RU2075727C1 - Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation - Google Patents
Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation Download PDFInfo
- Publication number
- RU2075727C1 RU2075727C1 RU93026347A RU93026347A RU2075727C1 RU 2075727 C1 RU2075727 C1 RU 2075727C1 RU 93026347 A RU93026347 A RU 93026347A RU 93026347 A RU93026347 A RU 93026347A RU 2075727 C1 RU2075727 C1 RU 2075727C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- plane
- several
- interferometers
- angle
- objects
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Изобретение предназначено для измерения взаимных угловых разворотов нескольких контролируемых объектов, расположенных вдоль створа, задаваемого лазерным пучком, и может быть использовано при проведении геофизических экспериментов, геодезических работах при монтаже и эксплуатации технологического оборудования и т. д. The invention is intended for measuring the mutual angular turns of several controlled objects located along the alignment specified by the laser beam, and can be used in geophysical experiments, geodetic works during the installation and operation of technological equipment, etc.
Известно интерференционное устройство, предназначенное для измерения углов поворота контролируемого объекта (Авт. св. СССР N 983449, кл. G 01 B 9/02, опубл. в БИ N 47, 1982). Недостатками указанного устройства является сложность юстировки взаимного положения зеркал интерферометра, частичное попадание отраженного света в резонатор лазера, что приводит к флуктуациям параметров лазерного излучения, а также невозможность одновременного контроля углового положения нескольких объектов. Known interference device designed to measure the rotation angles of a controlled object (Aut. St. USSR N 983449, CL G 01 B 9/02, publ. In BI N 47, 1982). The disadvantages of this device are the difficulty of adjusting the relative position of the mirrors of the interferometer, the partial penetration of reflected light into the laser cavity, which leads to fluctuations in the parameters of the laser radiation, as well as the inability to simultaneously control the angular position of several objects.
Наиболее близким техническим решением является способ измерения углов поворота нескольких объектов /Авт. св. СССР N 1763891, кл. G 01 C 1/00, 1992), в котором вращают направленный луч, регистрируют последовательно отраженные от объектов лучи и вычисляют измеренные углы с помощью датчика угла поворота. The closest technical solution is a method of measuring the rotation angles of several objects / Auth. St. USSR N 1763891, class G 01
Устройство для реализации данного способа содержит также привод для поворота источника излучения, фотоприемник, блок модуляции частоты, счетно-решающий блок. Недостатками данного способа и устройства являются сложность, а также невозможность одновременного контроля углового положения нескольких объектов. A device for implementing this method also contains a drive for rotating the radiation source, a photodetector, a frequency modulation unit, a counting unit. The disadvantages of this method and device are the complexity and the inability to simultaneously control the angular position of several objects.
Задачей изобретения является повышение точности измерений за счет увеличения диапазона измеряемых углов, расширение функциональных возможностей за счет одновременного измерения угловых поворотов нескольких объектов, а также упрощение конструкции и юстировки устройства. The objective of the invention is to increase the accuracy of measurements by increasing the range of measured angles, expanding functionality by simultaneously measuring the angular rotations of several objects, as well as simplifying the design and alignment of the device.
Технический результат достигается тем, что в способе измерения углов поворота нескольких объектов, заключающемся в том, что световой пучок последовательно направляют на каждый контролируемый объект, регистрируют световой пучок после отражения от каждого контролируемого объекта и вычисляют угол поворота каждого из контролируемых объектов, направляют лазерный пучок последовательно на несколько установленных вдоль створа лазерного пучка проходных интерферометров, каждый из которых установлен на контролируемом объекте и выполнен в виде плоскопараллельной пластины, без изменения углового направления пучка, в каждом интерферометре осуществляют два отражения лазерного пучка с линейным смещением, формируют пространственно разнесенные интерференционные картины в плоскости регистрации, в которых регистрируют смещение интерференционных полос, а угол поворота каждого из контролируемых объектов вычисляют по формуле
α = λ/d′A (M+m), где
A = 2(n2- sin2θ)1/2/sin 2θ,
λ длина волны лазерного излучения;
0<m<1
d и n толщина и показатель преломления плоскопараллельной пластины интерферoметра;
М и m соответственно целое и дробное число пробежавших интерференционных полос в плоскости регистрации.The technical result is achieved by the fact that in the method of measuring the rotation angles of several objects, which consists in the fact that the light beam is sequentially directed to each controlled object, the light beam is recorded after reflection from each controlled object and the rotation angle of each of the controlled objects is calculated, the laser beam is sent sequentially several pass-through interferometers installed along the alignment of the laser beam, each of which is mounted on a controlled object and is made in of a plane-parallel plate, without changing the angular direction of the beam, two reflections of the laser beam with linear displacement are carried out in each interferometer, spatially separated interference patterns are formed in the registration plane, in which the displacement of interference fringes is recorded, and the rotation angle of each of the controlled objects is calculated by the formula
α = λ / d′A (M + m), where
A = 2 (n 2 - sin 2 θ) 1/2 / sin 2θ,
λ wavelength of laser radiation;
0 <m <1
d and n are the thickness and refractive index of the plane-parallel plate of the interferometer;
M and m, respectively, the integer and fractional number of run-through interference bands in the registration plane.
