SA518392340B1 - صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق - Google Patents
صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق Download PDFInfo
- Publication number
- SA518392340B1 SA518392340B1 SA518392340A SA518392340A SA518392340B1 SA 518392340 B1 SA518392340 B1 SA 518392340B1 SA 518392340 A SA518392340 A SA 518392340A SA 518392340 A SA518392340 A SA 518392340A SA 518392340 B1 SA518392340 B1 SA 518392340B1
- Authority
- SA
- Saudi Arabia
- Prior art keywords
- substrate
- frame
- partition
- partition frame
- wires
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 125
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title claims abstract description 33
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 22
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 106
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 21
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 6
- 239000011800 void material Substances 0.000 claims description 6
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 6
- 230000035515 penetration Effects 0.000 claims description 4
- 239000012466 permeate Substances 0.000 claims description 3
- 238000009412 basement excavation Methods 0.000 claims description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 101100181929 Caenorhabditis elegans lin-3 gene Proteins 0.000 claims 1
- 241000252095 Congridae Species 0.000 claims 1
- 244000044849 Crotalaria juncea Species 0.000 claims 1
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 claims 1
- 206010024229 Leprosy Diseases 0.000 claims 1
- 102100034184 Macrophage scavenger receptor types I and II Human genes 0.000 claims 1
- 101710134306 Macrophage scavenger receptor types I and II Proteins 0.000 claims 1
- 101100043853 Medicago truncatula SUNN gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100001347 Mus musculus Akt1s1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100150299 Penicillium chrysogenum SREP gene Proteins 0.000 claims 1
- 241000251737 Raja Species 0.000 claims 1
- WHSQPVUDHQAQLA-UHFFFAOYSA-N SSSSSSSSSS Chemical compound SSSSSSSSSS WHSQPVUDHQAQLA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 102100033121 Transcription factor 21 Human genes 0.000 claims 1
- 101710119687 Transcription factor 21 Proteins 0.000 claims 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 claims 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims 1
- 238000001983 electron spin resonance imaging Methods 0.000 claims 1
- 238000012053 enzymatic serum creatinine assay Methods 0.000 claims 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims 1
- MBYLVOKEDDQJDY-UHFFFAOYSA-N tris(2-aminoethyl)amine Chemical compound NCCN(CCN)CCN MBYLVOKEDDQJDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 21
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 15
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 abstract description 3
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 50
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 20
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 17
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical class C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 12
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 12
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 12
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 8
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 8
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 235000015076 Shorea robusta Nutrition 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100234002 Drosophila melanogaster Shal gene Proteins 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 244000166071 Shorea robusta Species 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 235000013312 flour Nutrition 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N iron(III) oxide Inorganic materials O=[Fe]O[Fe]=O JEIPFZHSYJVQDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 210000004894 snout Anatomy 0.000 description 1
- 239000004557 technical material Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- 239000002912 waste gas Substances 0.000 description 1
- 238000005491 wire drawing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32715—Workpiece holder
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/458—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
- C23C16/4582—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
- C23C16/4583—Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/32—Processing objects by plasma generation
- H01J2237/33—Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
- H01J2237/332—Coating
- H01J2237/3321—CVD [Chemical Vapor Deposition]
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
يتعلق الاختراع الحالي بصينية ركيزة substrate tray والتي يتم استخدامها بوسيلة تكوين غشاء رقيق thin-film formation device وتجعل من السهل تحسين جودة الغشاء وتماثل وانتظام سُمك الغشاء على ركيزة بتحسين كفاءة تسخين الركيزة وتماثل وانتظام تسخين الركيزة. بالتالي، صينية ركيزة ليتم استخدامها بوسيلة تكوين غشاء رقيق وتتميز بأنه: حيث يتم تشكيل فراغات قابلة للتحميل بالركيزة والتي يكون كل منها مُناظراً لشكل ركيزة بواسطة أُطر تقسيم partition frames تنصيب مصفوفة والتي لكل منها شكل إطار رباعي الزوايا بداخل إطار خارجي وبتقسيم الجزء الداخلي من الإطار الخارجي إلى شبكة، حيث يتم تنصيب مجموعة من الأسلاك بين أُطر جانب الإطار الأمامي والخلفي بشكل تبادلي بالإطار الخارجي ويتم توصيل كل إطار تقسيم partition frame ودعمه بواسطة الأسلاك، وبحيث تكون الركيزة قابلة للتحميل على جزء دعم الركيزة بإطار التقسيم السفلي متصلة بالسطح السفلي من إطار القسم العلوي بإطار القسم أو على الأسلاك المتعارضة مع فراغات قابلية التحميل بالركيزة. شكل3
Description
صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق Substrate Tray for Use in Thin-Film Formation Device الوصف الكامل
خلفية الاختراع
يتعلق الاختراع الحالي بصينية ركيزة substrate tray والتي يتم استخدامها بوسيلة تكوين غشاء
.thin-film formation device رقيق
بشكل تقليدي؛ صينية ركيزة للاستخدام بجهاز تنمية لطور البخار vapor phase له بنية حيث يتم
تشكل تجويف لتعشيق الركيزة به على السطح العلوي من جسم صينية الركيزة وركيزة أو ركيزة
زجاجية شبه موصلة semiconductor substrate يتم تعشيقها بالتجويف وكذلك يتم تجهيزة صينية
الركيزة هذه بسخان heater كذلك؛ بينما يتم تسخين الركيزة عبر صينية الركيزة بواسطة السخان؛
يتم تتفيذ تكوين الغشاء الرقيق على السطح العلوي من الركيزة بواسطة وسيلة ترسيب البخار
الكيميائي (CVD) Chemical Vapor Deposition بلازما plasma أو وسيلة ترسيب البخار 0 الكيميائي حرارية أعلى الركيزة (على سبيل المثال» انظر sale البراءة 1(
1 طلب البراءة اليابانية المطروح مفتوحاً بالرقم 2012-162752.
