SU1125589A1 - Антиотражательный интерференционный светофильтр - Google Patents

Антиотражательный интерференционный светофильтр Download PDF

Info

Publication number
SU1125589A1
SU1125589A1 SU833586429A SU3586429A SU1125589A1 SU 1125589 A1 SU1125589 A1 SU 1125589A1 SU 833586429 A SU833586429 A SU 833586429A SU 3586429 A SU3586429 A SU 3586429A SU 1125589 A1 SU1125589 A1 SU 1125589A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
layers
matrices
dielectric
alternating
dielectric coating
Prior art date
Application number
SU833586429A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Фридрихович Большанин
Эдуард Степанович Путилин
Original Assignee
Ленинградский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Точной Механики И Оптики
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Точной Механики И Оптики filed Critical Ленинградский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Точной Механики И Оптики
Priority to SU833586429A priority Critical patent/SU1125589A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1125589A1 publication Critical patent/SU1125589A1/ru

Links

Landscapes

  • Optical Filters (AREA)

Abstract

АНТИОТРАЖАТЕЛЬНЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЬЙ СВЕТОФИЛЬТР, состо щий из последовательно расположенных на подложке непрозрачного металлического сло  с показателем преломлени  «2+ iVg и диэлектрического покрыти  , вьшолненного из слоев с чередующимис  п, и п показател ми преломлени ми фазоаътми толии1нами, равными ()где ttg и kg - вещественна  и ,мни-ма  части комплексного показател  преломлени  металлического сло . vn - целое число, о т л и ч а ю щ и и с   тем, что, с целью увеличени  контрастности в отраженном .свете, диэлектрическое покрытие выполнено cи t eтpичньD I относительно его среднего сло , при этом фазовые толщины кр-гйних по отношению к металлическому ;елою и воздуху слоев равны ( +S , а показатели преломлени  слоев и величина S св заны соотношени ми . s .. ... n n пг 4trtf« . где ns(ne-ibl | , , пЦ . ,--arcl, n - Пс фазова  добавка крайних слоев диэлектрического покрыти ; 2N+1 - число диэлектрических слоев.

Description

Изобретение относитс  к интерференционным светофильтрам и может быть использовано при лазерной диагностике плазмы, излучении рассе ни  света и дл  повьшени  эффективности фотокатодов. Известны многослойные интерференционные светофильтры, имеющие неболь шой коэффициент отражени  в узкой области спектра и высокую отражател нун) способность в остальном спектральном интервале, например светофильтры типа Фабри-Перо. Подобные св тофильтры характеризуютс  контрастностью в отражении о ток С ---, где Р| J- отражательна  способность по кра м полосы с мальм отражением, отражательна  способность в минимуме J, Недостатками фильтров Фабри-Перо  вл ютс  небольша  контрастность (С 12) и значительное число слоев (15 и больше), что увеличивает трудоемкость изготовлени  и-сншкает механическую прочность. Небольша  кон .трастность в отражении в данном случае обусловлена различием в коэффици ентах отр;1жени  на границах: диэлект рическа  система - воздух и диэлектр ческа  система - стекло. I . Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  анти отражательный интерференционный светофильтр , состо щий из последователь но расположенных на подложке непрозрачного металлического сло  с показателем преломлени  Пд -i- Iks и диэлектрического покрыти , выполненного из слоев с чередующимис  П, и П .показател ми преломлени  и фазовыми толщинами, равными (2т+1). , где s вещественна  и мнима  части комплексного показател  препомпе™ ни  металлического сло , m - целое число 2 , Недостатком известного антиотражательного светофильтра  вл етс  низка  контрастность з отражении света (), поскольку конструкци  фильтра обеспечивает лишь выполнение усло ви  ненулевого интерференционного минимума, а коэффициенты отражени  на границах: диэлектрическа  система металл и диэлектрическа  система .воздух .не согласованы. Цель изобретени  - повышение контрастности в отраженном свете. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в антиотражательном интерференционном светофильтре, состо щем из последовательно расположенных на подложке непрозрачного металлического сло  с показателем преломлени  Пд + 4 kg и диэлектрического покрыти , вы- полненного из слоев с чередующимис  и, и rt-2 показател ми преломлени  i фазовыми толщинами, равными (2f i-:-1)4, где Пд и kg - вещественна  и мнима  части комплексного показател  преломлени  металлического сло , 1тцелое число, диэлектрическое покры тие выполнено симметричнвгм относительно его среднего сло , при этом фазовые толщины крайних по отношению к металлическому слою и воздуху слоев равны (2т+1)|-+б , а показатели преломлени  слоев и величина S св заны соотношени ми ,,., - -(SffV - rV5 .. И Г/ПИ /n.N-, . ) ns(n5-()tk / r. ,|.i,7 0 - фазова  добавка крайних слоев диэлектрического покрыти ; 2N-bt - число диэлектрических слоев. На фнг. 1 представлена схема редложенного фильтра; на фиг. 2 пектральна  зависимость его коэфициента отражени . Антиотражательный интерференционый светофильтр состоит из подложи 1, прозрачного металлического ло  2 и диэлектрического покрыти  . Слои 4 выполнены с фазовой толиной , равной (2№-f1)Y+S . 3 На фиг. 2 показана спектральна  зависимость коэффициента отражени  R фильтра, состо щего из стекл нной пбдлозмси, непрозрачного сло  алюМИНИН и семислойного диэлектрическо покрыти , выполненного из чередующихс  слоев сульфида цинка и криол та. В данном случае 8 -0,23. Контрастность фильтра в отраженном свете 010 . 894 Использование предлагаемого ф шьтра позволит увеличить чувствительность регистрирующей аппаратуры, в частности при лазерных термо дерных исследовани х, изучении процессов светорассе ни . Конструкци  такого светофильтра не предполагает изменени  существующей технологии изготовлени  тонкопленочных систем.

