SE437313B - Styrbar halvledarlikriktare innefattande organ for begrensning av styrbasskiktets storpotential - Google Patents
Styrbar halvledarlikriktare innefattande organ for begrensning av styrbasskiktets storpotentialInfo
- Publication number
- SE437313B SE437313B SE7809003A SE7809003A SE437313B SE 437313 B SE437313 B SE 437313B SE 7809003 A SE7809003 A SE 7809003A SE 7809003 A SE7809003 A SE 7809003A SE 437313 B SE437313 B SE 437313B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- potential
- ignition
- interference
- area
- electrode
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 59
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 73
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 29
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 16
- 239000000306 component Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 101100298295 Drosophila melanogaster flfl gene Proteins 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 150000002009 diols Chemical class 0.000 description 1
- 210000002196 fr. b Anatomy 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 239000012035 limiting reagent Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000013641 positive control Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/70—Bipolar devices
- H01L29/74—Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action
- H01L29/7404—Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action structurally associated with at least one other device
- H01L29/7412—Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action structurally associated with at least one other device the device being a diode
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Thyristors (AREA)
Description
7ao9ooz~2 p
l0
15-
20
25
30
35
.vid intilliggande mellanskikts kant uppträdande potentialen
medelst en ohmsk kontaktering det strålningskänsliga omrâdet.
Genom detta kompensationsförfarande uppnås en avkop-
- pling av den optiska tändningskänsligheten'från störtänd-
känsligheten, eftersom den vid intilliggande mellanskikt vid
kanten uppträdande potentialen inte pâverkas genom instrâl-
ning av optisk tändenergi men genom störströmmarna såsom
förklarats ovan.
Genom de uppträdande störströmmarna kan det intilliggande
mellanskiktets_störpotential anta stora värden. Det intillig-
gande mellanskiktets använda kantpotential skall nu så exakt
som möjligt motsvara mellanskiktets maximalt uppträdande poten-
tial inom n+-emitterskiktets strålningskänsliga område, efter-
som skillnader mellan dessa potentialer verkar såsom otillräck-
lig kompensation och halvledarlikriktaren då fortfarande är
störtändningskänslig. Vid mycket ljuständningskänsliga halv-
ledarlikriktare av det beskrivna slaget uppkommer således
också en speciellt hög störpotential i det intilliggande mellan-
skiktet, som endast kan kompenseras genom en motsvarande hög,
det strålningskänsliga området påverkande potential. Vid de
uppträdande höga potentialerna är inställningen av den
störpotentialen kompenserande potentialen förknippad med
svårigheter, såsom förklaras närmare i det följande. _
Vid effektkomponenter av ovanbeskrivet slag uppträder
exempelvis du/dt-krav på över 1000 VÅps (vid 1250), som
framkallar störströmmar med en kapacitiv strömtäthetstopp på
några mA/mmz; Vid komponenter utan störpotentialkompensation
uppgår den tillåtna potentialökningen i intilliggande mellan-
skikt relativt n+-emitterskiktet vid l25°C till under 0,4 V.
I Å andra sidan måste för en optisk tändning av komponenten
vid ungefär 25°C den optiskt genererade styrströmmen leda till
en potentialhöjning på ungefär 0,7 V. Skall således en tändninge-
känslig struktur, (exempelvis 0,5 mA/mm2 optisk genererad
styrströmtäthet) motstå en du/dt-störning på ungefär 2000 VÅps,
måste störpotentialer i storleksordningen 7V kompenseras, var-
vid kompensationsspänningen följaktligen måste uppgå till mer
än 6,6 V. Emellertid måste överkompensation undvikas för att
komponenten fortfarande skall kunna tändas i stigande spännings-
flanker.
10
15
20
25
30
35
40
7809003-2
Ovanstående värden för störpotentialen ligger i prak-
tiken på grund av oundvikliga teknologiska toleranser ofta
ännu högre. Det är både svårt att "träffa" kompensations-
potentialen och tekniskt komplicerat att alstra densamma med
erforderlig storlek (selektiv inetsning av ett område med de-
finierat ytmotstånd).
Vidare är-även en optiskt tändbar halvledarlikriktare
känd, som uppvisar en fyrskiktsstruktur, vid vilken mellan
katodelektroden och styrbaselektroden är anordnad en resistans
genom vilken den optiska tändningskänsligheten och även stör-
tändkänsligheten är inställbara. En relativt hög resistans ger
en motsvarande hög tändkänslighet, eftersom redan små styr-
strömmar (både optiskt genererade och störströmmar) alstrar
en motsvarande hög styrbaspotential. På grund av sin störtänd-
känslighet vid de tekniskt erforderliga optiska tändkänslighe-
terna, användes denna halvledarliktiktare endast i ett litet
effektområde (SCR MANUAL 1972, General Electric Comp., sid. 414
-417). e
Slutligen är även genom en styrström tändbara halvledar-
likriktare kända, som är utrustade med en tändelektrod, vid
vilken tändningen sker genom styrströmmen (Dynamische Probleme
der Thyristortechnik, VDE-Verlag GmbH, Berlin l97l, sid. 128-138).
Dimensioneras en dylik halvledarlikriktare för små styr-
effekter, är denna motsvarande tändningskänslig även i
du/dt-störningsfallet.