الوصف العام للاختراع
بصينية الركيزة التقليدية المنكورة بالأعلى؛ تم تبني فكرة أن يتم تشكل تجاويف على السطح العلوي
من جسم صينية الركيزة على مسافات فاصلة مُحددة مُسبقاً ويتم تعشيق الركيزة بالتجويف. يتم 5 وضع جسم صينية الركيزة على هيئة طبقة على السخان (لوح سخان التسخين heating heater
Jag (plate تسخين الركيزة المُعشقة بجسم صينية الركيزة substrate tray body عبر جسم صينية
الركيزة. بجسم صينية الركيزة المذكورء يكون من الضروري على الأقل بضع ملليمترات - تقريباً
عشرات من الملليمترات للشمك من السطح السفلي الداخلي للتجويف إلى السطح العلوي من جسم
صينية الركيزة للحفاظ على صلابة جسم صينية الركيزة. بالتالي» نتيجة لأنه يتم تسخين الركيزة 0 بواسطة توصيل الحرارة عبر صينية الركيزة؛ فإن كفاءة توصيل الحرارة تصبح سيئة وعلاوة على
ذلك فإنها تفتقد إلى التجانس والتماثل نظراً لان التصاق السطح الخلفي لصينية الركيزة وسطح
السخان (لوح سخان التسخين) لا يكون كاملاً نتيجة لوجود اعوجاج أو انحراف بالتمدد الحراري
Cheat expansion بالتالي» سوف يكون هناك خوف من أن تكون الغشاء بواسطة ترسيب البخار الكيميائي البلازما أو وسيلة ترسيب البخار الكيميائي الحرارية قد لا يكون متساوي ولا يمكن أن تصبح جودة الغشاء جيدة. يوفر الاختراع الحالي صينية ركيزةٍ بوسيلة تكوين غشاء رقيق والذي وفقاً له يكون من الممكن بسهولة إجراء عملية تكوين غشاء حيث يُمكن تحسين JS من تماثل وانتظام تكوين الغشاء على الركيزة وجودة الغشاء. يوفر الاختراع وفقاً لعنصر الحماية 1 صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق؛ حيث انه يتم تشكيل فراغات بالركيزة يُمكن التحميل عليها والتي يكون كل Lie مُناظراً لشكل ركيزة بواسطة Ll تقسيم partition frames تنصيب مصفوفة والتي لكل منها شكل إطار ely الزوايا بداخل 0 إطار خارجي ويتقسيم gall الداخلي من الإطار الخارجي إلى شبكة؛ حيث يتم تنصيب مجموعة من الأسلاك بين أطر جانب الإطار الأمامي والخلفي بشكل تبادلي بالإطار الخارجي ويتم توصيل كل إطار قسم partition frame ودعمه بواسطة «DY وبحيث تكون الركيزة قابلة للتحميل على جزء دعم الركيزة substrate support portion بإطار القسم السفلي متصلة بالسطح السفلي من إطار القسم العلوي بإطار القسم أو على الأسلاك المتعارضة مع فراغات قابلية التحميل بالركيزة. 5 يتميز الاختراع وفقاً لعنصر الحماية 2 بأنه: بصينية الركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق؛ حيث كبنية لإدراج وتخلل السلك عبر شمك Hla) القسم؛ بالحالة حيث تكون فتحة الاختراق عامط penetration مفتوحة بمركز السمك بالحفر؛ يتم تشكل إطار تقسيم بوضع إطار التقسيم العلوي وإطار التقسيم السفلي باثنتين من الطبقات العلوية والسفلية وبتوصيل إطارات التقسيم العلوية والسفلية عبر daly نشر «diffusion bonding لحام نقطي spot welding أو باللولبة؛ وبحيث يتم 0 ثثبيت وقمط الأسلاك بحز مُشكل بسطح طبقة على إطارات التقسيم العلوية والسفلية. يتميز الاختراع وفقاً لعنصر الحماية 3 بأنه: بصينية الركيزة للإستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق؛ حيث يكون هناك آلية شد tension mechanism لتوفير الشد للأسلاك على سطح الجانب الخارجي من الإطار الخارجي؛ وبحيث يتم تشكل آلية الشد من جسم انزلاق والذي يتم به توصيل إحدى أطراف السلك؛ أعمدة انزلاق لتنفيذ توجيه الانزلاق لجسم الانزلاق ونوابض لولبية coil springs 5 ملتفة حول أعمدة الانزلاق المتخللة بين الإطار الخارجي وجسم الانزلاق.
يتميز الاختراع وفقاً لعنصر الحماية 4 بأنه: بصينية الركيزة للإستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق حيث يكون لأعمدة الانزلاق اثنتين من الأعمدة اليسرى واليمنى التي يتم إدراجها ووضعها بالأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق وتوجه الأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق. يتميز الاختراع وفقاً لعنصر الحماية 5 بأنه: بصينية الركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق؛ حيث يكون هناك مسافة بين السطح السفلي من إطار التقسيم shag دعم الركيزة أو السطح العلوي من السلك الممتد بالنطاق من 1150 ميكرومتر - 1250 ميكرومتر. وفقاً للاختراع بعنصري الحماية 1 و 2 حيث قد تم تشكل فراغات تحميل بالركيزة والتي يكون كل منها مُناظراً لشكل ركيزة بواسطة أطر تقسيم تنصيب مصفوفة والتي لكل منها شكل إطار رياعي الزوايا بداخل إطار خارجي ويتقسيم الجزءِ الداخلي من الإطار الخارجي إلى شبكة؛ حيث يتم 0 تنصيب مجموعة من الأسلاك بين أطر جانب الإطار الأمامي والخلفي بشكل تبادلي بالإطار الخارجي ping توصيل كل إطار تقسيم ودعمه بواسطة «PUY وبحيث تكون الركيزة قابلة للتحميل على gia دعم الركيزة بإطار التقسيم السفلي متصلة بالسطح السفلي من إطار القسم العلوي بإطار القسم أو على الأسلاك المتعارضة مع فراغات قابلية التحميل SOL وبحيث كبنية لإدراج وتخلل السلك عبر شمك إطار andl) بالحالة حيث تكون فتحة الاختراق مفتوحة بمركز السمك pall يتم 5 تشكل إطار تقسيم بوضع إطار التقسيم العلوي وإطار التقسيم السفلي باثنتين من الطبقات العلوية والسفلية وبتوصيل إطارات التقسيم العلوية والسفلية عبر ربط نشر؛ لحام نقطي أو باللولبة؛ وبحيث يتم تثبيت وقمط الأسلاك بحز مُشكل بسطح طبقة على إطارات التقسيم العلوية والسفلية. كما هو مذكور؛ عندما يتم تحميل الركيزة على فراغ التحميل بالركيزة المتكون بواسطة إطار التقسيم؛ يتم تحميل الركيزة على gia دعم الركيزة الذي نتاً بهذا الفراغ أو بالأسلاك التي تم إطالتها بهذا الفراغ؛ 0 بالتالي قد يتم وضع الركيزة بين إطارات التقسيم بشبكة. بالتالي؛ فإنه ليس هناك أي عضو لإعاقة الحرارة من التماس مع عنصر التسخين heating element (لوح تسخين السخان) الموجودة إلى الأسفل» بالتالي يكون من الممكن إشعاع الحرارة الإشعاعية مباشرة. ونتيجة لذلك؛ قد يتم تقليل ناقل الحرارة heat transfer بأكبر قدر ممكن ويكون من الممكن تنفيذ التسخين بفترة قصيرة ويكون من الممكن الحصول على شكل متماثل أكثر لتسخين الركيزة. كما هو الحال بالماضي؛ بحالة صينية 5 الركيزة حيث يتم تحميل الركيزة المُثبتة بها على لوح تسخين السخان؛ نظراً لأنه لا يمكن أن يتم تحميل صينية الركيزة بشكل قريب بحالة مسطحة بالكامل على لوح تسخين السخان (نتيجة لوجود
