SU1153370A1 - Растровый электронный микроскоп - Google Patents
Растровый электронный микроскоп Download PDFInfo
- Publication number
- SU1153370A1 SU1153370A1 SU833663601A SU3663601A SU1153370A1 SU 1153370 A1 SU1153370 A1 SU 1153370A1 SU 833663601 A SU833663601 A SU 833663601A SU 3663601 A SU3663601 A SU 3663601A SU 1153370 A1 SU1153370 A1 SU 1153370A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- detector
- ray tube
- electron
- series
- output
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, содержащий внутри вакуумированной колонны электронно-оптическую систему и камеру объектов,а) также систему визуализации изображени , включакщую генератор возбуждени , соедкненицЕЙ с объектодержателем , видеоконтрольное устройство, включающее последовательно соединенные детектор, видеоусилитель и электронно-лучевую трубку, и систему сканировани , содержащую последовательно соединенные задающие, генераторы развертки по двум взаимно перпендикул рным направлени м и соответствующие блоки питани отклон ющих систем микроскопа и электронно-лучевой трубки, от л а ю щ и и с тем, что, с целью повышени точности анализа при стробоскопическом режиме работы, система визуализации изображени дополнительно содержит коммутатор и последовательно соединенные формирователь и счетчик строб-импульсов и блок синхронизации , при этом выходы блока синхронизации соединены с входами СО задающих генераторов, которые выполнены по схеме дискретно-цифровой развертки, коммутатор включен между детектором и видеоусилителем, а его дополнительный выход соединен с выходом формировател строб-импульсов , вход которого соединен с выходом генератора возбуждени . ел со OQ Nl
Description
Изобрет-ение относитс к растровой электронной микроскопии и може быть использовано дл визуализации увелнченжж изображений быстропро канэдих процессов, например бегущих поверхностных акустических волн, п тем реализации стробоскопического режима. Известен растровый электронный микроскоп (РЭМ), содержащий внутри вакуумированной колонны электронно оптическую систему и камеру объектов , а также систему визуализации изображени , включающую видеоконтрольное устройство (ВКУ) и систему сканировани j. Извест1в 1й РЭМ не позвол ет осуществить стробоскопический режим в случае специально задаваемого быст протекающего процесса на поверхности образца. Наиболее близким к изобрете.нгео по технической сущности вл етс Р содержащий внутри вакуумированной колонны электронно-оптическую систему и камеру объектов, а также систему визуализации изображени включашош генератор возбуждени , соединенный с объектодержателем, В включающее последовательно соединенные детектор, видеоусилитель и электронно-Лучевую трубку (ЭЛТ), и систему сканировани , содержащую последовательно соединенные задающие генераторы развертки по двум взаимно перпендикул рным направлени м и соответствунадие блоки питани отклон кнцих систем микроскопа и ЭЛТ 21, Стробоскопический режим работы РЭМ заключаетс в том, что видеосигнал в каждой точке поверхности объекта формируетс выборками, СОСТОЯЩИМИ из коротких повтор мщикс через равные промежутки времени отсчетов (например, кратных пеойоду колебаний генератора возбуждени быстропротекающего процесса). Чиспо Отсчетов в выборке беретс пор дка {О, исход из услови наделсного обнаружени видеосигнала на фоне шумов. При таком количестве отсчетов, берущихс в выборке из одной точки сканируемой поверхности, за врел извлечени выборки происходит значительное смещение луча из первоначального положени в рассматриваемой точке, обусловленное ненулевой скоростью сканировани поверхности объекта. Из-за смещени луча возникает погрешность формировани видеосигнала и нарушаетс однозначное, соответствие между значением параметра быстропротекающего процесса и его увеличенным изображением, получаемым в РЭМ. Это приводит к иска ени м изображени при его визуальном наблюдении, а также к погрешност м измерени параметров полей на поверхности исследуемого объекта , например, при исследовании в РЭМ качества функционировани интегральных микросхем. Целью изобретени вл етс повышение точности анализа при стробоскопическом режиме работы РЭМ. Указанна цель достигаетс тем, что в РЭМ, содержащем внутри вакуумированной колонны электронно-оптическуто систему и камеру объектов, а также систему визуализации изображени , включающую генератор возбуждени , соединенный с объектодержателем , БКУ, включающее, последовательно соединенШ)1е детектор, видеоусилитель и ЭЛТ, и систему сканировани , содержащую последовательно соединенные задающие генераторы развертки по двум вааимно перпендикул рным направлени м и соответствующие блоки питани отклон ющих систем микроскопа и ЭЛТ, система визуализации изображени дополнительно содержит коммутатор и последовательно соединенные формирователь и счетчик строб-импульсов и блок синхронизации, при этом выходы блока синхронизации соединены с вхо.т дами задающих генераторов,которые ньтолнены по дискретно-цифровой развертки, а его дополнительный выход соединен с выходом формировател строб-№ пульсов, вход которого -соединен с выходом генератора возбуодени . На фиг.1 показана структурна схема РЭМ; на фиг.2 - эпюры сигналов на различных участках схемы. Растровый электронный микроскоп содержит вакуумированную колонну 1 и камеру 2 объектов. Система визуализации изображени содержит блоки 3 и 4 питани отклон ющих систем микроскопа и ЭЛТ 5. Видеоконтрольное устройство 6 содержит видеоуси3
литель 7, соединенный с детектором 8 через коммутатор 9. С объектодержателем камеры 2 соединен генератор 10 возбу щени , к выходу которого подключена цепь из последовательно соединенных формировател
11и счетчика 12 строб-импульсов и блока 13 синхронизации цифровых задающих генераторов 14 и 15 развертки по двум взаимно перпендикул рным направлени м. Выходы задающих гене.раторов соединены с соответствукнчими блоками 3 и 4 питани отклон ющих систем.