Uppfinningen har till uppgift att vid högt tändningskäns-
liga, styrbara halvledarlikriktare av godtycklig konstruktiv
utformning med hög du/dt-belastning och motsvarande höga stör-
potentialer i styrbasskiktet uppnå en kompensation av dessa
störpotentialer och att vid redan störningskompenserade styr-
bara halvledarlikriktare förenkla kompensationen. '
Donna uppgift löses enligt uppfinningen med den i patent-
kravets 1 kännetecknande del angivna åtgärden.
Fördelaktiga vidareutvecklingar av uppfinningsföremålet
framgår av underkraven.
Den genom uppfinningen uppnådda fördelen består speciellt
däri att genom begränsningen uppnås bara relativt låga stör-
och kompensatíonspotentialer, så att avstämningskänsligheten
minskas kraftigt. En ytterligare fördel består i att intilliggande
mellanskikts kantelektroder nu på grund av den ringa, av densamma
levererade kompensationspotentialen speciellt fördelaktigt kan
_._.___.í_:._____._.._..__--r, .- , _ , _ ,._-..._._.. _
:flíÜOR
ÛUÅL|TY
l0
15
20
25
30
_35
40
då-dvaoaoozfz
användas såsom styrelektrod. Detta är vid kända störpotential-
kompenserade, ljuständbara halvlevarlikriktare försvårat genom
de höga, vid denna elektrod uppträdande kompensationspotentia-
lerna, som kräver en relativt högohmig avdelning av denna
elektrod, så att en påtändning via denna elektrod inte är möj-
lig med relativt låga spänningar. En ytterligare'fördel består
i att kompensationspotentialen inte längre behöver tas ut från
halvledarlikriktarens kantområde och således stor frihet före-
ligger vid dess konstruktion.
_Uppfinningen förklaras närmare i anslutning till på bifogade
ritning schematiskt âtergivna utföringsexempel. Därvid visar:
fig. I
fig. 2
fig, 3a
fig. 3b
fig. 4
fig. 5
fig. 6
fig. 7
fig. så
fig. 9
ett snitt genom en ljusstyrbar halvledar-
likriktare enligt uppfinningen
tvâ diagram med vid uppträdande av störströmmar
_vid halvledarkroppen uppkommande stör- och kom-
pensationspotentialer och deras begränsning,
en känd utformning av en icke störníngspotential-
kompenserad, ljusstyrbar halvledarlikriktare
i snitt I
halvledarlikriktare enligt fig. 3a med en
störpotentialkompensation_ I
ett diagram för förtydligande av arbetssättet
för halvledarlikriktaren enligt fig. 3b
en ytterligare utföringsform av_en ljus-
styrbar störpotentialkompenserad halvledar-
likriktare sett uppifrån och i snitt
ett potentialdiagram till utföringsformen enligt
fig. 5 _
en utföringsform av en strömtändbar, stör-
potentialkompenserad halvledarlikriktare i
.snitt
diagram med vid uppkomst av~störströmmar
vid halvledarkroppens enligt fig. 7 upp-
kommande stör- och kompensationspotentialer
och deras begränsning _
utformningen av en vid halvledarlikriktarna
använd integrerad halvledardiod. G
Halvledarlikriktaren l enligt fig. l består av ett första
n+-emitterskikt 2 med en första ringformad huvudelektrod 3, som
QUALIH
f\íiñüiñí\\\n
I
\
\
10
15
20
25
30
35
40
nu
780900342
även ger ohmsk kontakt med ett intilliggande p-styrbasskikt,
efter vilket följer ett n-skikt 5, till vilket ansluter sig
ett andra p+-emitterskikt 6 med en andra huvudelektrod 7.
n+-emitterskiktet 2 har ett för en ljusstrâlning 8 utsatt
omrâde 9 med en ringelektrod 10. I kanten på p-styrbasskiktet
4 är anordnad en ringelektrod ll, som via en ledning l2 är
förbunden med elektroden 10 för n+-emitterskiktets 2 område 9.
Vid uppkommande av du/dt~störströmmar eller framspärr-
strömmar uppkommer i p-styrbasskiktets 4 mittdel en störpo-
tential wca , som medför en störtändning. För att undvika detta
ges n+-emitterskiktets 2 tändområde 9 ett ungefär mot störpo-
tentialen Qcap
potential uppträder vid kantelektroden ll och anslutes via
ledningen l2 och elektroden 10 till n+-emitterskiktets 2 om-
svarande kompensationspotential Wcomp. Denna
råde 9. _
Den ovan beskrivna utföringsformen av halvledarlikriktaren
och dess funktionssätt är kända.
Enligt uppfinningen begränsas nu p-styrbasskiktets 4
störpotential Wcap. Detta kan ske på olika sätt. Vid halvledar-
likriktaren enligt fig. l är styrbasskiktet 4 i närheten av
n+-emitterskiktets 2 strâlningskänsliga område 9 försett med
en ringelektrod 13, som via en komponent 14 med icke-linjär
karakteristik är förbunden med n+-emitterskiktets 2 huvud-
elektrod 3. Komponentens icke-linjära ström/spännings-karakteris-
tik har därvid valts så att under en given spänning föreligger
ett stort differentiellt reservmotstånd, som emellertid är
mindre ovanför nämnda i förväg givna spänning. Komponenten 14
kan exempelvis vara en kisel-pn~diod.
