SE508822C2 - Förfarande och anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta - Google Patents
Förfarande och anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provytaInfo
- Publication number
- SE508822C2 SE508822C2 SE9700539A SE9700539A SE508822C2 SE 508822 C2 SE508822 C2 SE 508822C2 SE 9700539 A SE9700539 A SE 9700539A SE 9700539 A SE9700539 A SE 9700539A SE 508822 C2 SE508822 C2 SE 508822C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- image
- camera
- sub
- sample surface
- central unit
- Prior art date
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 44
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 3
- 241000109329 Rosa xanthina Species 0.000 description 31
- 235000004789 Rosa xanthina Nutrition 0.000 description 31
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 6
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 3
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 3
- 241000220317 Rosa Species 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- 238000012356 Product development Methods 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 235000011194 food seasoning agent Nutrition 0.000 description 1
- 238000011900 installation process Methods 0.000 description 1
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 1
- 230000001795 light effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000011165 process development Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
15 20 25 30 35 508 822 TEKNIKENS sTÅNDPUNK-r: Inom den fordonstillverkande industrin (bilindustrin) ställs idag allt högre krav på slutproduktens kvalitet, vilket har fått till följd att allt mera avancerade system för kvalitetskontroll och kvalitetsstyrning har tagits i bruk.
Såsom välbekant för fackmannen inom området, består en modern person- eller lastbil av en mångfald komponenter som härrör från olika produktionslinjer eller från olika leverantörer och som stegvis monteras ihop till ett fordon.
En del av' dessa komponenter utgörs av lackerade plåtkomponenter' vilka, i det fall att det rör sig' om synliga karosserikomponenter, i allmänhet poleras för att âstadkoma en jämn och glansig ytfinish. I vissa fall kan det även förekomma att komponenter av polymera material (olika plaster) poleras av samma anledning.
Oberoende av j. vilket skede av nwnteringsprocessen man befinner sig, uppstår ibland behovet av att kontrollera polerresultatet hos en komponent som i ett tidigare steg har polerats. Även i samband med produkt- eller processutveckling föreligger ett behov av att kunna kontrollera eller utvärdera ytbearbetningsresultat. En sådan utvärdering kan valet av exempelvis därvid vara vägledande vid ytbearbetningsutrustning, poleringsutrustning eller poleringsteknik. Även vid utveckling av nya färger och lacker är det av stor vikt att man kan sålla bort färger eller lacker i vilka det uppstår polerrosor i större utsträckning än vad som är acceptabelt. 10 15 20 25 30 35 508 822 3 Hittills har sådan kvalitetskontroll av polerade ytor i princip utförts genom manuell, visuell bedömning av polerade provbitar eller färdiga.polerade komponenter eller fordon.
En stor nackdel med sådan manuell, visuell bedömning av polerresultatet har varit att den är individberoende, d.v.s. den har endast kunnat utföras av erfaren personal med en mångårig erfarenhet av sådan bedömning.
En annan nackdel har varit att bedömningsresultaten ej har varit reproducerbara eller kvantifierbara och att resultaten dessutonl i hög grad har varit beroende av ljusförhållandena vid kontrollstationen. Den manuella, visuella bedömningen av polerresultatet har hittills mest fördelaktigt kunnat utföras utomhus och i strålande solsken.
En allmänt förekommande ytdefekt som kan uppstå i samband med ytbearbetning av olika komponenter är s.k. polerrosor.
Med "polerrosor" avses därvid, såsom tidigare nämnts, en viss typ av ytdefekter som uppstått vid polering eller annan liknande ytbearbetning, såsonxrubbing eller slipning.
Polerrosorna kan antaga flera olika former beroende på under vilka förhållanden de uppstått.
En typisk form av polerrosor yttrar sig sålunda som en s.k. holografisk bild. Med en holografisk bild förstås att bilden eller nönstret förefaller befinna sig under den polerade ytans plan när den betraktas från ett håll, medan samma bild förefaller befinna sig ovanför den polerade ytans plan när ytan betraktas från det motsatta hållet.
En annan vanligt förekommande form av polerrosor yttrar sig som ett suddigt polermönster i ytan när denna betraktas uppifrån. Ett sådant suddigt polermönster uppträder 10 15 20 25 30 35 508 822 4 vanligen tillsammans med polerrosor av den tidigare nämnda typen, d.v.s. holografiska bilder.
