SU1048430A1 - Логический компаратор дл контрол цифровых схем - Google Patents

Логический компаратор дл контрол цифровых схем Download PDF

Info

Publication number
SU1048430A1
SU1048430A1 SU823440863A SU3440863A SU1048430A1 SU 1048430 A1 SU1048430 A1 SU 1048430A1 SU 823440863 A SU823440863 A SU 823440863A SU 3440863 A SU3440863 A SU 3440863A SU 1048430 A1 SU1048430 A1 SU 1048430A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
outputs
comparator
triggers
unit
Prior art date
Application number
SU823440863A
Other languages
English (en)
Inventor
Василий Николаевич Шуть
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8321
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8321 filed Critical Предприятие П/Я В-8321
Priority to SU823440863A priority Critical patent/SU1048430A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1048430A1 publication Critical patent/SU1048430A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

ЛОГИЧЕСКИЙ КОМПАРАТСЯР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ, 00ц жащий блок регистреции, контактирующий блок, соединенный вхоаами с первыми входами логического компаратора, выхоцамн - с входами блока разв зывающих усилителей, соединенного первыми выходами с соответствук цими входами эталонных микросхем, выходы каждой из , : которых соединены с входами соответствутдщих элементов сравнени , соединенньпс вторыми входами с соответствующими выходками блока разв зьюающих усилителей, выходами - с Еосодами соответствующего данной эталонной микросхеме элемента ИЛИ, отличающийс  тем, что, с целью повышени  производительности контрол , в него ввеаены по числу эталонных микросхем триггеры .и. элемент И, соецнненный выходом с входом блока регистрашга, вхоаами - с выходами соответствующих триггеров, соёдннеквых первыми входами с s выходами соответствукших элементов ИЛИ, вторыми вхоаами - с втсфым вхоСО пом погическс о компаратора...

Description

4
СХ) 4 СО 110 Изобретение относитс  к контрольно .измерительной технике, в частности, к контролю и циагносткке рапиоэлектронных изцелий. Известно устройство цл  контрол  цифровых микросхем, содерйсащее контактирующий зона, элементы сравнени , блок, инцикации и гнезао цл  съемной эталонной микросхемы l . Недостатком указанного устройства  вл етс  низка  производительность, поскольку при контроле одной платы необходимо несколько раз (5-10) мен ть эталонные микросхемы в гнезде. Кроме того наличие подвижного контшста эталонна  микросхема - гнездо снижает надежность устройства, а участие в выборе эталонной микросхемы оператора снижает досто верность контрол . Наиболее близким техническим решением к изобретению  вл етс  логический компаратор дл  контрол  цифровых схем, содержащий блок регистрации, контактиру ющий блок, соединенный вхоаами с первы ми входами устройства, выходами - с входами блока разв зывающих усилителей соединенного первыми выходами с соответствующими входами эталонных микросхем различных типов, вьпсоды каждой из которых соединены с первыми входами соответствующих элементов сравнени , соединенных вторыми входами с соответствующими выходами блока разв зывающи усилителей, выходами - с входами соответствующего данной эталонноЙ микросхеме элемента ИЛИ . Недостатком известного компаратора  вл етс  низка  производительность, что обусловлено потер ми времени на многократное (10-15 раз) переключение тумблеров дл  выбора эталонных микросхем при больщом числе их типов. - : Цель изобретени  - повьпиение производительности контрол . Поставленна  цель постигаетс  тем, что в логический компаратор цл  контрол  цифровых схем, содержащий блок реги рации, контактирующий блок, соединенный входами с первыми входами логического компаратора, выходами - с входами блока разв зывающих усилителей, соедине ного первыми выходами с соответствующими входами эталонных микросхем, выходы каждой из которых соеаинены с пер выми вхоаами соответствующих элементо сравнени соединенных вторыми восодами с с ответствук пимн выходами блока разв зыва ющих усш1игелей,выходамн - входами 3О оответствующего данной эталонной микрохеме элемента ИЛИ, введены по числу эталонных микросхем триггеры и элемент И, соединенный выходом с входом блока егистрации, входами - с выходами соответствующих триггеров, соединенных первыми входами с выходами соответствуюих элементов ИЛИ, вторыми входами вторым входом логического компаратоа .. На чертеже, приведена блок-схема ло-. гического компаратора. Логический компаратор содержит конактирук ций блок I, блок 2 разв зыв1аюих усилителей, элементы 3 сравнени , элементы ИЛИ 4, триггеры 5, эталонные икросхемы 6, элемент 7 И, блок 8 регитрации . Логический компаратор работает следующим образом. Контактирующий блок I (зонд) надеваетс  на провер емую цифровую микросхему , котора  запа на в логической плате (блоке и т, п.). Затем запускаетс  контактирующий тест дл  данной платы. Генератором тестов может быть устройство тестового контрол  (на не показа|но ) с заранее составленными конгрси1Ирук идими программами. Если таких программ нет, пользуютс  сигналами с разъема готового издели , заменив в нем соответствую- / щую исправную плату на контролиругалую. Дл  этого плату устанавливают в разъем издели  через переходной удлинитель и запускают изделие в работу. На выходы провер емой платы поступают рабочие двоичные наборы,  вл ющиес  в данном I случае тестовыми контролируемыми наборами . Соответственно, на входы контролируемой в данный момент микросхемы пос-, тупают двоичные наборы как производные входньк на боров платы. Блок I обеспечивает съем сигналов, которые поступают на , вход блока 2 разв зывающих усилителей, которые служат дл  уменьщеншГ нагрузки .на провер емую цифровую микросхему. I Сигналы с / выходов блока 2 поступают на эталонные микросхемы 6. Предлагаемь1й кст паратор не цепвет различий межцу комбинационной к послецовательной микросхемой так как , тестовым набором контролируема  и подключенна  к кеА через блок, эталонна  мккроск&ла 6 устанавливаетс  в одинаковое исходное состо ние. Если контроль логической платы вьшолн етс  не реальном нздепин через переходник, то все ее послецовательнгае микросхемы
устанавливаютс  в исхоцное состо ние через mmiy общего сброса (нажатие клавиши Сброс на иэпелии). В результате контролируема  и соответствующа  ей эталонна  микросхема 6 имеют оци- . 5 наковые состо ни  (при условии, что контролируема  микросхема исправна).
Двоичные наборы, снимаемые с контролируемой микросхемы, чере.3 блок 2 поступают на вкоды сразу всех эталонных микро- 10 схем 6. Из всего множества эталонных микросхем 6 только одна микросхема работает синхронно с контролируемой. Это микросхема того же типа, что и контролируема , С выходов элементов 3 сравнени  15 этой микросхемы на элемент 4 ИЛИ не поступает сигнал несравнени  и триггер 5 не устанавливаетс . На всех же других эталонньпс микросхемах 6 триггеры 5 устанавливаютс  в единичное состо ние .20 сигналом несравнени  с соответствук цих . элементов ИЛИ 4. Так как один из тригГГ
геров 5 не установитс  в единичное . состо ние, элемент 7 И не сработает, блок регистрации 8 также не сработает, что будет свидетельствовать об исправности микросхемы,
В случае, если провер ема  микросхем неисправна (т. е, ее функционирование не совпадает с функционированием ни одной и эталонных микросхем .6), то в конце цикла прогона теста контролируемой платы все триггеры 5 установлены в единичное состо ние. Высокие потенциалы с единичных плеч триггеров 5 поступают на входы элемента 7 И, который, срабатыва , включает в блоке 8 индикатор Микросхема неисправна.
Таким образом, введение в логический (Компаратор элементов 5 и 7 позвол ет обеспечить контроль микросхем без тфедварительного выбора и подктпочени  вручную оператором их эталонов, что увеличивает производительность контрол .

