SU1668864A1 - Laser interfering flatness meter - Google Patents

Laser interfering flatness meter Download PDF

Info

Publication number
SU1668864A1
SU1668864A1 SU894663317A SU4663317A SU1668864A1 SU 1668864 A1 SU1668864 A1 SU 1668864A1 SU 894663317 A SU894663317 A SU 894663317A SU 4663317 A SU4663317 A SU 4663317A SU 1668864 A1 SU1668864 A1 SU 1668864A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical
measuring
corner reflector
axis
deviation
Prior art date
Application number
SU894663317A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Алексей Алексеевич Смирнов
Анатолий Михайлович Шаркин
Любовь Анатольевна Карпова
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2190
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2190 filed Critical Предприятие П/Я В-2190
Priority to SU894663317A priority Critical patent/SU1668864A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1668864A1 publication Critical patent/SU1668864A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к средствам измерени  отклонени  от пр молинейности и плоскости. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  отклонени  от плоскостности и пр молинейности. Луч лазерного интерферометра 1 направл етс  плоским зеркалом 2 через оптическую пластину 15 в измерительный блок на уголковый отражатель 14, проходит оптические клинь  10 и 11 и попадает на уголковый отражатель 9, проходит через оптические клинь  12 и 13 и, отразившись от грани призмы 14, направл етс  в визирную марку 3. При перемещении измерительного блока по контролируемой поверхности происходит изменение оптической длины пути лазерного луча, который и характеризует отклонение. 1 ил.The invention relates to measuring the deviation from straightness and plane. The aim of the invention is to improve the accuracy of measuring the deviation from flatness and straightness. The beam of the laser interferometer 1 is guided by a flat mirror 2 through the optical plate 15 into the measuring unit at the corner reflector 14, passes the optical wedge 10 and 11 and hits the corner reflector 9, passes through the optical wedge 12 and 13 and, having reflected from the face of the prism 14, in the sight mark 3. When the measuring unit moves along the test surface, the optical path length of the laser beam changes, which characterizes the deflection. 1 il.

Description

КTO

С О 00 00C 00 00

оabout

Изобретение относитс  к средствам измерени  отклонени  от пр молинейности и плоскостности.The invention relates to measuring the deviation from straightness and flatness.

Цель изобретени  - повышение точности измерени  отклонени  от плоскостности и пр молинейности.The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the deviation from flatness and straightness.

На чертеже представлена схема плоско- мера.The drawing shows the plan of the flat.

Лазерный интерференционный плоско- мер содержит последовательно расположенные лазерный интерферометр 1, плоское зеркало 2, установленное с возможностью вращени  перпендикул рно оптической оси, визирную, марку 3 и блок обработки информации, измерительный блок в виде установленного с возможностью перемещени  вдоль оси корпуса 5 с трем  наконечниками 6-8, один из которых установлен с возможностью перемещени  перпендикул рно оптической оси, и последовательно расположенных вдоль оптической оси корпуса 5 уголкового отражател  9, двух пар оптических клиньев 10, 11 и 12, 13 и второго уголкового отражател  14. Плоскомер содержит также две оптические пластины 15 и 16, расположенные с противоположных сторон корпуса 5 и предназначенных дл  создани  замкнутой оптической системы.The laser interference plane meter contains successively located laser interferometer 1, a flat mirror 2 mounted for rotation perpendicular to the optical axis, a sighting device, a mark 3 and an information processing unit, a measuring unit in the form of an axis movable along the axis of the body 5 with three tips 6 -8, one of which is mounted for movement perpendicular to the optical axis, and successively along the optical axis of the housing 5 of the corner reflector 9, two pairs of 10, 11 and 12, 13 and the second corner reflector 14. The flat meter also contains two optical plates 15 and 16 located on opposite sides of the housing 5 and designed to create a closed optical system.

Плоскомер работает следующим образом .Ploskomer works as follows.

Луч лазерного интерферометра 1 направл етс  плоским зеркалом 2 через оптическую пластину 15 в измерительный блок на уголковый отражатель 14, отразившись от которого проходит оптические клинь  10 и 11, отражатель 9, отразившись от него, луч проходит вторую оптических клиньевThe beam of the laser interferometer 1 is guided by a flat mirror 2 through the optical plate 15 into the measuring unit onto the corner reflector 14, reflecting from which optical wedges 10 and 11 pass, the reflector 9 reflecting from it, the beam passes the second optical wedges

00

5five

00

5five

00

5five

12 и 13, преломл етс  и, отразившись от грани призмы 14, направл етс  в визирную марку 3. При перемещении измерительного блока по контролируемой поверхности наконечник 7 и измерительный блок перемещаютс  в вертикальной плоскости, что влечет за собой изменение оптической длины пути лазерного луча, величина которого характеризует отклонение от пр молинейности и плоскостности,12 and 13, is refracted and, reflected from the face of the prism 14, is guided to the sight mark 3. When the measuring unit is moved along the test surface, the tip 7 and the measuring unit move in the vertical plane, which entails a change in the optical path length of the laser beam, which characterizes the deviation from linearity and flatness,

