SU110419A1 - Device for measuring the parameters of semiconductor triodoz at low frequencies - Google Patents
Device for measuring the parameters of semiconductor triodoz at low frequenciesInfo
- Publication number
- SU110419A1 SU110419A1 SU568986A SU568986A SU110419A1 SU 110419 A1 SU110419 A1 SU 110419A1 SU 568986 A SU568986 A SU 568986A SU 568986 A SU568986 A SU 568986A SU 110419 A1 SU110419 A1 SU 110419A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- parameters
- circuit
- measuring
- semiconductor
- low frequencies
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
Предметом изобретени вл етс устройство дл измерени параметров полупроводниковых триодов на низких частотах, а именно: сопротивлени эмиттера г, сопротивлени базы tg, сопротивлени коллекторного переходаг, и коэффициента -:.The subject of the invention is a device for measuring parameters of semiconductor triodes at low frequencies, namely: emitter resistance g, base resistance tg, collector junction resistance, and coefficient - :.
в отличие от известных устройств дл измерени параметров полупроводниковых триодов, которые не обеспечивают непосредственного отсчета измер емых величин без усложнени конструкции, в предлагаемом устройстве все измерени осуществл ютс при посто нном включении звукового генератора в цепь коллектора, что позвол ет упростить коммутацию прибора и сократить количество операций, необходимых дл измерений.Unlike the known devices for measuring the parameters of semiconductor triodes, which do not provide a direct reading of measured values without complicating the design, in the proposed device all measurements are performed while the sound generator is constantly connected to the collector circuit, which allows to simplify switching the device and reduce the number of operations required for measurements.
Схема измерител приведена на фиг. 1, а эквивалентные схемы измерений различных параметров даны в таблице (фиг. 2).The meter diagram is shown in FIG. 1, and the equivalent measurement schemes for various parameters are given in the table (Fig. 2).
Измерение всех параметров осуществл етс или при холостом ходе цепи базы и коротком замыкании цепи эмиттера по переменному току, или, наоборот, при холостом ходе цепи эмиттера и коротком замыкании цепи базы.All parameters are measured either when the base circuit is idling and the emitter circuit is short-circuited in alternating current, or, on the contrary, when the emitter circuit is idling and the base circuit is short-circuited.
Холостой ход цепи базы и цепи эмиттера осуществл етс с помощью дросселей Х и , а короткое замыкание с помощью конденсатора С.Idling of the base and emitter circuit is carried out with the help of chokes X and, and short circuit with the help of capacitor C.
Режим триода контролируетс по приборам путем измерени тока эмиттера . тока базы /до и коллекторного напр жени t//(O.Triode mode is monitored instrument by measuring emitter current. base current / to and the collector voltage t // (O.
От генератора Г в цепь коллектора через делитель подаетс напр жение U частоты 1000 гц.From generator D to the collector circuit, a voltage U of 1000 Hz is applied through a divider.
Необходима коммутаци производитс переключателем П.The required switching is performed by the switch P.
Измерение г b положении переключател Я на г, -1 замечаетс показание лампового вольтметра ЛВ, Перев П в положениеMeasurement of the g b position of the switch I per g, -1 the indication of the lamp voltmeter LV is noted, turning into position
№ 10419No. 10419
Гз -2 изменением величины добиваютс такого же отклонени стрелки лампового вольтметра ЛВ.Gz -2, by changing the value, achieve the same deflection of the needle of the LV lamp voltmeter.
Величина сопротивлени между точками Си/) будет равна искомой величине г..The magnitude of the resistance between the points C /) will be equal to the desired value of r.
Измерение rg производитс таким же образом, как и г.The rg is measured in the same way as r.
Измерение в положении переключател П на замечаетс отклонение стрелки лампового вольтметра ЛВ. Перевед П в положение г -2, изменением величины сопротивлени добиваютс такого же положени показани лампового вольтметра ЛВ.The measurement in the position of the switch P does not notice the deviation of the needle of the lamp voltmeter LV. Transferring P to position r -2, by changing the resistance value, the indication of the lamp voltage meter voltmeter is obtained by the same position.
Величина сопротивлени будет равна г + г.The magnitude of the resistance will be g + g.
Измерение : замечаетс показание лампового вольтметра ЛВMeasurement: The reading of the LV lamp voltmeter is noted.
в положегп1п П на (-;-I. Перевед П в положение на -: -2,in pozhevegpn P on (-; - I. Translating P in position on -: -2,
I -а/ 1 -к/ I-a / 1 -k /
изменением величины добиваютс такого же отклонени стрелки лампового вольтметра ЛВ.by changing the value, the same deflection of the needle of the LV lamp voltmeter is obtained.
