SU1168800A1 - Two-step interferometer - Google Patents

Two-step interferometer Download PDF

Info

Publication number
SU1168800A1
SU1168800A1 SU817771750A SU7771750A SU1168800A1 SU 1168800 A1 SU1168800 A1 SU 1168800A1 SU 817771750 A SU817771750 A SU 817771750A SU 7771750 A SU7771750 A SU 7771750A SU 1168800 A1 SU1168800 A1 SU 1168800A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interference
plane
light beam
measuring
faces
Prior art date
Application number
SU817771750A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Bekhshtejn Karl-Khejnts
Original Assignee
Zeiss Jena Veb Carl
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zeiss Jena Veb Carl filed Critical Zeiss Jena Veb Carl
Application granted granted Critical
Publication of SU1168800A1 publication Critical patent/SU1168800A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02049Interferometers characterised by particular mechanical design details
    • G01B9/02051Integrated design, e.g. on-chip or monolithic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/45Multiple detectors for detecting interferometer signals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

A two-stage inteferometer includes a laser light source (1) and a beam splitter (2) having a partially metallised surface (3) which acts as an interference plane for producing two separate light beams (4 and 5). A measuring reflector (6) and a reference reflector (7) are disposed in the paths of the beams (4 and 5), respectively. The beam splitter (2) has on each side of the surface (3) a further beam-splitting, partially metallised surface (8,9), the latter surfaces lying symmetrically of the interference plane (3). A deflecting element, which can comprise a one- part element (13) or multiple elements (11, 12-see Fig. 2 not shown), is disposed at the end of the beam splitter (2) facing the measuring and reference reflectors (6,7). The deflecting element has optically effective reflective surfaces (14, 15) which align the light beams (4,5) so that the latter are mutually parallel, and has a beam exit surface (16) extending at 90 DEG to the interference plane (3). <IMAGE>

Description

Изобретение относится к двухступенчатому интерферометру, предназначенному, в частности, для измерений длины, при этом для определения направления изменений длины двухсту- $ пенчатый интерферометр работает с двумя интерференционными картинами.The invention relates to a two-stage interferometer, intended, in particular, for length measurements, while the two-way interferometer works with two interference patterns to determine the direction of changes in length.

В описании изобретения к патенту •ГДР № 111 993, кл. 42 В 8/02, 1974 описан оптический интерферометр для создания двух интерференционных картин, причем расщепительсветового пучка имеет по обеим сторонам разделительной грани и в основном парал« ~ 15In the description of the invention to the patent • GDR No. 111 993, cl. 42 V 8/02, 1974 an optical interferometer is described for creating two interference patterns, with the light beam splitter having a dividing face on both sides and mainly paral ~ 15

лельно ей по одной дополнительной разделительной грани, частично покрытой зеркальным слоем. Этими гранями световые составляющие обоихIt is suitable for it on one additional dividing face, partially covered with a mirror layer. These edges of the light components of both

частичных пучков интерференционной ί 20partial interference beams ί 20

картины отклоняются и еще раз интер- * ферируют друг с другом.the pictures are rejected and once again interfere with each other.

Однако в двухступенчатом интерферометре, в основе которого лежит принцип Майкельсона, с целью оптимального определения эталонной точки 25 интерферометрического измерения предусмотрена вводящая призма, обуславливающая сильно несимметричный ход .лучей. Самое выгодное положение эталонной точки и симметрия в мет- 30 рологически чувствительной части интерферометра взаимно исключаются.However, in a two-stage interferometer, which is based on the Michelson principle, in order to optimally determine the reference point 25 of the interferometric measurement, an introductory prism is provided, causing a highly asymmetric course of the rays. The most favorable position of the reference point and symmetry in meth 30 rologicheski sensitive parts of the interferometer are mutually exclusive.

Так, например, в диапазоне разрешения 1СГ®— 10'9м в течение большого времени измерения невозможно произ- 35So, for example, in the resolution range of 1SG® — 10 ' 9 m for a long measurement time it is impossible to make

22

вести измерения стабильно относительно нулевой точки, так как части интерферометра, определяющие оптическую длину пути, в случае тепловых возмущений допускают'различное изменение оптической длины пути в измерительном и эталонном ходах лучей.to conduct measurements stably with respect to the zero point, since the parts of the interferometer that determine the optical path length, in the case of thermal perturbations, allow various changes in the optical path length in the measuring and reference paths of the rays.