En tredje uttrycksform för polerrosor är skarpa, tunna repor vilka framträder tydligt när betraktelsevinkeln är vinkelrät mot reporna. Denna form av polerrosor kan uppträda ensamma eller tillsammans med polerrosor av de två ovannämnda typerna.
Gemensamt för alla olika former av polerrosor är att de är så gott som osynliga under "normala" belysnings- förhållanden, vilket försvårar detektering.
En orsak till att polerrosor uppstår är det ojämna anläggningstrycket som uppstår i olika rörelsemoment när en roterande polertrissa eller en polerduk med en roterande rörelse förs över den yta som poleras. Även slipning, rubbing, eller andra former av roterande eller oscillerande bearbetning kan ge upphov till polerrosor.
Polerrosor upptäcks otillfredsställande ofta först då det färdiga fordonet utsätts för starkt solljus, och syns bara då den polerade ytan betraktas ur en viss vinkel. Problemet är mer påtagligt vid fordon som lackats i mörka färgnyanser än för ljuslackerade fordon eftersom polerrosorna är mera framträdande på mörka ytor än på ljusa ytor. Eftersom huvuddelen av de ställen i exempelvis en monteringslinje, där ett behov av kontroll av polerresultatet föreligger är belägna inomhus har det hittills varit svårt att bestäma förekomsten av polerrosor innan fordonet varit färdigmonterat och kunnat köras ut för okulärbesiktning.
Således är det mycket svårt att fortlöpande kontrollera innan polerresultat hos individuella plåtkomponenter montering. 10 15 20 25 30 35 508 822 S Det är därför uppenbart att det sedan länge har funnits ett behov av en reproducerbar, kvantifierbar mätmetod för utvärdering av förekomsten av polerrosor eller andra likartade ytdefekter hos polerade eller på annat sätt ytbearbetade komponenter. En sådan mätmetod bör dessutom vara okänslig för de ljusförhållanden som råder vid kontrollstationen och bör förmå skilja polerrosor från vilka ej härrör från ytdefekter av andra typer ytbearbetningen.
REDOGÖRELSE FÖR UPPFINNINGEN:' Sålunda har föreliggande uppfinning som sitt syfte att tillhandahålla ett förfarande och en anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta, genom»optisk registrering med påföljande bildanalys och bildbehandling.
Detta syfte uppnås genom förfarandet och anordningen enligt uppfinningen.
Förfarandet enligt uppfinningen innefattar att åtminstone två delbilder registreras med minst en kamera under belysning av en provyta med ljus från en punktljuskälla eller från en ljuskälla för parallellt ljus, på ett sådant sätt att ljusets infallsvinkel i förhållande till nämnda registrerande kameras eller kamerors placering är olika för olika delbilder. delbilderna -i en centralenhet, varvid en differensbild Därefter behandlas de registrerade framställs genom att beräkna skillnaden mellan olika delbilder. Därvid är intensiteten hos nämnda framställda differensbild proportionell mot graden av ytdefekt på provytan.
Sålunda kan man exempelvis genom att med en kamera (exempelvis en elektronisk CCD-kamera) fotografera ytan under belysning med en första och därefter med en andra ljuskälla, och att därefter i en bildanalysator 10 15 20 25 30 35 508 822 6 bildbehandla de två delbilder som erhålls, subtrahera den ena delbilden från den andra, från den d.v.s. därigenom erhållna differensbilden skilja ut polerrosorna från övriga ytdefekter som ej härrör från ytbearbetningsoperationen.
Detta beror på att det alternerande ljuset med olika infallsvinkel ger upphov till ett optiskt fenomen som yttrar sig som om de synliga polerrosorna förefaller att flytta sig fram och tillbaka när de turvis belyses av respektive ljuskälla, medan övriga förekommande defekter, härrörande från exempelvis lacken eller plåten, förefaller ligga stilla. Detta fenomen gör det nöjligt att skilja polerrosorna från andra ytdefekter vilket naturligtvis är av stor vikt för att man skall kunna lokalisera orsaken till ett eventuellt kvalitetsproblem.
Vid utövande av uppfinningen kan uëtuppställningen för anordningen varieras på flera olika sätt så länge som ljusets infallsvinkel vid belysning av provytan är olika för olika delbilder i förhållande till den registrerande kameran eller kamerorna.
