SU947636A1 - Interferometer for measuring displacement - Google Patents

Interferometer for measuring displacement Download PDF

Info

Publication number
SU947636A1
SU947636A1 SU782699559A SU2699559A SU947636A1 SU 947636 A1 SU947636 A1 SU 947636A1 SU 782699559 A SU782699559 A SU 782699559A SU 2699559 A SU2699559 A SU 2699559A SU 947636 A1 SU947636 A1 SU 947636A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
measuring displacement
photodetector
face
beam splitter
Prior art date
Application number
SU782699559A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Алексей Логинович Старков
Original Assignee
Институт электроники АН БССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт электроники АН БССР filed Critical Институт электроники АН БССР
Priority to SU782699559A priority Critical patent/SU947636A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU947636A1 publication Critical patent/SU947636A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, дл  измерени  перемещени .The invention relates to instrumentation engineering and can be used, in particular, to measure displacement.

Известен интерферометр, содержащий источник монохроматического излучени , телескопическую систему, светоделительную пластину, два уголковых отражател , две диафрагмы и два фотоприемника дл  регистрации интерференционной картины 1.An interferometer is known which contains a source of monochromatic radiation, a telescopic system, a beam-splitting plate, two corner reflectors, two diaphragms and two photodetectors for detecting an interference pattern 1.

Недостатком интерферометра  вл етс  недостаточно высока  точность измерени  из-за чувствительности к разъюстировке.The disadvantage of the interferometer is that the measurement accuracy is not high enough due to sensitivity to misalignment.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и решаемой задаче  вл етс  интерферометр дл  измерени  перемещени ,содержащий последовательно расположенные источник монохроматического излучени , телескопическую систему и светоделитель, дел щий излучение на два потока, в одном из которых расположены оптически св занные диафрагма и фотоприемник , а в другом - последовательно установленные по ходу излучени  отражатель , св занный с объектом, диафрагма и фотоприемник {2.Closest to the invention in its technical essence and problem to be solved is an interferometer for measuring displacement, containing successively located sources of monochromatic radiation, a telescopic system and a beam splitter, dividing the radiation into two streams, one of which contains an optically coupled diaphragm and a photodetector, and the other is a successively installed reflector associated with the object, a diaphragm, and a photodetector {2.

Недостатком интерферометра  вл етс  недостаточна  точность измерени .The disadvantage of the interferometer is insufficient measurement accuracy.

Цель изобретени  - повьашение точности измерени .The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy.

Указанна  цель достигаетс  тем, что светоделитель и отражатель выполнены идентично в виде моноблока из пр моугольной:усеченной призмы This goal is achieved by the fact that the beam splitter and the reflector are made identically in the form of a monoblock of rectangular: truncated prism

10 с полупрозрачным отражшощим покрытием на гипотенузной грани и углом при вершине:10 with a translucent reflective coating on the hypotenuse face and a vertex angle:

Sin-iSin-i

ii 45 -arcs4nii 45 -arcs4n

1515

i - угол между нормалью к гипогде тенузной грани и направлением перемещени ;i is the angle between the normal to the hypogdis of the tenus face and the direction of movement;

п - показатель преломлени  призмы , и ориентированы друг от20 носительно друга таким образом , что дл  подающего излучени  гипотенузна  грань одного из них  вл етс  выходной, а другого - входной.n is the refractive index of the prism, and are oriented relative to each other in such a way that, for the radiating hypotenuse, the face of one of them is the output, and the other is the input.

На чертеже дана принципиальна  схе25 ма интерферометра.In the drawing, the principle scheme of the interferometer is given.

Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучени , телескопическую систему 2, светоделитель 3, диафрагму 4, фотоприемник 5, The interferometer contains a source of monochromatic radiation, a telescopic system 2, a beam splitter 3, a diaphragm 4, a photodetector 5,

30 светоделитель 3 выполнен в виде моноп30 beam splitter 3 made in the form of monop

лока из пр моугольной усеченной призмы с полупрозрачным отражающим окрытием на гипотенузной грани, ричем его выходна  гипотенуэна  грань расположена под углом, близким 45, диафраГгму 6, фотоприемник 7, аналогичную конструкцию и ориентацию имеет отражатель 8, у которого гипотенузна  грань  вл етс  входной и который жестко св зан с перемещающимс  объектом.Loka from a rectangular truncated prism with a semitransparent reflective covering on the hypotenuse face, its output hypotenuena face is at an angle close to 45, diaphragm 6, photodetector 7, a similar design and orientation has a reflector 8, in which the hypotenuse face is input and which is hard associated with a moving object.

