SU1153370A1 - Растровый электронный микроскоп - Google Patents

Растровый электронный микроскоп Download PDF

Info

Publication number
SU1153370A1
SU1153370A1 SU833663601A SU3663601A SU1153370A1 SU 1153370 A1 SU1153370 A1 SU 1153370A1 SU 833663601 A SU833663601 A SU 833663601A SU 3663601 A SU3663601 A SU 3663601A SU 1153370 A1 SU1153370 A1 SU 1153370A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
detector
ray tube
electron
series
output
Prior art date
Application number
SU833663601A
Other languages
English (en)
Inventor
Вадим Григорьевич Клименко
Владимир Васильевич Потахин
Виктор Александрович Афендиков
Александр Александрович Колпаков
Original Assignee
Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции filed Critical Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт Им.50-Летия Великой Октябрьской Социалистической Революции
Priority to SU833663601A priority Critical patent/SU1153370A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1153370A1 publication Critical patent/SU1153370A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, содержащий внутри вакуумированной колонны электронно-оптическую систему и камеру объектов,а) также систему визуализации изображени , включакщую генератор возбуждени  , соедкненицЕЙ с объектодержателем , видеоконтрольное устройство, включающее последовательно соединенные детектор, видеоусилитель и электронно-лучевую трубку, и систему сканировани , содержащую последовательно соединенные задающие, генераторы развертки по двум взаимно перпендикул рным направлени м и соответствующие блоки питани  отклон ющих систем микроскопа и электронно-лучевой трубки, от л а ю щ и и с   тем, что, с целью повышени  точности анализа при стробоскопическом режиме работы, система визуализации изображени  дополнительно содержит коммутатор и последовательно соединенные формирователь и счетчик строб-импульсов и блок синхронизации , при этом выходы блока синхронизации соединены с входами СО задающих генераторов, которые выполнены по схеме дискретно-цифровой развертки, коммутатор включен между детектором и видеоусилителем, а его дополнительный выход соединен с выходом формировател  строб-импульсов , вход которого соединен с выходом генератора возбуждени . ел со OQ Nl

