SU1026165A1 - Запоминающее устройство с автономным контролем - Google Patents

Запоминающее устройство с автономным контролем Download PDF

Info

Publication number
SU1026165A1
SU1026165A1 SU823409959A SU3409959A SU1026165A1 SU 1026165 A1 SU1026165 A1 SU 1026165A1 SU 823409959 A SU823409959 A SU 823409959A SU 3409959 A SU3409959 A SU 3409959A SU 1026165 A1 SU1026165 A1 SU 1026165A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
outputs
output
block
gates
Prior art date
Application number
SU823409959A
Other languages
English (en)
Inventor
Павел Павлович Урбанович
Original Assignee
Минский радиотехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Минский радиотехнический институт filed Critical Минский радиотехнический институт
Priority to SU823409959A priority Critical patent/SU1026165A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1026165A1 publication Critical patent/SU1026165A1/ru

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО С АВТОНОМНЬИ КОНТРОЛЕМ, содержащее накопитель , числовые шины которого сое- динены с выходами дешифратора адреса строк, а выходные шины - с информационными входами первого блока считывани , выходами первых вентилей и информационными входс1ми второго блока считывани , выходами вторых вентилей соответственно, первые и .вторые входы первых и вторых вентилей: подключены к шинам раэрешени  записи и управлени , третьи их входы к шине записи и выходам блока кодировани  соответственно, четвертые входы первых вентилей сй заны с выЕшл;; ходами дешифратора адреса разр дов; управл ющими входами первого блока считывани  и первыми управл йщими входами выходного блока, выходы второго блока считывани  соединены спервыми входами первых сумматоров по модулю два, выходы которых  вл ютс  входами блока анализа отказов, выходами соединенного с первыми входами вторых сумматоров по модулю два, вторые входы вторых сумматоров по модулю два соединены с первыми выходами первого блока считывани , а выходы вторых сумматоров по модулю два св заны с информационными вхо-, дами выходного блока, вторые управ-i л кадие входы которого, соединены с § шинами разрешени  записи, управлени  и записи, от ли чаю щ е е с   тем, что, с целью упрощени  устройства и повышени  его надежности , в него введены третьи вентили , первые входы которых подключе§ ны к выходным шинамг-дешифратора адреса разр дов, вторые входы третьих вентилей соединены с выходом третьего сумматора по модулю два, и второй входы которого соединены o с шиной записи и вторым выходом первого блока считывани  соответ л ственно, выходы третьих вентилей подключены к вторым входам peijHCTсЬ ел ра, первые входы которого соединены с первыми выходами первого блока ; .считывани , а выходы его - к входам блока кодировани ,, выход которого подключен к вторым входам первых сумматоров по модулю два.

