SU1038971A1 - Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors - Google Patents

Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors Download PDF

Info

Publication number
SU1038971A1
SU1038971A1 SU823395663A SU3395663A SU1038971A1 SU 1038971 A1 SU1038971 A1 SU 1038971A1 SU 823395663 A SU823395663 A SU 823395663A SU 3395663 A SU3395663 A SU 3395663A SU 1038971 A1 SU1038971 A1 SU 1038971A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
film
electrolyte
grooves
transparent base
jelly
Prior art date
Application number
SU823395663A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вячеслав Васильевич Коробов
Виктор Николаевич Петренко
Владимир Александрович Рождественский
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1209
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1209 filed Critical Предприятие П/Я А-1209
Priority to SU823395663A priority Critical patent/SU1038971A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1038971A1 publication Critical patent/SU1038971A1/en

Links

Landscapes

  • Adjustable Resistors (AREA)

Description

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использова!но при изготовлении гибридно-пленочных микросхем на этапе подгонки их резисторов. 5The invention relates to microelectronics and can be used in the manufacture of hybrid-film microcircuits at the stage of fitting their resistors. 5

Известно устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов, содержащее рабочий электрод и электролит [1 ].A device for fitting the resistance of film resistors containing a working electrode and an electrolyte [1].

Недостаток известного устройства состоит в необходимости индивидуальной установки игл-электродов на контактные площадки.A disadvantage of the known device is the need for individual installation of needle electrodes on the contact pads.

Наиболее близкой пЪ технической сущности к изобретению является зон- 15 довая головка для установок контроля и измерения схем, содержащая эластичное прозрачное основание с нанесен· , ными на него пленочными измерительны* ми контактами с микронаконечника- 20 МИ [ 2 ].The closest technical essence to the invention is the probe head for monitoring and measuring systems, containing an elastic transparent base with film measuring contacts applied to it with a micro tip of 20 MI [2].

Недостатком указанного устройства является невозможность осуществле* ния подгонки сопротивления резисторов электролитическим способом непо- 25 средственно в процессе контроля.The disadvantage of this device is the impossibility of * fitting the resistance of the resistors by the electrolytic method directly in the control process.

Цель издбретения - расширение функциональных возможностей контактного устройства путем группового выполнения операций подгонки и конт- зо роля, снижения трудозатрат при совме·; щении устройства с микросхемой и трудоемкости изготовления контактного 1 устройства при его тиражировании, а'.·’ также повышение локальности подгонки резисторов. · ' < 'The purpose of the acquisition is to expand the functionality of the contact device by performing group operations of fitting and controlling the role, reducing labor costs when combined ·; connecting the device with the microcircuit and the complexity of manufacturing the contact 1 device during its replication, and '. ·' also increasing the locality of fitting resistors. ''<'

Поставленная цель достигается тем, что(устройство для контроля и подгонки пленочных резисторов, содержащее эластичное прозрачное основание с -разчещенными на одной его стороне пле- . ночными измерительными контактами с микронаконечниками, снабжено плоским катодом и размещенным между эластич-. ным прозрачным основанием и плоским катодом желеобразным электролитом, причем в эластичном прозрачном осно-This goal is achieved in that (a device for monitoring and fitting film resistors containing an elastic transparent base with taped measuring contacts with micro tips on one side of it is provided with a flat cathode and placed between the elastic transparent base and flat cathode jelly-like electrolyte, moreover, in an elastic transparent base