Sålunda kan innefatta användning av en enda ljuskälla men två kameror, eller mätuppställningen exempelvis användning av en ljuskälla och två bilder från samma kamera tagna med kameran i två olika positioner.
En annan alternativ mätuppställning är en rörlig ljuskälla som förflyttas nællan olika positioner för att erhålla olika infallsvinkel för ljuset vid upptagning av olika delbilder. I sådana fall kombineras den rörliga ljuskällan företrädesvis med en enda, stationär kamera men kan även kombineras med en eller flera stationära eller rörliga kameror. 10 15 20 25 30 35 508 822 7 Ljuskällorna sitter fördelaktigt parvis eller i grupper om flera än två stycken och belyser provytan från sidan med en vinkel som kan variera mellan O och 90 grader. Med användning av flera lampgrupper kan provytan omväxlande belysas från flera olika vinklar i horisontalled vilket möjliggör att provytan kan belysas från flera olika håll utan att vridas eller roteras.
Under vissa förhållanden kan det vara nödvändigt eller önskvärt att förflytta eller rotera provytan mellan olika delbilder. I sådana fall kan vid upptagning av olika delbilder med olika ljusinfallsvinklar erhållas genom att provytan förflyttas i stället för att kameran eller ljuskällan förflyttas eller att flera kameror eller ljuskällor i olika positioner används. Förflyttningen eller rotationen kan åstadkommas med vilka kända rörelsemedel som helst.
Det har visat sig att det ljus som reflekteras från polerrosorna kan vara polariserat vilket i sådana fall underlättar detekteringen.
Vid upptagning av delbilder placeras kameran eller kamerorna med fördel rakt ovanför den provyta som skall mätas och fokuseras företrädesvis på polerrosorna vilka oftast inte har bildplanet i provytans plan.
Oberoende av vilken mätuppställning som används kan ljuskälla respektive kamera kalibreras genom att en diffus yta (t.ex. ett vitt papper) placeras på provytans tänkta plats.
Olika linssystem, polarisatorer och färgfilter kan användas för att få polerrosorna att framträda tydligare på delbilderna och differensbilden. Optisk filtrering med färgfilter kan därigenom på den slutgiltiga 10 15 20 25 30 35 508 822 8 exempelvis användas för att förbättra signallbrus- förhållandet för de detekterade bilderna.
Kameran eller kamerorna är företrädesvis elektroniska kameror (t.ex en CCD-kamera) enligt känd teknik. En kamera som skall användas vid utövande av uppfinningen kan förses med två bländaröppningar på var sin sida om den optiska axeln. Detta kan utföras genom att linsytan blockeras på lämpligt sätt så att endast två öppningar återstår genom vilka två bilder i taget kan registreras. En kamera som på detta sätt har utrustats med två bildupptagningsöppningar för bildregistrering kräver endast användning av en ljuskälla, vilket även är fallet om två separata kameror används.
Ljusstyrkan hos ljuskällorna och/eller kamerornas exponeringstid och bländare kan avpassas eller styras för att ge bilder med lämplig exponering. Genom att använda pulserande ljuskällor och korta exponeringstider kan inverkan av eventuellt störande ljus från omgivningen minimeras.
Med användning av noggrant avpassade inställningar enligt ovan kan differensbilder med tillräckligt god upplösning erhållas för att förekomsten av eventuella polerrosor skall kunna detekteras.
Efter att en differensbild erhållits bildbehandling enligt ovan, beräknas av bildanalysatorn en genom en yta A vilken väsentligen motsvarar storleken hos den polerros eller de polerrosor som detekterats i bildfältet.
Den samanlagda skadeytan kan exempelvis bestämmas såsom summan av alla ytor för vilka den uppmätta ljusintensiteten överstiger ett visst tröskelvärde. Även mera komplicerade matematiska formler eller samband kan användas för att uppskatta ytdefekternas omfattning. 10 15 20 25 30 35 508 822 9 Dessutom låter man bildanalysatorn beräkna ett nått på intensiteten hos polerrosen eller polerrosorna IW, vilket motsvarar summan av ljuseffekten inom skadeområdet. Genom att sätta in parametrarna A och IW i en empiriskt framtagen formel erhålls ett “betygsvärde". Den empiriska formeln har erhållits genom att anpassa mätvärden erhållna genom förfarandet enligt uppfinningen, till betyg som erhållits genom konventionell manuell, visuell bedömning. De betygsvärden som erhålls på detta sätt har visat sig överensstämma mycket väl med resultaten från manuell, visuell bedömning.