اعوجاج أو انحراف بصينية الركيزة)؛ ينتج التفاوت بدرجة hall بشكل جزئي وهذا الميل يكون كبيراً عندما تصبح منطقة صينية الركيزة اكبر . بالتالي» يصبح انتشار درجة hall للركيزة سيئاً مما يكن له تأثيراً Lob على تماثل وانتظام شمك الغشاء وجودة الغشاء بتكون الغشاء بواسطة وسيلة ترسيب البخار الكيميائي بلازما أو وسيلة ترسيب البخار الكيميائي حرارية. مع ذلك؛ وفقاً للاختراع (Jali نظراً a يتم تحميل الركيزة على ga دعم الركيزة أو الأسلاك؛ فإن انتشار درجة الحرارة لا يتحرف أو يتغير حتى إذا ما تم استخدام ركيزة بمنطقة سطح كبيرة؛ بالتالي يكون من الممكن الحصول على تكون غشاء متماثل ومنتظم. وفقاً للاختراع بعنصري الحماية 3 و 4؛ حيث يتم توفير آلية شد لتوفير الشد للسلك على سطح الجانب الخارجي من الإطار الخارجي؛ وبحيث يتم تشكل آلية الشد من جسم انزلاق والذي يتم به 0 توصيل إحدى أطراف السلك؛ أعمدة انزلاق لتنفيذ توجيه الانزلاق لجسم الانزلاق ونوابض لولبية ملتفة حول أعمدة الانزلاق المتخللة بين الإطار الخارجي وجسم الانزلاق وبحيث يكون لأعمدة الانزلاق اثنتين من الأعمدة اليسرى واليمنى التي يتم إدراجها ووضعها بالأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق وتوجه الأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق. بالتالي؛ وفقاً لآلية الشد؛ يتم امتصاص أي انحراف بالأسلاك نتيجة للتمدد الحراري للأسلاك وتصبح البنية بحيث يتم شد 5 الأسلاك بمقدار شد مُحدد مُسبقاً. بالتالي؛ قد يتم تنفيذ دعم إطار التقسيم تحديداً ومن الممكن أن يتم احتجازه تحديداً بفراغ مُحدد مُسبقاً بين الركيزة hag دعم الركيزة أو السلك ولوح تسخين السخان. كذلك؛ قد يتم تشكل انتشار موحد لدرجة الحرارة على الهيكل ككل (بالحرارة الإشعاعية radiant «(heat بالتالي قد يؤدي ذلك إلى تكون غشاء بجودة ودرجة تماثل جيدان. وفقاً للاختراع بعنصر الحماية 5؛ يصبح الفراغ بين الأسلاك التي تحمل الركيزة ولوح تسخين 0 السخان الذي يحمل صينية الركيزة Cus يتم توفير إطارات التقسيم فراغ مُحدد مُسبقاً. بالتالي؛ قد يتم منع الفقد بالحرارة الإشعاعية من لوح تسخين السخان بأكبر قدر ممكن. كذلك؛ Dh لأنه لا هدف من وجود عائق أو تداخل Lad بينهاء يصبح انتشار الحرارة موحد ومنتظم ويتم تخفيض الصفيحة المعدنية لدرجة الحرارة؛ بالتالي يكون هناك تأثير بحيث يكون من الممكن الحصول على تكون غشاء موحد ومتماتل. 5 شرح مختصر للرسومات
شكل 1 هو منظر منظوري يوضح الإنشاء بالكامل لوسيلة معالجة البلازما plasma treatment .device شكل 2 هو منظر إيضاحي لتوضيح الإنشاء القطاعي لوسيلة معالجة البلازما. شكل 3 هو منظر حيث قد تم تكبير gall الأساسي من الشكل 2 وتوضيحه. شكل 4 هو منظر حيث قد تم تكبير gall الأساسي من الشكل 3 وتوضيحه. شكل 5 هو منظر منظوري يوضح إنشاء صينية ركيزة والتي عليها يتم تحميل الركيزة. شكل 16 هو منظر مستوي يوضح صينية الركيزة والشكل 6ب هو منظر جانبي يوضح صينية الركيزة. شكل 17 هو منظر منظوري يوضح إطار تقسيم حيث يتم إدراج السلك؛ شكل 7ب هو منظر مُمدد 0 يوضح أطر الجانب العلوي والجانب السفلي والسلك الذي يُشكل إطار التقسيم وشكل 7ج هو منظر يوضح أطر الجائب العلوي والجانب السفلي والسلك الذي يُشكل إطار التقسيم. شكل 8 هو منظر مستوي يوضح gall الأساسي من صينية الركيزة. شكل 9 هو منظر يوضح الحالة حيث يتم توصيل لوح تسخين السخان بصينية الركيزة. شكل 10 هو منظر قطاعي تم اجتزائه بواسطة الخط أ-اً بالشكل 6. 5 شكل 11 هو منظر قطاعي تم اجتزائه بواسطة الخط ب-ب بالشكل 6. شكل 12 هو منظر جانبي يوضح الحالة حيث يتم تحميل الركيزة على صينية الركيزة ويتم ملامسة لوح تسخين السخان. شكل 13 هو منظر مستوي يوضح تكوين صينية الركيزة وفقاً لتجسيد أخر. شكل 114 هو منظر منظوري لإطار التقسيم(1«*1) قادراً على تحميل ركيزة واحدة وشكل 14[ب هو 0 منظر تكوبني له. شكل 115 هو منظر منظوري لإطار التقسيم الموحد (1x2) قادراً على تحميل ركيزتان» شكل 15ب هو منظر تكويني له وشكل 15ج هو منظر قطاعي له. شكل 116 هو منظر منظوري لإطار التقسيم الموحد (2x2) قادراً على تحميل أريع «BS شكل 6ب هو منظر تكوبني له وشكل 16ج هو منظر قطاعي له. 5 شكل 17 هو منظر يوضح نموذج لنظام plasma treatment system Lol) dallas بطريقة داخل أنابيب للإنتاج بالجملة.
qe للإنتاج cluster method البلازما بطريقة عنقودية dallas شكل 18 هو منظر يوضح نموذج لنظام بالجملة. الوصف التفصيلي: ينطوي الجزء الأساسي من الاختراع على صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق» حيث انه يتم تشكيل فراغات بالركيزة يُمكن التحميل عليها والتي يكون كل منها مُناظراً لشكل ركيزة 5 بواسطة أطر تقسيم تنصيب والتي لكل منها شكل إطار رباعي الزوايا مصفوفة بداخل إطار خارجي وبتقسيم الجزءِ الداخلي من الإطار الخارجي إلى شبكة؛ حيث يتم تنصيب مجموعة من الأسلاك بين أطر جانب الإطار الأمامي والخلفي بشكل تبادلي بالإطار الخارجي ويتم توصيل كل وبحيث تكون الركيزة قابلة للتحميل على جزءٍ دعم الركيزة «DULY إطار قسم ودعمه بواسطة بإطار القسم السفلي متصلة بالسطح السفلي من إطار القسم العلوي بإطار القسم أو على الأسلاك 0 المتعارضة مع فراغات قابلية التحميل بالركيزة؛ وينطوي كذلك على صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة إطار القسم؛ بالحالة حيث تكون dads تكوين غشاء رقيق؛ حيث كبنية لإدراج وتخلل السلك عبر فتحة الاختراق مفتوحة بمركز السمك بالحفر؛ يتم تشكل إطار تقسيم بوضع إطار التقسيم العلوي وإطار التقسيم السفلي باثنتين من الطبقات العلوية والسفلية وبتوصيل إطارات التقسيم العلوية والسفلية عبر ربط نشر؛ لحام نقطي أو باللولبة؛ وبحيث يتم تثبيت وقمط الأسلاك بحز مُشكل 5 بسطح طبقة على إطارات التقسيم العلوية والسفلية؛ وينطوي كذلك أيضاً على صينية ركيزة يكون هناك آلية شد لتوفير الشد للأسلاك على سطح Cua للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق؛ الجانب الخارجي من الإطار الخارجي؛ وبحيث يتم تشكل آلية الشد من جسم انزلاق والذي يتم به توصيل إحدى أطراف السلك؛ أعمدة انزلاق لتنفيذ توجيه الانزلاق لجسم الانزلاق ونوابض لولبية ملتفة حول أعمدة الانزلاق المتخللة بين الإطار الخارجي وجسم الانزلاق» وينطوي كذلك أيضاً على 0 صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق؛ حيث يكون لأعمدة الانزلاق اثنتين من الأعمدة اليسرى واليمنى التي يتم إدراجها ووضعها بالأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق وتوجه الأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق» وبنطوي كذلك أيضاً على صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق؛ حيث يكون هناك مسافة بين السطح السفلي من إطار التقسيم وجزء
دعم الركيزة أو السطح العلوي من السلك الممتد بالنطاق من 1150 ميكرومتر - 1250
ميكرومتر.
هنا فيما يلي؛ بالمرجعية للأشكال» سوف يتم توضيح تجسيد الاختراع الحالي. بذلك؛ سوف يتم
توضيح التجسيد؛ على سبيل المثال؛ اعتماداً على وسيلة ترسيب البخار الكيميائي بلازما والتي لها تكوين أكثر تعقيداً من وسيلة ترسيب البخار الكيميائي حرارية. شكل 1 هو منظر منظوري يوضح
الإنشاء بالكامل لوسيلة معالجة البلازما plasma treatment device شكل 2 هو منظر إيضاحي
لتوضيح الإنشاء القطاعي لوسيلة معالجة البلازماء شكل 3 هو منظر حيث قد تم تكبير Sal
الأساسي من الشكل 2 وتوضيحه؛ وشكل 4 هو منظر حيث قد تم تكبير الجزءِ الأساسي من
الشكل 3 وتوضيحه.