Description

Изобретение относитс  к вычисли тельной технике и может быть исполь зовано в электронной промышленности при изготовлении больших интегральны схем запоминающих устройств (БИС ЗУ Устройство целесообразно использовать при изготовлении БИС ЗУ, имею щих большую площадь кристаллов, где требуетс  увеличить выход правильно функционирующих устройств, а также при создании систем, пам ти, удовлетвор ющих заданному уровню надежности хранени  информации-. Известны полупроводниковые ЗУ, ко торые содержат накопитель и схемы ло гики обрамлени , позвол ющие производить обращение при записи и считывании информации к одному или к нескольким элементам пам ти ЭП накопител  С 1 . Однако работоспособность таких устройств нарушаетс  при отказах ЭП накопител . Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  запоминающее устройство с автономным контролем, содержащее накопитель, числовые шины которого соединены с выходами дешифратора адреса строк, а выходные, шины - с информационными входами первого блока считывани , выходами первых-вентилей и информационными входами второго блока считывани , выходами вторых вентилей соответственно, первые и вторые входы первых и вторых вентилей подключены к шинам разрешени  записи и управлени , третьи входы их - к шине записи и выходам блока кодировани  соответственно, четвертые входы первых вентилей св заны с выходами дешифратора адреса разр дов, управл ющими входами первого блока считывани  и первыми управл ющими входами выходного блока, выходы второго блока считывани  соединены с первыми входами- первых сумматоров по 1иодулю два, выходы которых  вл ютс  входами блока анализа отказов, выходами соединенного с пер выми входами вторых сумматоров по модулю два, вторые входы вторых сумматоров по модулю два; соединены с первыми выходами первого блока считывани , а выходы вторых сумматоров по модулю два св заны с информационными входами выходного блока, вторые управл ющие входы которого соединены с шинс1ми разрешени  записи, управлени  и записи 2J. В устройстве при записи информации в накопитель первый блок кодиро вани  вырабатывает г дополнительных Л проверочных) разр дов в соответстВИИ с примен емым кодом. Например, при использовании кода Хемминга, ис правл ющего одиночные ошибки, г вы бираетс  из услови  k r-.IIJJ где k соответствует числу информационных разр дов. Далее эти разр дов записываютс  в накопитель. При считывании информации второй блок кодировани  по считанным k разр дам (в слове могут быть ошибки) г вновь вырабатывает г (при наличии ошибок вектора г и г отличаютс ) проверочных разр дов, которые сравниваютс  с j разр дами, хранившимис  в дополнительных ЭП строки. В результате этого сравнени  вырабатываетс  проверочный вектор (синдром, анйлиз которого блоком определени  местоположени  отказа позвол етустановить отказавший дефектный разр д и исправить его. Использование двух блоков кодировани  - записываемого и считываемого слов - приводит к дополни: тельному увеличению площади кристалла , что, в свою очередь, вызывает по вление на кристалле дополнительных дефектов в процессе его производства и отказов при эксплуации . В качестве базового объекта выбрана БИС ЗУ типа К541РУ1, выпускаема  отечественной промышленностью. Это устройство емкостью 4 Кбит 1 позвол ет производить обращение.к любому одному ЭП накопител  дл  записи или считывани  информации t JОднако это устройство не может быть использовано, если при .его производстве возникли единичные дефекты ЭП. Кроме того, такие устройства станов тс  неработоспособными при возникновении отказов ЭП в процессе эксплуатации БИС ЗУ. Цель изобретени  - упрощение устройства и повьошение его надежности . Поставленна  цель достигаетс  тем, что в запоминающее устройство с автономным контролем, содержащее накопитель, числовые шины кото-т рого соединены с выходами дешифра- : тора адреса строк, а выходные шины с информационными входами первого блока считывани , выходами первых вентилей и информационными входами второго блока считывани , выходами .вторых вентилей соответственно,: первые и вторые входы первых и вторых вентилей подключены к шинам разре-. шени  записи и управлени , третьи их входы - к шине записи и выходам блока кодировани  соответственно, четвертые выходы первых вентилей св заны с выходами дешифратора адреса разр дов управл ющими входами первого блока считывани  и первыми управл ющими входами выходного блока, выходы второго блока считывани  соединены с первыми вх.одами первых сумматоров по модулю два, выходы которых  вл ютс  входами блока анализа отказов, выходами соединенного с первыми входами вторых сумматоров по модулю два, вторые выходы вторы сумматоров по модулю два соединены с первыми выходами первого блока считывани , а выходы вторых суммато ров по модулю два св заны с информационньми входами выходного блока вторые управл ющие входы которого соединены с шинами разрешени  записи , управлени  и записи, введены третьи вентили, первые входы которы подключены к выходным шинам дешифра тора адреса разр дов, вторые входы третьих вентилей соединены с выходом третьего сумматора по модулю два, первый и второй входы которого соединены с итной записи и вторым выходом первого блока считывани  соответственно, выходы третьих вентилей подключены к вторым входам регистра, первые входу которого сое динены с первыми выходами первого блока считывани , а выходы его - к входам блока кодировани , выходы которого подключены к вторым входам первых сумматоров по модулю два. Это позвол ет корректировать в каждой строке накопител  один отказ ;{дефект в режиме считывани  информации при невысокой .