Все эти недостатки снижают точность измерения.All these disadvantages reduce the accuracy of the measurement.

Цель изобретения - устранение недостатков уровня техники и повышение точности при интерферометрических измерительных системах.The purpose of the invention is to eliminate the drawbacks of the prior art and improve the accuracy with interferometric measuring systems.

Поставленная цель достигается тем, что ,в двухступенчатом интерферометре, предназначенном, в частности, для измерения длины, содержащем источник света, расщепитель светового пучка с разделительной гранью, частично покрытой зеркальным слоем для' создания двух раздельных световых пучков, измерительный рефлектор, расположенный в ходе первого светового пучка, и эталонный рефлектор, расположенный в ходе второго светового пучка, расщепитель светового пучка имеет по обеим сторонам грани, представляющей собой плоскость интерференции, по одной дополнительной разделительной грани, частично покрытой зеркальным слоем, причем эти грани расположены симметрично отно- , сительно плоскости интерференции, на конце расщепителя светового пучка, обращенном к измерительному и эта- This goal is achieved by the fact that, in a two-stage interferometer, designed, in particular, to measure length, containing a light source, a light beam splitter with a separating face partially covered with a mirror layer to 'create two separate light beams, the measuring reflector located during the first light beam, and the reference reflector, located during the second light beam, the light beam splitter has on both sides of the face, which is the plane of interference, one further dividing faces, partially covered with reflective layer, wherein these edges are disposed symmetrically The ratio, respect to the plane of interference, at the end of the beam splitter facing the measuring and this -

33

1168800 41168800 4

лонному рефлеторам, расположен цельный отклоняющий элемент или отклоняющий элемент, составленный из нескольких одиночных призм, юстируемых независимо одна от другой, откло- 5 няющий элемент имеет оптически активные отражательные грани, которые параллельно направляют световые пучки и составляют с плоскостью интерференции одинаковые углы, и грань Ю выхода луча, перпендикулярную плоскости интерференции.A single-sided deflecting element or deflecting element composed of several single prisms that are independently adjustable from one another; the deflecting element has optically active reflective edges that parallel light beams and form the same angles with the plane of interference; beam output perpendicular to the plane of interference.

При этом расщепитель светового пучка'на конце, обращенном к измерительному и эталонному рефлеторам, 15 имеет поверхность среза, на которой расположен отклоняющий элемент и которая перпендикулярна плоскости интерференции.At the same time, the light beam splitter, at the end facing the measuring and reference refletors, has a cutting surface on which the deflecting element is located and which is perpendicular to the plane of interference.

Одиночные призмы отклоняющего 20Single prism diverter 20

элемента могут быть расположены симметрично относительно плоскости интерференции и соединены в'отклоняющую призму, причем грани выхода луча одиночных призм приближенно 25elements can be located symmetrically with respect to the plane of interference and connected in a клон declining prism, with the faces of the exit of the beam of single prisms approximately 25

расположены в плоскости, перпендикулярной плоскости интерференции.located in a plane perpendicular to the plane of interference.

В двухступенчатом интерферометре грань, являющаяся плоскостью интерференции, и разделительные грани, 30 параллельные ей, удлинены в направлении к измерительному и эталонному ходам лучей, и на удлинениях этих граней, не полностью покрытых зеркальным слоем, расположены выводящие призмы, которые отклоняют и параллельно направляют световые пучки.In a two-stage interferometer, the face, which is the plane of interference, and the separating faces, 30 parallel to it, are elongated in the direction of the measuring and reference beam paths, and on the elongations of these faces, not completely covered with a specular layer, output prisms are located, which deflect and direct light beams in parallel .