0 يوضح شكل | وسيلة معالجة بلازما م للاستخدام بصينية ركيزة N الخاصة بالاختراع الحالي. بوسيلة معالجة البلازما م عضو غطاء lid member 3 يغلق الجزء العلوي من جسم clog التفاعل reaction vessel body 1 المتكون بشكل صندوقي مجوف»؛ eg عضو الغطاء 3؛ يتم تحميل صندوق واقي shield box 5 والذي يتم تغطيته بحيث لا يتم تسرب تردد عالي للخارج على لوح الكترود مرتفع electrode elevation plate 20 عبر اسطوانة دعم supporting cylinder 10
5 (نظر شكل 2) على شكل منفاخ. كذلك؛ يتم دعم لوح الالكترود المرتفع 20 بواسطة آلية دفع رأسي vertical drive mechanism (غير موضح) مُثبتة على عضو الغطاء 3. كما هو مُبين بالشكل 2؛ على الجزء العلوي من الصندوق الواقي 5» يتم تحميل وسيلة موائمة تردد high frequency matching device Je 4 ويتم توصيل وسيلة موائمة التردد العالي 4 بمصدر قدرة عالي التردد (غير موضح).
0 يتم عبر الصندوق الواقي 5؛ اسطوانة الدعم 10 وجسم وعاء التفاعل 1؛ كما هو مبين بالشكل 2؛ إنشاء مجموعة من قضبان الالكترود electrode rods أ بالدخول والتخلل إلى الصندوق الواقي 5؛ اسطوانة الدعم 10 وجسم وعاء التفاعل 1. كما هو مبين بالشكل 3؛ يتم تشكل قضبان الالكترود أ من مجموعة من الأنابيب المتراكبة وبكل من قضبان الالكترود أ أنبوب واقي shield pipe أ1؛ أنبوب عازل insulative pipe أ2 وقناة تردد عالي high frequency conduit أ 3 حيث يتم تشكل
5 فتحة توصيل غاز gas communication hole أ4 بمركزها يتم تغطيتها بشكل متحد المركز واستيعابها ببعضها البعض.
بداخل الصندوق الواقي 5 إلى gia السقف من الصندوق الواقي 5؛ قد تم توفير ألواح سلكية gall لتوصيل التردد العالي من وسيلة موائمة التردد العالي 4. يتم توصيل 7 wiring boards
العلوي بكل لوح سلكي wiring board 7 بواسطة صمولة 9 بجزء القمة العلوي من قناة التردد
العالي أ3 حيث يتم تشكل فتحة توصيل الغاز أ4؛ بالتالي يتم تشكل مجموعة من قضبان الالكترود
أ
ويذلك»؛ يتم بقضيب الدعم of توصيل ial الطرفي من اللوح السلكي 7 بجزءٍ القمة العلوي من قناة
التردد العالي أ3 حيث يتم تشكل فتحة توصيل الغاز أ4؛ عبر الصمولة 9 وقناة التردد العالي 31
حيث يتم توصيل فتحة توصيل الغاز أ4 التي تكون مفتوحة عبر تركيبات التوصيل connection
fittings 712 التي بها أنبوب إضافة غاز عازل insulative gas introduction pipe 14 يتم وضعه بداخل الصندوق الواقي 5 وحلقة على شكل 0. كذلك؛ يتم توصيل الجزءٍ العلوي من أنبوب
إضافة الغاز العازل 14 عبر تركيبات التوصيل 12 التي بها أنبوب من الفولاذ غير القابل للصداً
الأنبوب غاز المعالجة 13 وحلقة على شكل 0.
بذلك؛ يكون من المرغوب فيه أن يكون أنبوب إضافة الغاز العازل 14 مصنوعاً من sale عازلة
steatite راتنج الصابون الصخري calumina ceramic مثل الصخر» خزف الألومينا insulator وما إلى ذلك. (PTFE) ethylene polytetrafluoroethylene بولي تترافلور وايقيلين 5
يتم توصيل القمة العلوية من قناة التردد العالي أ3 بأنبوب إضافة الغاز العازل 14 بالتالي يتم
توصيل مسار توصيل الغاز gas communication path 8 لأنبوب إضافة الغاز العازل 14 وفتحة
توصيل الغاز أ4 التي تتخلل مركز قناة التردد العالي أ3. بمركز قضيب الالكترود electrode rod
of يتم إحاطة المحيط الخارجي من قناة التردد العالي أ3 حيث تتخلل فتحة توصيل الغاز أ4 بأنبوب 0 عازل أ2.
ly يتم إحاطة وتطويف قناة التردد العالي أ3 المتصلة بوسيلة موائمة التردد العالي 4 عبر اللوح
السلكي 7 بواسطة insulative ring dle dala 17 بحيث يتم قمط وتثبيت الحلقة العازلة 17 بلوح
الالكترود المرتفع electrode elevation plate 20 بواسطة اسطوانة الدعم 10 وشفة معدنية
metallic flange 21 بالتالي يتم تثبيت قناة التردد العالي أ3 بواسطة بنية معزولة كهربائياً عن 5 الخارج.
كما هو مذكور؛ يتم تشكل قضيب الالكترود أ بحيث يكون الأنبوب الواقي أ1؛ الأنبوب العازل أ2؛ قناة التردد العالي أ3 وفتحة توصيل الغاز أ4 متحدة المركز وبالتالي موجودة ناحية مركزه من الخارج» يتم توصيل الجزء العلوي من قضيب الالكترود أ بأنبوب إضافة الغاز العازل 14 بالصندوق الواقي 5 ويتم توصيل gia القمة العلوي من قناة التردد العالي أ3 بوسيلة موائمة التردد العالي 4 عبر اللوح السلكي. يتم مد قضيب الالكترود أ بجسم وعاء التفاعل 1 بتخلل عضو الغطاء 3. بداخل جسم وعاء التفاعل 1؛ قد تم توفير لوح واقي 27 له شكل صندوقي بالجزء السفلي والذي يتم فتحة إلى الأسفل ولوح عازل جانبي 30 والذي يتم تشكله بواسطة حافة محيطية قائمة Ld) للوح عازل 29 (انظر شكل 2) على هيئة حاشية. يتم استيعاب لوح الكترود electrode plate 31 بداخل اللوح العازل 29
0 واللوح العازل الجانبي 30 والجزء المحيطي الداخلي من لوح الالكترود 31 يتم معالجته بشكل تدريجي . كما هو مبين بالأشكال 2 و 4؛ يتم استيعاب لوح تشتيت غاز gas dispersion plate 2, لوح تشتيت وسيط intermediate dispersion plate 33 ولوح انهمار غاز 34 بشكل طابقي كذلك يتم اتخاذ الشكل التكويني حيث يتم تخلل فراغ تشتت الغاز «ST 52 و 53 بين كل اثنتين من الطبقات.
5 يتخلل gall السفلي من قضيب الالكترود أ اللوح الواقي 27, اللوح العازل 29 لوح الالكترود 31؛ لوح تشتت الغاز 32 ولوح التشتيت الوسيط 33 ويصل للوح انهمار الغاز gas shower plate 34 علاوة على ذلك؛ تتخلل قناة التردد العالي أ3 لقضيب الالكترود أ لوح الالكترود 31 وتلامس لوح الالكترود 31, بالتالي يتم تشكلها بحيث يتم إمداد طاقة التردد العالي إلى لوح الالكترود 31 لوح تشتت الغاز 32 ولوح التشتيت الوسيط 33 ولوح انهمار الغاز 34. على الجانب الأخرء فإنها
0 تتشكل من فتحة توصيل الغاز أ4 بقضيب الالكترود أ الذي يتصل بعد ذلك بفراغ تشتت الغاز 51؛ 2 و 53 وبتم إمداد غاز المعالجة process gas بشكل موحد إلى فراغ تصريف البلازما plasma discharge space ع. بذلك؛ يتم توصيل فتحة توصيل الغاز 41 بفراغ تشتيت الغاز ق1 بارتفاع 3 مم إلى ما يُقارب حوالي 5 مم عبر ممرات التوصيل الجانبية 15 المُشكلة بالجدار المحيطي لقناة التردد العالي أ3.
