SE448786B - Kalibreringsanordning for kalibrering av ytdetektorer med optiska delar - Google Patents

Description

15 20 25 50 55 448 786 fig. l visar en perspektivvy av en kalibreringsanordning i enlighet med föreliggande uppfinning, fig. 2 visar en planvy av kalibreringsanordningen sedd underifrån, fig. 5 visar ett tvärsnitt taget längs linjen 3 - 3 i fig. 2, fig. U visar ett tvärsnitt taget längs linjen H - Ä i fig. 2, och fig. 5 visar ett deltvärsnitt längs linjen 5 - 5 i fig. 2.

Kalibreringsanordningen 10 är sammansatt av en yttre lå- da med en övre vägg eller basplatta 12 och sidoväggar betecmrmæ med lü i fig. l. Basplattan 12 är försedd med en öppning 16 genom vilken exponeras en roterande skiva 18. Plattan l2 och öppningen 16 utgör ett organ för pla- ceríng av detektorn som skall kalibreras relativt kali- breringsskivan 18 såsom kommer att beskrivas närmare nedan.

Såsom visas i fig. 2 och 3 är kalibreringsanordningen anordnad på undersidan av basplattan 12 och är samman- satt av en plattform 20, anordnad på en stång eller axel 22, som skjuter ut från basen 12. Stången 22 har en kra- ge 2Ä belägen mellan plattformen 20 och basen 12 för att åstadkomma ett mellanrum mellan plattformen 20 och basen 12 och sträcker sig utöver plattformen 20 över ett vä- sentligt avstånd för att mer precist eller fast hålla plattformen 20 i läge. Denna fasthållning av plattformen i läge erhålles med hjälp av en hylsa 26, styvt förbun- den med plattformen 20 och sträckande sig därifrån på den sida av plattformen som är motsatt hylsan 2U. Hylsan 26 och plattformen 20 pressas mot kragen 2U med hjälp av en fjäder 28, som pressas mot hylsans 26 ände 50 via 10 v 15 20 25 30 35 448 786 en tryckmutter 52, som är gängad på axeln 22. Muttern 32 är företrädesvis låst i position genom en låsmutter BH.

Denna konstruktion håller plattformen 20 i ett mycket exakt läge, samtidigt som plattformen tíllåtes rotera runt axeln 22.

För att rotera plattformen 20 på axeln 22 är anordnad en lämplig vevslängsmekanism betecknad med 36. Denna me- kanism innefattar en vevsläng 38, vars ena ände är för- bunden med plattformen 2O via en tapp H0 och vars andra ände via en tapp H2 är förbunden med hävarmen HU, som är kopplad till axeln H6 på motorn H8, för att förskju- ta tappen H2 från motorns H8 axel H6. När axeln H6 rote- rar roteras armen ÄH och förflyttar vevslängen 38, som i sin tur via sin tappförbindning 40 rör på plattformen 20. Motorn 48 uppbäres från basen 12 via ett lämpligt stöd 50.

Skivan 18 är anordnad på en lämplig krage 52 via en skruv 52 och kragen 52 är i sin tur fixerad på axeln 56 på motorn 58 via en lämplig skruv 60. Motorn 58 är fast- satt på plattformen 20 via axeln och kragen 52 skjuter ut därigenom till att hålla skivan 18 i läge mellan plattformen 20 och basen 12. l Lämpliga glídstödorgan är anordnade för skivan 18 invid kontaktpunkten mellan den optiska detektorn och skivan, på ett avstånd från axelns 56 rotationsaxel, för att sä- kerställa att kontaktpunkten mellan den optiska detek- torn och kalibreringsskivan 18 alltid befinner sig mel- lan glidstöden och axelns 56 rotationsaxel.

I det illustrerade arrangemanget utgöres glidstödorga- nen av ett par ställskruvar 62 och 6Ä med släta botten- ytor 66 respektive 68. Dessa bottenytor står i kontakt med den sida av skivan l8 som är vänd mot plattformen 20.

Företrädesvís är ställskruvarna 62 och 6N gängade i 10 15 20 25 30 55 448 786 plattformen 20, så att de lätt kan justeras för rätt ur- sprungsinställning av skivan. Normalt erfordrar dessa skruvar, när de väl ställts in, liten om ens någon jus- tering. Dessa glidstöd säkerställer att ytan på skivan 18, som står i kontakt med detektorerna, förblir i ett väsentligen fixerat plan. m, Vid operation befinner sig detektorn som skall kalibre- ras på basen 12. Änden på detektorn antydes schematiskt i fig. 5 via den streckpunkterade linjen 70 och visas anordnad på basen 12 med den ände som har den optiska de- tektorn sträckande sig genom och centrerad i öppningen 16, så att elementet 72 kommer i kontakt med ytan på ka- libreringsskivan 18 och är orienterad mot dess yta på väsentligen samma sätt som detektorn är orienterad till en yta, som skall avkännas när den användes på en maskin.