_Halvledarlikriktarens 1 funktionssätt förklaras nu närmare
i anslutning till de i fig. 2 återgivna diagrammen. För lättare
förståelse har i fig. l streckat antytts de mellan området 9
och elektroden l3 liggande ytmotstånden Ra, Rb med tillhörande
genomsnittliga reservkapacitanserna Ca, Cb för pn-övergångens
motsvarande områden (mellan 4 och 5) samt mellan kantelektroden
ll och huvudelektroden 3 antytts ett ytmotstånd Rk med
kapacitans Ck.
I diagrammen har återgivits den en önskad tändning
framkallande tändpotentialen W den en icke önskad
opt'
tändning framkallande störpotentialen Wcaø, kompensationspo-
tentialen W för störpotentialen och störpotentialens
comp
begränsning W relativt halvledarkroppen.
lim
írl//
/
om
P nnv
ivaosooz-2å
kilo
20
25-
30
35
40
"kompensationspotentialen W
I fig. 2 a har antagits en störpotential Wcap med sådan
storlek att den visserligen är motkopplad kompensationspoten-
tialen W com? men ännu icke behöver begränsas.
Med WE har de mellan emitterkortslutningarna uppträdande
störpotentialerna antytts, som inte har någon inverkan.
Den optiska tändpotentialen Wopt har sin nöllpunkt vid
innerkanten 15 (fig. l) av den på nollpotential liggande
huvudelektroden 3. Genom en sig anslutande etsad fördjupning
16 inställes den optiska tändpotentialens W begynnelseförlopp,
opt
som inte ändrar sig över elektroden 13, men som sedan stiger
relativt brant och i halvledarkroppens mitt uppnår sitt
maximum, dvs en tändgräns på ungefär 0,7 V. '
Den optiska tändpotentialen Qopt stiger således i
-början relativt flackt och sedan väsentligt brantare. Anledningen
till detta förlopp förklaras närmare i anslutning till
diagrammet enligt fig. 2b.
Störpotentialen Wcap har sin nollpunkt också vid huvudf
elektrodens 3 innerkant 15, stiger till elektroden 13 relativt
brant, stannar sedan utmed densamma på samma höjd och stiger
sedan ytterligare till ett maximum a. Störpotentialen Wcap är
vid en här antagen störning större än den optiska tändpotentialen
W opt och skulle således leda till en icke önskad tändning.
Detta förhindras genom den från kantelektroden ll uttagna
, som lyfter-n+-emitterskiktets
comp
2 område 9 till närheten av störpotentialen Qca? så att mellan
-detta område 9 och p-styrbasskiktets 4 intilliggande del endast
består en potentialdifferens b, som är mindre än den erforder-
liga tändpotentialen, så att halvledarlikriktaren inte tänder
trots att en störpotentíal Qcap föreligger, som är större än
den för önskad tändning erforderliga optiska tändpotentialen
W opt'
Strömmen genom dioden 14 antar vid en potential Wli
värden, som uppnår samma storlekordning som tvärströmmarïa i
p~basskiktet 4 och överskrider dessa ovanför Wlim. Beroende på
den använda diodens typ, varierar strömmen inom ett potential-
område É 0,1 V kring faktorer mellan 50 och 2500 (vid 300°K)
så att denna approximering av en referenspotential är motiverad.
I det i fig. 2a antagna fallet antar emellertid nu störpoten-
tialen Wcap vid begränsningsstället ett värde c under Qli , så
m
att diodens 14 effekt blir försumbart liten.V
10
15
20
25
30
35
40
7809003-2
Någon begränsning av störpotentialen av Wcap inträder
således icke.
I fig. 2b antas att i p-styrbasskiktets 4 mittdel upp-
cap, som är flera gånger större än
den enligt fig. 2a. Störpotentialen W'c
träder en störpotentialw'
ap motkopplas en kom-
pensationspotential @' , så att på nytt en potential-
com
differeens b mellan n+-emitterskiktets 2 område 9 och p-
styrbasskiktets 4 mittdel erhålles, som inte leder till
tändning. I
Enligt uppfinningen begränsas störpotentialen. Såsom
framgår av fig. 2b är denna störpotential W'ca så stor att
vid ringelektroden 13 uppträder en sådan potential@'cap,
som är större än wlim, att dioden 14 blir ledande och därigenom
den höga störpotentialen W' begränsas till den lägre
ca
störpotentialen W“cap' lim. Således behöver.kompensationspo-
Comp endast anta _värdet $"COmp. Återigen
verkar mellan p-styrbasskiktets 4 mittdel och n+-emitterskiktets
tentialen W'
2 område 9 endast potentialdifferensen b mellan störpotential-
en wucap, lim
kan leda till tändning.
