SU1668864A1 - Laser interfering flatness meter - Google Patents
Laser interfering flatness meter Download PDFInfo
- Publication number
- SU1668864A1 SU1668864A1 SU894663317A SU4663317A SU1668864A1 SU 1668864 A1 SU1668864 A1 SU 1668864A1 SU 894663317 A SU894663317 A SU 894663317A SU 4663317 A SU4663317 A SU 4663317A SU 1668864 A1 SU1668864 A1 SU 1668864A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- optical
- measuring
- corner reflector
- axis
- deviation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к средствам измерени отклонени от пр молинейности и плоскости. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени отклонени от плоскостности и пр молинейности. Луч лазерного интерферометра 1 направл етс плоским зеркалом 2 через оптическую пластину 15 в измерительный блок на уголковый отражатель 14, проходит оптические клинь 10 и 11 и попадает на уголковый отражатель 9, проходит через оптические клинь 12 и 13 и, отразившись от грани призмы 14, направл етс в визирную марку 3. При перемещении измерительного блока по контролируемой поверхности происходит изменение оптической длины пути лазерного луча, который и характеризует отклонение. 1 ил.The invention relates to measuring the deviation from straightness and plane. The aim of the invention is to improve the accuracy of measuring the deviation from flatness and straightness. The beam of the laser interferometer 1 is guided by a flat mirror 2 through the optical plate 15 into the measuring unit at the corner reflector 14, passes the optical wedge 10 and 11 and hits the corner reflector 9, passes through the optical wedge 12 and 13 and, having reflected from the face of the prism 14, in the sight mark 3. When the measuring unit moves along the test surface, the optical path length of the laser beam changes, which characterizes the deflection. 1 il.
Description
КTO
С О 00 00C 00 00
оabout
Изобретение относитс к средствам измерени отклонени от пр молинейности и плоскостности.The invention relates to measuring the deviation from straightness and flatness.
Цель изобретени - повышение точности измерени отклонени от плоскостности и пр молинейности.The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the deviation from flatness and straightness.
На чертеже представлена схема плоско- мера.The drawing shows the plan of the flat.
Лазерный интерференционный плоско- мер содержит последовательно расположенные лазерный интерферометр 1, плоское зеркало 2, установленное с возможностью вращени перпендикул рно оптической оси, визирную, марку 3 и блок обработки информации, измерительный блок в виде установленного с возможностью перемещени вдоль оси корпуса 5 с трем наконечниками 6-8, один из которых установлен с возможностью перемещени перпендикул рно оптической оси, и последовательно расположенных вдоль оптической оси корпуса 5 уголкового отражател 9, двух пар оптических клиньев 10, 11 и 12, 13 и второго уголкового отражател 14. Плоскомер содержит также две оптические пластины 15 и 16, расположенные с противоположных сторон корпуса 5 и предназначенных дл создани замкнутой оптической системы.The laser interference plane meter contains successively located laser interferometer 1, a flat mirror 2 mounted for rotation perpendicular to the optical axis, a sighting device, a mark 3 and an information processing unit, a measuring unit in the form of an axis movable along the axis of the body 5 with three tips 6 -8, one of which is mounted for movement perpendicular to the optical axis, and successively along the optical axis of the housing 5 of the corner reflector 9, two pairs of 10, 11 and 12, 13 and the second corner reflector 14. The flat meter also contains two optical plates 15 and 16 located on opposite sides of the housing 5 and designed to create a closed optical system.
Плоскомер работает следующим образом .Ploskomer works as follows.
