SU1048430A1 - Логический компаратор дл контрол цифровых схем - Google Patents
Логический компаратор дл контрол цифровых схем Download PDFInfo
- Publication number
- SU1048430A1 SU1048430A1 SU823440863A SU3440863A SU1048430A1 SU 1048430 A1 SU1048430 A1 SU 1048430A1 SU 823440863 A SU823440863 A SU 823440863A SU 3440863 A SU3440863 A SU 3440863A SU 1048430 A1 SU1048430 A1 SU 1048430A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- outputs
- comparator
- triggers
- unit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
ЛОГИЧЕСКИЙ КОМПАРАТСЯР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ, 00ц жащий блок регистреции, контактирующий блок, соединенный вхоаами с первыми входами логического компаратора, выхоцамн - с входами блока разв зывающих усилителей, соединенного первыми выходами с соответствук цими входами эталонных микросхем, выходы каждой из , : которых соединены с входами соответствутдщих элементов сравнени , соединенньпс вторыми входами с соответствующими выходками блока разв зьюающих усилителей, выходами - с Еосодами соответствующего данной эталонной микросхеме элемента ИЛИ, отличающийс тем, что, с целью повышени производительности контрол , в него ввеаены по числу эталонных микросхем триггеры .и. элемент И, соецнненный выходом с входом блока регистрашга, вхоаами - с выходами соответствующих триггеров, соёдннеквых первыми входами с s выходами соответствукших элементов ИЛИ, вторыми вхоаами - с втсфым вхоСО пом погическс о компаратора...
Description
4
СХ) 4 СО 110 Изобретение относитс к контрольно .измерительной технике, в частности, к контролю и циагносткке рапиоэлектронных изцелий. Известно устройство цл контрол цифровых микросхем, содерйсащее контактирующий зона, элементы сравнени , блок, инцикации и гнезао цл съемной эталонной микросхемы l . Недостатком указанного устройства вл етс низка производительность, поскольку при контроле одной платы необходимо несколько раз (5-10) мен ть эталонные микросхемы в гнезде. Кроме того наличие подвижного контшста эталонна микросхема - гнездо снижает надежность устройства, а участие в выборе эталонной микросхемы оператора снижает досто верность контрол . Наиболее близким техническим решением к изобретению вл етс логический компаратор дл контрол цифровых схем, содержащий блок регистрации, контактиру ющий блок, соединенный вхоаами с первы ми входами устройства, выходами - с входами блока разв зывающих усилителей соединенного первыми выходами с соответствующими входами эталонных микросхем различных типов, вьпсоды каждой из которых соединены с первыми входами соответствующих элементов сравнени , соединенных вторыми входами с соответствующими выходами блока разв зывающи усилителей, выходами - с входами соответствующего данной эталонноЙ микросхеме элемента ИЛИ . Недостатком известного компаратора вл етс низка производительность, что обусловлено потер ми времени на многократное (10-15 раз) переключение тумблеров дл выбора эталонных микросхем при больщом числе их типов. - : Цель изобретени - повьпиение производительности контрол . Поставленна цель постигаетс тем, что в логический компаратор цл контрол цифровых схем, содержащий блок реги рации, контактирующий блок, соединенный входами с первыми входами логического компаратора, выходами - с входами блока разв зывающих усилителей, соедине ного первыми выходами с соответствующими входами эталонных микросхем, выходы каждой из которых соеаинены с пер выми вхоаами соответствующих элементо сравнени соединенных вторыми восодами с с ответствук пимн выходами блока разв зыва ющих усш1игелей,выходамн - входами 3О оответствующего данной эталонной микрохеме элемента ИЛИ, введены по числу эталонных микросхем триггеры и элемент И, соединенный выходом с входом блока егистрации, входами - с выходами соответствующих триггеров, соединенных первыми входами с выходами соответствуюих элементов ИЛИ, вторыми входами вторым входом логического компаратоа .. На чертеже, приведена блок-схема ло-. гического компаратора. Логический компаратор содержит конактирук ций блок I, блок 2 разв зыв1аюих усилителей, элементы 3 сравнени , элементы ИЛИ 4, триггеры 5, эталонные икросхемы 6, элемент 7 И, блок 8 регитрации . Логический компаратор работает следующим образом. Контактирующий блок I (зонд) надеваетс на провер емую цифровую микросхему , котора запа на в логической плате (блоке и т, п.). Затем запускаетс контактирующий тест дл данной платы. Генератором тестов может быть устройство тестового контрол (на не показа|но ) с заранее составленными конгрси1Ирук идими программами. Если таких программ нет, пользуютс сигналами с разъема готового издели , заменив в нем соответствую- / щую исправную плату на контролиругалую. Дл этого плату устанавливают в разъем издели через переходной удлинитель и запускают изделие в работу. На выходы провер емой платы поступают рабочие двоичные наборы, вл ющиес в данном I случае тестовыми контролируемыми наборами . Соответственно, на входы контролируемой в данный момент микросхемы пос-, тупают двоичные наборы как производные входньк на боров платы. Блок I обеспечивает съем сигналов, которые поступают на , вход блока 2 разв зывающих усилителей, которые служат дл уменьщеншГ нагрузки .на провер емую цифровую микросхему. I Сигналы с / выходов блока 2 поступают на эталонные микросхемы 6. Предлагаемь1й кст паратор не цепвет различий межцу комбинационной к послецовательной микросхемой так как , тестовым набором контролируема и подключенна к кеА через блок, эталонна мккроск&ла 6 устанавливаетс в одинаковое исходное состо ние. Если контроль логической платы вьшолн етс не реальном нздепин через переходник, то все ее послецовательнгае микросхемы
устанавливаютс в исхоцное состо ние через mmiy общего сброса (нажатие клавиши Сброс на иэпелии). В результате контролируема и соответствующа ей эталонна микросхема 6 имеют оци- . 5 наковые состо ни (при условии, что контролируема микросхема исправна).