, som inte
och kompensationspotentialen W"c0mp
Störpotentialens W' kurvform är bestämd genom
cap, lim_
ytmotstånden Ra, Rb med tillhörande ersättningskapacitanser
Ca, Cb och dioden 14 (fig. l). Kapacitanserna Ca och Cb
erhålles genom områdena för den mellersta pn-övergången och
avger vid störning störströmmarna Ica, Ich. Ersättningskapaci-
tanserna Ca, Cb står i ett förhållande på ungefär l:l0.
Störströmmen I
andel Ica
(fig. 2b) av störpotentialen Q"
Cá flyter över ytmotståndet Ra, vars spännings-
x Ra inte begränsas av dioden 14, så att andelen S
cap' lim alltefter störningens
storlek också blir olika stor. Eftersom dioden 14 ligger
parallellt med ytmotståndet Rb (elektroderna 10, 3) blir,
när diodens 14 egen potential wlim uppnås eller överskrides
vid elektroden 10, dioden 14 ledande och begränsar således
+ Icb) x R
den av (I b
resulterande spänningsandelen B av
cap, lim (fig' 2)'
Genom en bestämd utformning av områdets 9 geometri och
den till detta område hörande mittdelen av intilliggande p-
styrbasskikt 4 (etszon l6, placering av elektroden 13)
Cap' limbegränsning
@lim inte påverkar även den optiska potentialen Wo
Ca
störpotentialen Q"
uppnås vidare att störpotentialens Q"
pt. Såsom fram-
n/pafiíii”
i QUALYTY
7809003-2
10
15
20
_.25
30
35
40
går av fig. Zb är det optiska potentialförloppets wopt och
störpotentialförloppets kurvformer klart olika.
, wncap, lim
Den genomnittliga bredden av det optiska tändpotentialförloppets
90 t del C är mindre än den genomsnittliga bredden av
störpotentialförloppets Q" _ andel S. Begränsningspoten-
cap, lim _ -
tialen Qïim kan således sänkas, exempelvis ungefär till
punktenflfllim, utan att därmed även uppkommer en begränsning
av den optiska tändpotentialen Qopt. Därigenom är det även
möjligt att med den optiska tändpotentialen Qopt något
överskrida tändgränsen,fför att på så sätt uppnå en snabb
inkoppling av halvledarlikriktaren. Eftersom störpotentialens.
Q "caè"lim begränsning_enbart har placerats i dess undre
ökningsområde och andelen S lämnats opåverkad, påverkas den
optiska tändpotentialen Wopt, även om den blir större än
potentialen Wii , inte ofördelaktigt av begränsningen.
Störpotentïalen har således minskats avsevärt utan att,
den optiskt tändpotentialen påverkats.
'Genom möjligheten att välja begränsningspotentialen Q'lim
kan såsom-begränsningsmedel även användas metallhalvledardioder,
exempelvis Schottky-dioder, utan att den optiska tändkänsligheten
minskas. p
I Den kända optiska tändbara halvledarlikriktaren enligt
fig. 3a har fyrskiktsstruktur med ett n+-emitterskikt 30, ett
p-styrbasskikt_3l, ett n-huvudbasskikt 32 och ett p~emitter-
skikt 33. n+-emitterskiktet 30 är försett med en katodelektrod
34, p-styrbasskiktet 31 med en styrbaselektrod 35 och p-emitter-
skiktet 33 med en anodelektrod 36. Ljusinstrâlningen 37 sker från
sidan i områae se av skikten 31, 32. nïemitterskiktet 30 utgör
komponentens tändbara område. . ' ' '
Katodelektroden 34 ligger på nollpotential och anodelektro-
-den 36 på positiv potential. Mellan katodelektroden 34 och styr-
*baselektroden 35 är.anordnad en resistans 39, exempelvis 500 Ohm,
varigenom den optiska tändkänsligheten och även störtändkänslig-
heten är inställbara. Såsom redan nämnts är denna halvledar-
likriktare relativt störningständbenägen.
Genom åtgärden enligt uppfinningen kan vid en dylik halv-
ledarlikriktare ett relativt högt motstånd 39 väljas, så att
hög optisk tändkänslighet vid samtidig hög dn/dt-störsäkerhet
uppnås genom begränsning av störpotentialen och kompensation av
den kvarvarande störpotentialen.
10
15
20
25
30
35
40
7809003-2
Enligt fig. 3b är för kompensation av p-styrbasskiktets
31 störpotential anordnad en av en kondensator 40 och en
resistans 41 bestående RC~krets, varvid kondensatorn 40 är kopp-
lad till anodelektroden 36 och katodelektroden 34 samt resistansen
41 till katodelektroden 34 och nollpotentialklämman 42. RC-
kretsen är anpassad till interna kapacitanser och tvärmotstånd
i komponenten. I
Begränsningen av styrbasskiktets 31 störpotential sker
medelst en diod 14, som är kopplad parallellt med den till
styrbaselektroden 35 och klämman 42 anslutna resistansen 39.
Genom RC-kretsen 40, 41 âstadkommes i du/dt-störningsfall
en extern, kapacitiv ström och således en kompensationspotential
W comp'
förlöper i samma riktning. Denna vid resistansen 41 uppträdande»
som motsvarar p-styrbasskiktets 31 störpotential och
kompensationspotential WC påverkar n+-emitterskiktets 30
elektrod 34 så att detta :ïïkt påföres en potenttial, som mot-
svarar riktningen av styrbasskiktets störpotential. På detta
sätt förhindras en tändning.
