SU1147961A1 - Способ определени координат дефекта в материале - Google Patents

Abstract

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ . ДЕФЕКТА В МАТЕРИАЛЕ, заключающийс  в том, что в фиксированной пространственной системе координат устанавливают два источника проникающего изJIyчeни  на одном уровне относительно одной из координатных плоскостей , ввод т в материал метку, освещают дефект и метку и фиксируют положение теней от метки и дефекта -:. - i JLBEi-.r-. на светочувствительном слое, отличающийс  тем, что, с целью повьлпени  информативности, один из источников проникающего излучени  помещают на одной координатной оси, а второй - на координатной плоскости, проход щей через первый источник излучени ,светочувствительный слой совмещают с координатной плоскостью,перпендикул рной оси размещени  первого источника, метку устанавливают в начале -координат , устанавливают вторую метку так,что она  вл етс  проекцией второго источника излучени  на координатную плоскость,где расположен светочувствительный , слой,измер ют рассто ние от меток до тени от дефекта, ближайшей к началу координат,измер ют рассто ние между тен ми от дефекта и полученные данные используют при определении координат дефекта. « О

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть испол зовано при определении координат дефекта в материале при помощи про кающего, например, рентгеновского, излучени . Целью изобретени   вл етс  повы шение информативности. На чертеже показана схема реали зации способа. На схеме прин ты обозначени : дефект 1, источники 2 и 3 проникаю щего, преимущественно, рентгеновск го излучени , пр моугольна  систем координат x,y,z, в которой требуетс  определить координаты дефекта 1, светочувствительный слой 4 совмещен с координатной плоскостью уох, метки 5 к 6, тени 7 и 8 от дефекта. Способ осуществл етс  следующим образом. Источники 2 и 3 проникающего излучени  устанавливает на одном уровне относительно одной из координатных плоскостей, причем один из источников 2 помещают на одной координатной оси, а второй источни 3- на координатной плоскости, про ход щей через первый источник 2 излучени . Светочувствительный сло 4совмещают с координатной плоскостью , перпендикул рной оси размещени  первого источника. Устанавливают метку 5 в начале координ устанавливают вторую метку б так, что она  вл етс  проекцией второг источника кэпучени  на координатную плоскость, где расположен свествительный слой 4. Освещают т и метки и фиксируют положение 7 и 8 от меток и дефекта на чувствительном слое. Измер ют о ние между тен ми 7 и 8, от йшей к началу координат тени метки 5 и до метки 6 и опрет коррдинаты дефекта по следусоотношени м ; 2(,54e) ( mf6 + K)im 5-kU i-5 -XH5- n-Kl . Р - рассто ние между тен ми 7 m - рассто ние от ближайшей к началу координат тени 7 до метки 5; k - рассто ние от ближайшей к началу координат тени 7 до метки 6; 5 - рассто ние между источниками 2 и 3 проникающего излучени , равное рассто нию между метками 5 и 6; h- рассто ние от источника 2 , или 3 до светочувствительного сло  4 (координатной плоскости хоу), т.е. рассто ние от иcтoч икa 2 до метки 5, равное рассто нию от источника 3 до метки б. ссто ни  S и h измер ют при овке источника 2 и 3 и меток .

Claims (1)

1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ . ДЕФЕКТА В МАТЕРИАЛЕ, заключающийся в том, что в фиксированной пространственной системе координат устанавливают два источника проникающего излучения на одном уровне относительно одной из координатных плоскостей, вводят в материал метку, освещают дефект и метку и фиксируют положение теней от метки и дефекта на светочувствительном слое, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности, один из источников проникающего излучения помещают на одной координатной оси, а второй - на координатной плоскости, проходящей через первый источник излучения светочувствительный слой совмещают с координатной плоскостью,перпендикулярной оси размещения первого источника, метку устанавливают в начале -координат, устанавливают вторую метку так,что она является проекцией второго источника излучения на координатную плоскость,где расположен светочувствительный. слой,измеряют расстояние от меток до тени от дефекта, ближайшей к началу координат,измеряют расстояние между тенями от де-* фекта и полученные данные используют при определении координат дефекта.

   X