SU1125589A1 - Антиотражательный интерференционный светофильтр - Google Patents
Антиотражательный интерференционный светофильтр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1125589A1 SU1125589A1 SU833586429A SU3586429A SU1125589A1 SU 1125589 A1 SU1125589 A1 SU 1125589A1 SU 833586429 A SU833586429 A SU 833586429A SU 3586429 A SU3586429 A SU 3586429A SU 1125589 A1 SU1125589 A1 SU 1125589A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- layers
- matrices
- dielectric
- alternating
- dielectric coating
- Prior art date
Links
Landscapes
- Optical Filters (AREA)
Abstract
АНТИОТРАЖАТЕЛЬНЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЬЙ СВЕТОФИЛЬТР, состо щий из последовательно расположенных на подложке непрозрачного металлического сло с показателем преломлени «2+ iVg и диэлектрического покрыти , вьшолненного из слоев с чередующимис п, и п показател ми преломлени ми фазоаътми толии1нами, равными ()где ttg и kg - вещественна и ,мни-ма части комплексного показател преломлени металлического сло . vn - целое число, о т л и ч а ю щ и и с тем, что, с целью увеличени контрастности в отраженном .свете, диэлектрическое покрытие выполнено cи t eтpичньD I относительно его среднего сло , при этом фазовые толщины кр-гйних по отношению к металлическому ;елою и воздуху слоев равны ( +S , а показатели преломлени слоев и величина S св заны соотношени ми . s .. ... n n пг 4trtf« . где ns(ne-ibl | , , пЦ . ,--arcl, n - Пс фазова добавка крайних слоев диэлектрического покрыти ; 2N+1 - число диэлектрических слоев.
Description
Изобретение относитс к интерференционным светофильтрам и может быть использовано при лазерной диагностике плазмы, излучении рассе ни света и дл повьшени эффективности фотокатодов. Известны многослойные интерференционные светофильтры, имеющие неболь шой коэффициент отражени в узкой области спектра и высокую отражател нун) способность в остальном спектральном интервале, например светофильтры типа Фабри-Перо. Подобные св тофильтры характеризуютс контрастностью в отражении о ток С ---, где Р| J- отражательна способность по кра м полосы с мальм отражением, отражательна способность в минимуме J, Недостатками фильтров Фабри-Перо вл ютс небольша контрастность (С 12) и значительное число слоев (15 и больше), что увеличивает трудоемкость изготовлени и-сншкает механическую прочность. Небольша кон .трастность в отражении в данном случае обусловлена различием в коэффици ентах отр;1жени на границах: диэлект рическа система - воздух и диэлектр ческа система - стекло. I . Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс анти отражательный интерференционный светофильтр , состо щий из последователь но расположенных на подложке непрозрачного металлического сло с показателем преломлени Пд -i- Iks и диэлектрического покрыти , выполненного из слоев с чередующимис П, и П .показател ми преломлени и фазовыми толщинами, равными (2т+1). , где s вещественна и мнима части комплексного показател препомпе™ ни металлического сло , m - целое число 2 , Недостатком известного антиотражательного светофильтра вл етс низка контрастность з отражении света (), поскольку конструкци фильтра обеспечивает лишь выполнение усло ви ненулевого интерференционного минимума, а коэффициенты отражени на границах: диэлектрическа система металл и диэлектрическа система .воздух .не согласованы. Цель изобретени - повышение контрастности в отраженном свете. Поставленна цель достигаетс тем, что в антиотражательном интерференционном светофильтре, состо щем из последовательно расположенных на подложке непрозрачного металлического сло с показателем преломлени Пд + 4 kg и диэлектрического покрыти , вы- полненного из слоев с чередующимис и, и rt-2 показател ми преломлени i фазовыми толщинами, равными (2f i-:-1)4, где Пд и kg - вещественна и мнима части комплексного показател преломлени металлического сло , 1тцелое число, диэлектрическое покры тие выполнено симметричнвгм относительно его среднего сло , при этом фазовые толщины крайних по отношению к металлическому слою и воздуху слоев равны (2т+1)|-+б , а показатели преломлени слоев и величина S св заны соотношени ми ,,., - -(SffV - rV5 .. И Г/ПИ /n.N-, . ) ns(n5-()tk / r. ,|.i,7 0 - фазова добавка крайних слоев диэлектрического покрыти ; 2N-bt - число диэлектрических слоев. На фнг. 1 представлена схема редложенного фильтра; на фиг. 2 пектральна зависимость его коэфициента отражени . Антиотражательный интерференционый светофильтр состоит из подложи 1, прозрачного металлического ло 2 и диэлектрического покрыти . Слои 4 выполнены с фазовой толиной , равной (2№-f1)Y+S . 3 На фиг. 2 показана спектральна зависимость коэффициента отражени R фильтра, состо щего из стекл нной пбдлозмси, непрозрачного сло алюМИНИН и семислойного диэлектрическо покрыти , выполненного из чередующихс слоев сульфида цинка и криол та. В данном случае 8 -0,23. Контрастность фильтра в отраженном свете 010 . 894 Использование предлагаемого ф шьтра позволит увеличить чувствительность регистрирующей аппаратуры, в частности при лазерных термо дерных исследовани х, изучении процессов светорассе ни . Конструкци такого светофильтра не предполагает изменени существующей технологии изготовлени тонкопленочных систем.