Claims (1)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯCONTROL DEVICE И ПОДГОНКИ ПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ МИКРОСХЕМ, содержащее эластичное прозрачное основание с размещёнными на одной его стороне пленочными измерительными контактами с микронаконечниками, отличающее’ с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, оно снабжено плоским катодом и размещенным между эластичным прозрачным основанием и плоским катодом желе'' образным электролитом, причем в элас·; тичном прозрачном основании между пленочными измерительными контактами. с микронаконечниками выполнены пазы, в которых частично размещен , желеобразный электролит.AND FITTINGS OF FILM RESISTORS OF MICROSHEMES, containing an elastic transparent base with film measuring contacts with micro tips placed on one side of it, characterized in that, in order to expand its functionality, it is equipped with a flat cathode and a jelly placed between the elastic transparent base and the flat cathode '' shaped electrolyte, and in elas ·; transparent transparent base between the film measuring contacts. with micro-tips, grooves are made in which a jelly-like electrolyte is partially placed. 1 1038971 >1 1038971> вании между пленочными измерительными, контактами с микронаконечниками выполнены пазы, в которых частично размещен желеобразный электролит.In between the film measuring contacts with the micro tips, grooves are made in which a jelly-like electrolyte is partially placed. На чертеже представлено контактное устройство.The drawing shows a contact device. Устройство Состоит из эластичного прозрачного основания 1 с нанесенными на него пленочными измерительными контактами 2 с микронаконечниками 3 и пазами 4.The device consists of an elastic transparent base 1 with film measuring contacts 2 applied to it with micro tips 3 and grooves 4. Желеобразный электролит 5 с плог^ кими выступами 6, которые размещены в пазах .4, расположен между эластичным прозрачным основанием 1 и катодом 7.A jelly-like electrolyte 5 with flat protrusions 6, which are placed in the grooves .4, is located between the elastic transparent base 1 and the cathode 7. Контактное устройство используется следующим образом.The contact device is used as follows. Эластичное прозрачное основание 1 своими пазами 4 совмещается с контакт ными площадками 8 пленочных резисторов 9 микросхемы 10. В пазы плоскими выступами 6 устанавливается желеобразный электролит 5 и прижимается катодом 7.The elastic transparent base 1, with its grooves 4, is aligned with the contact pads 8 of the film resistors 9 of the microcircuit 10. A gelled electrolyte 5 is installed in the grooves with flat protrusions 6 and pressed by the cathode 7. При пропускании тока по цепи микронаконечник 3 контактная площадка 8 пленочный резистор. 9 * желеобразный электролит 5 ~ катод 7 происходит образование окисной пленки на поверхности пленочного резистора 9 и увеличение его сопротивления.When passing current through the circuit, the micro-tip 3 is a contact pad 8 is a film resistor. 9 * jelly-like electrolyte 5 ~ cathode 7, an oxide film forms on the surface of the film resistor 9 and its resistance increases. Электрическая схеме (не показана) может позволить производить подгонку как индивидуально, так и групповым способом.An electrical circuit (not shown) may allow fitting both individually and as a group. Использование контактного устройства позволяет расширить его функциональные возможности, повысить производительность подгонки и контроля пленочных резисторов микросхем за счет осуществления операций групповым методом, снизить трудозатраты на его изготовление при тиражировании, повысить локальность подгонки и контроля .The use of a contact device allows to expand its functionality, increase the performance of fitting and control of film resistors of microcircuits by performing operations by the group method, reduce labor costs for its manufacture during replication, and increase the locality of fitting and control.
SU823395663A 1982-02-08 1982-02-08 Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors SU1038971A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823395663A SU1038971A1 (en) 1982-02-08 1982-02-08 Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823395663A SU1038971A1 (en) 1982-02-08 1982-02-08 Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1038971A1 true SU1038971A1 (en) 1983-08-30

Family

ID=20997110

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823395663A SU1038971A1 (en) 1982-02-08 1982-02-08 Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1038971A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР W 351250, кл. Н 01 С 17/26, 1972. 2. Авторское свидетельство СССР № 30162, кл. G 01 R 1/20, Н 01 С 17/00, 1969.. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4873974A (en) Neutral electrode for a high-frequency surgical instrument
SU1038971A1 (en) Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors
CN220693109U (en) Battery piece test board structure
JPH09204939A (en) Conductive contact pin
US6241664B1 (en) Needle and needle probe
CN113777536A (en) Testing jig, testing device and testing method for electrode patches
CN207924084U (en) A kind of test fixture of the pcb board with stamp hole
JPH05240877A (en) Prober for measuring semiconductor integrated circuit
JPS6361965A (en) Method and device for inspecting pattern substrate
CN216351005U (en) Quick testing arrangement of piezo-resistor chip
JPS6080772A (en) Probe needle
JPS6225433A (en) Semiconductor element characteristic measuring device
KR100313105B1 (en) Method for measuring contact resistance between liquid crystal display panel and drive device thereof
EP0919816A3 (en) Electrical connecting apparatus
CN217213020U (en) Chip test structure
CN216981064U (en) Fixing platform for cable test
JPS6236137Y2 (en)
JPH0498779A (en) Ic socket
JPS5917259A (en) Method for measuring semiconductor element
JPH04206752A (en) Inspecting device for surface-mounting type ic
JPS57154069A (en) Measuring device for electric resistance
JPH07245330A (en) Integrated circuit evaluating device
SU995000A2 (en) Measuring mercury probe
SU1070027A1 (en) Unit for monitoring pressure and current values in resistance spot-welding machines
JPH02108974A (en) Probe for substrate