Claims (1)

  1. ЛОГИЧЕСКИЙ КОМПАРАТОР \ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ, содержащий блок регистрации, контактирующий блок, соединенный входами с первыми входами логического компаратора, выходами - с входами блока развязывающих усилителей, соединенного первыми выходами с соответствующими входами эталонных микросхем, выходы каждой из / которых соединены с первыми входами соответствующих элементов сравнения, соединенных вторыми входами с соответствующими выходами блока развязывающих усилителей,! выходами - с входами соответствующего данной эталонной микросхеме элемента ИЛИ, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, в него введены по числу эталонных микросхем триггеры .и. элемент И, соединенный выходом с входом блока регистрации, входами - с выходами соответствующих 'триггеров, соединенных первыми входами с о выходами соответствующих элементов ИЛИ, вторыми входами - с вторым входом логического компаратора...
    >
SU823440863A 1982-05-20 1982-05-20 Логический компаратор дл контрол цифровых схем SU1048430A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823440863A SU1048430A1 (ru) 1982-05-20 1982-05-20 Логический компаратор дл контрол цифровых схем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823440863A SU1048430A1 (ru) 1982-05-20 1982-05-20 Логический компаратор дл контрол цифровых схем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1048430A1 true SU1048430A1 (ru) 1983-10-15

Family

ID=21012697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823440863A SU1048430A1 (ru) 1982-05-20 1982-05-20 Логический компаратор дл контрол цифровых схем

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1048430A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. Аллеи Д. Р. Логический тестер . цл аифровых интегральных схемных плат. - Электроника, 1973, Jsfe 23, с. 29-36. 2. Авторское свицетельство СССР кл. G 01 R 31/28, 1979 (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5239191A (en) Semiconductor wafer
US7579689B2 (en) Integrated circuit package, and a method for producing an integrated circuit package having two dies with input and output terminals of integrated circuits of the dies directly addressable for testing of the package
SU1048430A1 (ru) Логический компаратор дл контрол цифровых схем
EP0438127B1 (en) Semiconductor wafer
DE3686989D1 (de) Verminderung des rauschens waehrend des pruefens von integrierten schaltungschips.
EP0317578A4 (en) THREE-LEVEL SWITCH TEST DEVICE.
CN114076901B (zh) 一种电源模块输出纹波自动化测试系统及方法
JP2002071755A (ja) 半導体試験装置
KR200175408Y1 (ko) 웨이퍼 테스트용 기판
US20040193978A1 (en) Parallel testing of integrated circuits
KR100257160B1 (ko) 번인 테스트 보드
JPH03252572A (ja) 回路基板テストフィクスチャ
CN219496488U (zh) 阻抗测试电路及装置
CN219225013U (zh) 数字板卡通道电平精度测试装置及测试机
US6492824B1 (en) Adapter base for receiving electronic test objects
RU1780054C (ru) Устройство дл контрол монтажа печатных плат
SU947974A1 (ru) Контактное устройство дл контрол интегральных схем на подложке
JP2647209B2 (ja) 電気回路の試験方法
WO1990013821A1 (en) A method and an apparatus for testing the assembly of a plurality of electrical components on a substrate
RU1837290C (ru) Устройство дл контрол парафазных логических блоков
SU1022080A1 (ru) Устройство дл контрол монтажа
CN116184179A (zh) Jtag转接电路板
SU947789A1 (ru) Устройство дл контрол функционировани интегральных схем пам ти
US5600236A (en) Converter and digital channel selector
SU1064243A1 (ru) Устройство дл контрол полупроводниковых диодов