Двоичные наборы, снимаемые с контролируемой микросхемы, чере.3 блок 2 поступают на вкоды сразу всех эталонных микро- 10 схем 6. Из всего множества эталонных микросхем 6 только одна микросхема работает синхронно с контролируемой. Это микросхема того же типа, что и контролируема , С выходов элементов 3 сравнени 15 этой микросхемы на элемент 4 ИЛИ не поступает сигнал несравнени и триггер 5 не устанавливаетс . На всех же других эталонньпс микросхемах 6 триггеры 5 устанавливаютс в единичное состо ние .20 сигналом несравнени с соответствук цих . элементов ИЛИ 4. Так как один из тригГГ
геров 5 не установитс в единичное . состо ние, элемент 7 И не сработает, блок регистрации 8 также не сработает, что будет свидетельствовать об исправности микросхемы,
В случае, если провер ема микросхем неисправна (т. е, ее функционирование не совпадает с функционированием ни одной и эталонных микросхем .6), то в конце цикла прогона теста контролируемой платы все триггеры 5 установлены в единичное состо ние. Высокие потенциалы с единичных плеч триггеров 5 поступают на входы элемента 7 И, который, срабатыва , включает в блоке 8 индикатор Микросхема неисправна.
Таким образом, введение в логический (Компаратор элементов 5 и 7 позвол ет обеспечить контроль микросхем без тфедварительного выбора и подктпочени вручную оператором их эталонов, что увеличивает производительность контрол .
Claims (1)
- ЛОГИЧЕСКИЙ КОМПАРАТОР \ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ, содержащий блок регистрации, контактирующий блок, соединенный входами с первыми входами логического компаратора, выходами - с входами блока развязывающих усилителей, соединенного первыми выходами с соответствующими входами эталонных микросхем, выходы каждой из / которых соединены с первыми входами соответствующих элементов сравнения, соединенных вторыми входами с соответствующими выходами блока развязывающих усилителей,! выходами - с входами соответствующего данной эталонной микросхеме элемента ИЛИ, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, в него введены по числу эталонных микросхем триггеры .и. элемент И, соединенный выходом с входом блока регистрации, входами - с выходами соответствующих 'триггеров, соединенных первыми входами с о выходами соответствующих элементов ИЛИ, вторыми входами - с вторым входом логического компаратора...>
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823440863A SU1048430A1 (ru) | 1982-05-20 | 1982-05-20 | Логический компаратор дл контрол цифровых схем |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823440863A SU1048430A1 (ru) | 1982-05-20 | 1982-05-20 | Логический компаратор дл контрол цифровых схем |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1048430A1 true SU1048430A1 (ru) | 1983-10-15 |
Family
ID=21012697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823440863A SU1048430A1 (ru) | 1982-05-20 | 1982-05-20 | Логический компаратор дл контрол цифровых схем |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1048430A1 (ru) |
-
1982
- 1982-05-20 SU SU823440863A patent/SU1048430A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
I. Аллеи Д. Р. Логический тестер . цл аифровых интегральных схемных плат. - Электроника, 1973, Jsfe 23, с. 29-36. 2. Авторское свицетельство СССР кл. G 01 R 31/28, 1979 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5239191A (en) | Semiconductor wafer | |
US7579689B2 (en) | Integrated circuit package, and a method for producing an integrated circuit package having two dies with input and output terminals of integrated circuits of the dies directly addressable for testing of the package | |
SU1048430A1 (ru) | Логический компаратор дл контрол цифровых схем | |
EP0438127B1 (en) | Semiconductor wafer | |
DE3686989D1 (de) | Verminderung des rauschens waehrend des pruefens von integrierten schaltungschips. | |
EP0317578A4 (en) | THREE-LEVEL SWITCH TEST DEVICE. | |
CN114076901B (zh) | 一种电源模块输出纹波自动化测试系统及方法 | |
JP2002071755A (ja) | 半導体試験装置 | |
KR200175408Y1 (ko) | 웨이퍼 테스트용 기판 | |
US20040193978A1 (en) | Parallel testing of integrated circuits | |
KR100257160B1 (ko) | 번인 테스트 보드 | |
JPH03252572A (ja) | 回路基板テストフィクスチャ | |
CN219496488U (zh) | 阻抗测试电路及装置 | |
CN219225013U (zh) | 数字板卡通道电平精度测试装置及测试机 | |
US6492824B1 (en) | Adapter base for receiving electronic test objects | |
RU1780054C (ru) | Устройство дл контрол монтажа печатных плат | |
SU947974A1 (ru) | Контактное устройство дл контрол интегральных схем на подложке | |
JP2647209B2 (ja) | 電気回路の試験方法 | |
WO1990013821A1 (en) | A method and an apparatus for testing the assembly of a plurality of electrical components on a substrate | |
RU1837290C (ru) | Устройство дл контрол парафазных логических блоков | |
SU1022080A1 (ru) | Устройство дл контрол монтажа | |
CN116184179A (zh) | Jtag转接电路板 | |
SU947789A1 (ru) | Устройство дл контрол функционировани интегральных схем пам ти | |
US5600236A (en) | Converter and digital channel selector | |
SU1064243A1 (ru) | Устройство дл контрол полупроводниковых диодов |