SU1262342A1 - Способ определени фактической площади контакта твердых тел - Google Patents

Способ определени фактической площади контакта твердых тел Download PDF

Info

Publication number
SU1262342A1
SU1262342A1 SU853870318A SU3870318A SU1262342A1 SU 1262342 A1 SU1262342 A1 SU 1262342A1 SU 853870318 A SU853870318 A SU 853870318A SU 3870318 A SU3870318 A SU 3870318A SU 1262342 A1 SU1262342 A1 SU 1262342A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
contact
photoresist
solids
contact area
film
Prior art date
Application number
SU853870318A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Петрович Грудев
Александр Дмитриевич Размахнин
Анатолий Зиновьевич Коркач
Original Assignee
Днепропетровский Ордена Трудового Красного Знамени Металлургический Институт Им.Л.И.Брежнева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Днепропетровский Ордена Трудового Красного Знамени Металлургический Институт Им.Л.И.Брежнева filed Critical Днепропетровский Ордена Трудового Красного Знамени Металлургический Институт Им.Л.И.Брежнева
Priority to SU853870318A priority Critical patent/SU1262342A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1262342A1 publication Critical patent/SU1262342A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к способам определени  характеристик контактного взаимодействи  твердых телд в том числе при трении, при обработке металлов давлением и др. Целью изобретени   вл етс  повьшение точности определени  фактической площади контакта твердых тел. Цель достигаетс  за счет использовани  в качестве вещества-индикатора, наносимого на одну из контактирующих поверхностей, фоторезиста, обладающего способностью при нанесении его на щероховатуиэ поверхность в виде тонкой пленки практически не искажать микрорельеф поверхности-подложки . При этом фактическа  площадь контакта определ етс  по пЯощади про9 травившихс  участков на поверхности с нанесенной пленкой фоторезиста (Л после контактного взаимодействи .

Description

to
а tc
со 4

Claims (1)

  1. N) Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к способам определени  характеристик кои- тактного взаимодействи  твердых тел, в том числе при трении, при об работке металлов давлением и др. Цель изобретени  - повьппение точ ности определени  фактической площади контакта твердых тел при испол зовании тонкой пленки вещества-инди катора, нaнeceннo o на одну из контактирующих поверхностей. Способ осуществл ют следующим об разом , На контактную поверхность образца нанос т тонкий слой фоторезиста, например, пентрифугированием, высуши вают его, затем образец привод т в соприкосновение с поверхностью контр образца под заданной сжимающей нагрузкой , после чего контактную пару разгружают, поверхность образца с пленкой фоторезиста подвергают травлению и по площади протравившихс  участков суд т о фактической пло щади контакта исследуемых образцов . 2 При контактном взаимодействии поверхностей пленка фоторезиста подвергаетс  деформации и разрушению в местах фактического контакта, что приводит к разрушению адгезионных св зей пленки фоторезиста с поверхностью , на которую она была нанесена. Вследствие этого травление поверхности образца после контактного взаимодействи  вы вл ет границы площади фактического контакта. Формула изобретени  Способ определени  фактической площади контакта твердых тел, заключающийс  в том, что на одну из поверхностей контакта нанос т тонкую пленку вещества-индикатора, привод т поверхности в соприкосновение под нагруз.кой, а о величине фактической площади контакта суд т по изменению пленки после, контактного взаимодействи , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности определени , в качестве материала пленки используют фоторезист, который подвергают травлению после контактного взаимодействи .
SU853870318A 1985-01-02 1985-01-02 Способ определени фактической площади контакта твердых тел SU1262342A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853870318A SU1262342A1 (ru) 1985-01-02 1985-01-02 Способ определени фактической площади контакта твердых тел

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853870318A SU1262342A1 (ru) 1985-01-02 1985-01-02 Способ определени фактической площади контакта твердых тел

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1262342A1 true SU1262342A1 (ru) 1986-10-07

Family

ID=21168100

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853870318A SU1262342A1 (ru) 1985-01-02 1985-01-02 Способ определени фактической площади контакта твердых тел

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1262342A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Справочник: Трениеj изнашива;ние и смазка. - М.: Машиностроение, 1978, т. , с. 40-41. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3752229D1 (de) Automatisierte Auslösung des richtigen Zeitpunkts von Reflexions-Messungen
ATE142346T1 (de) Testträger-analysesystem
EP0376133A3 (en) Method and device for measuring a target substance in a liquid sample
SU1262342A1 (ru) Способ определени фактической площади контакта твердых тел
EP0180117A3 (de) Verfahren zum Nachweis eines Stoffes oder zum Nachweis zumindest einer Komponente eines Stoffgemisches sowie Schwingkondensator zur Durchführung des Verfahrens
ES2109404T3 (es) Elemento analitico para el analisis de una muestra liquida.
RU1806333C (ru) Способ определени локальных механических напр жений контактируемых тел
SU1695182A1 (ru) Способ дл определени компонентов в растворе и устройство дл его осуществлени
NO170704C (no) Fremgangsmaate til bestemmelse av et maal for trykket mellom to faste legemers overflater atskilt med en tynn vaeskefilm
SU429256A1 (ru) Способ измерения малых радиусов закруглениятвердых тел
SU1208472A1 (ru) Способ определени деформации
JPS5717873A (en) Inspection method of semiconductor element
SU1381367A1 (ru) Способ определени динамической твердости
SU1569530A1 (ru) Способ измерени толщины тонких диэлектрических пленок
RU94045239A (ru) Способ определения начальной магнитной восприимчивости магнитных жидкостей
SU1663999A1 (ru) Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов
KR970077404A (ko) Cd 체크포인트를 이용한 박막 전극두께 검출방법