Claims (2)

  1. АНТИОТРАЖАТЕЛЬНЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СВЕТОФИЛЬТР, состоящий из последовательно расположенных на подложке непрозрачного металлического слоя с показателем преломления Dg+ ike и диэлектрического покрытия( выполненного из слоев с чередующимися и, и п2 показателями преломлениями фазовыми толщинами, равными (2щ+1)^где Пд и kg - вещественная и .мнимая части комплексного показателя преломления металлического слоя, m- целое число, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения контрастности в отраженном свете, диэлектрическое покрытие выполнено симметричным относительно его среднего слоя, при этом фазовые толщины крайних по отношению к металлическому £лою и воздуху слоев равны (2(η^-1).·±· + S , а показатели ' преломления слоев и величина S связаны соотношениями
    8 - фазовая добавка крайних слоев диэлектрического покрытия;
  2. 2Ν+1 - число диэлектрических слоев.
SU833586429A 1983-02-21 1983-02-21 Антиотражательный интерференционный светофильтр SU1125589A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833586429A SU1125589A1 (ru) 1983-02-21 1983-02-21 Антиотражательный интерференционный светофильтр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833586429A SU1125589A1 (ru) 1983-02-21 1983-02-21 Антиотражательный интерференционный светофильтр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1125589A1 true SU1125589A1 (ru) 1984-11-23

Family

ID=21061638

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833586429A SU1125589A1 (ru) 1983-02-21 1983-02-21 Антиотражательный интерференционный светофильтр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1125589A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4856019A (en) * 1987-02-26 1989-08-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Reflector for excimer laser and excimer laser apparatus using the reflector

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
) 1. Фурман Ш.А. Оптика тонко-, елейных покрытий. Л., Машиностроение, 1977, с. 72-75. 2. Журнал прикладной спектроскопии, 1969, т. II, вь1П. 4 (прототип) . *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4856019A (en) * 1987-02-26 1989-08-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Reflector for excimer laser and excimer laser apparatus using the reflector

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4756602A (en) Narrowband optical filter with partitioned cavity
Turner Some current developments in multilayer optical films
JP3359114B2 (ja) 薄膜型ndフィルター及びその製造方法
US3771857A (en) Striped dichroic filter and method for making the same
US6335142B1 (en) Light absorbing coating with high absorption capacity
US3235397A (en) Reflection-reducing arrangements
US4826267A (en) Spectral filter with integral antireflection coating
WO1992016875A2 (en) Infrared filter
CN110146948A (zh) 一种硅基底长波通红外滤光片及其制备方法
SU1125589A1 (ru) Антиотражательный интерференционный светофильтр
WO1993015439A1 (en) Permanent color transparencies on single substrates and methods for making the same
JP3624082B2 (ja) 反射防止膜及びその製造方法
JPH11264903A (ja) 反射防止膜およびその製造方法
JPH05502738A (ja) マグネシウム膜反射材
JP3399159B2 (ja) 赤外域用光学膜および光学素子
JPS6177002A (ja) 光反射防止膜
JPH06322520A (ja) 電波と赤外線との分離板およびその製法
JPH03242319A (ja) 中間的屈折率を有する透明被覆
JP2003177205A (ja) 赤外域用反射防止膜
CN115327687B (zh) 一种近红外波段带通滤光片及其制备方法
JP3894108B2 (ja) 赤外域用反射防止膜
Murphy Patterned Optical Filters To Encode Spectral Information For Solid State Imaging Devices
RU2079861C1 (ru) Полосовой светофильтр
JP2711697B2 (ja) 広帯域反射防止膜
Mao Optical thin film devices