Den reflektansvariation som.är betingad av olika inneboende reflektans hos olika kulörer kräver ett kompensationsförfarande för olika kulörer~ för att jämförbara mätresultat skall erhållas.
Kameran eller kamerornas betraktelsevinkel är väsentlig för att den empiriska formeln skall ge betygsvärden som korrelerar med manuell, visuell bedömning. Den lämpliga betraktelsevinkeln måste utprovas på plats vid respektive kontrollstation.
Försök har visat att det exempelvis vid mätning på polerade ytor som lackerats med nætallic-lacker finns en största tillåten betraktelsevinkel för att det med den empiriska formeln skall kunna gå att "identifiera" polerrosor. I det fall att betraktelsevinkeln överskrider det tillåtna värdet försämras mätresultatet kraftigt då s.k. “metallic-flakes" projekteras på differensbilderna.
Det finns flera olika metoder att öka upplösning och skärpa hos delbilderna och därigenom också tydligheten hos de slutgiltiga differensbilderna som skall användas för mätning och kvantifiering av eventuella polerrosor. 10 15 20 25 30 35 508 822 10 Genom bildbehandling i en bildanalysator enligt känd teknik, kan sålunda en bakgrundsbild, d.v.s. en bild som upptagits med ljuskällan släckt, subtraheras från varje delbild.
Likaså kan varje delbild justeras med avseende på förstärkning utgående från en kalibreringsbild för aktuell kombination av kamera/ljuskälla eller på annat sätt signalbehandlas med syfte att öka detekteringsgraden för ytdefekter innan framställningen av differensbilder. Även differensbilder som erhållits genom subtraktion mellan olika delbilder kan bildbehandlas på olika sätt för att ytterligare framhäva polerrosorna. Sålunda kan man exempelvis med hjälp av s.k. korrelationsteknik tydliggöra polerrosor som återfinns vid något olika koordinater i olika delbilderu Med hjälp av medianfilter' kan smärre defekter såsom "prickar" och dylikt avlägsnas.
Den tidigare nämnda empiriska formeln eller algoritmen som används för att beräkna ett "betygsvärde", kan i stället utgöras av exempelvis ett anpassande neuronnät eller andra matematiska samband. anordningen Förfarandet och enligt tillhandahåller sålunda ett reproducerbart förfarande och uppfinningen en anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter såsonlpolerrosor, vilket förfarande dessutonlär väsentligen råder vid okänsligt för de ljusförhållanden som mättillfället.
KORTFATTAD FIGURBESKRIVNING: Uppfinningen kommer i det följande att beskrivas med hänvisning till de bilagda figurerna, där 10 15 20 25 30 35 508 822 ll fig. 1 schematiskt illustrerar en föredragen utfiàfingsfinm1 av en anordning enligt uppfinningen, fig. 2 visar en differensbild erhållen genom förfarandet enligt uppfinningen.
FÖREDRAGNA UTFÖRINGSFORMER: På den bilagda utföringsform av anordningen 1 enligt uppfinningen varmed fig. 1 illustreras en föredragen förfarandet enligt uppfinningen kan utövas. Förfarandet enligt uppfinningen innefattar att en provyta 2 först belyses med parallellt ljus från en första punktljuskälla 3, samtidigt som en kamera 4, företrädesvis en elektronisk kamera, tar en första bild av nämnda provyta 2, varefter nämnda första punktljuskälla 3 släcks och en andra punktljuskälla 5, närliggande till och parallell med nämnda första punktljuskälla 3, belyser nämnda provyta 2 samtidigt som nämnda kamera 4 tar en andra bild av nämnda provyta 2.
Därvid är nämnda kamera 4 med fördel försedd med en bildmodifieringsenhet 6, vilken kan innefatta linser, filter, polarisatorer eller andra element, enligt känd teknik, vilka kan underlätta en påföljande bildbehandling.