В предлагаемом устройстве достигается параллельный характер измерительного и эталонного ходов лучей в до двухступенчатых интерферометрах и симметрия между этими ходами лучей внутри расщепителя светового пучка, что обуславливает большую точность оснащенных такими интерферометрами 45 приборов, так как и в течение большого времени измерения оптическая длина пути в измерительном и эталонном ходах лучей внутри интерферометра остается постоянной, несмотря на имею- 50 щиеся изменения температуры. Кроме того, весь ход лучей интерферометра является нечувствительным к незначительным наклонениям интерферометра. Отдельные части интерферометра имеют 55 простую конструкцию..The proposed device achieves the parallel nature of the measuring and reference beam paths in up to two-stage interferometers and the symmetry between these beam paths inside the light beam splitter, which causes 45 instruments equipped with such interferometers to be more accurate, as well as for a large measurement time The reference beam paths inside the interferometer remain constant, despite the existing temperature changes. In addition, the entire course of the interferometer beams is insensitive to insignificant inclinations of the interferometer. The individual parts of the interferometer have 55 simple designs ..

На фиг. 1 изображен расщепитель светового пучка с цельной отклоняющей призмой; на фиг. 2 - то же, с составной отклоняющей призмой; на фиг. 3 - то же, с удлиненными граня ми.FIG. 1 shows a light beam splitter with a single deflection prism; in fig. 2 - the same, with a composite deflecting prism; in fig. 3 - the same, with elongated faces.

Двухступенчатый интерферометрTwo-stage interferometer

(фиг.2), применяемый, в частности, для измерения длин и перемещений, содержит лазер в качестве источника(figure 2), used, in particular, to measure lengths and displacements, contains a laser as a source

1 света, расщепитель 2 светового пучка с разделительной гранью, частично покрытой зеркальным слоем, служащей в качестве плоскости 3 интерференции для создания двух раздельных световых пучков 4 и 5, и рефлекторы 6 и 7, расположенные в ходе этих световых пучков 4 и 5. Так, в ходе светового пучка 4 расположен перемещаемый измерительный рефлектор 6, а в ходе светового пучка 5 неподвижный эталонный рефлектор 7, причем эти рефлекторы преимущественно выполнены в виде зеркальных трипель-призм. По обеим сторонам плоскости 3 интерференции в расщепителе1 light, a splitter 2 light beam with a separating face partially covered with a mirror layer serving as the interference plane 3 for creating two separate light beams 4 and 5, and reflectors 6 and 7 located during these light beams 4 and 5. So, in the course of the light beam 4, a movable measuring reflector 6 is located, and in the course of the light beam 5 there is a fixed reference reflector 7, and these reflectors are mainly made in the form of mirror triple prisms. On both sides of the plane 3 interference in the splitter

2 светового пучка предусмотрено по одной дополнительной разделительной грани 8 и 9, частично покрытой зеркальным слоем, которые параллельны плоскости 3 интерференции и симметричны относительно нее. Расщепитель 2 светового пучка на конце, обращенном к измерительному и эталонному рефлекторам 6 и 7, имеет поверхность 10 среза, на которой расположен цельный отклоняющий элемент (фиг.1) или отклоняющий элемент, состоящий из нескольких одиночных призм 11 и 12, юстируемых независимо одна от другой (фиг.2). Отклоняющий элемент 13 имеет оптически активные отражательные грани 14 и 15, которые с плоскостью 3 интерференции преимущественно составляют одинаковые углы. Эти углы рассчитываются так, что световые пучки 4 и 5 измерительного и эталонного ходов лучей параллельны один другому.2 light beams are provided along one additional separating face 8 and 9, partially covered with a mirror layer, which are parallel to and symmetrical with respect to the interference plane 3. The splitter 2 of the light beam at the end, facing the measuring and reference reflectors 6 and 7, has a cut surface 10 on which a one-piece deflecting element (FIG. 1) or a deflecting element consisting of several single prisms 11 and 12 arranged independently of one another (figure 2). The deflecting element 13 has optically active reflective faces 14 and 15, which with the plane 3 of the interference mainly constitute the same angles. These angles are calculated so that the light beams 4 and 5 of the measuring and reference beam paths are parallel to one another.

