SE457315B - Apparat foer provning av kretskort - Google Patents

Apparat foer provning av kretskort

Info

Publication number
SE457315B
SE457315B SE8704467A SE8704467A SE457315B SE 457315 B SE457315 B SE 457315B SE 8704467 A SE8704467 A SE 8704467A SE 8704467 A SE8704467 A SE 8704467A SE 457315 B SE457315 B SE 457315B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
contact
support
circuit board
support plate
elements
Prior art date
Application number
SE8704467A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8704467D0 (sv
Inventor
Reinhold Strandberg
Original Assignee
Reinhold Strandberg
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Reinhold Strandberg filed Critical Reinhold Strandberg
Priority to SE8704467A priority Critical patent/SE457315B/sv
Publication of SE8704467D0 publication Critical patent/SE8704467D0/sv
Priority to PCT/SE1988/000611 priority patent/WO1989005089A1/en
Publication of SE457315B publication Critical patent/SE457315B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

457 315 fordringar. Någon uppstödning av stödplattan på dess undersida har icke låtit sig genomföras eftersom det tillgängliga utrymmet under stödplattan erfordras för organ för anslutning av ledare till kontaktanordningarna.
SAMMANFATTNING AV UPPFINNINGEN Föreliggande uppfinning syftar till att anvisa en utväg att uppnå effektiv uppstödning av stödplattan utan att för den skull anslutningen av ledarna till kontaktanord- ningarna omöjliggörs eller försvåras.
Detta syfte uppnås enligt uppfinningen genom att appa- raten förlänas de särdrag som närmast framgår av den kännetecknande delen till efterföljande krav 1.
Genom att följaktligen i enlighet med uppfinníngens prin- cip utnyttja listartade stödorgan och kontaktelement så utformade att stödorganen vart och ett kan stödja socklar hos två angränsande kontaktelement uppnås att stödplattan effektivt kan stödjas av stödorganen via kontaktelementens socklar, varvid de elektriska ledarna hörande till ett kontaktelement kommer att sträcka sig i utrymmet mellan två angränsande stödorgan. u Fördelaktiga vidareutformningar av uppfinningen är före- mål för de osjälvständiga patentkraven.
KORT BESKRIVNING AV RITNINGARNA Under hänvisning till efterföljande ritningar följer nedan en närmare beskrivning av ett såsom exempel anfört utförande av uppfinningen. 4157 315 Pâ ritningarna är fig 1 en schematisk, delvis skuren vy illustrerande delar hos den uppfinningsenliga provningsapparaten före ett provningstillfälle, fig 2 ett snitt utmed linjen II-II i fig 3 och illustre- rande ett arrangemang för stödjande av den i fig 1 illust- rerade stödplattan, fig 3 ett snitt taget utmed linjen III-III i fig 2, och fig 4 en perspektivisk vy illustrerande samordningen av ett listartat stödorgan och ett antal angränsande kontaktelement uppvisande av stödorganet stödda socklar.
DETALJERAD BESKRIVNING AV FÖREDRAGET UTFÖRANDE Det i fig 1 schematiskt illustrerade kretskortet 1 bi- bringas vid tillverkningen pà i och för sig känt sätt ett elektriskt ledningsmönster pá den i fig 1 undre sidan 2 men eventuellt också på den i fig 1 övre sidan 3. Vid tillverkningen förses kretskortet vidare med hål 4 för anslutning av elektriska komponenter, däri inbegripet integrerade kretsar. Hàlen 4 är noga lägesbestämda i förhållande till ledningsmönstret. I en operation efter háltagningen med tillämpning av borrning, laserbearbet- ning etc. kan hålväggarna pläteras pá önskat sätt i ända- mål att förläna dem elektrisk ledningsförmàga.
Efter tillverkningen provas kretskorten för att fast- ställa om de elektriska ledningsbanorna i ledningsmönstren uppfyller fordringarna och denna provning utföres i den i fig 1 schematiskt illustrerade apparaten, som inbegriper en hållare 5 och en anordning 6, varvid hàllaren 5 och anordningen 6 är relativt rörliga mot och från varandra i riktningen antydd genom dubbelpilen 7. I exemplet avses hållaren 5 vara stationär i riktningen av pilen 7 medan 457 315 det är anordningen 6 som förflyttas relativt hàllaren 5. Pâ sätt som närmare kommer att beskrivas i det föl-'I jande är hållaren 5 stödd av en stödplatta 9, som i tur- är uppstödd relativt ett ramverk hos provningsapparaten medan anordningen 6, som kan uppvisa en pressplatta 10 för anläggning mot kretskortet 1, med hjälp av godtyck- liga i och för sig välkända kraftanordningar av t ex pneumatisk eller hydraulisk typ är rörlig relativt ram- verket och därmed hàllaren 5 och stödplattan 9 i en nog- grant styrd, rätlinjig rörelse. Det föredrages att denna rörelse är vertikal.