5 بلح تشتيت الغاز 32 بشمك 2 مم إلى ما يُقارب 5 مم الذي يتم تحديد موضعه بموضع أسفل من فراغ تشتيت الغاز 51؛ يتم حفر العديد من الفتحات الصغيرة العلوية 32 بقطر 1.5 مم إلى ما
يُقارب 2.0 مم لتوصيل الغاز للأسفل وتم تحديد أوضاع الفتحات الصغيرة العلوية 32 بالأوضاع
المتماثلة المنتظمة المتمركزة على وضع التقاطع للأربع زوايا بمريع افتراضي.
بالطبقة السفلية من لوح تشتيت الغاز 32؛ يتم وضع لوح التشتيت الوسيط 33 عبر فراغ تشتيت
الغاز الوسيط 52 بمسافة (خلوص) من 2 حتى ما يُقارب 3 مم. بلوح التشتيت الوسيط 33 قد تم حفر العديد من الفتحات الصغيرة العلوية 33” بقطر 0.8 مم إلى ما يُقارب 1.5 مم لتوصيل الغاز
للأسفل وبتم تحديد أوضاع الفتحات الصغيرة الوسيطة 33 بالأوضاع المستهدفة المنتظمة المتمركزة
على وضع التقاطع للأريع زوايا بمربع افتراضي (المركز) للفتحات الصغيرة العلوية 32”.
بالطبقة السفلية من فراغ تشتيت الغاز ق2؛ يتم وضع لوح انهمار الغاز 34 بشمك من 5 حتى ما
بُقارب 8 مم عبر فراغ تشتيت الغاز السفلي ق3 بمسافة (خلوص) من 2 حتى ما يُقارب 3 مم.
0 بلوح انهمار الغاز 34؛ قد تم حفر العديد من الفتحات الصغيرة العلوية 34" وقد تم تحديد أوضاع الفتحات الصغيرة السفلية بالأوضاع المنتشرة بكل الاتجاهات والمتمركزة على وضع مناظر للفتحات الصغيرة الوسيطة 33”. بصفة خاصة؛ يتم JS من الفتحات الصغيرة السفلية C34 تشكل طرف سفلي بشكل مستدق ويتم تحديد قطر الفتحة السفلية ليكون من 0.5 مم حتى ما يُقارب 0.5 مم.
5 تحت لوح انهمار الغاز 34 يتم تشكل فراغ تصريف البلازما ع بمسافة مُحددة Tass (خلوص). يتم تطويق محيط فراغ تصريف البلازما ع بواسطة لوح عازل جانبي side insulative plate 30 باللوح العازل 29 ts الغاز الذي يتم تصريفه من الفتحات الصغيرة السفلية 34" من لوح انهمار الغاز 34 تصريف للبلازما بداخل قطاع بلوح العزل الجانبي 30 بواسطة قدرة تردد عالي. بهذا الوقت؛ نظراً لأنه قد تم تطويق فراغ تصريف البلازما ع وتقسيمه بلوح العزل الجانبي 30
0 باللوح العازل 29؛ فإنه قد يتم حصر تصريف البلازما. بالتالي؛ وفقاً لهذا الحصرء فإنه قد يتم تخفيض كل من خرج التردد العالي ومعدل التدفق لغاز المعالجة وقد يتم تحسين جودة تكوين الغشاء على الركيزة وجعله متمائل. كما هو مذكور»؛ يتم استيعاب لوح الالكترود 31 باللوح العازل 29 حيث يكون اللوح العازل الجانبي 0 قائم Lud) على شكل حاشية؛ ويتم وضعه أسفل لوح الالكترود 31 لوح تشتيت الغاز 32 لوح
5 التشتيت الوسيط 33 ولوح انهمار الغاز 34 التي لكل منها فتحات صغيرة؛ بالتالي يتم إخراج Se المعالجة ونشره من العديد من الفتحات الصغيرة التي تم حفرها بشكل منتظم على كل لوح بشكل
دقيق من لوح انهمار الغاز 34 وأخيراً يصل إلى فراغ تصريف البلازما ع. بالتالي» يتم shal تصريف البلازما بالفراغ العلوي لصينية الركيزة 'ن” أو لوح تسخين السخان ح وقد يتم إتمام تكوين الغشاء على الركيزة 'ن” على صينية الركيزة 'ن". يتم توصيل لوح تسخين السخان ح بالأرض. يتم أسفل فراغ تصريف البلازما ع بوسيلة معالجة البلازما م المؤلفة على النحو الموضح أعلاه؛ وضع صينية الركيزة 'ن". بذلك؛ بين صينية الركيزة N والطرف السفلي من اللوح العازل الجانبي 0 باللوح العازل 29 يتم تشكل فجوة حصر البلازما plasma confinement gap 35 (انظر شكل 2) بحيث لا تتسرب البلازما التي يتم تصريفها. حيث تكون المسافة (الخلوص) لفجوة حصر البلازما 35 3 مم إلى تقريباً 15 مم معقولة. إذا كانت عريضة das يختفي تأثير هذا الحصر. يتم تحميل صينية الركيزة ن على لوح تسخين السخان ح (يتم توصيل لوح تسخين السخان "ح" 0 بالأرض) ويتم إجراء تكوين الغشاء بواسطة تصريف البلازما بينما يتم التحكم بتسخين ركيزة تكوين الغشاء ن المُحملة على صينية الركيزة ن حتى درجة حرارة مُحددة بشكل مُسبق. تتشكل صينية الركيزة "ن" وفقاً للفكرة الأساسية للاختراع الحالي على النحو التالي. شكل 5 هو منظر منظوري يوضح إنشاء صينية ركيزة والتي عليها يتم تحميل ERS شكل 6أ هو منظر مستوي يوضح صينية الركيزة ن؛ الشكل 6ب هو منظر جانبي يوضح صينية الركيزة J شكل 17 5 هو منظر منظوري يوضح إطار تقسيم 'و" للركيزة حيث يتم إدراج الأسلاك ث1 ث2 شكل 7ب هو منظر مُمدد يوضح أطر الجانب العلوي والجانب السفلي ث1 ث2 والأسلاك ث1؛ ث2 التي تشكل إطار التقسيم ف؛ شكل 7ج هو منظر يوضح أطر الجانب العلوي والجانب السفلي 71 F2 والأسلاك ث1؛ ث2 التي تُشكل إطار التقسيم (Gh شكل 8 هو منظر مستوي يوضح الجزء الأساسي من صينية الركيزة 'ن"» شكل 9 هو منظر يوضح الحالة حيث يتم توصيل لوح تسخين 0 السخان "ح" بصينية الركيزة 'ن”» شكل 10 هو منظر قطاعي تم اجتزائه بواسطة الخط أ-اً بالشكل 6» شكل 11 هو منظر قطاعي تم اجتزائه بواسطة الخط ب-ب بالشكل 6؛ شكل 12 هو منظر جانبي يوضح الحالة حيث يتم تحميل الركيزة على صينية الركيزة N ويتم ملامسة لوح تسخين السخان "ح". كما هو مُبين بالأشكال 5 و 6؛ يتم تشكل صينية الركيزة 'ن" من إطار خارجي مستطيل الشكل 5 40 ألواح واقية shield plates 50» 51 ¢52 53 مُشكلة بشكل مستطيل بعرض مُحدد مُسبقاً بطول الجزء المحيطي الداخلي للإطار الخارجي 40 والعديد من أطر التقسيم 'و" التي تمتد متقارية
بداخل الألواح الواقية ghd 53 52 51 S50 تحميل ركيزة substrate mounting space 'ق" مُشكل بداخل إطار التقسيم 'و" المناظر إلى حد كبير لشكل الركيزة 'ن" والأسلاك ث1؛ ث2 بقطر 3مم إلى ما يُقارب 0.5 مم ممدودة بحيث تتخطى فراغ تحميل الركيزة 5 بين الإطار الجانبي للإطار الأمامي 42 والإطار الجانبي للإطار الخلفي 43 المواجه للإطار الخلفي 40.