сложности схем коррекции.. На фиг. 1 изображена функциональ на  схема устройства} на фиг. 2 блок анализа отказов. Устройство содержит накопитель 1 числовые шины 2 которого соединены с выходами дешифратора 3 адреса строк. Основные 4 и дополнительные 5 выходные шины накопител  1 соединены соответственно с выходами первых вентилей 6, информационными вхо дами первого блока 7 считыванид и выходами вторых вентилей 8, а также с инфбрмационными входами второго блока 9 считывани . Первые и вторые входы первых 6 и вторых 8 вентилей соединены соответственно с шинами разрешени  записи 10 и управлени  1 а третьи их входы - с шин.ой 12 записи , первым входом третьего сум:матора 13 по модулю два и с выходами блока 14 кодировани , св занны ми также с вторнми входами первых сумматоров 15 по модулю два. Четвер тые входы первых вентилей 6 св заны выходами 16 дешифратора 17 адреса разр дов, управл ющими входами перв го блока 7 считывани  и первыми управл ющими входами выходного блока 18, а также с вторыми входами треть вентилей 19, первые входы которых соединены с выходами третьего сумматора 13 по модулю два. Выходы тре их вентилей 19 соединены с вторыми 20 входами регистра 21, первые входы 22 которого подключены к первым выходам первого блока 7 считывани  вторым входам вторых сумматоров 23 по модулю два, второй выход 24 первого блока 7 считывани  св зан с вторым входом третьего сумматора 13 по модулю два. Выходы регистра 21  вл ютс входами блока 14 кодировани . Выходы второго блока 9 считывани  соединены с первыми входами первых сумматоров 15 по модулю два, выходами св занных с входами 25 блока 26 анализа отказов. Выходы 27 блока 26  вл ютс  первыми входами вторых сумматоров 23 по модулю два. Вы|Ходы сумматоров 23 соединены с информациониыми входами 28 выходного блока 18, выход 29 которого  вл етс  выходом устройства, а сигналы шин 10-12  вл ютс  вторьми управл ющими входами выходного блока. . Пример реализации блока 26 анализа отказов показан на фиг. 2. Схема представл ет собой програм/мируемУю логическую матрицу (ПЛМ, можно использовать вместо ПЛМ, ПЗУ) состо щую.из инверторов 30 и вентилей (не показаны). К вентил м осуществл етс  подключение (условно обозначено кружочком} 31 либо пр мого , либоИнвертированного входного разр да 25. Таким образом, к каждому вентилю подключены 1 сигналов. Принцип работы устройства основан на свойстве кода Хемминга/ состо щем в том, что при любой последовательности расположени  вектор-столбцов в проверочной матрице .3 поразр дНое сравнение наборов контрольных разр дов ( V указывает местоположение отказа, если он есть. Устройство работает следующим образом. В режиме записи информации на входы дешифратора 3 адреса строк поступает код адреса опрашиваемой строки, в результате чег возбуждаетс  одна из Ун выходных шин 2 деш ифратора 3, т.е. выбираетс  одна из строк. Информационные разр ды (К ) слова считываютс  по шинам 4 и поступают в первый блок 7 считывани  и дальше с , выходов блока 7 поступают на первые 22 входы регистра 21. Таким образом, 1l разр дов опрашиваемой строки записываютс  в регистр 21. Одновременно с этим на входы дешифратора 17 адреса разр дов поступает код сшреса разр да, на пересечении которого со строкой находитс  выбираемый ЭП. Сигнал с одной, из возбужденных шин 16 дешифратора 17, поступа  на один из управл ющих входов первого блока 7 считывани , вызывает по вление на втором 24 выходе блока 7 ин .фОЕадации 41 или 0), хран щейс  в опрашиваемом ЭП. Этот сигнал поступает на второй вход третьего сумматора 13 по модулю два и сравниваетс  с сигналом, установленным дл  Записи на шине 12 запиСи.Если срав . ниваемые сигналы отличаетс , тог на выходе третьего сумматора 13 по вит с  единичный сигнал. Этот сигнал через третий вентиль 19, на первый вход которого действует единичный сигна л с возбужденной шины дешифратора 17 адреса разр дов поступит на второй вход 22 соответствующего раз р да регистра 21 и инвертирует хран щийс  в нем символ. Если же записываемый в ЭП и хран щийс  в нем символы совпадают, то изменени  информации в регистре не происходит. На основании ( информационных символов V хран щихс  в регистре 21, блок 14 -кодировани  вырабатываетТ проверочных символов, которые поступают на третьи входы вторых вентилей 8, а на третьих входах первых вентилей установлен сигнал 12 записи. После, этого на шине 10 по вл етс  сигнал разрешени  записи информации в эй, наход щийс  на пересечении выбранных строки и разр да , из выбранных ЭП, а также в И дополнительных ЭП происходит запись информации. На этом цикл записи закончен. В режиме считывани  сигналы на шинах 10 и 12 отсутствуют, вёнтили и 8 заперты. В соответствии с кодом адреса опрашиваемой строки возбуждаетс  одна из шин 2 дешифратора 