SU1051476A1 - Способ измерени периода страйп-структуры в доменосодержащих пленках - Google Patents

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРИОДА СТРАЙП-СТРУКТУРЫ В ДОМЕНОСОДЕРЖА-ЩИХ ПЛЕНКАХ, заключающийс  в том, что пленку помещгиот в переменное магнитное поле,.направление которого перпендикул рно к плоскости, пленки, отличающийс  тем, что с целью повьшюни  быстродействи  и точности измерений, плоскость пленки поворачивают параллельно направлению магнитного пол  и уменьшают амплитуду переменного магнитного пол  до нул .

Description

ел

4

Изобретение относитс  к магнитеметрической технике и может быть использовано дл  определени  периода страйп-структуры при производстве доменосодержащих пленок.

Самые производительные и точные измерени  периода получают на пр мой доменной структуре с шириной полосы, равной ширине полосы лабиринтйой доменной структуры размагниченной пленки ,

Наиболее близл им к предлагаемому  вл етс  способ измерени  периода страйп-структуры в доменосодержащих пленках, который заключаетс  в том, что пленку помещают в посто нное маг нитноб поле, параллельное плоекости пленки, и одновременно прикладывают перпендикул рно плоскости пленки переменное магнитное поле, снижают его амплитуду до нул , снимают посто нное магнитное поле, затем прикладывают перпендикул рно плоскости . пленки дополнительное переменное магнитное поле, амплитуду и продолжителность действи  которого подбирают, из1 гер ют линейный размер участка пленки со страйп-структурой,подсчитывают количество пр л аос полоссЛвьис домемов , наход щихс  на измер емом .участке, и определ ют период страйп-структуры путем делени  величины линейного размера на количество полосовых доменов 1} .

Однако известному способу свойственны низкие быстродействие и точность измерени .

Цель изобретени  - повышение быстродействи  и точности измерений .

Поставленна  цель достигаетс  тем, что согласно способу измерени  периода страйп-структуры в доменосодержащих пленках, заключающемус  в том, что пленку помещают в переменное магнитное поле, направление которого перпендикул рно к плоскоети пленки, плоскость пленки поворачивают параллельно направлению магнитного пол  и уменьшают амплитуду переменного магнитного пол  до нул .

Способ осуществл ют следующим обра эом.

Пленку помещают в переменное магнитное поле, направление которого перпендикул рно к плоскости пленки . Затем пленку поворачивают в этом переменном магнитном поле на угол

TciKHM образом, что ее плоскость

становитс  параллельной направлению пол . Во врем  поворота пленки на нее действуют две составл ющие пол  - нормальна  и тангенциальна . Причем во врем  поворота значение нормальной составл ющей измен етс  от максимального до нул , а значение тангенциальной - наоборот. После поворота пленки она оказываетс  под действием параллельного плоскости переменного магнитного пол , амплитуда которого с этого момента начинает убывать до нул . В результате данных операций в пленке образуетс  пр ма  полосова  структура с ISb доменами. Ширина пр мых полосовых доменов равна ширине лабиринтных полосовых доменов, что соответствует состо нию структуры в полностью размагниченной пленке.

Следукйда  операци  способа заключаетс  в измерении линейного размера участка страйп-структуры. Поле измерени  линейного размера подсчитывают количество пр мых полосовых доменов на измер емом участке . Процесс измерени  завершаетс  определением периода страйп-структуры путем делени  величины линейного размера участка страйп-структуры на количество пр51мых полосовых доменов.

Формирование пр мой полосовой структуры осуществл етс  а соленоиде , 8 котором образец пленки может поворачиватьс  на 90° относительно направлени  переменного магнитного пл .

Таким образом, предлагаемый спосо позвол ет повысить быстродействие и точность измерени  периода за счет формировани  пр мой полосовой структуры переменным магнитным полем, устранени  посто нного магнитного пол  и дополнительных операций по многокрному подбору амплитуды и длительност переменного магнитного пол .

Claims (1)

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРИОДА СТРАЙП-СТРУКТУРЫ В ДОМЕНОСОДЕРЖА-

   ЩИХ ПЛЕНКАХ, заключающийся в том, что пленку помещают в переменное магнитное поле,.направление которого перпендикулярно к плоскости, пленки, отличающийся тем, что с целью повышения быстродействия и точности измерений, плоскость пленки поворачивают параллельно направлению магнитного поля и уменьшают амплитуду переменного магнитного поля до нуля.