Технический результат в устройстве измерения углов поворота нескольких объектов, содержащем источник света, фотоприемное устройство, установленное в плоскости регистрации, и блок обработки информации, достигается тем, что оно дополнительно содержит формирующую оптическую систему, индикатор угла поворота, несколько проходных идентичных нерасстраиваемых интерферометров, каждый из которых выполнен в виде плоскопараллельной пластины, выполненной с возможностью установки на контролируемом объекте и размещенной в корпусе, в котором дополнительно жестко закреплено зеркало с наружным отражающим покрытием, установленное под фиксированным углом к плоскопараллельной пластине, и несколько фотоприемных устройств, при этом источник света выполнен в виде лазера, интерферометры размещены вдоль створа лазерного пучка, все фотоприемные устройства установлены в плоскости регистрации, а число фотоприемных устройств равно числу интерферометров. The technical result in a device for measuring the rotation angles of several objects containing a light source, a photodetector installed in the registration plane, and an information processing unit is achieved by the fact that it further comprises a forming optical system, an indicator of the rotation angle, several pass-through identical non-detuning interferometers, each of which is made in the form of a plane-parallel plate made with the possibility of installation on a controlled object and placed in a housing in which a mirror with an external reflective coating, mounted at a fixed angle to the plane-parallel plate, and several photodetectors, the light source is made in the form of a laser, the interferometers are placed along the alignment of the laser beam, all photodetectors are installed in the registration plane, and the number of photodetectors is rigidly fixed equal to the number of interferometers.
На фиг. 1 приведена общая схема измерений, на фиг. 2 показан ход лучей в интерферометре, на фиг. 3 приведена зависимость деления одной интерференционной полосы от угла падения света в интерферометр, на фиг. 4 приведена принципиальная схема устройства для измерения углового поворота одного контролируемого объекта, на фиг. 5 показана принципиальная схема устройства для контроля нескольких контролируемых объектов по нескольким угловым координатам. In FIG. 1 shows a general measurement scheme, FIG. 2 shows the path of the rays in the interferometer; FIG. 3 shows the dependence of the division of one interference band on the angle of incidence of light in the interferometer, FIG. 4 is a schematic diagram of a device for measuring the angular rotation of one controlled object; FIG. 5 shows a schematic diagram of a device for controlling several controlled objects by several angular coordinates.
Способ измерений иллюстрируется фиг. 1 и заключается в формировании оптической системой 2 светового пучка, испускаемого лазером 1, направлении его вдоль нескольких контролируемых объектов 8 8n, находящихся в едином створе. На каждом из контролируемых объектов 8 8n установлены интерферометры 3 3n, снабженные отражателями 4 4n. В каждом из интерферометров 3 3n происходит частичное деление светового пучка и отражение двух интерферирующих пучков при помощи отражателей 4 4n в плоскость анализа (ПА). В плоскости анализа установлены фотоприемные устройства 5 5n, количество которых равно количеству интерферометров 3 3n. Отражатели 4 4n ориентированы таким образом, чтобы интерференционные картины попадали на фотоприемные устройства 5 5n, не накладываясь друг на друга. Фотоприемные устройства 5 5n регистрируют число пробежавших интерференционных полос при угловых разворотах контролируемых объектов 8 8n, по которому судят о величине углового поворота каждого из контролируемых объектов 8 8n.The measurement method is illustrated in FIG. 1 and consists in the formation by the
