SU1188740A2 - Device for checking logical units - Google Patents
Device for checking logical units Download PDFInfo
- Publication number
- SU1188740A2 SU1188740A2 SU843739637A SU3739637A SU1188740A2 SU 1188740 A2 SU1188740 A2 SU 1188740A2 SU 843739637 A SU843739637 A SU 843739637A SU 3739637 A SU3739637 A SU 3739637A SU 1188740 A2 SU1188740 A2 SU 1188740A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- test
- input
- control
- signature analyzer
- analyzer
- Prior art date
Links
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ УЗЛОВ по авт. св. № 1024924, отличающеес тем, что, с целью повышени достоверности контрол , в него введены аналиазтор сигнатур тестовых сигналов и элемент ИЛИ, причем группа информационных выходов генератора тестов соединена с группой информационных входов анализатора сигнатур тестовых сигналов, вход синхронизации и вход обнулени которого соединены соответственно с вторым и третьим выходами блока управлени , выходы ошибки анализатора сигнатур и анализатора сигнатур тестовых сигналов соединены соответственно с первым и вторым входами элемента ИЛИ, выход которого соединен с третьим входом блока управлени , второй вход разрешени мажоритарного блока соединен с выходом ошибки анализатора сигнатур тестовых сигналов.DEVICE FOR THE CONTROL OF LOGICAL KNOTES by author. St. No. 1024924, characterized in that, in order to increase the reliability of the control, a test signal signature analyzer and an OR element are introduced into it, the group of information outputs of the test generator is connected to the group of information inputs of the signature analyzer of test signals, the synchronization input and the zero input of which are connected respectively to the second and third outputs of the control unit, the error outputs of the signature analyzer and the test signal signature analyzer are connected respectively to the first and second inputs of the AND element LI, the output of which is connected to the third input of the control unit, the second input of the resolution of the majority block is connected to the error output of the signature analyzer of test signals.
Description
(Я(I
сwith
ОС 00OS 00
4four
S.2S.2
fi;fi;
S.3S.3
Изобретение относитс к вычислительной технике, в частности к аппаратуре контрол логических вычислительных машин, и может быть использовано в электронике дл контрол логических микросхем средней и большой степени интеграции, а также в составе автоматических комплексов и автоматизированных .систем управлени производства ТЭЗов, контролеров и других логических блоков.The invention relates to computer technology, in particular, to equipment for controlling logical computers, and can be used in electronics for controlling logic chips of medium and high degree of integration, as well as in automatic complexes and automated control systems for the production of TECs, controllers and other logical blocks. .
Цель изобретени - повышение достоверности контрол .The purpose of the invention is to increase the reliability of the control.
На фиг. 1-показана схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - анализатор сигнатур тестовых сигналов.FIG. 1 is a diagram of the proposed device; in fig. 2 - test signal signature analyzer.
Устройство содержит блок 1 управлени , генератор 2 тестов, анализатор 3 сигнатур, анализатор 4 сигнатур тестовых сигналов, и мажоритарный блок 5, контролируемые логические узлы 6.1-6.3 и элемент ИЛИ 7.The device contains a control unit 1, a generator of 2 tests, a 3-signature analyzer, a 4-test signal signature analyzer, and a majority block 5, monitored logic nodes 6.1-6.3, and an OR 7 element.
Блок I управлени , генератор 2 тестов и анализатор 3 сигнатур выполнены по основному авт. св. № 1024924.The control block I, the generator of 2 tests and the analyzer of 3 signatures are made according to the main author. St. No. 1024924.
Анализатор 4 сигнатур тестовых сигналов имеет распределитель импульсов 8, сигнатурный анализатор 9, регистр 10 пам ти, схему 11 сравнени , блок 12 пам ти, выход 13 неправильного теста, информационные входы 14 анализатора сигнатур тестовых сигналов , вход 15 обнулени и синхровход 16.The test signal signature analyzer 4 has a pulse distributor 8, a signature analyzer 9, a memory register 10, a comparison circuit 11, a memory block 12, an incorrect test output 13, information inputs 14 of the test signal signature analyzers, zero input 15 and a synchronous input 16.
Мажоритарный блок 5 содержит дополнительную чейку индикации, соответствующую выходу неправильного теста анализатора и сигнатур тестовых сигналов.The majority block 5 contains an additional indication cell corresponding to the output of the incorrect analyzer test and the signatures of the test signals.
Устройство работает с..1едуюш,им образом.The device works with .1, in the image.