يتم الدمج بين الإطار الخارجي 40 والألواح الواقية 50« 51؛ 52 و 53 على النحو التالي. يتم تشكل كلا من الإطار الجانبي للإطار الأيسر 46 والإطار الجانبي للإطار الأيمن 47 من الإطار الخارجي 40 على هيئة حرف "ل" إلى حد كبير بالمنظر القطاعي؛ يتم تنصيب الأطر الجانبية الأمامية والخلفية 42 و 43 بكلا طرفي الأطر الجانبية اليسرى واليمنى 46 47؛ يتم تراكب أطرافها وتثبيتها بواسطة مزالج تثبيت mounting bolts 48؛ بالتالي يتم تشكل الإطار الخارجي
0 40. كذلك؛ على الأسطح العلوية من الأطر الجانبية الأمامية والخلفية 42 و 43 يتم لولبة أغطية سلكية wire covers 49( 49”. كذلك؛ يتم إسقاط الألواح الواقية الأمامية؛ الخلفية واليسرى؛ اليمنى بمسامير 48" بطول ja الحافة الداخلية المستطيل بالإطار الخارجي 40 وتثبيتها. يتم تشكل إطار التقسيم "و" من إطار واحد له فراغ تحميل الركيزة 'ق" والذي عليه يكون من الممكن تحميل ركيزة واحدة 'ن" بشكل خارجي محدد مُسبقاً أو إطار تركيبي له مجموعة من فراغات تحميل
5 الركيزة 'ق" ويتم تشكل شكل إطار التقسيم 'و" من إطار رباعي الزوايا إلى حد كبير والذي يتم تكبيره بحوالي 0.1 مم إلى تقريباً 1.0 مم من شكل الركيزة 'ن". كذلك» يتم تشكل شكل فراغ تحميل الركيزة 'ق" بداخل الإطار رباعي الزوايا بصورة مناظرة لشكل الركيزة 'ن" ويتم تحديد الفراغ المطوق بواسطة الإطار رباعي الزوايا حسب فراغ تحميل الركيزة 58. يكون شكل فراغ تحميل الركيزة 5 مناظراً لكل شكل للركيزة 'ن".
0 يتم وضع إطار التقسيم 'و" مصفوفة بداخل الإطار الخارجي 40 ويتم قولبته على هيئة حجيرة قد تم هنا إطالة ومد الأسلاك ث1؛ ث2 بصورة مستمر متصلة بآلية شد 'ر” متوفرة بالإطار الجانبي للإطار الأمامي 42؛ بين الأطر الجانبية الأمامية والخلفية 42 و 43 بالإطار الخارجي
كما هو مبين بالشكل 7 يتم إدراج أسلاك ث1 ث2 عبر فتحة إدراج السلك 45 المحفورة بالاتجاه
الطولي (من الممكن استخدام اتجاه اليسار -اليمين) بإطار التقسيم 'و" ويتم إطالة ومد اثنتين من
الأسلاك بحيث تتخطى فراغ تحميل الركيزة 5 بينما يتم الإبقاء على مسافة مُحددة مسبقاً بينهما.
(JUL يكون للاثنتين من الأسلاك ث1؛ ث2 دوراً في احتجاز إطار التقسيم 'و" بشكل موازي
5 بشبكة بداخل الإطار الخارجي المستطيل الشكل 40 ولدعم الركيزة 'ن" من الجانب السفلي على
الاثنتين من الأسلاك ث1؛ ث2.
بذلك؛ بالحالة حيث تكون الأسلاك ث1؛ ث2 ليست اثنتين؛ قد تتألف بحيث يتم استخدام العديد من
الأسلاك أكثر من اثنتين» بالتالي يتم دعم BS 'ن" بشكل وظيفي.
كذلك؛ قد يتم إطالة الأسلاك ث1؛ ث2 أيضاً بين الإطار الجانبي للإطار 42 43 46 47 0 المقابلة للاتجاهات الطولية اليسرى واليمنى بالإطار الخارجي 40؛ بحيث يتم تعارض الأسلاك
ث1ء ث2 بشكل تبادلي. بهذه الحالة؛ قد يتم دعم الركيزة من الجانب السفلي بواسطة DU"
ث1ء ث2 المتعارضة.
كذلك؛ كما هو مبين بالشكل 7؛ عندما تكون الأسلاك ث1؛ ث2 ممددة بشكل مستعرض بفراغ
تحميل الركيزة 'ق” بإطار التقسيم ف؛ فيما عدا الحالة حيث يتم إدراج الأسلاك ث1 ث2 بفتحة إدراج السلك 45 المحفورة بإطار التقسيم ف؛ قد يتم اتخاذ الإنشاء بحيث يتم تكون إطار التقسيم
'و' من إطار التقسيم الرقيق الجانبي السفلي والجانبي العلوي و1؛ و2 والتي يتم وضعها ويتم قمط
وتثبيت الأسلاك ث1؛ ث2 بحز بسطح التصفيح بإطار التقسيم الجانبي السفلي والجانبي العلوي
1< و2 ويتم إطالة الأسلاك ث1 ث2 بشكل مستعرض عبر فراغ تحميل الركيزة 5. كذلك؛ يتم
توصيل أطر التقسيم الجانبية السفلية والجانبية العلوية و1؛ و2 بواسطة رابط نشرء لحام نقطي أو 0 باللولبة وما إلى ذلك.
كما هو مذكور؛ يتم مد إطار التقسيم و بشبكة بداخل الفراغ الداخلي بالإطار الخارجي 40 بواسطة
الأسلاك ث1؛ ث2 التي يتم مدها بالإطار الخارجي 40.
cll يتم نقل صينية الركيزة "J بوسيلة معالجة البلازما Cd وكما هو مبين بالشكل 9؛ يمتد إطار
التقسيم 'و" مصفوفة بالإطار الخارجي 40 من صيتية الركيزة 'ن" التي يتم تحميلها على لوح 5 تسخين السخان "ح".
