SU1226044A1 - Устройство дл измерени линейных размеров издели - Google Patents

Устройство дл измерени линейных размеров издели Download PDF

Info

Publication number
SU1226044A1
SU1226044A1 SU843804747A SU3804747A SU1226044A1 SU 1226044 A1 SU1226044 A1 SU 1226044A1 SU 843804747 A SU843804747 A SU 843804747A SU 3804747 A SU3804747 A SU 3804747A SU 1226044 A1 SU1226044 A1 SU 1226044A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plane
lens
product
projection lens
distance
Prior art date
Application number
SU843804747A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Николаевич Богомолов
Борис Евгеньевич Кривенков
Юрий Васильевич Чугуй
Владимир Павлович Юношев
Original Assignee
Новосибирский государственный университет им.Ленинского комсомола
Институт автоматики и электрометрии СО АН СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Новосибирский государственный университет им.Ленинского комсомола, Институт автоматики и электрометрии СО АН СССР filed Critical Новосибирский государственный университет им.Ленинского комсомола
Priority to SU843804747A priority Critical patent/SU1226044A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1226044A1 publication Critical patent/SU1226044A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике, а имен- ио к измерению диаметров цилиндрических изделий. Целью изобретени   вл етс  увеличение диапазона измер емых линейных размеров. Дифрагированный на изделии луч лазера фокуг сируетс  Фурье-объективом в плоскость , где расположены фазова  решетка и пространственный фильтр, транспортирунициё прос транственный спектр таким образом,чтобы в плоскости изображени , создаваемого проектирующим объективом, возникал р д сдвинутых контурных изображений объекта . Полева  диафрагма, помещенна  в эту плоскость, выбираетс  такого размера, чтобы она пропускала два внутренних контура соседних изобра- 9 жений и лерекрывала остальные. Размер издели  определ етс  по пространственному спектру прошедпгего через полевую диафрагму .света.1 ил. (Л 1С ю Эд о 4 4i

Description

11226044
Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл  автоматического контрол  диаметров .цилиндрических изделий.5
Целью изобретени   вл етс  расширение диапазона измер емых линейных размеров за.счет мультиплицировани  и фильтрации пространственного спектра , дифрагированного на контролируе- Ю мом изделии света.
На чертеже показана схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит источник когерентного излучени , например ла- fs зер 1, расширитель 2 пучка и диафрагму 3..
Измер емое изделие обозначено позицией 4. Устройство также содержит Фурье-объектив 5, фазовую решетку 6, 20 пространственно -частотный полосовой фильтр 7, проектирующий объектив 8, полевую диафрагму 9, установленную в плоскости изображени  издели , сформированного системой объективов 25 5 и 8, вторую диафрагму 10, фотоприемник 11, электрически соединенный с электронным блоком 12 обработки.
Устройство работает следующим образом .30
Луч лазера 1, пройд  расширитель 2 пучка, расшир етс , ограничиваетс  по пространству входной диафрагмой 3 и освещает изделие 4. Дифрагированный
А - длина волн1 1 света; F - фокусное рассто ние
Фурье-объектива; L - рассто ние от издели  до передней фокальной плоскости Фурье-объ-- ектива;
L - рассто ние от плоскас- ти пространственно- частотного фильтра до передней фокальной . плоскости проектирующего объектива; 1-,рр - период фазовой решетки; f - фокусное рассто ние
проектирующего объектива .
В плоскости считывающей диафрагмы формируетс  спектр разностного изображени  соответствующего объекту размером , где D - размер контролируемого издели .
Считывание этого спектра осуществл етс  фотоприемником 11, электрический сигнал с которого поступает в электронный блок 12, где вычисл етс  размер издели .