Возможность юстировки отражательных граней 14 и 15 в случае исполнения согласно фиг. 2 внутри определенных пределов обуславливается использовау нием для этого толщины слоя склейки между одиночными призмами 11 и 12 и между поверхностью среза 10 и одиночными призмами 11 и 12. Отклоняющий элемент 13 имеет грань 16 выхода луча, перпендикулярную плоскости 3 интерференции. В устройстве по фиг.2The possibility of adjusting the reflective edges 14 and 15 in the case of the embodiment according to FIG. 2 within certain limits is determined by the use of the thickness of the bonding layer between the single prisms 11 and 12 and between the cut surface 10 and the single prisms 11 and 12. The deflecting element 13 has a beam exit face 16 perpendicular to the interference plane 3. In the device of figure 2

II

11688001168800

грани 17 и 18 выхода луча и одиночных призм 11 и 12 предусмотрены так, чтобы они приближенно были расположены в плоскости, перпендикулярной плоскости 3 интерференции.The faces 17 and 18 of the beam exit and the single prisms 11 and 12 are provided so that they are approximately located in a plane perpendicular to the plane of interference 3.

Исполнение расщепителя 19 светового пучка двухступенчатого интерферометра согласно фиг. 3 является наиболее предпочтительным. Расщепитель 19 светового пучка составляется из двух плоскопараллельных пластинок 20 и 21, причем грани 22-24 в части, определительной для расщепителя светового пучка, частично покрыты зеркальным слоем. Грани 22-24 по направлению к измерительному и эталонному рефлекторам 6 и 7 удлинены, причем эти удлинения не полностью покрьггы зеркальным слоем. На удлинениях граней 22 и 24 находятся выводящие призмы 27 и 28, которые отклоняют и параллельно направляют световые пучки. Грань 23. представля-. ет собой плоскость интерференции, аналогичную представленной на фиг. 1 и 2.The design of the splitter 19 of the light beam of the two-stage interferometer according to FIG. 3 is most preferred. The splitter 19 of the light beam is composed of two plane-parallel plates 20 and 21, and the edges 22-24 in the part that is definitive for the splitter of the light beam are partially covered with a mirror layer. The edges 22-24 in the direction of the measuring and reference reflectors 6 and 7 are elongated, and these extensions are not fully reflected by the mirror layer. On the elongations of the faces 22 and 24 are output prisms 27 and 28, which deflect and parallel the light beams. Face 23. is represented by-. The plane of interference is similar to that shown in FIG. 1 and 2.

Установка и симметрирование измерительного и эталонного ходов лучей внутри интерферометра (фиг. 3) достигаются путем взаимной юстировки выводящих призм 27 и 28, которые перемещают вдоль удлинений граней 22 и 24 и наклоняют при использовании толщины слоя склейки.The installation and balancing of the measuring and reference beam paths inside the interferometer (Fig. 3) are achieved by mutual alignment of the outputting prisms 27 and 28, which are moved along the elongations of the faces 22 and 24 and tilted when using the thickness of the gluing layer.

На основе исполнения устройства согласно фиг. 3 описывается функция двухступенчатого интерферометра, аналогичная функции устройств по фиг. 1 и 2. Коллимированный световой пучок от лазерного источни- .Based on the design of the device according to FIG. 3 describes the function of a two-stage interferometer, similar to the function of the devices of FIG. 1 and 2. The collimated light beam from a laser source -.

ка 1 света через вводящую призму 29, расположенную на расщепителе 2 светового пучка (19 согла.сно фиг. 3 ), вводится в верхнюю часть расщепителя. Вводящая призма '29 предусмотрена для того, чтобы равнять направления падающего светового пучка и световых пучков 4 и 5, что является необходимым для некоторых целей измерения. Кроме того, световой пучок можно вводить в расщепитель 2 (19 согласно фиг.З) светового пучка и при помощи призмы 30. Введенный световой пучок проходит через расщепляющий слой грани 23 и разделяется на два световых пучка 4 и 5, представляющих собой измерительный и эталонный ходы лучей. Световые пучки 4 и 5 через выводящие призмы 27 и 28 выходят из интерферометра, измерительным 6 и эталонным 7 рефлекторами перемещаются в нижнюю часть расщепителя 2 светового пучка (19 согласно фиг. 3).и в расщепляющем слое грани 23, представляющей· 'собой плоскость интерференции, интерферируют. Оттуда частичные пучки, содержащие уже интерференционную информацию (согласно известному двухступенчатому принципу), через расщепляющие слои граней 22 и 23 и призмы 30 и 31 поступают на приемники 32 и 1 light through the inserting prism 29, located on the splitter 2 of the light beam (19 according to Fig. 3), is introduced into the upper part of the splitter. The insertion prism '29 is provided in order to equalize the directions of the incident light beam and the light beams 4 and 5, which is necessary for some measurement purposes. In addition, the light beam can be introduced into the splitter 2 (19 according to FIG. 3) of the light beam and with the help of prism 30. The introduced light beam passes through the splitting layer of face 23 and is divided into two light beams 4 and 5, representing measuring and reference strokes rays. Light beams 4 and 5 through outgoing prisms 27 and 28 exit the interferometer, measuring 6 and reference 7 reflectors are moved to the lower part of the light beam splitter 2 (19 according to Fig. 3) .and in the splitting layer the face 23 representing the interference plane interfere. From there, partial beams containing already interference information (according to the well-known two-step principle), through the splitting layers of the faces 22 and 23 and the prisms 30 and 31 arrive at receivers 32 and