Eftersom kondensatorn 40 har fast kapacitans medan pn-
övergångskapacitansen av skikten 31 och 32 är spänningsberocnde,
väljes ett lämpligt medelvärde för kondensatorns 40 kapacitans.
Potentialkompensationen förbättras genom potentialbegräns-
ningsdioden 14, eftersom skiktets 31 du/dt-störpotential, som
skall kompenseras, sänkes väsentligt. Kondensatorn 40 och resistan
sen 41, som befinner sig i lastkretsen, kan således genom an-
vändning av den potentialbegränsande dioden 14 dimensioneras
väsentligt mindre.
Begränsningens funktionssätt beskrives närmare i anslutning
till fig. 4.
På ordinatan har inritats tändströmmen och på abskissan
'den mellan klämman 42 och elektroden 35 uppträdande spänningen.
Vidare återges motståndets 39 strömkarakteristik IR, diodens 14
strömkarakteristik ID och strömförloppet IG för den av
resistansen 39 och dioden 14 bestående kombinationen.
Såsom framgår av diagrammet uppträder upp till ungefär
0,5 V ännu ingen effekt från diodens sida (ung. 0,5 mA)
respektive från kombinationen diod och motstånd (ung 1,5
mA). Uppnås en potential på 0,6 V, vilket svarar mot den
valda begränsningspotentialen Wlim, blir dioden 14 fullt
ledande och en ström större än 3,0 mA flyter.
:aafif
QUALHY
10
15
20
250
30
35
40
507809003-20
10
'Uppträder vid styrbaselektroden 35 således ungefär 0,5 V
och antas att vid ersättningsresistanserna Ra uppkommer en
ytterligare potential på ungefär 0,2 V, tändes halvledarlikrikta-
ren visserligen (ungefär 0,7 V), men genom genom dioden 14 sker,
ingen märkbar påverkan av den optiska tändkänsligheten, efter-
som kombinationen av diod 14 och resistans 39 vid 0,5 V leder
en ström IG på ungefär 1,4 mA, vilken är endast oväsentligt större
än den enbart genom resistansen 39 flytande strömmen IR (ungefär
1,0 mA)- .
Effekten av kombinationen diod 14 och resistans 39 uppträder
lförst vid 0,6 V på styrbaselektroden 35, och störpotentialen
begränsas till detta värde._
Den vid resistansen 41 vid du/dt-störningsfall uppkommande
kompensationspotentialen måste således i huvudsak endast utjämna
den vid ersättningsmotståndet Ra uppkommande extra störpoten-
tialen. 7 7 '
,Därmed bortfaller restriktioner avseende resistansens 39
dimensionering, så att densamma kan väljas relativt stor. Däri-
genom erhålles en relativt hög optisk tändkänslighet.
lill klämmorna 44, 45 kan exempelvis på känt sätt
anslutas en stvrbar effekthalvledarlikriktare, för vilken
den enligt uppfinningen optiskt_tändbara tyristbrn utgör en
extern "gate-förstärkare",_således en primärt tänd pilottyristor.
,Den ljuständbara halvledarlikriktaren l enligt fig. 5
skiljer sig från den enligt fig. l genom att kompensations-I
potentialen ïëomp inte uttas från halvledarkroppens kant utan
från ett ställe, där en potential uppkommer, som i och för sig
är alldeles för liten för kompensation av den höga uppträdande
störpotentialen Wcap men genom den tillämpade störpotentialbe-
gränsningen har fullt tillräcklig storlek. - a
Genom störpotentialens begränsning erhålles således möjlig-
heten att för kompensation av densamma välja praktiskt taget
godtyckliga och endast förhållandevis små kompensationspotentialer
avgivande ställen på styrbasskiktet 4,-vars potential påföres
n+-emitterskiktets 2 för ljusinsläpp utsatta område.
Halvledarlikriktaren l skiljer sig vidare från den enligt
fig. l genom ett sammanhängande n+-emitterskikt 2 med samman-
hängande områden 51, 52, varvid instrålningsområdet 51 inte
längre är skilt från totalområdet 52, så att tändutbredningen
även kan ske genom bärardiffusion från området 51 till området
\__\
/ ;:
/sflffíí9ñ
10
15
20
25
30
35
40
7809003-2
ll
52 och således vid små vid likriktaren pâförda klämspänningar
kan diffundera ut. I
Trots att vid en dylik halvledarlikriktare uppträder endast
relativt låga kompensationspotentialer och således egentligen
endast en relativt ringa ljuskänslighet kan uppnås på grund
av att störpotentialerna måste hållas nere, kan nu uppnås en
hög ljuskänslighet. Höga störpotentialer uppträder nämligen nu
icke längre på grund av begränsningen, eftersom de bibringats en
storlek, som motsvarar de kompensationspotentialer som kan er-
hållas.
Kompensationspotentialens storlek vid elektroden 53 är given
genom ersättningsmotstånden Rkl och Rkz, med vilka parallell-
kopplats ett ytterligare ersättningsmotstånd Rk3, som bildas
genom n+-emitterskiktets 2 sammanhängande områden 51, 52 och
inte kan väljas stort.