В качестве проходного интерферометра (фиг. 2) предлагается использовать плоскопараллельную пластину 3, разделяющую падающий на нее световой пучок лазера 1, сформированный оптической системой 2, на два отраженных пучка, имеющих разность хода и интерферирующих между собой, и третий пучок, который проходит сквозь пластину 3 без изменения первоначального направления. Поля двух отраженных лазерных пучков взаимно перекрываются с некоторым сдвигом, так как между ними существует разность фаз, они формируют интерференционную картину в виде полос равного наклона. As a pass-through interferometer (Fig. 2), it is proposed to use a plane-
При падении лазерного пучка под углом q на первую поверхность плоскопараллельной стеклянной пластины 3 распределение интенсивности света в интерференционной картины описывается известной косинусной функцией
где n показатель преломления пластины,
d толщина пластины,
l длина волны лазерного излучения,
r угол преломления света в пластине 3.When a laser beam is incident at an angle q on the first surface of a plane-
where n is the refractive index of the plate,
d plate thickness
l wavelength of laser radiation,
r the angle of refraction of light in the
Исходя из условия максимумов интерференционной картины с учетом закона Снеллиуса, можно записать
При повороте пластины 3 на угол α (фиг. 2) интерференционные полосы будут перемещаться в поле интерференции. Скорость перемещения полос зависит от скорости поворота пластины 3 и ширины интерференционных полос. Ширина полос зависит от радиуса кривизны волнового фронта, падающего на пластину 3. Необходимую ширину полос можно получить при перефокусировке оптической системы 2.Based on the condition of the maxima of the interference picture, taking into account Snell's law, we can write
When the
Исходя из условия, что угол наклона пластины меньше первоначального угла падения света на пластину a<θ, можно определить угол v поворота пластины, соответствующий смещению одной интерференционной полосы
.Based on the condition that the angle of inclination of the plate is less than the initial angle of incidence of light on the plate a <θ, we can determine the angle v of rotation of the plate corresponding to the displacement of one interference strip
.
Анализируя полученное выражение, можно найти оптимальное значение угла падения света θ на поверхность пластины 3, при котором угол поворота пластины v, соответствующий смещению одной интерференционной полосы, будет минимальным
Таким образом, величина минимального угла Φmin, соответствующего смещению одной интерференционной полосы, зависит только от выбора материала пластины 3. Для большинства оптических стекол с показателями преломления n 1,41 1,89 оптимальные углы падения лежат в диапазоне θопт.= 50°÷ 47,3°..Analyzing the expression obtained, we can find the optimal value of the angle of incidence of light θ on the surface of the
Thus, the minimum angle Φ min corresponding to the displacement of one interference fringe depends only on the choice of
На фиг. 3 представлена зависимость изменения функции Φ от различных углов падения пучка q на пластину 8, выполненную из кварцевого стекла с n 1,457, толщиной 20 мм при длине волны излучения l 0,6328 мкм. Здесь наблюдается минимальное значение vmin= 16,2 угл. с. при угле падения θ = 49,5° и величина Φ увеличивается при изменении углов q. Однако существует зона углов падения θопт.≈ 20° (фиг. 3), в которой изменение значений Φ составляет менее 1 угл. с. Подобные зоны оптимальных углов можно установить для любых оптических прозрачных материалов.In FIG. Figure 3 shows the dependence of the change in the function Φ on different angles of incidence of the beam q onto a plate 8 made of quartz glass with n 1.457, a thickness of 20 mm, and a radiation wavelength l 0.6328 μm. Here, the minimum value v min = 16.2 angles is observed. from. at an angle of incidence θ = 49.5 ° and the value of Φ increases with a change in the angles q. However, there is a zone of angles of incidence θ opt. ≈ 20 ° (Fig. 3), in which the change in Φ is less than 1 angle. from. Similar zones of optimal angles can be set for any transparent optical materials.
Внутри зоны оптимальных углов qопт. угол α наклона пластины может быть определен в виде
A линейный коэффициент, равный, например, для .Inside the zone of optimal angles q opt. the angle of inclination of the plate can be defined as
A linear coefficient equal for example to .