3 и все ЭП этой строки подключаютс  соответственно Через основные 4 li дополнительные 5 выходные шины на копител  1 к первому 7 и второму 9 блокам считывани . По считанным it информационным символам, поступающи по первым входам 22 в регистр 21, в блоке 14 кодировани  вырабатываютс  И (г--Гг однако векторы) и г м гут отличатьс ) контрольных символов . Эти символы поступают на входц первых сумматоров 15 и сравниваютс  в них поразр дно с к сим волами, поступающими на первые входы сумматоров 15. Если в считанном сло ве {и его разр дах) нет отказов, то на выходах первых сумматоров 15 буд нулевые символы синдром равен нулю В противном случае синдром нулю не равен. Синдром по входам 25 поступа ет в блок 26 анализа отказов. В бло ке 26 Д фиг. 2) запрограммированы It двоичных слов по у разр дов соответствующие вектор-столбцам матрицы Ну,|К примен емого кода. Так1Ш образом, синдром, сформулированный первыми сумматорами 15, сравниваетс  с кащцлм из fc векторов, хран щихс  в ПЛМ. При совпадении с одним из векторов s считанном слове есть ошибка) на соЬтветствующем выходе 27 сформируетс  единичный сигнал, и таким образом, однозначно установитс местоположение отказавшего разр да, Далее этот .единичный сигнал поступает на первый вход одного из вторых сумматоров 23 по модулю два, второй вход которого св зан с неверно считанным информационным разр дом, и инвентирует ошибочный разр д на правильный . Скорректированное слоцо поступает на информационные входы 28 выходного блока 18. На первые управл ющие входы выходного блока 18 поступает сигнал с возбужденной шины 16 дешифратора 17 адреса разр дов и из {( информационных разр дов на выход 29 устройства поступает символ, расположенный в ЭП, местоположении которого определ етс  кодами адресов строки и разр да. Естественно, что при определенном считываний информа1Дии из. ЗУ люба  ошибка, имеюща с  . в 1 -разр дном слове, будет коррек- i тироватьс  вНе зависимости от того, считываетс  из устройства этот разр д или другой.. .Рассмотрим дл  примера запись и считывание слова А 1010 ( 4 .{записываетс  и считываетс  симврл , О во второй разр д строки). Дл  обнаружени  и исправлени  ошибки используем код Хемминга с проверочной матрицей-H-J,4 , т.е. У , 3: 1 1 01 10 О Н 1 01 1 О 1 ,0 О 11 1 О 01 . С с с с с с с На основании этого кода блок 16 кодировани  вырабатывает 3 проверочных символа Cg- С ji по алгоритму. С Cjj - Cij, - С4 сложение Cfc . С - С - С4 . ведетс  GI Cj. 7 Cj С4 ПО модулю два в :накопитель запишетс  слово Б 1010 .101. При считывании информации на первых выходах первого блока 7 считывани  будет слово А 1110 (сшгабка во втором разр де). Вновь сформированные разр дов рОО) сравниваютс  на первых сумматорах 15 поразр дно с г символами (lOl/. Синдром ( 6 101} поступает на входа ; блока 25, в котором хран тс  ( вектор-Столбцы матрицы Н-. Сийдром совпадает с вторым С вейтором, и на; Втором выходе 27 блока 26 будет единичный сигнал, который на втором сумматоре 23 инвертирует единичный Символ на нулевой. Таким образом, на выходе 29 устройства,будет правильный двоичный симврл О. Если в считанном слове ошибок нет или искажен один из символов, то синдром не совпадает ни с одним из вектор-столбцов, хран щихс  в ПЛМ и все, л символов будут правильными -. Предлагаемое .устройство вьшолн ет те е функции, что и известное обнаруживает и исправл ет единичные дефекты в словах, возникшие по причине отказов ЭП в процессе производства ВИС ЗУ либо его. эксплуатации . Однако предлагаемое устройство проще за счет того, что кодирование информации и в режиме записи, и в режиме сч:итывани  осуществл етс ; одним и тем же блоком кодировани / в то врем  как в известном устройстве дл  этих целей используютс  два блока кодировани . Анализ, приведенный в описании С2 устройства, показывает , что дл  БИС ЗУ емкостью 16 Кбит (г 8) под дополнительные ЭП, схемы кодировани , обнаружени  и исправлени  ошибок необходимо увеличить площадь кристалла приблизительно на 18%. Причем 8-10% (из 18%7 заиимают схемы кодировани  и определени  местоположени  оошбки. Даже предварительные подсчеты показывают что длА формировани  г проверочнь х разр дов кодом Хемминга-. (самым простым и эффективным 3 нужно около двухйходовых сумматоров по модулю два. Это значит, что дл  БИС ЗУ емкостью 16 КБИТ (128-128) необходимо 8 64 - 512 сумматоров дл 
реализаций одного блока кодировани  что потребует увеличени  площади кристалла на 4-5%. О7метим, что в предлагаемом устройстве формирование блока определени  местоположени  отказов в виде ПЛМ или ПЗУ не требует проведени  дополнительных технологических операций по сравнению с базовым процессом и практически не вли ет на выход грл;ных ЗУ из-эа усложнени  техпроцесса.
Таким образом, использование лии1ь одного блока кодировани  значительно улучшает известное устройство, уменьшает площадь кристалла, что приво;фЕ1Т k повышению надежности всего устройства.
В сравнении с базовым объектом предлагаемое устройство позвол ет использовать кристаллы БИС ЗУ с единичными дефектсши производства и исправл ть отказы, возникающие при использовании ВИС. 7аким образом, надежность предлагаемого устройства выше, чем базового.
Фиг.1
19
ut.i