Claims (1)

Формула изобретени  Лазерный интерференционный плоско- мер, содержащий последовательно расположенные лазерный интерферометр, плоское зеркало, установленное с возможностью перемещени  в направлении, перпендикул рном оптической оси, визирную марку и блок обработки информации, св занный с лазерным интерферометром, о т- личающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  отклонени  от плоскостности и пр молинейности, он снабжен измерительным блоком, выполненным в виде установленного с возможностью перемещени  вдоль оси корпуса с трем  наконечниками, один из которых установлен симметрично относительно двух других с возможностью перемещени  перпендикул рно оптической оси, и последовательно расположенных вдоль оси корпуса уголкового отражател , ориентированного основанием параллельно оптической оси и скрепл емого с подвижным наконечником, двух пар оптических клиньев, ориентированных основани ми в противоположные стороны, и второго уголкового отражател , ориентированного аналогично первому.Claims of the invention A laser interference plate containing a successive laser interferometer, a flat mirror mounted for movement in a direction perpendicular to the optical axis, a target mark and an information processing unit associated with a laser interferometer, which is in order to improve the accuracy of measuring the deviation from flatness and straightness, it is equipped with a measuring unit made in the form of a body mounted for movement along the axis with three tips, one of which is installed symmetrically with respect to the other two with the possibility of moving perpendicular to the optical axis, and successively located along the axis of the casing of the corner reflector, oriented with the base parallel to the optical axis and fastened with a moving tip, two pairs of optical wedges oriented with bases opposite sides, and the second corner reflector, oriented similarly to the first.
SU894663317A 1989-03-16 1989-03-16 Laser interfering flatness meter SU1668864A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894663317A SU1668864A1 (en) 1989-03-16 1989-03-16 Laser interfering flatness meter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894663317A SU1668864A1 (en) 1989-03-16 1989-03-16 Laser interfering flatness meter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1668864A1 true SU1668864A1 (en) 1991-08-07

Family

ID=21434565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894663317A SU1668864A1 (en) 1989-03-16 1989-03-16 Laser interfering flatness meter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1668864A1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109112936A (en) * 2018-09-13 2019-01-01 中国民航大学 A kind of surface evenness fining rapid measurement device
CN109112937A (en) * 2018-09-13 2019-01-01 中国民航大学 A kind of surface evenness fining method for fast measuring
CN116499347A (en) * 2023-06-28 2023-07-28 常州市雄鹰机房设备有限公司 Automatic control type flatness detection device for OA network floor

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Оптико-механическа промышленность, №2, 1974.С.21-22. *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109112936A (en) * 2018-09-13 2019-01-01 中国民航大学 A kind of surface evenness fining rapid measurement device
CN109112937A (en) * 2018-09-13 2019-01-01 中国民航大学 A kind of surface evenness fining method for fast measuring
CN116499347A (en) * 2023-06-28 2023-07-28 常州市雄鹰机房设备有限公司 Automatic control type flatness detection device for OA network floor
CN116499347B (en) * 2023-06-28 2023-09-12 常州市雄鹰机房设备有限公司 Automatic control type flatness detection device for OA network floor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5849802B2 (en) The Hyoukei Sokutei Souchi
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
US5606409A (en) Laser ranging system calibration device
US4334778A (en) Dual surface interferometer
US5379115A (en) Differential interferometer
SU1668864A1 (en) Laser interfering flatness meter
US4509858A (en) Compact, linear measurement interferometer with zero abbe error
US5191391A (en) High resolution plane mirror interferometer
JPH058769B2 (en)
US3724950A (en) Optical instrument for determining the distance between two measuring points
CA1210608A (en) Interferometer spectrophotometer
SU1717346A1 (en) Device for controlling turn angle of band saw pulleys
SU1299319A1 (en) Device for measuring absolute value of free fall acceleration
SU1425434A1 (en) Interfercmeter for measuring linear displacements of object
SU1350488A1 (en) Device for measuring linear shifts
SU1402803A2 (en) Device for checking straightness and axial alignment
SU1275205A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of object
JPS631221Y2 (en)
SU1132147A1 (en) Laser displacement interferometer
SU1649261A1 (en) Device for checking deviations from straightness
SU1567870A1 (en) Interferometer for measuring linear values
SU1008615A1 (en) Device for measuring object displacement
SU1425435A1 (en) Interferometer for measuring linear displacements of object
SU1739188A1 (en) Interference comparator to measure linear translations
SU861932A1 (en) Interferometer for measuring two-coordinate table displacements