SU1048302A1 - Способ измерени толщины ферромагнитных изделий и покрытий - Google Patents

Abstract

СП(Х:ОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ ЩИНЫ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ И ПОКРЫ ТИЙ, заключающийс  в том, что изделие намагничивают и измер ют реакцию пога  намагничивающей системы на поле издели , отлнчаюшийс   тем, что, с целью повышени  точности измерений, поле намагничивающей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в которс создают магнитную неоднородность, измер ют поле магнитной неоднородности и по его величине определ ют искомый параметр. Ш -

Description

Изобретение относитс  к нераэрушаюшему контролю и может быть ибпользова ,ио дл  измерени  толшины ферромагнитных изделий и покрытий.

Известен способ измерени  толшины ферромагнитных изделий и покрытий, который основан на измерении вариаций магнитного пол  в магнитном перешейке :парагщельном намагничиваюшей системе CНедостатком этрго способа  вл етс  низка  точность измерени , св занна  с применением механической упругой системы в сочетании с небольшими размерами измерительной /шкалы.

Наиболее близким к изобретению  вл етс  способ измерени  толшины ферромапи нитных изделий и покрытий, заключающийс  в том, что изделие намагничивают и измер ют реакцию намагничивающей системы на поле издели  ,2 J .

Недостатком cnocoiSa  вл етс  низка  точность измерений св занна  с анизотропией свойств н чистотой обработки ферромагнитного издели  или основы, а также надежностью контакта полюсов магнита с контролируемой поверхностью.

Цель изобретени  - повышение точноети измерени  толшины ферромагнитных изделий и покрытий.

Указанна  цель достигаетс  тем, что согласно способу измерени  толшины ферроматнитных изделий и покрытий попе намагничиваюшей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в которсм создают магнитную неоднородность , измер ют попе магнитной неоднороанос .ти и по его величине шредел ют искомый параметр.

При шунтировании намагничивакшей системы ферромагнитным слоем в нем замыкаетс  основна  часть магнитного потока. При этом возникает магнитное попе локальной магнитной неоднородносги , которое можно измерить магннточувствительным элементом (датчиком Холла, феррозондом и т.д.). При взаимодействии этого пол  с ферромагнитным изделием величина пол  в области малых топшин измен етс  прстюрционально толшине издели  или немагни1И(лу зазору, образуемому покрытием. По величине измеренног пол  определ ют толщину издели  либо покрыти .

На чертеже представлено устройство, реализующее способ.

Устройство содержит намагничивающую систек г 1, расположенную на ферромаг .нитной пластине 2 с искусственно нанесенным дефектом 3, установленной на контролируемое изделие 4,Магниточувствительный элемент 5 расположен на ферромагнитной пластине 2 и подключен к измерительному прибору 6,

Устройство работает следующим образе .

По е намагничивающей системь 1, замыка сь в феррстлагнигной пластине 2, создает локальное магнитное поле дефекта 3. При изменении толшины контрол руе мого Издели  4 или толщины его покрыти  значение пол  дефекта 3, регистрируемое с помощью магни точу ветви тельного элемента 5, измен етс  пропорционально и с п{ЯЛ(ш(ью измерительного прибора 6 можно получать значени  толщи ,ны издели  или покрыти$1.

Взаимодействие пол локальной магнит ной неоднородности с изделием позвол ет увеличить локальность измерени , исключает механический контакт пошосов намагничивающей системы с контролируемым изделием, что резко уменьшает вли 1Ше чистоты обработки поверхности на точность измерени51. Повышение локальности также снижает вли ние на точность измерени  анвзотрспни магнитных свойств контролируемых изделий и их ге« етрии.

Claims (1)

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ ЩИНЫ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ И ПОКРЫ ТИЙ, заключающийся в том, что изделие намагничивают и измеряют реакцию поля намагничивающей системы на поле изделия, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности измерений, попе намагничивающей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в котором создают магнитную неоднородность, измеряют поле магнитной неоднородности и по его аеличине определяют искомый параметр.

   1048302,