SU1038971A1 - Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors - Google Patents
Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors Download PDFInfo
- Publication number
- SU1038971A1 SU1038971A1 SU823395663A SU3395663A SU1038971A1 SU 1038971 A1 SU1038971 A1 SU 1038971A1 SU 823395663 A SU823395663 A SU 823395663A SU 3395663 A SU3395663 A SU 3395663A SU 1038971 A1 SU1038971 A1 SU 1038971A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- film
- electrolyte
- grooves
- transparent base
- jelly
- Prior art date
Links
Landscapes
- Adjustable Resistors (AREA)
Description
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использова!но при изготовлении гибридно-пленочных микросхем на этапе подгонки их резисторов. 5The invention relates to microelectronics and can be used in the manufacture of hybrid-film microcircuits at the stage of fitting their resistors. 5
Известно устройство для подгонки сопротивления пленочных резисторов, содержащее рабочий электрод и электролит [1 ].A device for fitting the resistance of film resistors containing a working electrode and an electrolyte [1].
Недостаток известного устройства состоит в необходимости индивидуальной установки игл-электродов на контактные площадки.A disadvantage of the known device is the need for individual installation of needle electrodes on the contact pads.
Наиболее близкой пЪ технической сущности к изобретению является зон- 15 довая головка для установок контроля и измерения схем, содержащая эластичное прозрачное основание с нанесен· , ными на него пленочными измерительны* ми контактами с микронаконечника- 20 МИ [ 2 ].The closest technical essence to the invention is the probe head for monitoring and measuring systems, containing an elastic transparent base with film measuring contacts applied to it with a micro tip of 20 MI [2].
Недостатком указанного устройства является невозможность осуществле* ния подгонки сопротивления резисторов электролитическим способом непо- 25 средственно в процессе контроля.The disadvantage of this device is the impossibility of * fitting the resistance of the resistors by the electrolytic method directly in the control process.
Цель издбретения - расширение функциональных возможностей контактного устройства путем группового выполнения операций подгонки и конт- зо роля, снижения трудозатрат при совме·; щении устройства с микросхемой и трудоемкости изготовления контактного 1 устройства при его тиражировании, а'.·’ также повышение локальности подгонки резисторов. · ' < 'The purpose of the acquisition is to expand the functionality of the contact device by performing group operations of fitting and controlling the role, reducing labor costs when combined ·; connecting the device with the microcircuit and the complexity of manufacturing the contact 1 device during its replication, and '. ·' also increasing the locality of fitting resistors. ''<'
Поставленная цель достигается тем, что(устройство для контроля и подгонки пленочных резисторов, содержащее эластичное прозрачное основание с -разчещенными на одной его стороне пле- . ночными измерительными контактами с микронаконечниками, снабжено плоским катодом и размещенным между эластич-. ным прозрачным основанием и плоским катодом желеобразным электролитом, причем в эластичном прозрачном осно-This goal is achieved in that (a device for monitoring and fitting film resistors containing an elastic transparent base with taped measuring contacts with micro tips on one side of it is provided with a flat cathode and placed between the elastic transparent base and flat cathode jelly-like electrolyte, moreover, in an elastic transparent base
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823395663A SU1038971A1 (en) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823395663A SU1038971A1 (en) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1038971A1 true SU1038971A1 (en) | 1983-08-30 |
Family
ID=20997110
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823395663A SU1038971A1 (en) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1038971A1 (en) |
-
1982
- 1982-02-08 SU SU823395663A patent/SU1038971A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Авторское свидетельство СССР W 351250, кл. Н 01 С 17/26, 1972. 2. Авторское свидетельство СССР № 30162, кл. G 01 R 1/20, Н 01 С 17/00, 1969.. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4873974A (en) | Neutral electrode for a high-frequency surgical instrument | |
SU1038971A1 (en) | Device for checking and adjustment of micro circuit film resistors | |
CN220693109U (en) | Battery piece test board structure | |
JPH09204939A (en) | Conductive contact pin | |
US6241664B1 (en) | Needle and needle probe | |
CN113777536A (en) | Testing jig, testing device and testing method for electrode patches | |
CN207924084U (en) | A kind of test fixture of the pcb board with stamp hole | |
JPH05240877A (en) | Prober for measuring semiconductor integrated circuit | |
JPS6361965A (en) | Method and device for inspecting pattern substrate | |
CN216351005U (en) | Quick testing arrangement of piezo-resistor chip | |
JPS6080772A (en) | Probe needle | |
JPS6225433A (en) | Semiconductor element characteristic measuring device | |
KR100313105B1 (en) | Method for measuring contact resistance between liquid crystal display panel and drive device thereof | |
EP0919816A3 (en) | Electrical connecting apparatus | |
CN217213020U (en) | Chip test structure | |
CN216981064U (en) | Fixing platform for cable test | |
JPS6236137Y2 (en) | ||
JPH0498779A (en) | Ic socket | |
JPS5917259A (en) | Method for measuring semiconductor element | |
JPH04206752A (en) | Inspecting device for surface-mounting type ic | |
JPS57154069A (en) | Measuring device for electric resistance | |
JPH07245330A (en) | Integrated circuit evaluating device | |
SU995000A2 (en) | Measuring mercury probe | |
SU1070027A1 (en) | Unit for monitoring pressure and current values in resistance spot-welding machines | |
JPH02108974A (en) | Probe for substrate |