Луч лазерного интерферометра 1 направл етс плоским зеркалом 2 через оптическую пластину 15 в измерительный блок на уголковый отражатель 14, отразившись от которого проходит оптические клинь 10 и 11, отражатель 9, отразившись от него, луч проходит вторую оптических клиньевThe beam of the laser interferometer 1 is guided by a flat mirror 2 through the optical plate 15 into the measuring unit onto the corner reflector 14, reflecting from which optical wedges 10 and 11 pass, the reflector 9 reflecting from it, the beam passes the second optical wedges
00
5five
00
5five
00
5five
12 и 13, преломл етс и, отразившись от грани призмы 14, направл етс в визирную марку 3. При перемещении измерительного блока по контролируемой поверхности наконечник 7 и измерительный блок перемещаютс в вертикальной плоскости, что влечет за собой изменение оптической длины пути лазерного луча, величина которого характеризует отклонение от пр молинейности и плоскостности,12 and 13, is refracted and, reflected from the face of the prism 14, is guided to the sight mark 3. When the measuring unit is moved along the test surface, the tip 7 and the measuring unit move in the vertical plane, which entails a change in the optical path length of the laser beam, which characterizes the deviation from linearity and flatness,
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894663317A SU1668864A1 (en) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | Laser interfering flatness meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894663317A SU1668864A1 (en) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | Laser interfering flatness meter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1668864A1 true SU1668864A1 (en) | 1991-08-07 |
Family
ID=21434565
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894663317A SU1668864A1 (en) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | Laser interfering flatness meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1668864A1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109112936A (en) * | 2018-09-13 | 2019-01-01 | 中国民航大学 | A kind of surface evenness fining rapid measurement device |
CN109112937A (en) * | 2018-09-13 | 2019-01-01 | 中国民航大学 | A kind of surface evenness fining method for fast measuring |
CN116499347A (en) * | 2023-06-28 | 2023-07-28 | 常州市雄鹰机房设备有限公司 | Automatic control type flatness detection device for OA network floor |
-
1989
- 1989-03-16 SU SU894663317A patent/SU1668864A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Оптико-механическа промышленность, №2, 1974.С.21-22. * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109112936A (en) * | 2018-09-13 | 2019-01-01 | 中国民航大学 | A kind of surface evenness fining rapid measurement device |
CN109112937A (en) * | 2018-09-13 | 2019-01-01 | 中国民航大学 | A kind of surface evenness fining method for fast measuring |
CN116499347A (en) * | 2023-06-28 | 2023-07-28 | 常州市雄鹰机房设备有限公司 | Automatic control type flatness detection device for OA network floor |
CN116499347B (en) * | 2023-06-28 | 2023-09-12 | 常州市雄鹰机房设备有限公司 | Automatic control type flatness detection device for OA network floor |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS5849802B2 (en) | The Hyoukei Sokutei Souchi | |
US4436424A (en) | Interferometer using transverse deviation of test beam | |
US5606409A (en) | Laser ranging system calibration device | |
US4334778A (en) | Dual surface interferometer | |
US5379115A (en) | Differential interferometer | |
SU1668864A1 (en) | Laser interfering flatness meter | |
US4509858A (en) | Compact, linear measurement interferometer with zero abbe error | |
US5191391A (en) | High resolution plane mirror interferometer | |
JPH058769B2 (en) | ||
US3724950A (en) | Optical instrument for determining the distance between two measuring points | |
CA1210608A (en) | Interferometer spectrophotometer | |
SU1717346A1 (en) | Device for controlling turn angle of band saw pulleys | |
SU1299319A1 (en) | Device for measuring absolute value of free fall acceleration | |
SU1425434A1 (en) | Interfercmeter for measuring linear displacements of object | |
SU1350488A1 (en) | Device for measuring linear shifts | |
SU1402803A2 (en) | Device for checking straightness and axial alignment | |
SU1275205A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements of object | |
JPS631221Y2 (en) | ||
SU1132147A1 (en) | Laser displacement interferometer | |
SU1649261A1 (en) | Device for checking deviations from straightness | |
SU1567870A1 (en) | Interferometer for measuring linear values | |
SU1008615A1 (en) | Device for measuring object displacement | |
SU1425435A1 (en) | Interferometer for measuring linear displacements of object | |
SU1739188A1 (en) | Interference comparator to measure linear translations | |
SU861932A1 (en) | Interferometer for measuring two-coordinate table displacements |