للإطار الخارجي 40 المتكون على النحو الموضح أعلاه؛ يكون من المرغوب فيه استخدام؛ كمادة cal مادة مانعة للصداً rust prevention metal مثل | لألومونيوم aluminum أو فولاذ مقاوم للصداً ls stainless steel عليها يتم dallas السطح of خزف الألومينا .alumina ceramic يكون إطار التقسيم 'و' مصنوعاً من مادة مانعة للصداً مثل الألومونيوم أو فولاذ مقاوم للصداً بشمك 2 مم. يتم تحديد قطر فتحة إدراج السلك wire insertion hole 45 لإدراج الأسلاك ث1 ث2 0.6 مم إلى تقريباً 0.7 مم إذا ما تم تحديد قطر الأسلاك ث1 ث2 0.5 مم. كذلك؛ فإنه من المرغوب فيه أن يتم تشكل الخلوص (التفاوت) ليزيد بحوالي 0.3 - 0.5 مم مقابل البعد الخارجي للركيزة المشحملة 'ن" ببُعد فراغ تحميل الركيزة 'ق" daly الإطار الخارجي 40. بذلك؛ بخلاف الشكل المستطيل؛ قد يتم تشكل فراغ تحميل الركيزة 'ق" بشكل متوافق مع شكل 0 الركيزة 'ن". كذلك بهذه الحالة؛ يتم تشكل الخلوص (التفاوت) بحوالي 0.3 - 0.5 مم بين الشكل الخارجي للركيزة "ن" والحافة الخارجية للفراغ 'ق". كذلك؛ يتم تحديد السطح العلوي للوح الواقي 50» 51؛ ¢52 53 المتوفر بطول الحافة المحيطية الداخلية بالإطار الخارجي 40 بنفس موضع المستوى للسطح العلوي للإطار 'و' المُثبت بينما يتم إدراج الأسلاك ث1 ث2 بموضع ef بشكل طفيف من السطح العلوي للإطار 'و". يتم تحديد 5 السطح العلوي للركيزة 'ن" المحملة على فراغ تحميل الركيزة 5 بإطار التقسيم 'و" بموضع هو نفسه للسطح العلوي لإطار التقسيم 'و' أو موضع أدنى من السطح العلوي لإطار التقسيم 'و" بما يُقارب حوالي 200 ميكرومتر - 350 ميكرومتر. كذلك؛ قد يكون من المرغوب فيه أن يتم تصنيع الأسلاك ث1؛ ث2 من Bale من الفولاذ غير القابل للصداً أو التنجستن tungsten بغرض مقاومة الشد؛ مقاومة الحرارة» منع الصداً ويكون قطرها 0 0.3مم - 0.5مم. كذلك» عند اتخاذ قطر السلك المذكور أعلاه؛ بالألواح الواقية 50» 51 652 53 المتوفرة بالإطار الخارجي 40 وبحافة المحيط الداخلي cad يتم تشكل حز إدراج سلك wire insertion groove 54" وحز استقبال سلك wire receiving groove 54 (انظر الأشكال 8 . 11) لإدراج الأسلاك I ث2 على الترتيب. 5 «وبذلك؛ على سطح الإطار الجانبي للإطار الأمامي 42 حيث تكون آلية الشد 'ر" لجذب الأسلاك ث1؛ ث2 متوفرة؛ يتم حفر حز إدراج السلك 754 بعرض 1 مم وعمق 1 مم عندما يكون قطر
الأسلاك ث1؛ ث2 مُحدد ليكون 0.5 مم. كذلك؛ على سطح الإطار الجانبي للإطار الخلفي 43
المُحدد موضعه عند الجانب المقابل من آلية الشد "ر"؛ يتم حفر حز سلك ارتداد return wire
groove 55 (انظر شكل 8( بعرض 1 مم وعمق 1 مم.
كذلك؛ يتم جذب الأسلاك ث1 ث2 بين الأطر الجانبية الأمامية والخلفية 42 43 التي يواجه كل منها الأخر. يتم توصيل كلا طرفي الأسلاك ث1ء ث2 بآلية الشد "J المذكورة أعلاه ويتم إعادة
الأجزاء الوسيطة من الأسلاك للإطار الجانبي للإطار الخلفي 43 بينما يتخطى فراغ تحميل الركيزة
5
يتم تشكل gia الارتداد بالأسلاك ث1 ث2 بطول حز سلك الارتداد 55 والذي يتم حفرة على هيئة
شكل بحرف U بالإطار الجانبي للإطار الخلفي 43. بالتالي؛ من ضمن اطر التقسيم 'و" الممتدة
0 على الأطر الجانبية للإطار الأمامي والخلفي 42؛ 43؛ بأطر التقسيم 'و' بكل صف أمامي وخلفي؛ يسار ويمين كلا طرفي gaa] الأسلاك ث1؛ ث2 يتم توصيلها بالترتيب باثنتين يسرى ويمنى من آليات الشد tension mechanisms 'ر" والجزءِ الوسيط لها يتم إعادته إلى داخل الإطار الجانبي للإطار الخلفي 43 ويعبر الاثنتين من الأسلاك فراغ تحميل الركيزة 5 بالاتجاه الأمامي والخلفي.
5 كما هو مبين بالأشكال 8 و 10 يتم تشكل آلية الشد 'ر" على النحو التالي ويتم وضعها بأوضاع مناظرة للأطراف اليسرى واليمنى من إطار التقسيم 'و' الممتد بصف واحد باتجاه أمامي وخلفي وساراً ويميناً بكلا طرفي الأسلاك ث1؛ ث2 على الترتيب يتم توصيلها باثنتين يسرى ويمنى من آليات Saal يتم تشكل آلية الشد 'ر” من اثنتين من أعمدة الانزلاق 56 البارزة على مسافات فاصلة منتظمة من
0 السطح الجانبي الخارجي للإطار الجانبي للإطار الأمامي 42؛ نوابض ملتفة coil springs 58 ملفوفة حول كل عمود انزلاق slide shaft 56 وجسم انزلاق 59 مُثبت بشكل قابل للانزلاق بين اثنتين من أعمدة الانزلاق 56 تحت تأثير Alla بذل قوة الدفع لنوابض الارتداد 58. يتم شد وتثبيت كلا الطرفين الأيسر والأيمن من الأسلاك المرتدة ث1 ث2 بشكل مُحكم على الترتيب بأجسام الانزلاق اليسرى واليمنى 59.
5 بالتالي؛ فإنه يتم جذب كلا الطرفين للأسلاك ث1؛ ث2 ودفعها باتجاه الجانب الخارجي عبر أجسام الانزلاق 59 بواسطة قوى الدفع لنوابض الارتداد 58 بالتالي يكون gall الأوسط للأسلاك
(I ث2 بالحالة المشدودة بإحكام من خلال ga الارتداد ويدعم الركيزة « بينما تمر بفراغ تحميل
الركيزة 'ق".
كما هو مذكور؛ وفقاً لآلية الشد 'ر"» يتم دعم الركيزة 'ن" وتحميلها على الأسلاك ث1؛ ث2
المطولة بفراغ تحميل الركيزة 5 وكذلك يتم تحديد موضع لوح تسخين السخان "ح" بحيث يدعم
5 الإطار الخارجي 40 تحت الأسلاك ث1؛ ث2.
في غضون ذلك؛ يتم تحديد تفاوت بين السطح العلوي للوح تسخين السخان "ح" والسطح الخلفي
للركيزة 'ن" عند ما يُقارب حوالي 1.25 مم )1250 ميكرومتر) ويتم تحديد تفاوت (خلوص) بين
السطح السفلي لإطار التقسيم 'و' والسطح الخلفي للسلك (إث1؛ ث2) عند حوالي 0.75 مم )750
ميكرومتر). بالتالي؛ عندما يتم تحديد القطر للسلك (ث1؛ ث2) عند 300 ميكرومتر- 500 0 ميكرومتر؛ بالحالة حيث يكون حجم قطر السلك ( ث1؛ ث2) لتحميل الركيزة « متضمناً كما هو
مبين بالشكل 12
يصبح التفاوت بين السطح الخلفي للركيزة "of والسطح العلوي من لوح تسخين السخان "ح" 1150
ميكرومتر- 1250 ميكرومتر. المسافة حيث يتم إضافة السلك (ث1؛ ث2) إلى التفاوت
(الخلوص) بين السلك (ث1؛ ث2) والسطح السفلي من إطار التقسيم 'و" تصبح إلى حد كبير (نتيجة لتفاوت قطر السلك وفتحة إدراج السلك 45) هي نفسها نفس المسافة على الأقل من السطح
الخلفي للركيزة 'ن" إلى السطح العلوي من لوح تسخين السخان "ح".
كما هو مذكور؛ اعتمادا على أنه يتكون بحيث يقوم بالحفاظ على علاقة المسافة للركيزة in السلك
(TE) ث2)؛ إطار التقسيم 'و" و لوح تسخين السخان "ح"؛ قد يكون التسخين من لوح تسخين
السخان "ح" change سريعاً ونفذ بصورة أكثر كفاءة وفاعلية ومن الممكن تنفيذ تكوين الغشاء على 0 الركيزة 'ن" بجودة جيدة اعتماداً على أن يتم تحقيق تصريف البلازما بشكل فعال.