Description

Изобрет-ение относитс  к растровой электронной микроскопии и може быть использовано дл  визуализации увелнченжж изображений быстропро канэдих процессов, например бегущих поверхностных акустических волн, п тем реализации стробоскопического режима. Известен растровый электронный микроскоп (РЭМ), содержащий внутри вакуумированной колонны электронно оптическую систему и камеру объектов , а также систему визуализации изображени , включающую видеоконтрольное устройство (ВКУ) и систему сканировани  j. Извест1в 1й РЭМ не позвол ет осуществить стробоскопический режим в случае специально задаваемого быст протекающего процесса на поверхности образца. Наиболее близким к изобрете.нгео по технической сущности  вл етс  Р содержащий внутри вакуумированной колонны электронно-оптическую систему и камеру объектов, а также систему визуализации изображени включашош генератор возбуждени , соединенный с объектодержателем, В включающее последовательно соединенные детектор, видеоусилитель и электронно-Лучевую трубку (ЭЛТ), и систему сканировани , содержащую последовательно соединенные задающие генераторы развертки по двум взаимно перпендикул рным направлени м и соответствунадие блоки питани  отклон кнцих систем микроскопа и ЭЛТ 21, Стробоскопический режим работы РЭМ заключаетс  в том, что видеосигнал в каждой точке поверхности объекта формируетс  выборками, СОСТОЯЩИМИ из коротких повтор мщикс  через равные промежутки времени отсчетов (например, кратных пеойоду колебаний генератора возбуждени  быстропротекающего процесса). Чиспо Отсчетов в выборке беретс  пор дка {О, исход  из услови  наделсного обнаружени  видеосигнала на фоне шумов. При таком количестве отсчетов, берущихс  в выборке из одной точки сканируемой поверхности, за врел  извлечени  выборки происходит значительное смещение луча из первоначального положени  в рассматриваемой точке, обусловленное ненулевой скоростью сканировани  поверхности объекта. Из-за смещени  луча возникает погрешность формировани  видеосигнала и нарушаетс  однозначное, соответствие между значением параметра быстропротекающего процесса и его увеличенным изображением, получаемым в РЭМ. Это приводит к иска  ени м изображени  при его визуальном наблюдении, а также к погрешност м измерени  параметров полей на поверхности исследуемого объекта , например, при исследовании в РЭМ качества функционировани  интегральных микросхем. Целью изобретени   вл етс  повышение точности анализа при стробоскопическом режиме работы РЭМ. Указанна  цель достигаетс  тем, что в РЭМ, содержащем внутри вакуумированной колонны электронно-оптическуто систему и камеру объектов, а также систему визуализации изображени , включающую генератор возбуждени , соединенный с объектодержателем , БКУ, включающее, последовательно соединенШ)1е детектор, видеоусилитель и ЭЛТ, и систему сканировани , содержащую последовательно соединенные задающие генераторы развертки по двум вааимно перпендикул рным направлени м и соответствующие блоки питани  отклон ющих систем микроскопа и ЭЛТ, система визуализации изображени  дополнительно содержит коммутатор и последовательно соединенные формирователь и счетчик строб-импульсов и блок синхронизации, при этом выходы блока синхронизации соединены с вхо.т дами задающих генераторов,которые ньтолнены по дискретно-цифровой развертки, а его дополнительный выход соединен с выходом формировател  строб-№ пульсов, вход которого -соединен с выходом генератора возбуодени . На фиг.1 показана структурна  схема РЭМ; на фиг.2 - эпюры сигналов на различных участках схемы. Растровый электронный микроскоп содержит вакуумированную колонну 1 и камеру 2 объектов. Система визуализации изображени  содержит блоки 3 и 4 питани  отклон ющих систем микроскопа и ЭЛТ 5. Видеоконтрольное устройство 6 содержит видеоуси3
литель 7, соединенный с детектором 8 через коммутатор 9. С объектодержателем камеры 2 соединен генератор 10 возбу щени , к выходу которого подключена цепь из последовательно соединенных формировател 
11и счетчика 12 строб-импульсов и блока 13 синхронизации цифровых задающих генераторов 14 и 15 развертки по двум взаимно перпендикул рным направлени м. Выходы задающих гене.раторов соединены с соответствукнчими блоками 3 и 4 питани  отклон ющих систем.
На фиг,2 показаны: эпюра 16 - изменени  физических условкй на поверхности объекта; эшора 17 - стробирующие импульсы, вырабатываемые формирователем II; эпюра 18 - импульсы синхронизации строчной развертки; эпюра 19 - импульсы синхронизации задающего генератора 14; эпюра 20 - пилообразно-ступенчатый импульс напр жени  ч азвертки.
В устройстве.колонна I, ВКУ 6, блоки 3 и 4 питани  могут быть использованы из серийных микроскопов типа МРЭМ-200 и МРЭМ-100, Формирователь 11 стробгимпульсов, счетчик
12строб-импульсов, коммутатор 9 могут быть выполнены на интегральных микросхемах серии 50 типа К500 ЛМ 101, К500 ИЕ 136. Блок 3 синхронизации может быть выполнен из интегральных микросхем серии 500 типа 155 , 155 ЛАЗ. Цифровые задающие генераторы 14 и 15 развертки могут быть выполнены по одинаковой схеме, состо щей из сетки точи х сопротивлений типа R-2R и ключевых элементов, например, на интегральных коммутаторах типа 101 КТ 1Г или использованы из серийных растровых электронных микроскопов
С цифровой разверткой.
В качестве генератора 0 возбуждени  может быть использован тот или иной серийный генератор. Например, если на поверхности образца возбуждаютс  поверхностные акустическиё волнь{| то генератор возбуждени  представл ет собой стандартный генератор сигначов высокой частоты типа Г4-116, Г4-119А или ГЗ-19.
Устройство работае.т следующим образом .
Дл  получени  увеличенного изображени  в режиме исследовани  непод533704
вижной микроструктуры блоки 3 и 4 обеспечивают синхронное сканирование электронного луча по поверхности исследуемого объекта в камере 5- 2 и по экрану ЭЛТ 5 ВКУ 6. Видеосигнал , содержащий информацию об исследуемой микроструктуре, формируетс  детектором 8. усиливаетс  видеоусилителем 7 и подаетс  на модуIQ л тор ЭЛТ 5. В результате на экране трубки формируетс  увеличенное изображение исследуемой микроструктуры, причем увеличение равно отношению
линейных размеров сканируемых участJC ков на экране ЭЛТ и на поверхности образца.
В стробоскопическом режиме исследовани  движущейс  микроструктуры или быстропротекающего процесса генератор 10 возбуждени  периодически измен ет (| 1зические услови  на поверхности объекта, например формирует бегущие поверхностные акустические шолны (эпюра 16). Дл  остановки движени  изображени  быстропротекающего процесса и его фиксации на экране кинескопа в прототипе |выраЬатываютс  импульсы синхронизаIции строчной развертки (эпюра 18) от генератора 10 возбуждени  и осуществл етс  стробоскопический pejKHM работы РЭМ.
Дл  повышени  точности анализа в предложенном устройстве, осуществл етс  остановка луча в каждой точ35 ке поверхности исследуемого образца , из которой беретс  выборка значени  параметра исследуемого процесса . Это достигаетс  следующим образом . Формирователь 1I стооб-им40 пульсов формирует короткие стробирующие . импульсы 17 от каждого периода исследуемого процесса. Стробируюпще импульсы подсчитывает счетчик 12 При работе счетчика 12 строб-импуль5 сов в режиме счета электронный луч на поверхности объекта находитс  в неподвижном фиксированном состо нии , определ емом формой пилообразноступенчатого развертывающего сигнала 20, формируемого цифровым задающим генератором 14 развертки. В момент времени t,., количество отсчетов в выборке сигнала из данчой точки будет равно заданному значению п. 5 В этот момент заканчиваетс  счет импульсов и счетчиком 12 осуществл етс  формирование импульса 19 синхронизации генераторов 14 и 15.
В результате, осуществл етс  скачкообразное перемещение электронного луча в следующую точку сканируемой поверхности за счет формировани  очередной ступеньки пилообразногступе .нчатого сигнала 20.
Поскольку электроннь й луч в каждой точке исследуемой поверхности во врем  извлечени  выборки находитс  в неподвижном состо нии , то погрешность формировани  сигнала выборки за счет взаимного смещени  луча и исследуемого процесса в данном РЭМ отсутствует. Это позвол ет повысить точность анализа |на 20-30%.