33 сигналов или в качестве отраженной световой составляющей от расщепляющих слоев граней 22 и 24 во второй , раз интерферируют в плоскости грани 23 и оттуда попадают на приемники33 signals or as a reflected light component from the splitting layers of the faces 22 and 24 a second time, they interfere in the plane of the face 23 and from there get to the receivers

34 и 35 сигналов.34 and 35 signals.

Признано изобретением по результатам экспертизы, осуществленной Ведомством по изобретательству Германской Демократической Республики.It is recognized as an invention according to the results of the examination carried out by the Office for the Invention of the German Democratic Republic.

11688001168800

Фиг. 2FIG. 2

Claims (4)

1. ДВУХСТУПЕНЧАТЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР, предназначенный, в частности, для измерений длины, содержит источник света, расщепитель светового пучка с разделительной гранью, частично покрытой зеркальным слоем для создания двух раздельных световых пучков, измерительный рефлектор, расположенный в ходе первого светового пучка, и эталонный рефлектор, расположенный в ходе второго светового пучка, расщепитель· светового пучка1. A TWO-SPEED INTERFEROMETER, designed in particular for length measurements, contains a light source, a light beam splitter with a separating face partially covered with a mirror layer to create two separate light beams, a measuring reflector located during the first light beam, and a reference reflector, located during the second light beam, the splitter · light beam имеет по обеим сторонам грани, представляющей собой плоскость интерференции, по одной дополнительной разделительной грани, частично покрытой зеркальным слоем, причем эти грани расположены симметрично относительно плоскости интерференции,.отличающийся тем, что на конце расщепителя светового пучка, обращенном к измерительному и эталонному рефлекторам, расположен цельный . отклоняющий элемент или отклоняющий элемент, составленный из нескольких одиночных призм, юстируемых независимо одна от другой, отклоняющий элемент имеет оптически активные отражательные грани, которые параллельно направляют световые пучки и составляют с плоскостью интерференции оди- : наковые углы, и грань выхода луча, перпендикулярную плоскости интерференции .has on both sides of the edge, which is the plane of interference, on one additional separating face, partially covered with a mirror layer, and these faces are located symmetrically relative to the plane of interference, distinguished by the fact that at the end of the light beam splitter facing the measuring and reference reflectors, whole. a deflecting element or the deflecting element is composed of several single prisms, adjustable independently of one another, the biasing member has an optically active reflecting faces which is directed parallel to the light beams and make with the plane of the interference odi-: Nakova angles and beam exit face, perpendicular to the interference planes . 11688001168800 2. Интерферометр по п.1, отличающийся тем, что расщепитель светового пучка на конце, обращенном к измерительному и эталонному рефлекторам, имеет поверхность среза, на которой расположен отклоняющий элемент и которая перпендикулярна плоскости интерференции.2. The interferometer according to claim 1, characterized in that the light beam splitter at the end facing the measuring and reference reflectors has a cut surface on which the deflecting element is located and which is perpendicular to the plane of interference. 3. Интерферометр по пп.1 и 2, отличающийся тем, что одиночные призмы отклоняющего элемента расположены симметрично относительно плоскости интерференции и соединены3. Interferometer according to claims 1 and 2, characterized in that the single prisms of the deflecting element are arranged symmetrically relative to the plane of interference and are connected в отклоняющую призму, причем грани выхода луча одиночных дризм приближенно расположены в плоскости, перпендикулярной плоскости интерференции.in the deflecting prism, and the faces of the beam exit of single drism are approximately located in a plane perpendicular to the plane of interference. 4. Интерферометр по п.1, отличающийся тем, что грань,' явля ющаяся плоскостью интерференции, и разделительные грани, параллельные ей, удлинены в направлении к измерительному и эталонному ходам лучей^и на удлинениях этих граней, не полностью покрытых зеркальным слоем, расположены выводящие призмы, которые отклоняют и параллельно направляют световые пучки.4. The interferometer according to claim 1, characterized in that the face, which is the plane of interference, and the separation faces parallel to it are elongated in the direction of the measuring and reference light paths ^ and on the elongations of these faces that are not completely covered with a mirror layer, output prisms that deflect and parallel light beams. II
SU817771750A 1980-06-30 1981-04-14 Two-step interferometer SU1168800A1 (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD80222233A DD158187A3 (en) 1980-06-30 1980-06-30 ZWEISTUFENINTERFEROMETER