Claims (1)

  1. ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО С АВТОНОМНЫМ КОНТРОЛЕМ, содержащее на.*··' копитель, числовые шины которого сое·* динены с строк, а циоиными тывания, выходами дешифратора адреса выходные шины - с информавходами первого блока счивыходами первых вентилей и информационными входами второго блока считывания, выходами вторых вентилей соответственно, первые и вторые входы первых й вторых вентилей подключены к шинам разрешения записи и управления, третьи их входы к шине записи и выходам блока кодирования соответственно, четвёртые входы первых вентилей связаны с выдва связаны с информационными вхо-, дами выходного блока, вторые управляющие входы которого, соединены с шинами разрешения записи, управления й записи, отличающееся тем, что, с целью упрощения устройства и повышения его надежности , в него введены третьи вентили, первые входы которых подключены к выходным шинам'-дешифратора адреса разрядов, вторые входы третьих вентилей соединены с выходом третьего сумматора по модулю два, первый и второй входы которого соединены с шиной записи и вторым выходом первого блока считывания соответственно, выходы третьих вентилей подключены к вторым входам регистра, первые входы которого соединены с первыми выходами первого блока · .считывания, а выходы его - к входам 'блока кодирования,, выход которого подключен к вторым входам первых сумматоров по модулю два.
    Р
    СЛ >
    мационных разрядов. Далее эти пЕк+г ( разрядов записываются в накопитель. При считывании информации второй блок кодирования по считанным к' разрядам. (в слове могут быть ошибки) г вновь вырабатывает г' (при наличии ошибок вектора г и г f отличаются) проверочных разрядов, которые сравниваются с г разрядами, хранившимися в дополнительных ЭП строки. В результате этого сравнения вырабатывается проверочный вектор (синдром), анализ которого блоком определения местоположения отказа позволяет установить отказавший дефектный 15 разряд и исправить его.
    Использование двух блоков кодирования - записываемого и считываемого слов - приводит к дополни* тельному увеличению площади таила, что, в свою очередь, вает появление на кристалле тельных дефектов в процессе производства и отказов при эксплуации.
    В качестве базового объекта выбрана БИС ЗУ типа К541РУ1, выпускаемая отечественной промышленностью. Это устройство емкостью 4 Кбит X1 позволяет производить обращение .к любому одному ЭП накопителя для записи или считывания информации £ 4 ].
    Однако это устройство не может быть использовано, если при его производстве возникли единичные дефекты ЭП. Кроме того,· такие устройства становятся неработоспособными при возникновении отказов ЭП в процессе эксплуатации БИС ЗУ.
    Цель изобретения - упрощение устройства и повышение его надежности.
SU823409959A 1982-03-16 1982-03-16 Запоминающее устройство с автономным контролем SU1026165A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823409959A SU1026165A1 (ru) 1982-03-16 1982-03-16 Запоминающее устройство с автономным контролем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823409959A SU1026165A1 (ru) 1982-03-16 1982-03-16 Запоминающее устройство с автономным контролем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1026165A1 true SU1026165A1 (ru) 1983-06-30