De nämnda första och andra bilderna överförs till en centralenhet 7, försedd med bildanalys- och styrfunktioner, vilken både styr punktljuskällorna 3, 5 och kameran 4. I den nämnda centralenheten 7 subtraheras nämnda andra bild genom bildbehandling från nämnda första bild för att ge en differensbild där ytdefekter, såsom polerrosor, framträder med en viss intensitet svarande mot svårighetsgraden hos nämnda ytdefekter. Centralenheten 7 är med fördel anordnad så att den vid utvärdering av en erhållen differensbild förmår ange både ett mått på nämnda ytdefekters area och ett mått på nämnda ytdefekters intensitet, såsom nämnts tidigare. 10 15 20 25 508 822 12 På fig. 2 visas ett exempel på en differensbild som erhållits med hjälp av förfarandet och anordningen enligt uppfinningen. Den illustreradeedifferensbilden skall endast ses som ett exempel och en sådan differensbild kan med känd teknik visualiseras och tydliggöras på många sätt.
Den apparatur som ingår i anordningen enligt uppfinningen torde för övrigt vara välkänd för fackmän inom området och varje delkomponent för sig är kommersiellt tillgänglig utan att den uppfinningstanke som ligger till grund för föreliggande uppfinning skulle vara känd sedan tidigare.
Föreliggande uppfinning är på intet sätt begränsad till utövande enligt ovannämnda utföringsexempel eller till vad som visas på de bifogade figurerna utan kan varieras inom ramen för de bilagda patentkraven.
Sålunda behöver ej den kamera eller de kameror som används vara av elektronisk typ, såsom en videokamera (CCD), utan man kan även tänka sig att man fotograferar olika delbilder med användning av en konventionell kamera och ljuskänslig film, och att man därefter "scannar in" dessa delbilder i en bildanalysator för en separat bildbehandling.
Claims (14)
1. Förfarande för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta (2) med användning av minst en ljuskälla (3, 5), minst en kamera (4) och minst en centralenhet (7) med bildanalys- och styrfunktioner, k ä n n e t e c k n a t a v att åtminstone två delbilder registreras med nánst en kamera (4) under belysning av nämnda provyta med parallellt ljus eller punktljus, varvid ljusets infallsvinkel, i förhållande till nämnda provyta (2) och/eller nämnda kamera (4) eller kamerors placering, är olika vid registrering av olika delbilder, varefter registrerade delbilder centralenhet (7), varefter en eller flera differensbilder behandlas i åtminstone en framställs av nämnda delbilder och nämnda differensbild eller differensbilder utnyttjas för att bestämma graden av ytdefekt på provytan (2).
2. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e t e c k n a t a v att nämnda provyta (2) vid registrering av en första delbild belyses av en ljuskälla (3) placerad i en första position, och att nämnda provyta (2) vid registrering av en andra delbild belyses av en ljuskälla (5) placerad i en andra position.
3. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, att en första delbild av nämnda provyta (2) registreras av en kamera (4) placerad i k ä n n e t e c k n a t a v en första position, och att en andra delbild av nämnda provyta registreras av en kamera (4) placerad i en andra position. 10 15 20 25 30 35 508 822 14
4. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att nämnda centralenhet(er) (7) utgående från nämnda differensbild(er) tillhandahåller dels mått på nämnda ytdefekters area, dels mått på nämnda ytdefekters intensitet, och att nämnda mått används för att gradera nämnda provytas (2) ytdefekter.
5. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att nämnda ytdefekter på nämnda provyta (2) väsentligen härrör från polering, rubbing eller slipning.
6. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att provytans (2) position förändras mellan registrering av olika delbilder.
7. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a ta a v att nämnda kamera (4) samtidigt registrerar flera delbilder genom flera olika bländar- eller bildupptagningsöppningar tillhandahållna i nämnda kamera (4).
8. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att vid registrering av en delbild används en bildmodifieringsenhet (6) innefattande optiska linser, filter, polarisatorer eller andra element, för att underlätta en påföljande bildbehandling av registrerad(e) delbild(er).
9. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a t a v att en differensbild, innan en efterföljande gradering av ytdefekter hos nämnda provyta (2), bildbehandlas i nämnda centralenhet (7) för att underlätta graderingen. 10 15 20 25 30 35 508 822 15
10. Anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på ljuskälla (3, centralenhet (7) med bildanalys- och styrfunktioner, en provyta (2) innefattande minst en 5), minst en kamera (4) och minst en a v att nämnda kamera (4) eller kameror och ljuskälla (3) eller ljuskällor (3, 5) är anordnade för att registrera åtminstone två delbilder med k ä n n e t e c k n a d infallande ljus, att nämnda för att framställa subtrahera en nämnd olika infallsvinkel för centralenhet(er) (7) är inrättad(e) minst en differensbild genom att delbild från en annan nämnd delbild, centralenhet(er) (7) utgående från nämnda differensbild(er) att tillhandahålla dels mått på nämnda och att nämnda har förmågan ytdefekters area, dels mått på nämnda ytdefekters intensitet.
11. Anordning enligt patentkrav 10, k ä n n e t e c k n a d a v att nämnda kamera (4) eller kameror är försedd(a) med minst en bildmodifieringsenhet (6) innefattande optiska linser, filter, polarisatorer eller andra element som kan underlätta en påföljande bildbehandling av registrerad(e) delbild(er).
12. Anordning enligt patentkrav 10 eller 11, k ä n n e t e c k n a d a v att anordningen (1) tillhandahåller rörelsemedel för att förändra provytans (2) position mellan registrering av olika delbilder.
13. Anordning enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a d a v att nämnda kamera (4) är försedd med flera olika bländar- eller bildupptagnings- öppningar vilka förmår registrera delbilder med olika infallsvinkel för infallande ljus. 508 822 16
14. Anordning enligt något av föregående patentkrav, k ä n n e t e c k n a d a v att nämnda centralenhet (7) är anordnad för att bildbehandla en differensbild, innan en efterföljande gradering av ytdefekter hos nämnda provyta (2), för att underlätta graderingen.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9700539A SE508822C2 (sv) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | Förfarande och anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta |
DE69833103T DE69833103T2 (de) | 1997-02-17 | 1998-02-10 | Verfahren zum messen und quantifizieren von oberflächenfehlern auf einer prüfoberfläche |
EP98904474A EP0960318B1 (en) | 1997-02-17 | 1998-02-10 | Method for measuring and quantifying surface defects on a test surface |
PCT/SE1998/000226 WO1998036240A1 (en) | 1997-02-17 | 1998-02-10 | Method and device for measuring and quantifying surface defects on a test surface |
AU62334/98A AU6233498A (en) | 1997-02-17 | 1998-02-10 | Method and device for measuring and quantifying surface defects on a test surface |
US09/375,848 US6667800B1 (en) | 1997-02-17 | 1999-08-17 | Method and device for measuring and quantifying surface defects on a test surface |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9700539A SE508822C2 (sv) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | Förfarande och anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE9700539D0 SE9700539D0 (sv) | 1997-02-17 |
SE9700539L SE9700539L (sv) | 1998-08-18 |
SE508822C2 true SE508822C2 (sv) | 1998-11-09 |
Family
ID=20405811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE9700539A SE508822C2 (sv) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | Förfarande och anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6667800B1 (sv) |
EP (1) | EP0960318B1 (sv) |
AU (1) | AU6233498A (sv) |
DE (1) | DE69833103T2 (sv) |
SE (1) | SE508822C2 (sv) |
WO (1) | WO1998036240A1 (sv) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001086228A1 (en) * | 2000-05-05 | 2001-11-15 | Roger Tuomas | A method to measure surface structure |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9824986D0 (en) | 1998-11-13 | 1999-01-06 | Isis Innovation | Non-contact topographical analysis apparatus and method thereof |