Claims (2)
- АНТИОТРАЖАТЕЛЬНЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СВЕТОФИЛЬТР, состоящий из последовательно расположенных на подложке непрозрачного металлического слоя с показателем преломления Dg+ ike и диэлектрического покрытия( выполненного из слоев с чередующимися и, и п2 показателями преломлениями фазовыми толщинами, равными (2щ+1)^где Пд и kg - вещественная и .мнимая части комплексного показателя преломления металлического слоя, m- целое число, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения контрастности в отраженном свете, диэлектрическое покрытие выполнено симметричным относительно его среднего слоя, при этом фазовые толщины крайних по отношению к металлическому £лою и воздуху слоев равны (2(η^-1).·±· + S , а показатели ' преломления слоев и величина S связаны соотношениями8 - фазовая добавка крайних слоев диэлектрического покрытия;
- 2Ν+1 - число диэлектрических слоев.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833586429A SU1125589A1 (ru) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | Антиотражательный интерференционный светофильтр |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833586429A SU1125589A1 (ru) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | Антиотражательный интерференционный светофильтр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1125589A1 true SU1125589A1 (ru) | 1984-11-23 |
Family
ID=21061638
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833586429A SU1125589A1 (ru) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | Антиотражательный интерференционный светофильтр |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1125589A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4856019A (en) * | 1987-02-26 | 1989-08-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Reflector for excimer laser and excimer laser apparatus using the reflector |
-
1983
- 1983-02-21 SU SU833586429A patent/SU1125589A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
) 1. Фурман Ш.А. Оптика тонко-, елейных покрытий. Л., Машиностроение, 1977, с. 72-75. 2. Журнал прикладной спектроскопии, 1969, т. II, вь1П. 4 (прототип) . * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4856019A (en) * | 1987-02-26 | 1989-08-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Reflector for excimer laser and excimer laser apparatus using the reflector |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4756602A (en) | Narrowband optical filter with partitioned cavity | |
Turner | Some current developments in multilayer optical films | |
JP3359114B2 (ja) | 薄膜型ndフィルター及びその製造方法 | |
US3771857A (en) | Striped dichroic filter and method for making the same | |
US6335142B1 (en) | Light absorbing coating with high absorption capacity | |
US3235397A (en) | Reflection-reducing arrangements | |
US4826267A (en) | Spectral filter with integral antireflection coating | |
WO1992016875A2 (en) | Infrared filter | |
CN110146948A (zh) | 一种硅基底长波通红外滤光片及其制备方法 | |
SU1125589A1 (ru) | Антиотражательный интерференционный светофильтр | |
WO1993015439A1 (en) | Permanent color transparencies on single substrates and methods for making the same | |
JP3624082B2 (ja) | 反射防止膜及びその製造方法 | |
JPH11264903A (ja) | 反射防止膜およびその製造方法 | |
JPH05502738A (ja) | マグネシウム膜反射材 | |
JP3399159B2 (ja) | 赤外域用光学膜および光学素子 | |
JPS6177002A (ja) | 光反射防止膜 | |
JPH06322520A (ja) | 電波と赤外線との分離板およびその製法 | |
JPH03242319A (ja) | 中間的屈折率を有する透明被覆 | |
JP2003177205A (ja) | 赤外域用反射防止膜 | |
CN115327687B (zh) | 一种近红外波段带通滤光片及其制备方法 | |
JP3894108B2 (ja) | 赤外域用反射防止膜 | |
Murphy | Patterned Optical Filters To Encode Spectral Information For Solid State Imaging Devices | |
RU2079861C1 (ru) | Полосовой светофильтр | |
JP2711697B2 (ja) | 広帯域反射防止膜 | |
Mao | Optical thin film devices |