Отношение величины R между точками А и В к величине части сопротивлени между точками С и Д и будет искомой величинойThe ratio of the value of R between points A and B to the value of the part of the resistance between points C and D will be the desired value
1 „14,1 14,
-;. Ьсли , то при отклонении стрелки лампового вольт1-а1-а Crf- ;. If, then at a deviation of an arrow lamp volt1-а1-and Crf
метра ЛВ на величину 6, , i. - . ,.meter LV by the value of 6,, i. -. ,
где коллектора при холостом ходе цепи базы и коротком замыкании цепи эмиттера, i ток в цепи коллектора при холостом ходе цепи эмиттера и коротком замыкании в цепи базы.where is the collector when the base circuit is idling and the emitter circuit is short-circuited; i is the collector circuit current when the emitter circuit is idling and short-circuit in the base circuit.
Описываемое устройство позвол ет осуществл ть непосредственный отчет измер емых параметров при погрешности измерений, не превышающей + 5 - 6%, и может быть использовано дл измерительных целей в заводских и лабораторных услови х.The described device allows a direct report of the measured parameters with measurement errors not exceeding + 5-6%, and can be used for measurement purposes under factory and laboratory conditions.
Предмет изобретени Subject invention
Устройство дл измерени параметров полупроводниковых триодов на низких частотах, отличающеес тем, что, с целью упрощени его конструкции, а так же повышени оперативности и точности измерений, генератор при измерении всех параметров испытываемого триода включен в цепь его коллектора, а измерение параметров триода производитс путем создани или режима холостого ход цепи базы и короткого замыкани цепи эмиттера, или режима холостого хода цепи эмиттера и короткого замыкани цепи базы.A device for measuring the parameters of semiconductor triodes at low frequencies, characterized in that, in order to simplify its design, as well as to increase the efficiency and accuracy of measurements, the generator, when measuring all parameters of the tested triode, is included in its collector circuit, or idle mode of the base circuit and short circuit of the emitter circuit, or idle mode of the emitter circuit and short circuit of the base circuit.
:f ., 1.. : f., 1 ..
3HCD 1 кб CD3HCD 1 kb CD
Комитет по делам изооретений и открытий при Совете Министров СССР Редактор Н. С. КутафинаГр. 8Committee on the Issues of Discoveries and Discoveries at the Council of Ministers of the USSR Editor N. S. KutafinGr. eight
Информационно-издательский отдел. Подп. к печ. 28.П1-59 г. -Объем 0,34 п. л.Зак. 1802Тираж 810Цена 50 KOJI.Information and publishing department. Sub. to pec. 28.P1-59 g. - Volume is 0,34 p. L. Zak. 1802 Circulation 810 Price 50 KOJI.
Типографи Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРPrinting houses of the Committee on Inventions and Discoveries at the Council of Ministers of the USSR
Москва, Петровка, 14.Moscow, Petrovka, 14.
«о"about
к-0-|Щ.k-0- | Sch.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU568986A SU110419A1 (en) | 1957-03-15 | 1957-03-15 | Device for measuring the parameters of semiconductor triodoz at low frequencies |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU568986A SU110419A1 (en) | 1957-03-15 | 1957-03-15 | Device for measuring the parameters of semiconductor triodoz at low frequencies |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU110419A1 true SU110419A1 (en) | 1957-11-30 |
Family
ID=48383143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU568986A SU110419A1 (en) | 1957-03-15 | 1957-03-15 | Device for measuring the parameters of semiconductor triodoz at low frequencies |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU110419A1 (en) |
-
1957
- 1957-03-15 SU SU568986A patent/SU110419A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ES219783A1 (en) | Diode detector-transistor amplifier circuit for signal receivers | |
SU110419A1 (en) | Device for measuring the parameters of semiconductor triodoz at low frequencies | |
GB902087A (en) | Improvements in or relating to electrical bridge networks | |
US2364687A (en) | Vacuum tube voltmeter circuit | |
GB1425485A (en) | Power fabtor measuring cell arrangement | |
US2425987A (en) | Circuit for measuring minimum values of unidirectional voltage pulses | |
SU1117660A1 (en) | Logarithmic generator | |
SU575469A1 (en) | Device for contactless check-up of wire diameter | |
SU828094A1 (en) | Dc bdidge | |
SU385235A1 (en) | CONDENSING FREQUENCY | |
SU402940A1 (en) | RECORDER AMPLIFIER WITH LEVEL INDICATOR | |
GB853661A (en) | Improvements in or relating to measurement of distance | |
SU39235A1 (en) | Device for measuring signal strength or interference | |
SU1298842A1 (en) | Synchronous detector | |
SU395961A1 (en) | PHASE DISCRIMINATOR | |
SU447619A1 (en) | Method for measuring low DC voltages | |
SU662875A1 (en) | Peak detector | |
SU490026A1 (en) | Device for measuring the frequency errors of resistive voltage dividers | |
SU363053A1 (en) | HALL EFFECT METER | |
SU522418A1 (en) | Discrete Level Gauge for Electrically Conducting Media | |
JPS51131666A (en) | Apparatus for measuring characteristics of two-terminal element | |
SU1002824A2 (en) | Device for measuring dynamic deformations | |
SU669299A1 (en) | Arrangement for automatic registration of semiconductor device characteristics | |
SU444301A1 (en) | Peak detector | |
GB1522377A (en) | Device for measuring and checking parameters of electric circuit elements |