Skivan 18 roteras genom motorn 58 och oscilleras samti- digt fram och tillbaka på tappen 22 via motorn H8 och den anslutande länkmekanismen 36, så att kontakten 72 på den optiska detektorn följer skivans 18 yta i en spiralformig bana fram och tillbaka mellan de streckpunkterade linjer- na 7ü och 76, som illustreras i fig. 2. Sålunda avkänner detektorn skivans 18 råhet i en spiralbana eller -spår mellan gränserna 7U och 76 på skivan. Företrädesvis är skivans 18 hastighet över kontaktarean approximativt li- ka med hastigheten på pappersmaskinen, på vilken detek- torn är avsedd att användas. För standardiseringsändamål kan det vara önskvärt att köra skivan vid en konstant hastighet och inkludera lämpliga kalibreringsdata i till- hörande datamaskinmjukvara. Detektorn fungerar normalt till att bestämma skivans råhet och avläsningen på de- tektorn kan sedan jämföras med andra detektorer, som mä- ter råheten på samma skiva eller för samma detektor över olika driftsperioder. m' Skivorna kan inte framställas till en specifik eller styv råhet och därför måste någon central instans kali- 10 15 20 25 50 55 448 786 5 brera varje skiva och tillhandahålla kalibreringen för skivan för användning med optiska detektorer. Om å and- ra sidan skivan bara användes för att upprätthålla ka- libreringen för en specifik detektor på en specifik pap- persmaskin, erfordras endast att förändringen i indike- rad råhet, som kan uppträda över en tidsperiod, mätes, och att justera detektorn i enlighet härmed.

Det är uppenbart att kontakttiden för detektorn med den roterande skivan kan påverka mätningen signifikant, om kontakttíden är alltför kort. Det har visat sig, att en kalibreringstid på åtminstone cirka 2 sekunder och fö- reträdesvis cirka 10 sekunder, för en oscilleringshastig- het via länkmekanismen 56 på cirka l cykel per sekund, en skiva l8 med 82,5 mm diameter som roterar cirka 2000 varv/minut och med en kontaktarea mellan detektorn och' skivan l8 med en maximumdiameter på cirka 63,5 mm och en mínimidiameter på cirka 50,8 mm, eventuella avvikel- ser kommer att utjämnas.

Företrädesvis är skivan relativt styv och framställd av syntetmaterial för att hålla länge. I det illustrerade arrangemanget har skivan 18 en approximativ diameter på 82,5 mm. Ytdetektorns kontakt 72 samverkar med skivytan utmed en spiralbana som sträcker sig approximativt 6,H mm i radiell riktning på skivan och har en maximiradie på approximativt 3l,H mm. Skivans storlek och hastighe- terna för oscillering och rotation är icke kritiska. Den relativa hastigheten mellan detektorns kontaktpunkt och skivan bör approximativt motsvara hastigheten för den re- lativa rörelsen mellan detektorn och ytan som avkännes, och oscillationshastigheten skall vara sådan att det sä- kerställes att spåren för detektorns kontakt med skivan slingrar sig så mycket, att olika delar av skivan detek- teras.

Claims (2)

1. 0 15 20 25 30 35 448 78_6 Patentkrav l. Kalibreringsanordning för kalibrering av ytdetektorer med optiska delar utformade att anligga mot en yta, som skall avkännas, k ä n n e t e c k n a d av en bas- platta (12), en skiva (18) med en yta som ligger vä- sentligen i ett plan, organ för att placera ytråhets- detektorn, som skall kalibreras, i ett fixerat läge på nämnda basplatta (12) med detektorns optiska kontaktde- lar (72) i läge för anliggning mot skivans (18) yta och orienterad till nämnda plan på väsentligen samma sätt, som detektorn är orienterad till en yta, som skall av- kännas, organ (58) för rotering av skivan med ytan på skivan (18) i nämnda plan och organ (36) för oscille- ring av nämnda skiva (18) i en riktning, som är väsent- ligen vinkelrät mot skivans rotationsaxel, varigenom nämnda optiska detektor står i kontakt med skivans (18) yta och rör sig fram och tillbaka i kontakt med nämnda yta utmed väsentligen spiralformiga banor.

2. Kalibreringsanordning enligt krav l, k ä n n e - t e c k n a d anordnad på en plattform (20) som är åtskild från nämnda av att nämnda skiva (18) är roterbart basplatta (12), att skivan (18) roterar i nämnda plan mellan plattformen (20) och basplattan (12), att nämnda organ (58) för rotering av skivan (18) är anordnad på plattformen (20), att organet (36) för oscillering ose cillerar plattformen (20) och därigenom skivan i nämnda plan och att en öppning (16) är anordnad i basplattan (12), genom vilken öppning nämnda optiska kontaktdelar (72) sträcker sig för kontakt med skivans (18) yta. 5. Kalibreringsanordning enligt krav 2, k ä n n e - t e c'k n a d men (20) på basplattan (12) omfattar en axel (22), som sträcker sig från basplattan (12) väsentligen vinkelrätt av att organ för montering av plattfore 448 786 mot nämnda plan, en distanshylsaf(2U), som omger axeln (22) och åstadkommer ett mellanrum mellan plattformen (20) och basdelen (12), en hylsa (26), som snävt omger nämnda axel på den från basdelen motsatta sidan av plattformen (20) och sträcker sig över en avsevärd del av axeln (22) samt organ (28, 32) för att pressa hylsan (26) mot plattformen (20).