För kompensationspotentialen vid elektroden 53 föreligger
således en RC-kombination, som består av ersättningskapacitansen
Ck och de parallellkopplade ersättningsmotstånden Rkl, 2, 3.
Elektroden 53 har U-form och tjänstgör samtidigt såsom
sekvensgate med följande funktionssätt:
Med 54 har tändomrâdet av halvledarens optiskt tända del
betecknats. Har detta område 54 blivit ledande under hög drift-
'spänning, uppträder genast även en motsvarande stor ström och
tändområdet 54 erhåller en stor del av denna ström från elek-
troden 53 via en förbindning 55 och en i instrålningsområdet
54 befintlig elektrod 56, varvid denna ström verkar såsom styr-
ström för resterande halvledarriktaren och tänder densamma ut-
med elektrodens 53 hela kant, så att tändningen i denna stora
ytterkant sörjer för att halvledarlikriktaren med endast ringa
tidsfördröjning (under lips) övertar lastströmmcn och således av-
lastar det optiska området 54.
Tätt intill området 54 är på det mot ytan dragna styrbas-
skiktet 4 anordnat en det optiska området 54 delvis omgripande
elektrod 57, till vilken är ansluten en styrbasskiktets 2 stör-
potential begränsande diod 14, vilken via en ledning 59 är
förbunden med katodelektroden 3. Analogt uppträder också en
omgripande potentialbegränsning av detta område 54.
Även n-huvudbasskiktet 5 är i ett mycket smalt område
80 uppdraget till ytan, varigenom uppnås att i skiktet 4 nedan-
för området 54 alstrade optiska strömmar endast kan flyta i
emitterkortslutningens 82' riktning. Motriktado flöden förhindras.
10
15
20
25
30
35
40
78090031-2
12
_Nedan förklaras närmare halvledarlikriktarens verknings-
sätt i anslutning till diagrammet i fig. 6.
Såsom framgår uppträder vid störning utan begränsning
en relativt hög kapacitiv störpotential Qca med i det när~
maste parabolisk ökning (halvparabel) medan kompensationspo-
är relativt låg. Den optiska potentialen W
tentialen $ opt
_ comp
*har liksom störpotentialen Qcap i det närmaste halvparaboliskt
förlopp.
' Genom diodens 14 potentialbegränsning Wlím fastställes
störpotentialen
tentialen Wlim, vilken exempelvis vid användning av en Si-pn-diod
ligger vid ungefär 0,5 - 0,6 V. 7
I exemplet antas att den optiska potentialen $0pt är något
högre än begränsningspotentialen qïím, så att_den optiska po-
tentialen Gßpt begränsas något men icke i sitt maximum.
När dioden 14 finns, flyter en kapacitiv ström Iq både
genom ersättningsresistansen Rqz och den därmed seriekopplade
dioden l4 och via ersättningsresistansen Rql till elektroden 3.
Utan diod 14 skulle strömmen Iq enbart flyta till ersättnings-
iskulle upp-
cap
som i huvudsak
resistansen Rql, så att en större störpotential W
komma. Den del A av störpotentialen W'¿ap,
skall kompenseras, är således avsevärt mindre än den olimiterade
störpotentialen Wcap. p _
næ-emitterskiktets 2 tvärkonduktans ger ersättningsmotstândet
Rk3, som ligger parallellt med ersättningsmotstånden Rkl' 2.
Därigenom överföras från elektroden 53 via ledningen 55 en ström
till elektroden 56, vilken avledes via n+-emitterområdena_5l, 52
till katodelektroden 3. Därigenom uppkommer i området 51 mellan
elektroderna 56 och 3 en ortsberoende kompensationspotential
Comp, som har sin nollpunkt vid områdets 5l av katodelektroden
f 3 täckta ställe och som via ett genom etsning av dess skiktstjock-
lek förtunnat område 81 ökar till elektroden 56 och sedan för-
blir konstant. '
_ Nollpunkterna för styrbasskiktets 4 potential ligger i»
emitterkortslutnigarna 82. Speciellt ligger styrpotentialernas
Q och
cap
inte nödvändigtvis på samma ställe som kompensationspotentialen
<9comp' _
Den genom styrströmmen tändbara halvledarlikriktaren enligt
fig. 7 överensstämmer med undantag av n+-emitterskiktets 2 mitt-
i uunlïn
>PJ/__/_,_.
10
15
20
25
30
35
7809003-2
13
del 60 och p-styrbasskiktet 4 överens med utföringsformen
enligt fig. 1. d -
Vid halvledarlikriktaren enligt fig. 7 är i det tänd-
bara området mellan det innersta ringformade n+-området 61
av n+-emitterskiktet 2 en del 60 av p-styrbasskiktet Ä uppåt-
dragen. Denna del 60 är försedd med en tändelektrod 63, vid
vilken tändningen sker genom en styrström Ig. Denna exempel-
vis av en elektronisk brytare 64 inmatade positiva styrström Ig
flyter i området 60 till p-styrbasskiktet 4.
