Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в металлургической промышленности дл контрол неплоскостности листов и леит в потоке их изготовле ни и сортировки на металлических машинах. Известен способ определени неплоскостности , основанный на ощупывании .поверхности листов с помощью оптических измерителей и заключающийс в том, что освещают движущийс лист с помощью специального осветител проектирующего на лист полоску пр мой линии света, и по искажению проектируемой пр мой полосы света на искривленной поверхности пол сы суд т о ее неплоскостности 1. Однако отраженный от плавной переходной границы неплоскостности свет дает размытую картину изображени проектируемой полоски света на листе, что значительно снижает точност определени неплоскостности и зоны ее распро транени этим способом. Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс способ определени неплоскостности и гоны ее распростраиени на металлическом листе, заключающийс в том что располагают над испытуемой поверхностью линейный растр, освещают его под острым углом, фиксируют муаровую картину, по которой суд т о неплоскостности и .зоне ее распрост ранени на металлическом листе. . Известный способ обладает значительно большей разрешг1ющей способностью, чем способ наблю дени искаженной картины, спроектированной на поверхности, листа полоски света, дает четг кую границу распространени неплоскостности и позвол ет измер ть амплитуду дефекта неплоскостности 0,02 мм 2. Однако известньш способ измерени неплоскостности может быть ислользован дл контрол листов, класс обработки которых не ниже R 0,05, T. е. обладаюшлх зеркальной поверхностью . Если класс обработки ниже R 0,1, ID на поверхности такого металлического листа из-за рассеивани света на неровное х муаровые картины получаютс значительно менее качественные или не наблюдаютс вовсе. Поскольку в общем выпуске листов листы, обработанные по RX 0,05 классу чистоты, составл ют незиач1дельную долю (3-5%) (это листы дл « офсетной печати в полиграфии, дл дисков магнитной пам ти ЭВМ, дл масок кинескопов и некоторые другие), то использование известного способа на производстве сильно ограничена Таким образом, известный способ имеет ограни функЦионалыгые возможности. Целью изобретени вл етс расширение технологических возможностей, а именно воэ:-: можность определени неплоскостности листов с «шстотой поверхности до В 0,16i, т. е. с ма товой или гл нцевой поверхностью, а также возможность различени слабо вы вл емых дефектов неплоскостиобти иа листах с зеркальной поверхностью за счет повышени разрешающей способности. Поставленна цель достигаетс тем, что согласно способу определени неплоскостности и зоны ее распространени иа металлическом листе, заключающемус в том, что располагают над исследуемой поверхностью листа линейный растр, освещают его под острым углом, фиксируют муаровую картину, по которой суд т о неплоскостности и зоне ее распространени на металлическом листе, нанф т на растр со стороны фиксировани муаровой картины слой Люминофора, составл ющий ,1 толщины растра, а освещение производ т инфракрасными лучами. На чертеже изображена принципиальна схема устройства, реализующа предлагаемый способ. Устройство содержит Источник 1 инфракрас-, ного излучени , линейный растр 2, выполненный в виде пластинки из прозрачного материала с нанесенными на нем зачерненными полосами, причем линиатура растра расположена параллельно оси движени листа 3, слой 4 люминофора, блок 5 наблюдени и зеркальный прожектор. Способ осуществл етс следующим образом. Нид контролируемой поверхностью листа 3 параллельно плоскости его движени располага ют линейный растр 2. Над поверхностью растра 2 устанавливают источник 1 инфракрасного излу чени , который помещен в фокусе зеркального прожектора, благодар чему растр 2, освещаетс пучком параллельных света под острым углом к его поверхности. Свет от источи ника 1 инфракрасного излучени отражаетс от контролируемой поверхности листа 3 и попадает либо на зачерненную либо на прозрачную полоски растра 2 в месте фиксировани муаровой картины, либо попадает, либо нет на слой 4 люминофора, нанесенного сю стороны фиксировани муаровой картины, на растр 2. Полученную муаровую карпшу наблюдают визуально блоком 5 н.а6 1юдени (в данном случае глаз) црд углом 90° к поверхности растра 2. Если металлический истЗ не имеет дефекта иешюскостности, то муарова картина представл ет собой пр мые продольные линии с равным шагом. Когда контролируема поверхность листа имеет дефектнеплоскостности величиной А,, пр молинейность муаровых полос нарушаетс и они получают искривление в том месте, где поверхность имеет дефект. Таким образом муарова .картина отражает профиль неплрскосткости металла. Зна величину искривлени полосы А в месте дефекта, а также угол , под которым освещен растр 2, можно найти вел ч1гау дефекта Д по формуле А«А;| -tg ja . оксацй муаровой картины происходит на тонком cQpe 4 люминофора, {поэтому ркость четкость Муаровой картины значительно усиливаетс , пос кольку ркость свечени люмино; фора даже больше ркости свечени абсолютно адрного тела при той же температуре. В то же врем отражательна способность большинс тва пол юваиных металлов лежит в пределах 0,32-0,97, а дл матовых поверхностей или га нцевых состг1вл ет 0,,б от светимости абсолхшю черного тела. Пбс ольку большинство металлических листов имеют матовую или гл нцевую поверхность то, вь1брав дайну волны инфракрасного иэв1учёни 1, .мкм, можно наблюдать качественную ьоаровую картину, вто врем как в пределах, длин волн 0,4-0,76 мкм вообще йе наблюдают муаровую карпину, поскольку неровности поверхности поломы рассеивают видимьп1 свет. Соотношение толщины люминофора в пределах 0,05-ОД толщины растра 2 выбрано потому , что при значени х, меньших 0,05, свечение люминофора значительно ослабл етс , а при толщинах, превьпдаЮпщх 0,1, начинает сказыватьс дифракци , что размывает границы муаровых полос. Использование предлагаемого способа определени неплоскостносш и зоны ее распространени по сравнению с известным обеспечивает возможность контролировать неплоскостность листов с матовой или гл нцевой поверхностью, например использование люминофора на основе ZnS-Си, дает необычайно ркое свечение в видимой части спектра под действием инфракрасного облучени , что увеличивает «разрешающую спо собность , как минимум в 10 раз и примен инфракрасшлй источник излучени , обеспечивает ; зеркальность поверхности практически всех выпускаемых листов.