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1168800A1 true SU1168800A1 (en) 1985-07-23

Family

ID=5525028

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU817771750A SU1168800A1 (en) 1980-06-30 1981-04-14 Two-step interferometer

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS5714703A (en)
DD (1) DD158187A3 (en)
DE (1) DE3112633A1 (en)
FR (1) FR2485718A1 (en)
GB (1) GB2079000B (en)
SU (1) SU1168800A1 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD209263A1 (en) * 1982-09-01 1984-04-25 Univ Ernst Moritz Arndt INTERFEROMETRIC ARRANGEMENT FOR OPTOELECTRIC DISTANCE MEASUREMENT
WO1993009394A1 (en) * 1991-11-08 1993-05-13 British Technology Group Ltd. Measuring instruments
FR2712691B1 (en) * 1993-11-19 1995-12-22 Bernard Fondeur Laser interferometry measurement device.
DE19613303C3 (en) * 1996-04-03 2002-07-04 Zeiss Carl Jena Gmbh Method and device for absolute distance measurement
JP4910838B2 (en) * 2007-03-30 2012-04-04 サクサ株式会社 Open / close detection structure of the housing

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DD111993A1 (en) * 1974-05-13 1975-03-12

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5714703A (en) 1982-01-26
GB2079000A (en) 1982-01-13
FR2485718A1 (en) 1981-12-31
GB2079000B (en) 1984-03-07
DE3112633A1 (en) 1982-04-15
DD158187A3 (en) 1983-01-05
FR2485718B1 (en) 1985-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6806960B2 (en) Compact beam re-tracing optics to eliminate beam walk-off in an interferometer
JP2001522984A (en) Integrated optical assembly with beam splitter assembly and retroreflector
US5715057A (en) Reference interferometer with variable wavelength and folded measurement beam path
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
JP2000249513A (en) Beam splitter structure group and interferometer with it
US7212290B2 (en) Differential interferometers creating desired beam patterns
SU1168800A1 (en) Two-step interferometer
SU1152533A3 (en) Scanning interferometer (versions)
US20080225262A1 (en) Displacement Measurement System
EP0333783B1 (en) Straightness interferometer system
RU2554599C1 (en) Angle measurement device
CA1210608A (en) Interferometer spectrophotometer
JPH0463305A (en) Polarizing beam splitter and laser interference measuring meter
JP3004631B1 (en) Laser interferometer
SU1099097A1 (en) Scanning interferometer
JPS59136604A (en) Multiple optical path laser interferometer
SU1518663A1 (en) Interferometer for measuring transverse displacements
US7009708B1 (en) Symmetric periscope for concentric beam configuration in an ultra-high precision laser interferometric beam launcher
SU1587327A1 (en) Interferometer
US4023906A (en) Compact three-beam interferometer
SU1288498A1 (en) Interferometer
RU2662504C1 (en) Device for collinear transition of axis of optical radiation
SU921305A1 (en) Distance measuring interferometer
SU1026106A1 (en) Optical mixing-separating device
SU1132147A1 (en) Laser displacement interferometer