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Устройство дл  измерени  линейных размеров издели , содержащее источник когерентного излучени  и распо- на изделии свет фокусируетс  объекти- 35 ложенные по ходу световых лучей расвом 5 в его задней фокальной плоскости , формиру  простра.нственньй .спектр издели . Этот спектр, промодулирован- ньй фазовой решеткой 6 и пространственно-частотным фильтром 7, проектируетс  объективом 8 в плоскость считывающей диафрагмы 10. При этом в плоскости полевой диафрагмы 9 формируютс  световые распределени , имеющие вид множества сдвинутых друг относительно друга контурных изображений контролируемого издели .
    Размер h полевой диафрагмы 9 выбираетс  таким образом, что она пропускает два внутренних контура соседних изображений и перекрывает остальные :
    / h m D , . где m
    Ff/( L) - масштабный коэффициент;
    DO - параметр мультиплицировани  ;
    40
    ширитель пзгчка, первую диафрагму, располагаемую перед объектом, Фурье- объектив, пространственно-частотный полосовой фильтр, проектирующий объектив , вторую диафрагму, фотоприемник и соединенный с ним электрически электронный блок обработки, отличающеес  тем, что, с целью расширени  диапазона измерени 
    5 линейных размеров, оно снабжено фазовой решеткой, размещенной перед проектирующим объективом, и полевой диафрагмой, устанавливаемой в плоскости изображени  объекта между про50 ектирующим объективом и второй диафрагмой , а полева  диаграмма выполнена с размером
    Ь )
    55 где ш
    Ff/F2-L L,j - масштабный коэффициент; о 2 р параметр мультиплицировани ;
    А - длина волн1 1 света; F - фокусное рассто ние
    Фурье-объектива; L - рассто ние от издели  до передней фокальной плоскости Фурье-объ-- ектива;
    L - рассто ние от плоскас- ти пространственно- частотного фильтра до передней фокальной . плоскости проектирующего объектива; 1-,рр - период фазовой решетки; f - фокусное рассто ние
    проектирующего объектива .
    В плоскости считывающей диафрагмы формируетс  спектр разностного изображени  соответствующего объекту размером , где D - размер контролируемого издели .
    Считывание этого спектра осуществл етс  фотоприемником 11, электрический сигнал с которого поступает в электронный блок 12, где вычисл етс  размер издели .
    Формула изобретени 
    ширитель пзгчка, первую диафрагму, располагаемую перед объектом, Фурье- объектив, пространственно-частотный полосовой фильтр, проектирующий объектив , вторую диафрагму, фотоприемник и соединенный с ним электрически электронный блок обработки, отличающеес  тем, что, с целью расширени  диапазона измерени 
    линейных размеров, оно снабжено фазовой решеткой, размещенной перед проектирующим объективом, и полевой диафрагмой, устанавливаемой в плоскости изображени  объекта между проектирующим объективом и второй диафрагмой , а полева  диаграмма выполнена с размером
    Ь )
    где ш
    Ff/F2-L L,j - масштабный коэффициент; о 2 р параметр мультиплицировани ;
    - длина волны света; период фазовой решетки;
    фо кусное рассто ние Фурье-объектива;
    рассто ние от издели  до передней фокальной плоскости Фурье-объектива;
    рассто ние от плоское- ти пространстенно- частотного фильтра до передней фокальной плоскости проектирующего объектива;
    фокусное рассто ние
    пр оектирун цего объектива .
    Составитель Ю.Миронов Редактор О.Юрковецка  ТехредН.Бонкало Корректор А.Обручар
    2110/28
    Тираж 670 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб.,д.4/5
    Производственно-полиграфическое предпри тие,г.Ужгород,ул.Проектна ,4
    Раамер
SU843804747A 1984-10-24 1984-10-24 Устройство дл измерени линейных размеров издели SU1226044A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843804747A SU1226044A1 (ru) 1984-10-24 1984-10-24 Устройство дл измерени линейных размеров издели

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843804747A SU1226044A1 (ru) 1984-10-24 1984-10-24 Устройство дл измерени линейных размеров издели

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1226044A1 true SU1226044A1 (ru) 1986-04-23

Family

ID=21143860

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843804747A SU1226044A1 (ru) 1984-10-24 1984-10-24 Устройство дл измерени линейных размеров издели

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1226044A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент US № 3851180, кл. G 01 В 7/12, 1978.. Авторское свидетельство СССР № 731278, кл. G 01 В 11/08, 1978. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3829219A (en) Shearing interferometer
Köpf Application of speckling for measuring the deflection of laser light by phase objects
US5225918A (en) Hologram scale, apparatus for making hologram scale, moving member having hologram scale assembled hologram scale and apparatus for making assembled hologram scale
US4174179A (en) Continuous feed holographic correlator for randomly oriented workpieces
US4149269A (en) Holographic reading apparatus with an area identification and density reference scan
NL8005258A (nl) Interferometer.
US20070109556A1 (en) Methods and Apparatus for Reducing Error in Interferometric Imaging Measurements
JPS58191907A (ja) 移動量測定方法
US4113388A (en) Optical apparatus for determining relative positioning of two members
SU1226044A1 (ru) Устройство дл измерени линейных размеров издели
US3539260A (en) Method and apparatus for automatic alignment of coherent optical spatial frequency filters
US3510223A (en) Optical cross-correlation and convolution
JPH02206745A (ja) 屈折率測定用高安定性干渉計
US4395123A (en) Interferometric angle monitor
US3232165A (en) Interferometer having plural slit source
Mallick et al. Speckle-pattern interferometry applied to the study of phase objects
CN111708258A (zh) 一种全息光栅扫描光刻曝光量监测装置及调整方法
JPS6213603B2 (ru)
GB1570428A (en) Method of and apparatus for comparing an object with a reference specimen
US4808807A (en) Optical focus sensor system
GB1598648A (en) Method of determining a characteristic of an optical component
SU731278A1 (ru) Устройство дл измерени малых размеров
SU1744452A1 (ru) Интерферометр дл контрол плоскостности отражающих поверхностей
SU695307A1 (ru) Мессбауэровский спектрометр с лазерным интерферометром дл абсолютного измерени скорости относительного перемещени
JPS57113342A (en) Eccentricity measurement