На фиг,2 показаны: эпюра 16 - изменени физических условкй на поверхности объекта; эшора 17 - стробирующие импульсы, вырабатываемые формирователем II; эпюра 18 - импульсы синхронизации строчной развертки; эпюра 19 - импульсы синхронизации задающего генератора 14; эпюра 20 - пилообразно-ступенчатый импульс напр жени ч азвертки.
В устройстве.колонна I, ВКУ 6, блоки 3 и 4 питани могут быть использованы из серийных микроскопов типа МРЭМ-200 и МРЭМ-100, Формирователь 11 стробгимпульсов, счетчик
12строб-импульсов, коммутатор 9 могут быть выполнены на интегральных микросхемах серии 50 типа К500 ЛМ 101, К500 ИЕ 136. Блок 3 синхронизации может быть выполнен из интегральных микросхем серии 500 типа 155 , 155 ЛАЗ. Цифровые задающие генераторы 14 и 15 развертки могут быть выполнены по одинаковой схеме, состо щей из сетки точи х сопротивлений типа R-2R и ключевых элементов, например, на интегральных коммутаторах типа 101 КТ 1Г или использованы из серийных растровых электронных микроскопов
С цифровой разверткой.
В качестве генератора 0 возбуждени может быть использован тот или иной серийный генератор. Например, если на поверхности образца возбуждаютс поверхностные акустическиё волнь{| то генератор возбуждени представл ет собой стандартный генератор сигначов высокой частоты типа Г4-116, Г4-119А или ГЗ-19.
Устройство работае.т следующим образом .
Дл получени увеличенного изображени в режиме исследовани непод533704
вижной микроструктуры блоки 3 и 4 обеспечивают синхронное сканирование электронного луча по поверхности исследуемого объекта в камере 5- 2 и по экрану ЭЛТ 5 ВКУ 6. Видеосигнал , содержащий информацию об исследуемой микроструктуре, формируетс детектором 8. усиливаетс видеоусилителем 7 и подаетс на модуIQ л тор ЭЛТ 5. В результате на экране трубки формируетс увеличенное изображение исследуемой микроструктуры, причем увеличение равно отношению
линейных размеров сканируемых участJC ков на экране ЭЛТ и на поверхности образца.
В стробоскопическом режиме исследовани движущейс микроструктуры или быстропротекающего процесса генератор 10 возбуждени периодически измен ет (| 1зические услови на поверхности объекта, например формирует бегущие поверхностные акустические шолны (эпюра 16). Дл остановки движени изображени быстропротекающего процесса и его фиксации на экране кинескопа в прототипе |выраЬатываютс импульсы синхронизаIции строчной развертки (эпюра 18) от генератора 10 возбуждени и осуществл етс стробоскопический pejKHM работы РЭМ.
Дл повышени точности анализа в предложенном устройстве, осуществл етс остановка луча в каждой точ35 ке поверхности исследуемого образца , из которой беретс выборка значени параметра исследуемого процесса . Это достигаетс следующим образом . Формирователь 1I стооб-им40 пульсов формирует короткие стробирующие . импульсы 17 от каждого периода исследуемого процесса. Стробируюпще импульсы подсчитывает счетчик 12 При работе счетчика 12 строб-импуль5 сов в режиме счета электронный луч на поверхности объекта находитс в неподвижном фиксированном состо нии , определ емом формой пилообразноступенчатого развертывающего сигнала 20, формируемого цифровым задающим генератором 14 развертки. В момент времени t,., количество отсчетов в выборке сигнала из данчой точки будет равно заданному значению п. 5 В этот момент заканчиваетс счет импульсов и счетчиком 12 осуществл етс формирование импульса 19 синхронизации генераторов 14 и 15.
