SU1262342A1 - Способ определени фактической площади контакта твердых тел - Google Patents
Способ определени фактической площади контакта твердых тел Download PDFInfo
- Publication number
- SU1262342A1 SU1262342A1 SU853870318A SU3870318A SU1262342A1 SU 1262342 A1 SU1262342 A1 SU 1262342A1 SU 853870318 A SU853870318 A SU 853870318A SU 3870318 A SU3870318 A SU 3870318A SU 1262342 A1 SU1262342 A1 SU 1262342A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- contact
- photoresist
- solids
- contact area
- film
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам определени характеристик контактного взаимодействи твердых телд в том числе при трении, при обработке металлов давлением и др. Целью изобретени вл етс повьшение точности определени фактической площади контакта твердых тел. Цель достигаетс за счет использовани в качестве вещества-индикатора, наносимого на одну из контактирующих поверхностей, фоторезиста, обладающего способностью при нанесении его на щероховатуиэ поверхность в виде тонкой пленки практически не искажать микрорельеф поверхности-подложки . При этом фактическа площадь контакта определ етс по пЯощади про9 травившихс участков на поверхности с нанесенной пленкой фоторезиста (Л после контактного взаимодействи .
Description
to
а tc
со 4
Claims (1)
- N) Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам определени характеристик кои- тактного взаимодействи твердых тел, в том числе при трении, при об работке металлов давлением и др. Цель изобретени - повьппение точ ности определени фактической площади контакта твердых тел при испол зовании тонкой пленки вещества-инди катора, нaнeceннo o на одну из контактирующих поверхностей. Способ осуществл ют следующим об разом , На контактную поверхность образца нанос т тонкий слой фоторезиста, например, пентрифугированием, высуши вают его, затем образец привод т в соприкосновение с поверхностью контр образца под заданной сжимающей нагрузкой , после чего контактную пару разгружают, поверхность образца с пленкой фоторезиста подвергают травлению и по площади протравившихс участков суд т о фактической пло щади контакта исследуемых образцов . 2 При контактном взаимодействии поверхностей пленка фоторезиста подвергаетс деформации и разрушению в местах фактического контакта, что приводит к разрушению адгезионных св зей пленки фоторезиста с поверхностью , на которую она была нанесена. Вследствие этого травление поверхности образца после контактного взаимодействи вы вл ет границы площади фактического контакта. Формула изобретени Способ определени фактической площади контакта твердых тел, заключающийс в том, что на одну из поверхностей контакта нанос т тонкую пленку вещества-индикатора, привод т поверхности в соприкосновение под нагруз.кой, а о величине фактической площади контакта суд т по изменению пленки после, контактного взаимодействи , отличающийс тем, что, с целью повышени точности определени , в качестве материала пленки используют фоторезист, который подвергают травлению после контактного взаимодействи .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853870318A SU1262342A1 (ru) | 1985-01-02 | 1985-01-02 | Способ определени фактической площади контакта твердых тел |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853870318A SU1262342A1 (ru) | 1985-01-02 | 1985-01-02 | Способ определени фактической площади контакта твердых тел |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1262342A1 true SU1262342A1 (ru) | 1986-10-07 |
Family
ID=21168100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853870318A SU1262342A1 (ru) | 1985-01-02 | 1985-01-02 | Способ определени фактической площади контакта твердых тел |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1262342A1 (ru) |
-
1985
- 1985-01-02 SU SU853870318A patent/SU1262342A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Справочник: Трениеj изнашива;ние и смазка. - М.: Машиностроение, 1978, т. , с. 40-41. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3752229D1 (de) | Automatisierte Auslösung des richtigen Zeitpunkts von Reflexions-Messungen | |
ATE142346T1 (de) | Testträger-analysesystem | |
EP0376133A3 (en) | Method and device for measuring a target substance in a liquid sample | |
SU1262342A1 (ru) | Способ определени фактической площади контакта твердых тел | |
EP0180117A3 (de) | Verfahren zum Nachweis eines Stoffes oder zum Nachweis zumindest einer Komponente eines Stoffgemisches sowie Schwingkondensator zur Durchführung des Verfahrens | |
ES2109404T3 (es) | Elemento analitico para el analisis de una muestra liquida. | |
RU1806333C (ru) | Способ определени локальных механических напр жений контактируемых тел | |
SU1695182A1 (ru) | Способ дл определени компонентов в растворе и устройство дл его осуществлени | |
NO170704C (no) | Fremgangsmaate til bestemmelse av et maal for trykket mellom to faste legemers overflater atskilt med en tynn vaeskefilm | |
SU429256A1 (ru) | Способ измерения малых радиусов закруглениятвердых тел | |
SU1208472A1 (ru) | Способ определени деформации | |
JPS5717873A (en) | Inspection method of semiconductor element | |
SU1381367A1 (ru) | Способ определени динамической твердости | |
SU1569530A1 (ru) | Способ измерени толщины тонких диэлектрических пленок | |
RU94045239A (ru) | Способ определения начальной магнитной восприимчивости магнитных жидкостей | |
SU1663999A1 (ru) | Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов | |
KR970077404A (ko) | Cd 체크포인트를 이용한 박막 전극두께 검출방법 |