided with successive quarter-wave plate and concave on Ko yuschim refractive crystal, The relative second. ражатель выполнен в виде плоского зеркала, четвертьволнова  пластина н дво копреломл ющий кристалл ориентированы параллельно друг другу и основанию трехгранного уголкового отражател , а второй отражатель, четвертьволнова  пластина и дво ко- преломл ющий кристалл смещены относительно трехгранного уголкового отражател  . I ЗахаренкоThe razhel is made in the form of a flat mirror, the quarter-wave plate on the double-rifle crystal is oriented parallel to each other and the base of the triangular corner reflector, and the second reflector, the quarter-wave plate and double refractive crystal are offset from the triangular corner reflector. I Zakharenko Корректор Л.ПатайProofreader L. Patay
SU864139983A 1986-10-28 1986-10-28 Interfercmeter for measuring linear displacements of object SU1425434A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864139983A SU1425434A1 (en) 1986-10-28 1986-10-28 Interfercmeter for measuring linear displacements of object

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864139983A SU1425434A1 (en) 1986-10-28 1986-10-28 Interfercmeter for measuring linear displacements of object

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1425434A1 true SU1425434A1 (en) 1988-09-23

Family

ID=21264805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864139983A SU1425434A1 (en) 1986-10-28 1986-10-28 Interfercmeter for measuring linear displacements of object

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1425434A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1275205, кл. СОГВ 9/02, 1984. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
SU1425434A1 (en) Interfercmeter for measuring linear displacements of object
SU1425435A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of object
SU1506269A1 (en) Interferometer for measuring angular and linear position of object
SU1668864A1 (en) Laser interfering flatness meter
SU1132147A1 (en) Laser displacement interferometer
SU1384936A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements
SU1696851A1 (en) Interferometer for measuring deviation from rectilinearity
SU1587330A1 (en) Interference device for measuring angles of slope of object
SU1288498A1 (en) Interferometer
SU1054677A1 (en) Interference device for gauging displacement
SU1113671A1 (en) Device for measuring angular displacements
SU983450A1 (en) Itnerferometer for measuring object displacement
SU1364866A1 (en) Interference device for measuring angular displacements
SU1518663A1 (en) Interferometer for measuring transverse displacements
SU1578457A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements
SU947636A1 (en) Interferometer for measuring displacement
RU2075727C1 (en) Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation
SU1730531A1 (en) Two-axis displacement meter
SU1330455A1 (en) Distance-measuring interferometer
SU921305A1 (en) Distance measuring interferometer
SU934212A1 (en) Interferometer for measuring displacements
SU1620828A2 (en) Device for measuring angular displacements of objects
RU1779913C (en) Interferometer for measuring motions of object
SU1299319A1 (en) Device for measuring absolute value of free fall acceleration