I delen 60 råder ingen potentialdifferens. Analogt erhålles
en vid sin spets tillplattad tändpotential Wz, såsom framgår
enligt fig. 8a, b.
I diagrammen har samma störpotentialer 0 , W' t , W"
Cap Cap Cap,
lim, kompensationspotentialer Wcomp, @lc°mp, @“comP och begräns-
ningspotentialer Wlim, W'lim antagits, som vid diagrammet enligt
fig. 2. I motsvarighet därtill uppträder med avseende av stör-
spänningspotentialernas kompensation och deras begränsning
samma effekt som vid den optiskt tändbara halvledarlikriktaren
enligt fig. 1. '
ap vid ring-
elektroden l3 inte uppnår diodens 14 egen begränsningspotential
Q lim
$cap sker. _
I fig. 8b har störpotentialen @'cap en sådan storlek att
I fig. 8a antas åter att störpotentialen WC
och att således ingen begränsning av störpotentialen
en begränsning av densamma är meningsfull och sker genom dioden
14. Såsom framgår av diagrammen beröres tändpotentialen Qz inte
genom begränsningen, och således försämras inte tändkänsligheten.
I du/dt-fall kan det hända att på grund av den styrbara
halvledarlikriktarens koppling en extra kapacitiv störström in-
kopplas via tändelektroden 63, varigenom störpotentialen ökas
ytterligare. Genom en ringa överkompensation kan denna stör-
inkoppling göras overksam.
Såsom komponent med icke-linjär karakteristik kan användas
en halvledardiod, vars inkopplingsfördröjningstid måste vara
så kort att ingen dynamisk överhöjning av begränsningspotentialen
W lim uppträder.
Dioden kan vara utförd såsom hybrid eller integrerad kom-
ponent.
___»ff '
r//J
ïfëoon
10
15
20
zsi
vsoaoøs-2,
'14
Föreligger en hybrid komponent, är en termisk koppling
med halvledarlikriktaren ändamålsenlig, eftersom härigenom
begränsningspotentialen Qífin och minimitändpotentialen av
halvledarlikriktarens styrbas varierar i samma riktning som
temperaturen. _
*Såsom integrerad komponent erbjuder sig för dioden 14
en metallhalv1edardiod,_som kan bildas av metallelektroderna
13, 35, 57 (fig. l, 3, 5) och det därunder liggande halvledar-
materialet. På grund av p-diffusionen, genom vilken styrbasskikf
¿tet 4 i allmänhet âstadkommes,.kan det vara erforderligt,
att i elektrodområdet göra skiktet tunnare (etsning) för att
uppnå en lämplig karakteristik. g__ .
Halvledardioden kan även bildas genom ett indiffunderat
skikt, såsom detta schematiskt antytts i fig._9, där exempelvis
en del av halvledarkroppen enligt fig. l ätergivits.
Dioden 14! bildas genom ett ringformigt indiffunderat
n*-skikt 84, som är försett med en eiektrod 85;
Det måste emellertid förhindras att de störströmmar, som
skall avledas, leder till en störtändning på grund av elektron-
injektion från skiktet 84. Detta kan förhindras genom att
p-styrbasskiktet 4 i omrâdet under skiktet 84 dopas speciellt
kraftigt, eftersom därigenom elektrontransportfaktorn kraftigt
minskas.
i Störtändningen kan också förhindras genom att en hög täthet
av rekombinationscentra åstadkommes i halvledarkroppen i skiktets
84 område E, vilket exempelvis kan ske genom lokal bestrålning
med högenergetiska elektroner (energi över l.MeV).
0
AUTYr
ÛIIU
Claims (3)
1. Styrbar halvledarlikriktare (1) med ett flertal skikt med olika ledningstyp, varvid de båda ytterskik- ten är försedda med huvudelektroder och ett av de såsom elektron- ellerthål-emitter utförda ytterskikten upp- tändbart område (9), vilket vid uppträdande av störströmmar pàföres en kom- visar ett genom tillförd styreffekt pensationspotential, i samma riktning som intilliggande styrbasskikts (4, 31) störpotential i det genom styr- effekten primärt tända området, k ä n n e t e c k - av ett en ickelinjär karakteristik uppvisande, separat eller i halvledarkroppen integrerat element (14, 14'), vilket är förbundet med styrbassiktet (4, 31) och med halvledarlikriktarens (1) katodsidiga anslutninge- kontakt (3, 42) och tjänstgör för begränsning av styr- basskiktets (4, 31) störpotential.