På hâllaren 5 är anordnade generellt med 11 betecknade kontaktanordningar avsedda att kontakta elektriskt ledande ställen, exempelvis i anslutning till häl 4, pà krets- kortet, företrädesvis från den med ledningsmönster för- sedda sidan av detta. Kontaktanordningarna 11 är anord- nade att överföra den på dem vid kontakten med krets- kortet 1 pâförda presskraften till stödplattan 9. När- mare bestämt är var och en av kontaktanordningarna 11 bildade av ett första kontaktorgan 12 och ett andra kon- taktorgan 13. Kontaktorganen 12 uppvisar vart och ett i exemplet hylsartade kroppar 14, i vilka kontaktstift 15, som träder i direkt kontakt med kretskortet 1,_är x fjädrande intryckbart anordnade.
Kretskortet förses, lämpligen samtidigt med övrig häl- tagning i kretskortet, med styrmedel i form av hàl 16, som i exemplet är till antalet minst två. Dessa styrhål 16 är lokaliserade i noggrant bestämd relation till led- ningsmönstret på kretskortets sida 2. I praktiken kan därvid förfaras så att samtidigt med att ledningsmönstret på kretskortssidan 2 páläggs anbringas också lokaliserings- märken för den efterföljande hàltagningen, som sedan utföres i exakt motsvarighet till dessa lokaliserings- märken så att samtliga de hål 4 och 16 som utföres från sidan 2 av kretskortet blir exakt korrekt lokaliserade 4:57 is 175 i förhållande till ledningsmönstret på denna sida.
Vid provningen av ett kretskort bringas detta att med sina styrhàl 16 ingripa med styrorgan 17 i form av stavar fastgjorda pà hállaren 5 i noggrant bestämd relation till kontaktorganen 12 pà denna.
Kontaktorganen 12 är làngsträckta och anordnade att med sina från stiftens 15 ytterändar vända andra ändar 18 kontakta de andra kontaktorganen 13, som i sin tur på sätt som kommer att beskrivas i det följande är anslutna till en provningssignaler alstrande respektive mottagande inrättning. Kontaktorganen 13 är lägesfixerade relativt och mottagna i hål 19 i stödplattan 9. I närheten av ändarna 18 uppvisar kontaktorganen 12 partier 20, som sträcker sig i hål 21 i hállaren 5 och i exemplet också i hål 22 i en på stödplattan 9 anordnad ytterligare platta 23.
Hållaren 5 innefattar i exemplet minst tvâ i förhållande till varandra fixerade skivor 24, 25, av vilka en första 24 uppvisar hål 26 för mottagande av kontaktorganen 12 med relativt ringa eller väsentligen utan spel medan den andra skivan 25 uppvisar nämnda hál 21 som mottager kontaktorganens_12 partier 20 med relativt stort spel- rum. Stödplattans 9 hål 19 mottager kontaktorganen 13 med relativt ringa spelrum och dessa hål 19 har en mindre vidd än utvidgade huvuden 26 hos kontaktorganen 13.
Plattan 23 har sina hål 22 vidgade pà den sida som är vänd mot stödplattan 9 så att dessa vidgade partier mot- tager kontaktorganens 13 huvuden 26. Kontaktorganens 12 ändar 18 anligger på elektriskt ledande vis mot ovan- sidan av kontaktorganens 13 huvuden 26.
Hàllaren 5 innefattar närmare bestämt en ytterligare skiva 27 uppvisande hål 28, som med ringa spel mottager kontaktorganens hylsor 14. Skivorna 24, 25 och 27 är 457 315 inbördes fixerade relativt varandra och har mellan varandra ett antal distansorgan 29, som bestämmer avståndet mellan skivorna. Bultar sträckande sig genom de tre skivorna och genom distansorganen 29 låser samman skivorna och distansorganen.
Styrstavarna 17 bildar del av organ 30, som jämväl kan utöva en distanshällande funktion mellan skivorna.
Det föredrages att samma plattor 9 och 23 utformas så att de är användbara för provning av vitt skilda krets- kortutformningar. För detta ändamål uppvisar stödplattan 9 och plattan 23 hål 19 respektive 22 i ett förutbestämt, mycket tätt mönster av rader och kolumner sträckande sig vinkelrätt mot varandra. Det må här noteras att i fíg 1 tätheten vad gäller kontaktorganen 13 och hålen 19 och 22 för tydlighets vinnande är betydligt mindre än i verkligheten. Ett mer verklighetstroget täthetsför- hållande redovisas i fig 2 och 3.