SE511985C2 (sv) | 1999-01-28 | 2000-01-10 | Skogsind Tekn Foskningsinst | Topografisk bestämning av en av infallande ljus belyst yta |
SE515711C2 (sv) | 2000-02-09 | 2001-10-01 | Volvo Personvagnar Ab | Anordning och förfarande för uppmätning hos ytojämnheter hos ett mätobjekt |
US7430485B2 (en) | 2003-08-22 | 2008-09-30 | Rohm And Haas Company | Method and system for analyzing coatings undergoing exposure testing |
US20080027580A1 (en) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Hui Zhang | Robot programming method and apparatus with both vision and force |
US8594417B2 (en) * | 2007-11-27 | 2013-11-26 | Alcoa Inc. | Systems and methods for inspecting anodes and smelting management relating to the same |
US9881284B2 (en) | 2008-10-02 | 2018-01-30 | ecoATM, Inc. | Mini-kiosk for recycling electronic devices |
US7881965B2 (en) | 2008-10-02 | 2011-02-01 | ecoATM, Inc. | Secondary market and vending system for devices |
US20130144797A1 (en) * | 2008-10-02 | 2013-06-06 | ecoATM, Inc. | Method And Apparatus For Recycling Electronic Devices |
US10853873B2 (en) | 2008-10-02 | 2020-12-01 | Ecoatm, Llc | Kiosks for evaluating and purchasing used electronic devices and related technology |
DE202009019027U1 (de) | 2008-10-02 | 2015-09-21 | ecoATM, Inc. | Sekundärmarkt und Verkaufssystem für Geräte |
US11010841B2 (en) | 2008-10-02 | 2021-05-18 | Ecoatm, Llc | Kiosk for recycling electronic devices |
EP2695126A4 (en) | 2011-04-06 | 2014-09-17 | Ecoatm Inc | METHOD AND KIOSK FOR RECYCLING ELECTRONIC DEVICES |
JP2015129715A (ja) * | 2014-01-08 | 2015-07-16 | リコーエレメックス株式会社 | 検査装置及び検査装置の制御方法 |
US10401411B2 (en) | 2014-09-29 | 2019-09-03 | Ecoatm, Llc | Maintaining sets of cable components used for wired analysis, charging, or other interaction with portable electronic devices |
CA3074916A1 (en) | 2014-10-02 | 2016-04-07 | Ecoatm, Llc | Application for device evaluation and other processes associated with device recycling |
CA2964214C (en) | 2014-10-02 | 2020-08-04 | ecoATM, Inc. | Wireless-enabled kiosk for recycling consumer devices |
US10445708B2 (en) | 2014-10-03 | 2019-10-15 | Ecoatm, Llc | System for electrically testing mobile devices at a consumer-operated kiosk, and associated devices and methods |
US10417615B2 (en) | 2014-10-31 | 2019-09-17 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
WO2016069742A1 (en) | 2014-10-31 | 2016-05-06 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for facilitating processes associated with insurance services and/or other services for electronic devices |
EP3215988A1 (en) | 2014-11-06 | 2017-09-13 | Ecoatm Inc. | Methods and systems for evaluating and recycling electronic devices |
US11080672B2 (en) | 2014-12-12 | 2021-08-03 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
JP6292145B2 (ja) * | 2015-02-24 | 2018-03-14 | Jfeスチール株式会社 | 金属帯エッジ部の欠陥検出方法および金属帯エッジ部の欠陥検出装置 |
US10127647B2 (en) | 2016-04-15 | 2018-11-13 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in electronic devices |
US9885672B2 (en) | 2016-06-08 | 2018-02-06 | ecoATM, Inc. | Methods and systems for detecting screen covers on electronic devices |
US10269110B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-04-23 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in illuminated electronic device screens |
US11989710B2 (en) | 2018-12-19 | 2024-05-21 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for vending and/or purchasing mobile phones and other electronic devices |
KR20210126068A (ko) | 2019-02-12 | 2021-10-19 | 에코에이티엠, 엘엘씨 | 중고 전자 디바이스를 평가하고 구매하기 위한 키오스크 |
KR20210125526A (ko) | 2019-02-12 | 2021-10-18 | 에코에이티엠, 엘엘씨 | 전자 디바이스 키오스크를 위한 커넥터 캐리어 |
WO2020172190A1 (en) | 2019-02-18 | 2020-08-27 | Ecoatm, Llc | Neural network based physical condition evaluation of electronic devices, and associated systems and methods |