2. Halvledarlikriktare enligt krav 1, n a d k ä n - n e t e c k n a t V i tändomràdet (9) intill belägna ytmotstànd (ersätt- ningsmotstånd-Rb) inom området för det till ytan kom- mande styrbasskiktet (4) och genom dimensionering av till därav, att genom dimensionering av detta område hörande kapacitanser (ersättningskapaci- tans Cb) tändpotentialförloppet har en genomsnittlig bredd som är smalare än bredden av det begränsade stör- potentialförloppet samt att begränsningen har placerats i störpotentialförloppets ökningsområde. _
3. Halvledariikriktare enligt krav 1 och 2, k ä n n e t e c k n a t därav, att elementet (14, 14') med ickelinjär karakteristik utgöres av en halvledar- diod med kort inkopplingsfördröjningstid.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2739187A DE2739187C2 (de) | 1977-08-31 | 1977-08-31 | Steuerbarer Halbleitergleichrichter mit einer Mehrzahl von Schichten unterschiedlichen Leitfähigkeitstyps |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE7809003L SE7809003L (sv) | 1979-03-01 |
SE437313B true SE437313B (sv) | 1985-02-18 |
Family
ID=6017744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE7809003A SE437313B (sv) | 1977-08-31 | 1978-08-25 | Styrbar halvledarlikriktare innefattande organ for begrensning av styrbasskiktets storpotential |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4208669A (sv) |
DE (1) | DE2739187C2 (sv) |
SE (1) | SE437313B (sv) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH634442A5 (de) * | 1978-11-15 | 1983-01-31 | Bbc Brown Boveri & Cie | Lichtzuendbarer thyristor. |
US4261001A (en) * | 1980-05-23 | 1981-04-07 | General Electric Company | Partially isolated amplifying gate thyristor with controllable dv/dt compensation, high di/dt capability, and high sensitivity |
US4261000A (en) * | 1980-05-23 | 1981-04-07 | General Electric Company | High voltage semiconductor device having an improved dv/dt capability |
JPS583283A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-10 | Toshiba Corp | サイリスタ |
US4633282A (en) * | 1982-10-04 | 1986-12-30 | Rockwell International Corporation | Metal-semiconductor field-effect transistor with a partial p-type drain |
US4595939A (en) * | 1982-11-15 | 1986-06-17 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Radiation-controllable thyristor with multiple, non-concentric amplified stages |
FR2542148B1 (fr) * | 1983-03-01 | 1986-12-05 | Telemecanique Electrique | Circuit de commande d'un dispositif a semi-conducteur sensible du type thyristor ou triac, avec impedance d'assistance a l'auto-allumage et son application a la realisation d'un montage commutateur associant un thyristor sensible a un thyristor moins sensible |
FR2718899B1 (fr) * | 1994-04-14 | 1996-07-12 | Sgs Thomson Microelectronics | Indicateur de défaut d'un composant de protection. |
US6339249B1 (en) * | 1998-10-14 | 2002-01-15 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor diode |
US9142692B2 (en) * | 2012-07-23 | 2015-09-22 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Thyristor-based, dual-polarity blocking photo-conductive semiconductor switch (PCSS) for short pulse switching and methods |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2549563C2 (de) * | 1975-11-05 | 1983-07-14 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Lichtzündbarer Thyristor |
US4122480A (en) * | 1975-11-05 | 1978-10-24 | Licentia Patent-Verwaltungs-G.M.B.H. | Light fired thyristor with faulty firing protection |
-
1977
- 1977-08-31 DE DE2739187A patent/DE2739187C2/de not_active Expired
-
1978
- 1978-08-25 SE SE7809003A patent/SE437313B/sv not_active IP Right Cessation
- 1978-08-30 US US05/937,975 patent/US4208669A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4208669A (en) | 1980-06-17 |
DE2739187A1 (de) | 1979-03-15 |
SE7809003L (sv) | 1979-03-01 |
DE2739187C2 (de) | 1981-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4282555A (en) | Overvoltage protection means for protecting low power semiconductor components | |
EP0014098B1 (en) | Gate turn-off thyristor | |
US3124703A (en) | Figure | |
US4967256A (en) | Overvoltage protector | |
SE437313B (sv) | Styrbar halvledarlikriktare innefattande organ for begrensning av styrbasskiktets storpotential | |
US4261001A (en) | Partially isolated amplifying gate thyristor with controllable dv/dt compensation, high di/dt capability, and high sensitivity | |
US4613884A (en) | Light controlled triac with lateral thyristor firing complementary main thyristor section | |
US4437107A (en) | Self-igniting thyristor with a plurality of discrete, field controlled zener diodes | |
US4686602A (en) | Protective circuit arrangement for protecting semiconductor components | |
US3766450A (en) | Thyristor | |
US5272363A (en) | Bidirectional protection component | |
US4195306A (en) | Gate turn-off thyristor | |
US4291325A (en) | Dual gate controlled thyristor with highly doped cathode base grid covered with high resistivity base layer | |
US4240091A (en) | Semiconductor controlled rectifier device with small area dV/dt self-protecting means | |
US5365086A (en) | Thyristors having a common cathode | |
US5596217A (en) | Semiconductor device including overvoltage protection diode | |
US6995408B2 (en) | Bidirectional photothyristor chip | |
EP0190162B1 (en) | Controlled turn-on thyristor | |
US4595939A (en) | Radiation-controllable thyristor with multiple, non-concentric amplified stages | |
US3958268A (en) | Thyristor highly proof against time rate of change of voltage | |
US4122480A (en) | Light fired thyristor with faulty firing protection | |
US5315149A (en) | Self-protected dividing bridge | |
GB2208257A (en) | Overvoltage protector | |
US4536783A (en) | High di/dt, light-triggered thyristor with etched moat current limiting resistors | |
US5003369A (en) | Thyristor of overvoltage self-protection type |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 7809003-2 Effective date: 19920306 Format of ref document f/p: F |