Начальна установка производитс сигналом «Пуск (высокий уровень), поступающим на вход 15 распределител 8 импульсов. С зтого момента до прихода команды «Стоп (низкий уровень) на вход 15 при поступлении каждого синхроимпульса на вход 16 распределитель 8 формирует импульсы, управл ющие работой анализатора и сигнатур тестовых сигналов. На информационные входы 14 сигнатурного анализатора поступают те же тестовые сигналы от генератора 2 тестов, что и на входы контролируемых логических узлов 6.1-6.3. Сформироншнный таким образом код вл етс сигнатурой, котора поступает в регистр 10 пам ти дл хранени . Схема 11 сравнени производитс по команде распределител 8 импульсов сравнение сигнатур, хран щихс в регистре 10 пам ти и блоке 12 пам ти. При несовпадении сигнатур формируетс команда «Неправильный тест, котора поступает на выход 13.The initial installation is made by a start (high level) signal, which is fed to the input 15 of the distributor 8 pulses. From that moment until the arrival of the Stop (Low Level) command at input 15, as each sync pulse arrives at input 16, distributor 8 generates pulses that control the operation of the analyzer and test signal signatures. The same test signals from the 2 test generator as at the inputs of the controlled logical nodes 6.1-6.3 come to the information inputs of the 14 signature analyzer. The code thus generated is a signature that enters memory register 10 for storage. Comparison circuit 11 is performed at the command of the pulse distributor 8, comparing the signatures stored in memory register 10 and memory block 12. If the signatures do not match, the command "Wrong test that is output to output 13 is formed.
При подаче разрешающего уровна «Начало контрол блок 1 управлени формирует синхроимпульсы, которые поступают на вход генератора 2 тестов. На выходе генератора 2 тестов формируетс необходимое количество комбинаций, устанавливающих контролируемые логические узлы 6.1-6.3 в исходное состо ние. Параллельно тестовыеWhen the permit level is applied, the start of the control unit, the control unit 1, generates the clock pulses, which are fed to the input of the test generator 2. At the output of the test generator 2, the required number of combinations is established, which set the controlled logical nodes 6.1-6.3 to the initial state. Parallel test
комбинации поступают на вход 14 анализатора сигнатур 4 тестовых сигналов, где по выдаче генератором 2 тестов разрешающего уровн и блоком 1 управлени синхроимпульса происходит их преобразование в сигнатуры и формирование команды «Неправильный тест при по влении неправильной тестовой комбинации. В этом случае процедура контрол прерываетс и затем контроль повтор етс .The combinations are fed to the input 14 of the signature analyzer 4 test signals, where, when the generator generates 2 tests of the resolution level and the sync pulse control unit 1, they are converted into signatures and the “Wrong test when a wrong test combination appears. In this case, the monitoring procedure is interrupted and then the monitoring is repeated.
Если искажение тестовой комбинации на выходе генератора 2 тестов в результате воздействи дестабилизирующих факторов (внешних помех, бросков по цеп м питани и т. д.) произойдет после того,If the distortion of the test combination at the output of the generator 2 tests as a result of the influence of destabilizing factors (external interference, surges on the power supply circuits, etc.) occurs after
как анализатор сигнатур 4 тестовых сигналов сформировал правильную сигнатуру, то генератор 2 тестов формирует сигнал, блокирующий работу блока 1 управлени до окончани действи помехи.As the signature analyzer 4 test signals generated the correct signature, the test generator 2 generates a signal that blocks the operation of the control unit 1 until the end of the interference.
Одновременно синхроимпульсом блока 1Simultaneously sync pulse unit 1
0 управле 1и запускаетс мажоритарный блок 5, который производит сравнение каждого разр да, формирует на выходах параллельный код, соответствующий мажоритарности и если информаци на входах мажоритарных элементов не совпадает, в зависимости от присутстви синхроимпульсов и команд «Неправильна сигнатура, «Неправильный тест индицирует номер контролируемого логического узла «Брак или «Контроль повторить. При правильном функциониQ ровании всех контролируемых логических узлов 6.1-63 и генератора 2 тестов, индикаци отсутствует. Параллельный коде выходов мажоритарного блока 5 поступает на входы анализатора 3 сигнатур, который преобразует его в последовательность шестнадцатиричных комбинаций или сигнатуру. Сигнатура формируетс после каждой тестовой комбинации и сравниваетс с расчетной (эталонной). Контроль автоматически прекращаетс при по влении неправильной сигнатуры и после последней правильной.0 control 1 and start majority block 5, which compares each bit, generates a parallel code at the outputs that corresponds to majority and if the information at the inputs of the majority elements does not match, depending on the presence of sync pulses and the commands "Incorrect signature," Incorrect test displays the number of the controlled logical node "Marriage or" Control repeat. If all monitored logical nodes 6.1-63 and the generator of 2 tests are correctly functioning, there is no indication. Parallel to the code of the outputs of the majority block 5 is fed to the inputs of the analyzer 3 signatures, which converts it into a sequence of hexadecimal combinations or signature. The signature is formed after each test combination and compared with the calculated (reference) one. The control is automatically terminated when the wrong signature appears and after the last correct one.