I regel ärlanordningen sådan att i varje respektive hål 19 och 22 i plattorna 9 och 23 mottages ett kontaktorgan 13 även om vid provningen av en speciell typ av krets- kort därvid icke alla förekommande kontaktorgan 13 kommer till användningi Emellertid iordningstälfs hállaren 5 speciellt för varje kretskortsutformning som skall provas.
Skivorna 24 och 27 förses följaktligen med häl 26 och 28 i det mönster som erfordras för mottagande av kontakt- organ 12 på ställen i exakt motsvarighet till de elektriskt ledande ställena på kortet 1 som skall komma i kontakt med kontaktorganen. Samtidigt med_denna hàltagning förses skivorna.24 och 27 med hål 31 exakt lägesbestämda i för- hållande till hålen 26 och 28 så att de styrstavarna 17 uppvisande organen 30 erhåller rätt lokalisering i förhållande till kontaktorganen 12. För noggrann över- ensstämmelse föredrages att háltagningen i skivorna 24 och 27 utföres med samma inriktningsteknik och med samma isf-r :ns utrustning som också används för háltagningen i krets- kortet 1. Det föredrages emellertid att skivan 25 i hàl- laren 5 uppvisar ett hàlmönster som är helt koncentriskt med hàlmönstret i plattorna 9 och 23 och följaktligen är förutbestämt och relativt tätt. Detta innebär att hàlmönstren i de två skivorna 24 och 27 kommer att vara exakt koncentriska men att dessa hàlmönster i regel kommer att ha hål som icke är förlagda helt koncentriskt í för- hållande till hålen i hàlmönstret i skivan 25. Vid infö- rande av kontaktorganen 12 i respektive hål i skivorna 24, 27 och 25 blir det därför ofta nödvändigt att något avböja partierna 20 hos kontaktorganen i sidled så att ändarna 18 bringas att träda in i de hål i skivan 25 som har den minsta radiella avvikelsen från de med varandra överensstämmande hålen i skivorna 24 och 27. För detta ändamål är partiet 20 hos kontaktorganen 12 utformat relativt slankt och därmed lättböjligt i tvärled. För- delen med det beskrivna arrangemanget är att plattorna respektive skivorna 9, 23 och 25 kan användas för en mängd olika kretskort medan skivorna 24 och 27 är de som måste specialtillverkas för varje kretskortsutform- ning.
Det är väsentligt att god kontakt ernás mellan kontakt- organen 12 och kontaktorganen 13. För detta ändamål är anordningen sådan att när hàllarens 5 kontaktorgan 12 och kretskortet 1 anpressas mot varandra kommer detta presstryck att via kontaktorganen 12 direkt överföras pà kontaktorganen 13 som i sin tur stöds av plattan 9 medelst huvudena 26.
I fig 2 och 3 illustreras stödplattan 9 och dess sam- verkan med ett stationärt ramverk 32 hos provningsappa- raten. Detta ramverk uppvisar närmare bestämt fyra rek- tangulärt förlagda rambalkar 33-36 utformade så att de bildar en rektangulär avsats 37, pà vilken kantpartierna av den rektangulära plattan 9 vilar. Såsom framgår av 457 315 fig 1 uppvisar kontaktorganen 13 stift 38, som skjuter ut från plattans 9 undersida och är utformade för anslut- ning via ledare 39 till den provningssignaler alstrande och mottagande inrâttningen.
För anslutningen till kontaktorganens 13 stift 38 ut- nyttjas kontaktelement generellt betecknade 40. Varje dylikt kontaktelement uppvisar en lángsträckt sockel 4ï av ett isolerande material och innehållande ett flertal i en rad förlagda kontaktorgan med honartad utformning.
Kontaktorganen i respektive sockel är förbundna med de olika ledarna 39, som är inbäddade i ett av isolerande material förfärdigat band 42, som vid sin sockeln 41 motstående ände uppvisar kontaktorgan för anslutning till den provningssignaler alstrande och mottagande in- rättningen (ej visad). För stödjande av plattan 9 är anordnade ett flertal listartade stödorgan 43. För gott upptagande av tryckbelastningar har dessa stödorgan 43 väsentligt större höjd än tjocklek och närmare bes- tämt är stödorganens tjocklek så begränsad att vart och ett av stödorganen är anordnat att stödja två angränsande socklar 41 hos tvá angränsande kontaktelement så