Claims (1)

  1. РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, содержащей внутри вакуумированной колонны электронно-оптическую систему и камеру объектов,а5 также систему визуализации изображения, включающую генератор возбуждения , соединенный с объектодержателем, видеоконтрольное устройство, включающее последовательно соединенные детектор, видеоусилитель и электронно-лучевую трубку, и систему сканирования, содержащую последовательно соединенные задающие генераторы развертки по двум взаимно перпендикулярным направлениям и соответствующие блоки питания отклоняющих систем микроскопа и электронно-лучевой трубки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа при стробоскопическом режиме работы, система визуализации изображения дополнительно содержит коммутатор и последовательно соединенные формирователь и счетчик строб-импульсов и блок синхронизации, при этом выходы блока синхронизации соединены с входами задающих генераторов, которые выполнены по схеме дискретно-цифровой развертки, коммутатор включен между детектором и видеоусилителем, а его дополнительный выход соединен с выходом формирователя строб-импульсов , вход которого соединен с выходом генератора возбуждения.
    SU. .. 1153370
SU833663601A 1983-11-21 1983-11-21 Растровый электронный микроскоп SU1153370A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833663601A SU1153370A1 (ru) 1983-11-21 1983-11-21 Растровый электронный микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833663601A SU1153370A1 (ru) 1983-11-21 1983-11-21 Растровый электронный микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1153370A1 true SU1153370A1 (ru) 1985-04-30

Family

ID=21089534

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833663601A SU1153370A1 (ru) 1983-11-21 1983-11-21 Растровый электронный микроскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1153370A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2642918C2 (ru) * 2015-08-19 2018-01-29 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие - Техноавтомат" Аппаратно-программный комплекс для цифровой биомикроскопии

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1.Патент US №3628012, кл. Н 01 J 37/28, опублик. 1971. 2. Патент JP № 57-6664, кл. Н Orj 37/22, опублик, 1982 , (прототип). *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2642918C2 (ru) * 2015-08-19 2018-01-29 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие - Техноавтомат" Аппаратно-программный комплекс для цифровой биомикроскопии

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Plows et al. Stroboscopic scanning electron microscopy
US4223220A (en) Method for electronically imaging the potential distribution in an electronic component and arrangement for implementing the method
US4220853A (en) Method for the contactless measurement of the potential waveform in an electronic component and arrangement for implementing the method
Grigson On scanning electron diffraction
US4385317A (en) Specimen image display apparatus
SU1153370A1 (ru) Растровый электронный микроскоп
US5990944A (en) Streak tube sweeping method and a device for implementing the same
US4713687A (en) Scan line type dynamic observation apparatus
US4678988A (en) Method and apparatus for spectral analysis of a signal at a measuring point
US3739091A (en) Method and apparatus for displaying image and measuring object therein
US5107124A (en) Apparatus for modulating a particle beam intensity
JP4154681B2 (ja) 電子線分析装置
Plows et al. Operational testing of LSI arrays by stroboscopic scanning electron microscopy
US4831328A (en) Measurement processing arrangement
Piwczyk et al. Specialized scanning electron microscopy voltage contrast techniques for LSI failure analysis
JP3383175B2 (ja) 走査型顕微鏡の像表示方法および走査型顕微鏡
US3950610A (en) Image analysers
EP0104592B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Nachweis von Oberflächenwellen
SU913479A1 (ru) Видеоконтрольное устройство электронного микроскопа с отклоняющей системой
JPS59224038A (ja) 荷電粒子線走査型分析装置
SU1019520A1 (ru) Растровый электронный микроскоп-микроанализатор
KR830002860Y1 (ko) 주사전자현미경 및 그 유사장치의 주사상 관찰장치
SU693483A1 (ru) Растровый электронный микроскоп
SU517080A1 (ru) Растровый электронный микроскоп
Hall et al. A new, fully integrated, E-beam Tester