Таким образом, измерение углов α поворота пластины 3 сводится к простому подсчету целых M и дробных m частей сместившихся интерференционных полос. Thus, the measurement of the rotation angles α of the
На фиг. 4 приведена принципиальная схема устройства, реализующего данный метод, предназначенного для измерения углового поворота одного контролируемого объекта. Устройство состоит из последовательно расположенных лазера 1, формирующей оптической системы 2, проходного интерферометра 3, выполненного в виде плоскопараллельной пластины, плоского зеркала 4, закрепленного под фиксированным углом к интерферометру. Интерферометр 3 и зеркало 4 4 установлены на контролируемом объекте, способном поворачиваться вокруг оси, перпендикулярной плоскости чертежа. In FIG. 4 shows a schematic diagram of a device that implements this method, designed to measure the angular rotation of one controlled object. The device consists of a sequentially located
После прохождения интерферометра 3 и отражения от зеркала 4 два перекрывающихся световых пучка направляются в плоскость анализа ПА, где формируют интерференционную картину (фиг. 4а), состоящую из полос равного наклона. В плоскости анализа установлено фотоприемное устройство 5 (например, двухплощадочный фотодиод или ПЗС-линейка), преобразующее световые сигналы в электрические. Фотоприемное устройство 5 соединено с электронным блоком обработки информации 6, включающим в себя счетчик целого и дробного числа пробежавших интерференционных полос, вычислитель угла поворота контролируемого объекта и преобразователь сигнала в цифровой код. Сигналы с электронного блока обработки информации направляются на цифровой индикатор 7. After passing through the
При повороте контролируемого объекта изменяется угол падения света на пластину 3, вследствие чего изменяется разность хода интерферирующих световых пучков, что приводит к перемещению интерференционных полос в плоскости анализа. По количеству переместившихся полос и по направлению их перемещения судят о величине и знаке угла поворота контролируемого объекта. When the controlled object is rotated, the angle of incidence of light on the
Конструкция отражателя, состоящего из плоскопараллельной пластины 3 и плоского зеркала, жестко закрепленных в едином корпусе, обеспечивает постоянство пространственного положения анализируемой интерференционной картины (фиг. 4а) в плоскости анализа. The design of the reflector, consisting of a plane-
Использование в устройстве проходного интерферометра 3 позволяет использовать световой пучок, прошедший сквозь интерферометр 3 без изменения углового направления для измерений углов поворотов нескольких объектов, расположенных вдоль контролируемого створа. Принципиальная схема контроля нескольких объектов представлена на фиг. 5. Для проведения одновременных измерений углов поворота n-го числа объектов на каждый из них устанавливается 3-3n интерферометров с 4-4n отражателями, причем отражатели ориентируются таким образом, чтобы интерференционные картины в плоскости анализа не накладывались друг на друга, а попадали каждая на свое фотоприемное устройство 5-5n. Как видно из чертежа, возможна установка двух интерференционных отражателей, расположенных ортогонально друг к другу на одном объекте для контроля угловых поворотов одновременно по двум угловым координатам.The use of a pass-through
Повышение контраста интерференционной картины может быть достигнуто за счет введения в световой пучок поляризатора перед фотоприемным устройством 5 или нанесением светоделительных покрытий на переднюю и заднюю поверхности пластины 3. An increase in the contrast of the interference pattern can be achieved by introducing a polarizer into the light beam in front of the
Повышение чувствительности измерений может быть достигнуто за счет использования электронных схем, способных оценивать малые дробные доли интерференционных полос (например, l/50, λ/100/500), увеличением толщины пластины или использованием пластины, изготовленной из материала с малым показателем преломления (например, две тонкие параллельные стеклянные пластинки с воздушным промежутком). An increase in the measurement sensitivity can be achieved through the use of electronic circuits capable of estimating small fractional fractions of interference fringes (for example, l / 50, λ / 100/500), increasing the thickness of the plate, or using a plate made of a material with a low refractive index (for example, two thin parallel glass plates with an air gap).
Изобретение позволяет: расширить функциональные возможности интерференционных углоизмерителей за счет одновременного измерения угловых поворотов нескольких объектов, расположенных вдоль контролируемого створа, задаваемого лазерным пучком; повысить точность измерений за счет увеличения диапазона измеренных углов; упростить процесс вычисления угловых рассогласований за счет использования линейного диапазона интерферометра, определяемого зоной оптимальных углов падения светового пучка на поверхность плоскопараллельной пластины; значительно упростить конструкцию углоизмерительного интерферометра; свести до минимума процесс юстировки интерферометра за счет оригинальной конструкции нерасстраиваемого интерференционного отражателя. The invention allows: to expand the functionality of interference angle meters by simultaneously measuring the angular rotations of several objects located along a controlled alignment defined by a laser beam; improve measurement accuracy by increasing the range of measured angles; to simplify the process of calculating angular mismatches by using the linear range of the interferometer, determined by the zone of optimal angles of incidence of the light beam on the surface of a plane-parallel plate; significantly simplify the design of angle measuring interferometer; minimize the alignment process of the interferometer due to the original design of the non-detuning interference reflector.
Проведенные экспериментальные исследования с интерференционными отражателями, имеющими пластины толщиной 16,6 мм, при использовании фоторегистрирующих устройств, оценивающих 1/20 интерференционной полосы, показали, что среднеквадратическая погрешность одновременного измерения угловых поворотов четырех контролируемых объектов составила менее 1 угл. с в диапазоне измеряемых углов 18,8o.The experimental studies with interference reflectors having plates 16.6 mm thick using photo-recording devices evaluating 1/20 of the interference strip showed that the mean square error of the simultaneous measurement of the angular rotations of four controlled objects was less than 1 angle. with in the range of measured angles of 18.8 o .
Claims (2)
α = λ/d A (M+m),
где A = 2(n2- sin2θ)1/2/sin 2θ;
M ±, ± 2;
0 < m < 1;
λ длина волны лазерного излучения;
d и n толщина и показатель преломления плоскопараллельной пластины интерферометра;
M и m соответственно целое и дробное число пробежавших интерференционных полос в плоскости регистрации.1. The method of measuring the rotation angles of several objects, which consists in the fact that the light beam is sequentially directed to each controlled object, register the light beam after reflection from each controlled object and calculate the angle of rotation of each of the controlled objects, characterized in that the laser beam is sequentially directed to several interferometers, installed along the alignment of the laser beam, each of which is mounted on a controlled object and is made in the form of plane-parallel plates, without changing the angular direction of the beam, in each interferometer carry out two reflections of the laser beam with linear displacement, form spatially separated interference patterns in the registration plane, in which the displacement of the interference fringes is recorded, and the rotation angle of each of the controlled objects is calculated by the formula
α = λ / d A (M + m),
where A = 2 (n 2 - sin 2 θ) 1/2 / sin 2θ;
M ±, ± 2;
0 <m <1;
λ wavelength of laser radiation;
d and n are the thickness and refractive index of the plane-parallel plate of the interferometer;
M and m, respectively, the integer and fractional number of run-through interference bands in the registration plane.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU93026347A RU2075727C1 (en) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU93026347A RU2075727C1 (en) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU93026347A RU93026347A (en) | 1995-10-20 |
RU2075727C1 true RU2075727C1 (en) | 1997-03-20 |
Family
ID=20141571
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU93026347A RU2075727C1 (en) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2075727C1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2467285C1 (en) * | 2011-06-24 | 2012-11-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП"), RU | Device for twist angle measurement |
-
1993
- 1993-05-24 RU RU93026347A patent/RU2075727C1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР N 1763891, кл. G 01 C 1/00, 1992. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2467285C1 (en) * | 2011-06-24 | 2012-11-20 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения" (ОАО "НИИ ОЭП"), RU | Device for twist angle measurement |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3824018A (en) | Coherent light source detector | |
GB2369451A (en) | Jamin type interferometer | |
US4969744A (en) | Optical angle-measuring device | |
WO1992004619A1 (en) | Reflective optical instrument | |
RU2075727C1 (en) | Method of measurement of angles of turn of several objects and device for its implementation | |
RU2025656C1 (en) | Device for non-destructive measuring of thickness of dielectric and semiconductor films in predetermined point | |
RU2629928C2 (en) | Method of determining refraction indicator of monochromatic surface electromagnetic wave of infrared range | |
RU2186336C1 (en) | Interferometer to measure form of surface of optical articles | |
SU504080A1 (en) | Interference sensor measuring angles of rotation of an object with a reflective surface | |
SU1485077A1 (en) | Interference refractometer of multiply disturbed total internal reflection | |
SU1392357A1 (en) | Interferometric transducer for measuring angle of turn of object | |
RU2044271C1 (en) | Device for checking small angular rotations | |
SU1308829A1 (en) | Method of measuring thickness of crystal wafer | |
RU2155320C2 (en) | Method of interference measurements in diffuse-coherent radiation | |
SU737817A1 (en) | Interference method of measuring refraction coefficient of dielectric films of variable thickness | |
JPS62163921A (en) | Rotary encoder | |
RU2092786C1 (en) | Interferometer with mobile reflector (versions) | |
JPH02228512A (en) | Highly accurate laser measurement method and apparatus for surface of solid | |
RU2102702C1 (en) | Device for nondestructive measurement of width of dielectric and semiconductor films | |
SU712654A1 (en) | Interferometer | |
SU1601563A1 (en) | Device for measuring angular dependence of reflection factor of material | |
RU2498214C1 (en) | Device to measure electromagnetic radiation speed space anisotropy | |
JPS63241306A (en) | Interferometer | |
SU1742612A1 (en) | Method for determining thickness of film | |
JPS62163919A (en) | Rotary encoder |