att dessa socklar 41 i sin tur anligger stödjande mot under- sidan av stödplattan 9 under det att ledarna 39, dvs bandet 42, sträcker sig i utrymmen mellan två respek- tive angränsande stödorgan 43. Genom att följaktligen stödorganen 43 stödjer plattan 9 via kontaktelementens 40 socklar 41 erhålls tillräcklig plats under plattan 9 för såväl kontaktelementen 40 som de mellan stödor- ganen sig sträckande bandledarna 42. Stödorganen 43 är på sätt som framgår av fíg 2 och 3 vid sina ändar stödda av stödelement 44 fixerade vid ramverket 32. Närmare bestämt har vart och ett av stödelementen 44 U-formigt tvärsnitt såsom antydes i fig 3 och skänklarna hos U- et anligger mot undersidan av ramverket 32 och är fixerade 457 315' därvid med hjälp av skruvar 45 sträckande sig in i ram- verkets balkar._ Såsom närmast framgår av fig 3 och 4 kommer kontaktele- mentens socklar 41 att vara belägna i ett relativt tätt förhållande sida vid sida och detsamma gäller för stöd- organen 43. Väsentligt är att vid övergången mellan sock- larna 41 och bandledarna 42 uppstår skulderartade avsatser, mot vilka stödorganen 43 anligger underifrån.
Vid montage av anordningen enligt fig 2 och 3 anbringas först en rad av erforderligt antal kontaktelement 40 på i en rad befintliga kontaktstift 38 så att alltså kontaktelementen 40 sträcker sig inriktade i en rät linje med varandra. Därefter anbringas ett stödorgan 43 så att det med sin övre ände kommer att stödja kontaktele- mentens socklar i den applicerade raden, varpå en ny rad av i linje med varandra inriktade kontaktelement 40 skjuts på de fria kontaktstiften 38 i den rad som ligger invid de redan applicerade kontaktelementen. Under applicering av de ytterligare kontaktelementen 40 skjuts :dessa något snett uppåt och när de nått sitt översta läge svängs de med ett skulderartat längsgående kant- parti in över det-redan applicerade stödorganet. Där- efter appliceras_ett ytterligare stödorgah och operationen fortskrider sålunda med omväxlande anbringande av en rad av i linje med varandra inriktade kontaktelement 40 och stödorgan 43 intill dess att samtliga kontakt- stift 38 samverkar med kontaktorgan hos de olika kontakt- elementen 40 och följaktligen dessa och stödorganen 43 är belägna fördelade över hela den undre ytan av stöd- plattan 9 inom det av ramverkets balkar 33-36 definierade utrymmet. Med andra ord är då stödplattan 9 effektivt uppstödd över hela ytan. 457 315 10 Såsom framgár av fig 2 och 4 kan stödorganen 43 uppvisa ändpartier 46 med reducerad höjd skjutande in under par- tier av balkarna 33 och 34 i ramverket. Stödorganen 43 förhindras att stjälpa genom att de är förlagda sida vid sida i ett relativt tätt förhållande med bandledarna 42 belägna mellan angränsande stödorgan.
Vid provning av kretskort medelst den beskrivna apparaten läggs ett kretskort 1 in i apparaten till läget enligt fig 1. Den därvid betydligt högre än vad som visas i fig 1 belägna anpressningsanordningen 10 bringas därefter nedåt så att kretskortet och kontaktorganen 12 pressas mot varandra. Presskrafterna vidarebefordras av kontakt- organen 12 till kontaktorganen 13 och páförs därigenom pà stödplattan 9. Från denna överförs presskrafterna till en del direkt till ramverket 32 medan en betydande del av presskrafterna pàförs på stödorganen 43 via kontakt- elementens 40 socklar 41. Från stödorganen 43 överförs presskraftsandelen till ramverket 32 via stödelementen 44. Via bandledarna 42 appliceras och returneras prov- ningssignaler från respektive till den tidigare nämnda provningsinrättningen och dessa signaler utvärderas på ett i och för sig känt sätt för fastställande av om åsyf- tade ledningsbanor pà kretskortet uppfyller fastlagda w fordringar.
Det är givet att det beskrivna utförandet kan modifieras pá ett flertal sätt inom ramen för uppfinningstanken.
I den mån man önskar utföra samtidig provning av lednings- mönster ocksâ på kretskortets sida betecknad 3 skulle givetvis anordningen 6 kunna förses med kontaktorgan för anläggning mot denna sida av kretskortet. Vidare är det väl möjligt att utforma hela ramverket 32 rörligt så att istället anordningen 6 görs stationär.