Интерферометр работает следующим образом.The interferometer works as follows.

Пучок света от источника 1 монохроматического излучени  расшир етс  телескопической системой 2 и раздел етс  светоделителем 3 на два потока: рабочий (прошедший) и эталонный (отраженный во внутрь стекла). Рабочий поток падает на отражатель 8, преломл етс  на входной грани и возвращаетс  параллельно самому себе. Эталонный поток, аналогично отразившись от граней полного внутреннего отражени , вновь возвращаетс  на светоделительную поверхность, где смешиваетс  с рабочим потоком.The beam of light from the monochromatic radiation source 1 is expanded by the telescopic system 2 and is divided by the beam splitter 3 into two streams: working (transmitted) and reference (reflected inside the glass). The working flow falls on the reflector 8, refracts on the input face and returns parallel to itself. The reference flow, similarly reflected from the faces of the total internal reflection, returns to the beam-splitting surface again, where it mixes with the working flow.

Таким образом оба потока частично направл ютс  на фотоприемник 5, а частично - на фотоприемник 7.Thus, both streams are partially directed to the photodetector 5, and partly to the photodetector 7.

Диафрагмы 4 и 6 вырезают участки интерференционных полос, сдвинутых друг относительно друга на 0,25 ихDiaphragms 4 and 6 cut out the sections of interference fringes, which are shifted relative to each other by 0.25 of them.

ширины.widths.

Claims (2)

1.Коломийцев Ы.В. Интерферометры Л. , 1967, с. 191.1. Kolomiytsev Y.V. Interferometers L., 1967, p. 191. 2.Патент ФРГ 2207722,2. The patent of Germany 2207722, кл. G 01 В 9/02, 1975 (прототип).cl. G 01 B 9/02, 1975 (prototype).
SU782699559A 1978-12-22 1978-12-22 Interferometer for measuring displacement SU947636A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782699559A SU947636A1 (en) 1978-12-22 1978-12-22 Interferometer for measuring displacement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782699559A SU947636A1 (en) 1978-12-22 1978-12-22 Interferometer for measuring displacement

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU947636A1 true SU947636A1 (en) 1982-07-30

Family

ID=20799765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782699559A SU947636A1 (en) 1978-12-22 1978-12-22 Interferometer for measuring displacement

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU947636A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4784490A (en) High thermal stability plane mirror interferometer
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
US3955083A (en) Interferometric device for encoding shaft angles
GB1476911A (en) Optical interferometer
SU947636A1 (en) Interferometer for measuring displacement
GB1367886A (en) Measuring apparatus
SU1730531A1 (en) Two-axis displacement meter
SU1132147A1 (en) Laser displacement interferometer
SU1364866A1 (en) Interference device for measuring angular displacements
SU1536194A1 (en) Interferometer
SU1425434A1 (en) Interfercmeter for measuring linear displacements of object
SU1260674A1 (en) Interferometer for measuring linear and angular displacements of object
SU1506269A1 (en) Interferometer for measuring angular and linear position of object
SU1113671A1 (en) Device for measuring angular displacements
SU1567870A1 (en) Interferometer for measuring linear values
RU1774233C (en) Method of determining linear displacement of objects with flat mirror-reflection surface
SU1696851A1 (en) Interferometer for measuring deviation from rectilinearity
SU1525445A1 (en) Interferometer for measuring displacements
SU879289A1 (en) Interferometer
SU712654A1 (en) Interferometer
JPS57190202A (en) Device for reading optical scale
SU1008615A1 (en) Device for measuring object displacement
SU1026106A1 (en) Optical mixing-separating device
SU1227948A1 (en) Interferometer for measuring displacements
SU1416861A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of objects