0 Контролируемые логические узлы 6.1-6.3 признаютс годными, если верна последн сигнатура и нет индикации «Брак. Если индикаци «Брак есть, индицируемые логические узлы забраковываютс . Если контроль прерываетс и есть индикаци «Контроль повторить, индицируемый, логический узел проходит повторный контроль в составе следующей контролируемой группы.0 Controlled logical nodes 6.1-6.3 are considered valid if the last signature is correct and there is no indication "Marriage. If the indication is "Marriage is, the displayed logical nodes are rejected. If the control is interrupted and there is an indication "Repeat control, indicated, the logical node is re-checked as part of the next control group.
Таким образом, организован двухконтурQ ный контроль тестовых сигналов: внешний и внутренний. Внутренний контур контрол организован анализатором сигнатур тестовых сигналов. Благодар этому устройство имеет три фазы активного контрол тестовых сигналов. Перва фаза имеет место 5 при формировании тестовых сигналов и осуществл етс внутренним контуром контро л . Характерна особенность второй фазы - проверка корректности тестов - проводитс внешним контуром контрол . Отличительной чертой третьей фазы вл етс блокировка контрол при наличии дестабилизирующих факторов, в результате чего контрольThus, a double-circuit control of test signals is organized: external and internal. The internal control loop is organized by a test signal signature analyzer. Due to this, the device has three phases of active control of test signals. The first phase takes place 5 during the formation of test signals and is carried out by the internal contour of the controller. A characteristic feature of the second phase — verification of the correctness of the tests — is carried out by the external control loop. A distinctive feature of the third phase is the blocking of controls in the presence of destabilizing factors, with the result that the control
--
/4/four
по некорректной тестовой комбинации не проводитс до окончани воздействи помех - результат взаимодействи внешнего и внутреннего контуров.the incorrect test pattern is not conducted until the end of the effect of interference — the result of the interaction of the external and internal circuits.
1212
/J/ J
////
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843739637A SU1188740A2 (en) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | Device for checking logical units |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843739637A SU1188740A2 (en) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | Device for checking logical units |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1024924 Addition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1188740A2 true SU1188740A2 (en) | 1985-10-30 |
Family
ID=21118598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843739637A SU1188740A2 (en) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | Device for checking logical units |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1188740A2 (en) |
-
1984
- 1984-05-11 SU SU843739637A patent/SU1188740A2/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1024924, кл. G 06 F 11/16, 1981. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4502117A (en) | DMA Bus load varying unit | |
US5561671A (en) | Self-diagnostic device for semiconductor memories | |
US4099668A (en) | Monitoring circuit | |
JPH05147477A (en) | Vehicular control device | |
US5271015A (en) | Self-diagnostic system for semiconductor memory | |
US4583041A (en) | Logic circuit test system | |
SU1188740A2 (en) | Device for checking logical units | |
SU1180904A1 (en) | Device for checking logical units | |
SU1223233A1 (en) | Device for checking uniform logic units | |
SU1024924A1 (en) | Device for checking logic units | |
SU1524069A1 (en) | Device for monitoring and measuring tolerable spreads of parameters | |
SU1439566A1 (en) | Arrangement for synchronizing memory units | |
SU1267424A1 (en) | Device for checking microprocessor program units | |
SU796916A1 (en) | Memory unit monitoring device | |
SU1439602A1 (en) | Device for monitoring discrete-action devices | |
SU955072A1 (en) | Logic circuit functioning checking device | |
SU1737465A1 (en) | Device for functional checking of integrated circuits | |
SU1603390A1 (en) | Device for checking digital units | |
SU1173415A1 (en) | Apparatus for static control of logical units | |
SU1425788A1 (en) | Apparatus for monitoring solid-state storage | |
SU1432528A2 (en) | Apparatus for monitoring the functioning of logical modules | |
SU651351A1 (en) | Arrangement for checking logic units | |
SU1291905A1 (en) | Device for functional checking of large-scale integrated circuits | |
SU1682993A1 (en) | Device for memory synchronizing | |
SU1120338A1 (en) | Device for checking digital units |