Family

ID=21002062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823409959A SU1026165A1 (ru) 1982-03-16 1982-03-16 Запоминающее устройство с автономным контролем

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1026165A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Микроэлектроника. Сб. статей под ред. Ф.А;Лукина. М., Советское радио, 1972, вып. 5, с. 123-150. 2. Патент DE 2549392, кл. G 11 С 7/00, опублик. 1977(прототип) . 3- Мак-Виль ме ф, Слоэн Н. Теори кодов, исправл ющих ошибки, М., Св зь, 1973, с. 33-36. 4. Аналогоьые и цифровые интег . ральные схемы Под. ред. С.В.Якубова кого, М., Советское радио, 1979, с. 140. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4730320A (en) Semiconductor memory device
US4612640A (en) Error checking and correction circuitry for use with an electrically-programmable and electrically-erasable memory array
US4661955A (en) Extended error correction for package error correction codes
US4712216A (en) Method and device for correcting errors in memories
US7188296B1 (en) ECC for component failures using Galois fields
US5768294A (en) Memory implemented error detection and correction code capable of detecting errors in fetching data from a wrong address
EP1069503A2 (en) Semiconductor memory device with an ECC circuit and method of testing the memory
US4961193A (en) Extended errors correcting device having single package error correcting and double package error detecting codes
JPH02278449A (ja) フオールト・トレラント・メモリ・システム
JPS6061837A (ja) エラ−訂正装置
US5751745A (en) Memory implemented error detection and correction code with address parity bits
US4912710A (en) Self-checking random access memory
JPS6236317B2 (ru)
US5761221A (en) Memory implemented error detection and correction code using memory modules
JPS6237422B2 (ru)
US7181655B2 (en) Method and circuit arrangement for memory error processing
SU1026165A1 (ru) Запоминающее устройство с автономным контролем
JPH0831196A (ja) 半導体メモリ
JPS6085627A (ja) 巡回完全2進符号のデコ−ダ
KR101147357B1 (ko) 반도체 메모리 장치
JPS6325439B2 (ru)
SU1111206A1 (ru) Оперативное запоминающее устройство с коррекцией информации
SU1367046A1 (ru) Запоминающее устройство с контролем цепей обнаружени ошибок
SU1725261A1 (ru) Запоминающее устройство с автономным контролем
SU1161994A1 (ru) Запоминающее устройство с автономным контролем