US11922467B2 (en) | 2020-08-17 | 2024-03-05 | ecoATM, Inc. | Evaluating an electronic device using optical character recognition |
WO2022040667A1 (en) | 2020-08-17 | 2022-02-24 | Ecoatm, Llc | Evaluating an electronic device using a wireless charger |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4162126A (en) * | 1976-12-10 | 1979-07-24 | Hitachi, Ltd. | Surface detect test apparatus |
US4920385A (en) * | 1984-02-14 | 1990-04-24 | Diffracto Ltd. | Panel surface flaw inspection |
JP2797333B2 (ja) * | 1988-09-16 | 1998-09-17 | セイコーエプソン株式会社 | コンタクトレンズの製造方法及び装置 |
US5401977A (en) * | 1988-10-14 | 1995-03-28 | Byk-Gardner Gmbh | Method and apparatus for gloss measurement with reference value pairs |
US5129009A (en) * | 1990-06-04 | 1992-07-07 | Motorola, Inc. | Method for automatic semiconductor wafer inspection |
US5426506A (en) * | 1993-03-22 | 1995-06-20 | The University Of Chicago | Optical method and apparatus for detection of surface and near-subsurface defects in dense ceramics |
US5828500A (en) * | 1995-10-11 | 1998-10-27 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical element inspecting apparatus |
US5987159A (en) * | 1996-09-24 | 1999-11-16 | Cognex Corporation | System or method for detecting defect within a semi-opaque enclosure |
US5859698A (en) * | 1997-05-07 | 1999-01-12 | Nikon Corporation | Method and apparatus for macro defect detection using scattered light |
-
1997
- 1997-02-17 SE SE9700539A patent/SE508822C2/sv not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-02-10 AU AU62334/98A patent/AU6233498A/en not_active Abandoned
- 1998-02-10 DE DE69833103T patent/DE69833103T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-02-10 WO PCT/SE1998/000226 patent/WO1998036240A1/en active IP Right Grant
- 1998-02-10 EP EP98904474A patent/EP0960318B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-08-17 US US09/375,848 patent/US6667800B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001086228A1 (en) * | 2000-05-05 | 2001-11-15 | Roger Tuomas | A method to measure surface structure |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU6233498A (en) | 1998-09-08 |
WO1998036240A1 (en) | 1998-08-20 |
SE9700539D0 (sv) | 1997-02-17 |
SE9700539L (sv) | 1998-08-18 |
DE69833103T2 (de) | 2006-08-31 |
US6667800B1 (en) | 2003-12-23 |
EP0960318A1 (en) | 1999-12-01 |
EP0960318B1 (en) | 2006-01-04 |
DE69833103D1 (de) | 2006-03-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE508822C2 (sv) | Förfarande och anordning för mätning och kvantifiering av ytdefekter på en provyta | |
KR100399507B1 (ko) | 반사표면코팅부에있는결함을인식평가하는방법 | |
US5859698A (en) | Method and apparatus for macro defect detection using scattered light | |
CN101655614B (zh) | 液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置 | |
KR100235476B1 (ko) | 피검사체의 표면검사방법 및 장치 | |
JP5348765B2 (ja) | 平板状透明体の微小凹凸欠陥検査方法及び装置 | |
JP2009527752A (ja) | 効果顔料を備える塗膜の分析方法 | |
JP6769182B2 (ja) | 鋼材の表面検査装置及び表面検査方法 | |
CN107561081A (zh) | 一种缺陷检测装置及方法 | |
CN113820319A (zh) | 一种纺织品表面缺陷检测装置与方法 | |
JP2022533848A (ja) | カメラ部品が損傷しているかどうかを判定するためのシステムおよび方法 | |
CN111879789A (zh) | 金属表面缺陷检测方法及系统 | |
DE102013108722B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Defekten einer ebenen Oberfläche | |
CN115015112A (zh) | 一种缺陷检测装置和方法 | |
DE112020002180T5 (de) | Normaleinfall-phasenverschiebungs-deflektometrie-sensor, -system und - verfahren zum prüfen einer oberfläche einer probe | |
JP3357968B2 (ja) | レンチキュラーレンズシートの欠陥検査方法 | |
CN110333248A (zh) | 玻璃表面缺陷与表面落尘的区分方法 | |
KR100549166B1 (ko) | 플랫패널용 광관련판요소의 선형 얼룩 검출방법 | |
JP5647716B2 (ja) | 微小凹凸欠陥検査機用の簡易テレセントリックレンズ装置 | |
US7160479B2 (en) | Method and apparatus for evaluating panel drip tests | |
JP7472924B2 (ja) | 塗装金属板の塗膜膨れ幅測定装置および塗装金属板の塗膜膨れ幅の測定方法 | |
WO2022249527A1 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP2005241370A (ja) | 外観検査方法 | |
JPH09138201A (ja) | 表面検査装置 | |
CN211374539U (zh) | 外观瑕疵检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |