SE504286C2 - Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort - Google Patents

Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort

Info

Publication number
SE504286C2
SE504286C2 SE9402155A SE9402155A SE504286C2 SE 504286 C2 SE504286 C2 SE 504286C2 SE 9402155 A SE9402155 A SE 9402155A SE 9402155 A SE9402155 A SE 9402155A SE 504286 C2 SE504286 C2 SE 504286C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
contact
adapter
points
test
electrically conductive
Prior art date
Application number
SE9402155A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
SE9402155L (sv
SE9402155D0 (sv
Inventor
Reinhold Strandberg
Original Assignee
Reinhold Strandberg
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Reinhold Strandberg filed Critical Reinhold Strandberg
Priority to SE9402155A priority Critical patent/SE504286C2/sv
Publication of SE9402155D0 publication Critical patent/SE9402155D0/xx
Priority to PCT/SE1995/000728 priority patent/WO1995035648A1/en
Priority to EP95923630A priority patent/EP0793905A1/de
Publication of SE9402155L publication Critical patent/SE9402155L/
Publication of SE504286C2 publication Critical patent/SE504286C2/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07378Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
SE9402155A 1994-06-17 1994-06-17 Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort SE504286C2 (sv)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9402155A SE504286C2 (sv) 1994-06-17 1994-06-17 Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort
PCT/SE1995/000728 WO1995035648A1 (en) 1994-06-17 1995-06-15 Adapter for use in an apparatus for testing circuit cards
EP95923630A EP0793905A1 (de) 1994-06-17 1995-06-15 Adapter für ein prüfeinrichtung für ic-karten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9402155A SE504286C2 (sv) 1994-06-17 1994-06-17 Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE9402155D0 SE9402155D0 (sv) 1994-06-17
SE9402155L SE9402155L (sv) 1995-12-18
SE504286C2 true SE504286C2 (sv) 1996-12-23

Family

ID=20394443

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE9402155A SE504286C2 (sv) 1994-06-17 1994-06-17 Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0793905A1 (de)
SE (1) SE504286C2 (de)
WO (1) WO1995035648A1 (de)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5945836A (en) * 1996-10-29 1999-08-31 Hewlett-Packard Company Loaded-board, guided-probe test fixture
US6784675B2 (en) 2002-06-25 2004-08-31 Agilent Technologies, Inc. Wireless test fixture adapter for printed circuit assembly tester
DE10254520A1 (de) * 2002-11-22 2004-06-09 Bruno Ratzky Verfahren zur einfachen Erstellung der Leitungsverbindungen und Erzielung von kleinsten Prüfrastern, auf kleinstem Raum, bei einem Prüfadapter bzw. einer Adaptereinrichtung

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3866119A (en) * 1973-09-10 1975-02-11 Probe Rite Inc Probe head-probing machine coupling adaptor
DE3038665C2 (de) * 1980-10-13 1990-03-29 Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt Prüfeinrichtung zum Überprüfen von mit Leiterbahnen versehenen Leiterplatten
JPS6180067A (ja) * 1984-09-21 1986-04-23 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション テスト・プロ−ブ装置
SE458005B (sv) * 1987-11-16 1989-02-13 Reinhold Strandberg Foerfarande foer provning av kretskort samt apparat foer utfoerande av provningen

Also Published As

Publication number Publication date
SE9402155L (sv) 1995-12-18
WO1995035648A1 (en) 1995-12-28
EP0793905A1 (de) 1997-09-10
SE9402155D0 (sv) 1994-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69734866T2 (de) Prüfadapter mit Kontaktstiftführung für bestückte Leiterplatten
EP0667962B1 (de) Testanordnung mit filmadaptor fuer leiterplatten
US3917984A (en) Printed circuit board for mounting and connecting a plurality of semiconductor devices
DE202005021386U1 (de) Prüfkopf mit einem Messfühler mit Membranaufhängung
DE3479341D1 (en) Adapter for a printed-circuit board testing device
EP0194247A2 (de) Siebdrucker zur Ausbildung einer Schicht leitenden Materials auf der inneren Oberfläche eines durch eine Leiterplatte führenden Loches
DE2559004B1 (de) Anordnung zur Pruefung von elektrischen Prueflingen mit einer Vielzahl von Pruefkontakten
SE504286C2 (sv) Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort
JP3690909B2 (ja) 非実装プリント回路基板の試験装置
EP0294925A3 (de) Vorrichtung zur Koplanaritätsprüfung von oberflächig eingebauten Teilen
DE3671974D1 (de) Pruefadapter.
JPH04503567A (ja) 電気試験プローブ
GB2207301A (en) Probe for testing electronic components
JPH04312721A (ja) キーパッド組立体及びそれを用いた機器
CA2141650A1 (en) Marking system for printed circuit boards
EP0130430B1 (de) Verfahren zur Herstellung von Leiterplatten unter Verwendung von Lagen dünner Folien, die durch Elektroerosion behandelt wurden, und auf diese Weise hergestellte Leiterplatten
US3588615A (en) Pluggable module connector system
SE458005B (sv) Foerfarande foer provning av kretskort samt apparat foer utfoerande av provningen
GB2151379A (en) Key pad
JP3161047B2 (ja) プリント配線板の検査装置
SE457315B (sv) Apparat foer provning av kretskort
DE2954194C2 (de) Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen
GB2157507A (en) Testing apparatus for printed circuit boards
DE102009016789B4 (de) Vorrichtung eines prüflingsunabhängigen Testsystems zum elektrischen Funktionstest von ein- oder beidseitig elektrisch kontaktierbaren Prüfpunkten und Verfahren dazu
US20040212384A1 (en) Test apparatus for a printed-circuit board

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed