SU1663999A1 - Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов - Google Patents

Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Info

Publication number
SU1663999A1
SU1663999A1 SU4660591/10A SU4660591A SU1663999A1 SU 1663999 A1 SU1663999 A1 SU 1663999A1 SU 4660591/10 A SU4660591/10 A SU 4660591/10A SU 4660591 A SU4660591 A SU 4660591A SU 1663999 A1 SU1663999 A1 SU 1663999A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
standard
microscope
metal strips
positioning systems
check
Prior art date
Application number
SU4660591/10A
Other languages
English (en)
Inventor
В.А. Куликов
В.Н. Федорец
С.А. Иноземцев
Original Assignee
В.А. Куликов
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.А. Куликов filed Critical В.А. Куликов
Priority to SU4660591/10A priority Critical patent/SU1663999A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1663999A1 publication Critical patent/SU1663999A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике, к мерам для калибровки увеличения и систем позиционирования оптических и электронных микроскопов. Цель изобретения - повышение точности аттестации и проверки микроскопов путем точного определения периода металлических полос меры. Мера состоит из подложки, на которой сформирована система параллельных металлических полос с контактными площадками. В данной системе возбуждают поверхностную акустическую волну, определяют амплитудно - частотную характеристику меры (АЧХ), из данной АЧХ находят период Λ параллельных металлических полос. 3 ил.
SU4660591/10A 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов SU1663999A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4660591/10A SU1663999A1 (ru) 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4660591/10A SU1663999A1 (ru) 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1663999A1 true SU1663999A1 (ru) 1996-01-20

Family

ID=60531917

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4660591/10A SU1663999A1 (ru) 1989-03-10 1989-03-10 Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1663999A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109444472A (zh) * 2018-12-19 2019-03-08 中国电子科技集团公司第十三研究所 扫描电子显微镜校准图形样片及制备方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109444472A (zh) * 2018-12-19 2019-03-08 中国电子科技集团公司第十三研究所 扫描电子显微镜校准图形样片及制备方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE161956T1 (de) Verfahren zur untersuchung beschichteter metalloberflächen
IT8823166A0 (it) Procedimento e dispositivo per l'analisi quantitativa e differenziale in profondita' di provini solidi con l'impiego di due raggi ionici
FR2372798A1 (fr) Substrat chromogene specifique pour des enzymes, son obtention et son application
ES2125986T3 (es) Sensor para ensayo optico.
JPS5434673A (en) Micro-distance measuring device for scan-type electronic microscope
IT1203494B (it) Metodo per determinare la concentrazione di microbi mediante distribuzione su piastra e piatti impiegati in esso
IT1105326B (it) Dispositivo e procedimento di misura per la determinazione della omogeneita' di dispersione di materiali magnetici
SU1663999A1 (ru) Мера для поверки увеличения и систем позиционирования микроскопов
EP0376111A3 (de) Testträger-Analysesystem
DE59706908D1 (de) Messanschlagvorrichtung für ein entfernungsmessgerät
DE69126918D1 (de) Messverfahren des Einfallwinkels eines Lichtstrahls, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens sowie deren Verwendung zur Entfernungsmessung
FR2441176A1 (fr) Procede et montage pour la mesure de l'affaiblissement et notamment pour la determination de la distorsion d'affaiblissement et/ou de la distorsion de temps de propagation de groupe d'un objet de mesure
KR910012274U (ko) 시편 부식마모 측정장치
EP0378312A3 (en) Pressure measurement devices
SU819622A1 (ru) Способ определени структуры абра-зиВНОгО иНСТРуМЕНТА
Sfiligoj New Ultrasonic Technique Measures Size of Flaws
ES2054247T3 (es) Nuevos inhibidores de la corrosion del cobre y sus aleaciones.
JPS56131399A (en) Measurement of adhesion competence of blood plate and its device
Hillmann et al. Importance of Raster Electron Microscopes for Roughness Measurements on Technical Surfaces
IT1232427B (it) Dinamometro particolarmente per il rilievo del carico di attuazione disistemi servocomandati
Cook et al. Mapping of Ultrasonic Fields Using Liquid Crystals
NO921879L (no) Fremgangsmaate til maaling av t-celleoverflateantigener i mennesker
SU1426256A1 (ru) Способ определения компонент геомагнитного поля
RU94021401A (ru) Способ фиксации зоны облучения, способ определения местоположения источника излучения, способ фиксации изображения, способ определения зазоров
Kitayama DEVELOPMENT OF HEAVY-DUTY, UTLRA-THICK COATING SYSTEMS FOR OFFSHORE STEEL STRUCTURES