В результате, осуществл етс скачкообразное перемещение электронного луча в следующую точку сканируемой поверхности за счет формировани очередной ступеньки пилообразногступе .нчатого сигнала 20.
Поскольку электроннь й луч в каждой точке исследуемой поверхности во врем извлечени выборки находитс в неподвижном состо нии , то погрешность формировани сигнала выборки за счет взаимного смещени луча и исследуемого процесса в данном РЭМ отсутствует. Это позвол ет повысить точность анализа |на 20-30%.
Claims (1)
- РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, содержащей внутри вакуумированной колонны электронно-оптическую систему и камеру объектов,а5 также систему визуализации изображения, включающую генератор возбуждения , соединенный с объектодержателем, видеоконтрольное устройство, включающее последовательно соединенные детектор, видеоусилитель и электронно-лучевую трубку, и систему сканирования, содержащую последовательно соединенные задающие генераторы развертки по двум взаимно перпендикулярным направлениям и соответствующие блоки питания отклоняющих систем микроскопа и электронно-лучевой трубки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа при стробоскопическом режиме работы, система визуализации изображения дополнительно содержит коммутатор и последовательно соединенные формирователь и счетчик строб-импульсов и блок синхронизации, при этом выходы блока синхронизации соединены с входами задающих генераторов, которые выполнены по схеме дискретно-цифровой развертки, коммутатор включен между детектором и видеоусилителем, а его дополнительный выход соединен с выходом формирователя строб-импульсов , вход которого соединен с выходом генератора возбуждения.SU. .. 1153370
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833663601A SU1153370A1 (ru) | 1983-11-21 | 1983-11-21 | Растровый электронный микроскоп |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833663601A SU1153370A1 (ru) | 1983-11-21 | 1983-11-21 | Растровый электронный микроскоп |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1153370A1 true SU1153370A1 (ru) | 1985-04-30 |
Family
ID=21089534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833663601A SU1153370A1 (ru) | 1983-11-21 | 1983-11-21 | Растровый электронный микроскоп |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1153370A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2642918C2 (ru) * | 2015-08-19 | 2018-01-29 | Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие - Техноавтомат" | Аппаратно-программный комплекс для цифровой биомикроскопии |
-
1983
- 1983-11-21 SU SU833663601A patent/SU1153370A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1.Патент US №3628012, кл. Н 01 J 37/28, опублик. 1971. 2. Патент JP № 57-6664, кл. Н Orj 37/22, опублик, 1982 , (прототип). * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2642918C2 (ru) * | 2015-08-19 | 2018-01-29 | Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие - Техноавтомат" | Аппаратно-программный комплекс для цифровой биомикроскопии |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Plows et al. | Stroboscopic scanning electron microscopy | |
US4223220A (en) | Method for electronically imaging the potential distribution in an electronic component and arrangement for implementing the method | |
US4220853A (en) | Method for the contactless measurement of the potential waveform in an electronic component and arrangement for implementing the method | |
Grigson | On scanning electron diffraction | |
US4385317A (en) | Specimen image display apparatus | |
SU1153370A1 (ru) | Растровый электронный микроскоп | |
US5990944A (en) | Streak tube sweeping method and a device for implementing the same | |
US4713687A (en) | Scan line type dynamic observation apparatus | |
US4678988A (en) | Method and apparatus for spectral analysis of a signal at a measuring point | |
US3739091A (en) | Method and apparatus for displaying image and measuring object therein | |
US5107124A (en) | Apparatus for modulating a particle beam intensity | |
JP4154681B2 (ja) | 電子線分析装置 | |
Plows et al. | Operational testing of LSI arrays by stroboscopic scanning electron microscopy | |
US4831328A (en) | Measurement processing arrangement | |
Piwczyk et al. | Specialized scanning electron microscopy voltage contrast techniques for LSI failure analysis | |
JP3383175B2 (ja) | 走査型顕微鏡の像表示方法および走査型顕微鏡 | |
US3950610A (en) | Image analysers | |
EP0104592B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Nachweis von Oberflächenwellen | |
SU913479A1 (ru) | Видеоконтрольное устройство электронного микроскопа с отклоняющей системой | |
JPS59224038A (ja) | 荷電粒子線走査型分析装置 | |
SU1019520A1 (ru) | Растровый электронный микроскоп-микроанализатор | |
KR830002860Y1 (ko) | 주사전자현미경 및 그 유사장치의 주사상 관찰장치 | |
SU693483A1 (ru) | Растровый электронный микроскоп | |
SU517080A1 (ru) | Растровый электронный микроскоп | |
Hall et al. | A new, fully integrated, E-beam Tester |