Claims (5)

4357 315 Patentkrav
1. Apparat för provning av kretskort innefattande en stödplatta (9), av denna stödda kontaktanordningar (11) för att träda i kontakt med elektriskt ledande ställen pà kretskortet, en anordning (6) för inbördes anpressning av kretskortet och kontaktanordningarna, och kontakt~ element (40) utformade med socklar (41) och kontaktorgan för lösgörbar anslutning till kontaktanordningarna (11) pá den från kretskortets lokalisering under provningen vända sidan av stödplattan (9), vilka kontaktorgan är förbundna med elektriska ledare (39), k ä n n e t e c k- n a d därav, att den innefattar listartade stödorgan (43) anordnade att vart och ett stödja socklarna (41) hos minst två angränsande kontaktelement (40) sà att dessa socklar i sin tur stödjer stödplattan (9) under det att ledarna (39) till kontaktorganen i socklarna sträcker sig i utrymmen mellan två respektive angränsande stödorgan (43).
2. Apparat enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d därav, att vart och ett av kontaktelementen (40) uppvisar ett flertal i en rad förlagda kontaktorgan och att varje sockel (41) till ett kontaktelement har formen av en làngsträckt ribba.
3. Apparat enligt krav 2, k ä n n e t e c k n a d därav, att ledarna (39) till kontaktorganen i ett kontaktele- ment (40) är inbäddade i ett band (42).
4. Apparat enligt något föregående krav, k ä n n e - t e c k n a d därav, att stödorganen (43) åtminstone vid sina ändar är stödda av stödelement (44). 457 315 12
5. Apparat enligt krav 4, k ä n n e t e c k n a d därav} att stödelementen (44) är fastgjorda vid ett jämväl stöd- plattan (9) stödjande ramverk (32) hos apparaten.
SE8704467A 1987-11-16 1987-11-16 Apparat foer provning av kretskort SE457315B (sv)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8704467A SE457315B (sv) 1987-11-16 1987-11-16 Apparat foer provning av kretskort
PCT/SE1988/000611 WO1989005089A1 (en) 1987-11-16 1988-11-15 Apparatus for testing circuit cards

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE8704467A SE457315B (sv) 1987-11-16 1987-11-16 Apparat foer provning av kretskort

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE8704467D0 SE8704467D0 (sv) 1987-11-16
SE457315B true SE457315B (sv) 1988-12-12

Family

ID=20370228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8704467A SE457315B (sv) 1987-11-16 1987-11-16 Apparat foer provning av kretskort

Country Status (2)

Country Link
SE (1) SE457315B (sv)
WO (1) WO1989005089A1 (sv)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990012323A1 (de) * 1989-04-05 1990-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum prüfen von leiterplatten

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006059429A1 (de) 2006-12-15 2008-06-26 Atg Luther & Maelzer Gmbh Modul für eine Prüfvorrichtung zum Testen von Leiterplatten
JP6598294B2 (ja) * 2015-08-03 2019-10-30 株式会社笠作エレクトロニクス 充放電装置、充放電装置用のプローブピンの取付ユニット、充放電装置用のプローブピンユニット、及び充放電システム

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2243457C3 (de) * 1972-09-04 1978-09-14 Werner 7750 Konstanz Heilmann Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Schaltungen
DE2344239B2 (de) * 1973-09-01 1977-11-03 Luther, Erich, 3050 Wunstorf; Maelzer, Fritz; Maelzer, Martin; 7910 Reutti Post Neu-Ulm; Türkkan, Tamer, 3011 Laatzen Kontaktvorrichtung zum anschliessen einer gedruckten schaltung an ein pruefgeraet
DE3038665C2 (de) * 1980-10-13 1990-03-29 Riba-Prüftechnik GmbH, 7801 Schallstadt Prüfeinrichtung zum Überprüfen von mit Leiterbahnen versehenen Leiterplatten
DE3311977A1 (de) * 1983-03-31 1984-10-04 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zum elektrischen abtasten einer baugruppe
AT395485B (de) * 1985-01-22 1993-01-25 Feinmetall Gmbh Pruefadapter
AT391762B (de) * 1985-11-26 1990-11-26 Alcatel Austria Ag Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1990012323A1 (de) * 1989-04-05 1990-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Vorrichtung zum prüfen von leiterplatten

Also Published As

Publication number Publication date
WO1989005089A1 (en) 1989-06-01
SE8704467D0 (sv) 1987-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5399982A (en) Printed circuit board testing device with foil adapter
US4551673A (en) Testing arrangement for printed circuit boards
DE19960112B4 (de) Testanordnung zum Testen von Rückwandplatinen, Zwischenträgersubstraten, oder bestückten Leiterplatten
US4977370A (en) Apparatus and method for circuit board testing
EP0791833B1 (en) Device for converting the test point grid of a machine for electrically testing unassembled printed circuit boards
US7423441B2 (en) Contactor assembly
US5633598A (en) Translator fixture with module for expanding test points
US5945838A (en) Apparatus for testing circuit boards
US3924325A (en) Method and apparatus for mounting terminal pins from a single side of a double sided terminal board
US6271674B1 (en) Probe card
US4674006A (en) Contact array assembly for a computer-controlled printed circuit board testing apparatus
ATE45427T1 (de) Adapter fuer ein leiterplattenpruefgeraet.
GB2146849A (en) Electrical test probe head assembly
SE457315B (sv) Apparat foer provning av kretskort
HK187695A (en) A device for testing a printed circuit board
GB2156532A (en) Apparatus for testing a printed circuit board
JP3690909B2 (ja) 非実装プリント回路基板の試験装置
DE3472461D1 (en) Contact device
DE3471527D1 (en) Adapter for printed circuit testing device
SE458005B (sv) Foerfarande foer provning av kretskort samt apparat foer utfoerande av provningen
US5898314A (en) Translator fixture with force applying blind pins
JP3708438B2 (ja) プリント回路基板テスタ
JP2004511781A (ja) プリント回路基板を検査するための検査装置のモジュール
SE504286C2 (sv) Adapter för användning vid en apparat för testning av kretskort
GB2157507A (en) Testing apparatus for printed circuit boards

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8704467-3

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8704467-3

Format of ref document f/p: F