بالتجسيد المذكور أعلاه؛ على الرغم من انه قد تم شرحه على انه نموذج حيث يتم تحميل الركيزة
أن" على الأسلاك (ث1؛ ث2)؛ بالتجسيد الحالي؛ فإن هناك إمكانية لأن يتم تنفيذ تكوين الغشاء
بالسطح الخلفي من الركيزة 'ن" نتيجة للعناصر الفعالة المُغلفة حول التفاوت (الخلوص) المحيطي
لإطار التقسيم "و" والركيزة "(J المحملة به. بالعملية من غير المفضل تكوين الغشاء على السطح 5 الخلفي؛ يكون من المتصور ذلك للتجسيد التالي. بالتجسيد التالي؛ كما هو مبين بالأشكال 13 و
4 4ب:»؛ يتم تشكل حزات إدخال السلك 145 (والتي هي؛ حز بإطار التقسيم بالجانب السفلي
(F2a على جانب الإطار الأيسر والأيمن بإطار التقسيم بالجانب السفلي 1728 بإطار التقسيم (Fa يتم تركيب الأسلاك (1718» 1728) بحزات إدراج السلك 45أ؛ يتم إطالة الأسلاك (W2a «Wila) بين الأطر الجانبية للإطار الأمامي والخلفي 42؛ 43 بالإطار الخارجي 40 ويتم وضع اطر التقسيم Fa بشبكة بالفراغ بالإطار الخارجي 40 بتوصيل اطر التقسيم Fa 5 علاوة على ذلك؛ على السطح العلوي من إطار التقسيم الجانبي السفلي 728؛ يتم توصيل إطار التقسيم الجانبي العلوي Fla بواسطة dda) انتشار أو باللحام النقطي؛ بالتالي يتم غلق فتحات إدراج السلك 145 ويتم تشكل إطار التقسيم Fa الحجم الخارجي لإطارات التقسيم الجانبية العلوية والسفلية (F2a (Fla) يتم تصنيعه بشكل مشترك بنفس الحجم؛ وكما هو الحال بالنسبة للحجم الداخلي؛ يتم جعل الفتحة بإطار التقسيم الجانبي السفلي 1728 Gaal ب 1000 ميكرومتر ~ 1500 0 ميكرومتر من فتحة إطار التقسيم الجانبي العلوي (Fla يصبح هذا التفاوت gia دعم ركيزة 61 وينفس الوقت؛ فإن هذا الفراغ الداخلي يصبح فراغ تحميل الركيزة 'ق" ويتم تحميل الركيزة 'ن" على جزء بقعة الركيزة 61. بالتالي» بالتجسيد المذكور coded قد تشكل صينية الركيزة بواسطة الحالة حيث يتم تحميل الركيزة ان" على الأسلاك (1718» (W2a بداخل إطار التقسيم 'و" ويتم تحميل الركيزة 'ن" على فراغ تحميل الركيزة 3" (هناك تخوف من أن يتم استثارة العناصر الفعالة بواسطة البلازما المغلفة حول السطح الخلفي من الركيزة TY عبر التفاوت بخلوص الحجم بفراغ تحميل الركيزة 'ق" والركيزة 'ن" ويتم تنفيذ تكون الغشاء على السطح الخلفي من الركيزة (1G على النقيض؛ بهذا التجسيد؛ يتم إدراج الأسلاك (W2a (Wa) بفتحة إدراج الأسلاك M5 المتكونة بجوانب الإطار اليسرى واليمنى من إطار التقسيم (Fa حيث يعمل كل إطار تقسيم Fa كأسلاك للوضع والدعم بشبكة بداخل 0 الإطار الخارجي 40؛ يبرز gia دعم الركيزة 61 إلى حافة الجانب الداخلي من فراغ تحميل الركيزة 5 لتعمل على تحميل الركيزة 'ن". (lly فإنه يتم دعم الركيزة 'ن" بواسطة السطح المحيطي بالكامل لحافة الجانب الداخلية )500 ميكرومتر - 750 ميكرومتر) shan دعم الركيزة 61. نظراً لان الركيزة « يتم دعمها بواسطة ملامسة السطح؛ قد يتم منع استثارة العناصر الفعالة بواسطة البلازما المغلفة حول السطح الخلفي من الركيزة 'ن" ويتم إتمام تكوين الغشاء. (INS قد يتم دعم الركيزة TY 5 بشكل دقيق ومن الممكن منع وتفادي التلطخ والترسيب بوزن الركيزة 'ن” بأكبر قدر ممكن.
على الرغم من أن إطار التقسيم Fa oF للركيزة 'ن" يكون إطار تقسيم له بنية لتحميل ركيزة « واحدة (1*1))؛ فإنه قد يكون لإطار التقسيم Fa (F بنية لتحميل مجموعة من الركائز 'ن". على سبيل المثال؛ كما هو موضح بالشكل 15؛ قد يتم تصور بنية لتحميل اثنتين من الركائز 'ن" (1x2) وكما هو موضح بالشكل 16؛ قد يتم تصور بنية لتحميل أريعة من الركائز 'ن" (2x2) 5 بذلك؛ عندما يصبح إطار التقسيم Fa F كبيراً dan يكون هناك إمكانية للاعوجاج أو للانحراف الناتج عن التمدد الحراري بإطار التقسيم Fa oF مما يؤثر على الركيزة « المُحملة على إطار التقسيم 1 18. بشكل صحيح وملموس» على حسب حجم الركيزة المُحملة على إطار التقسيم F Fa كإحدى الأمثلة؛ بالحالة حيث يتم استخدام رقاقة Si بحجم gaye 156 مم X 156 مم كركيزة خلية لخلية طاقة شمسية solar cell يتم تحميلها على إطار التقسيم (Fa F يحدث تأثير اعوجاج 0 أو انحراف رقاقة Si بواسطة التمدد الحراري لإطار التقسيم Fa F ويكون ضمن الحدود المقبولة (النتيجة التجريبية) إذا ما كان الحجم الخارجي لإطار التقسيم Fa oF ممتداً بنطاق حجم مربع 0 مم X 350 مم. بشكل مغاير؛ إذا ما أصبح الحجم الخارجي لإطار التقسيم 7 Fa بحجم يتجاوز حجم pope 350 مم cae 350 X فإن انتشار درجة حرارة السطح لرقاقة ال Si المُحملة على إطار التقسيم Fa oF يتأثر سلبياً بشكل ملحوظ بتأثير الاعوجاج أو الانحراف نتيجة للتمدد الحراري ا لإطار التقسيم 7» Fa وفقاً لهذه النتيجة؛ فإن إطار التقسيم الذي يحمل اثنتين من الركائز (1x2)n المبين بالشكل 15 وإطار التقسيم Fe الذي يحمل أربعة من الركائز « (2x2) يكونا أيضاً ضمن سياق وتوجه الاختراع الحالي. باختصار؛ بوسيلة ترسيب البخار الكيميائي التي تستخدم تسخين الركيزة؛ كما بالنسبة لحجم إطار تقسيم الركيزة؛. حجم مريع حوالي 350 مم X 350 مم يكون هو الحد وليس هناك أي مشكلة تتعلق بعدد الركائز « التي يتم تحميلها ضمن هذا النطاق. بذلك؛ فإن 0 المرجعيات 10 Fle بالأشكال 15 و 16 تُمثل إطار التقسيم الجانبي العلوي؛ 720؛ F2e تُمثل إطار التقسيم الجانبي السفلي؛ Jad W2e (Wile «W2b Wb الأسلاك و 45ب؛ 45ج Jad
فتحات إدراج الأسلاك .wire insertion holes على الرغم من أن dallas تكوين الغشاء باستخدام وسيلة dallas البلازما الواحدة هو على النحو الموضح أعلاه؛ عندما يتم بالفعل استخدام وسيلة معالجة البلازما 1؛ كما هو مبين بالأشكال 17 و 5 18 يتم استخدامها كتظام معالجة بلازما حيث يتم وضع مجموعة من حجرات معالجة البلازما X) MX - M1 plasma treatment rooms هو رقم طبيعي) على التوالي أو على التوازي. يوضح
شكل 17 نظام معالجة بلازما بطريقة داخل أنابيب وشكل 18 هو نظام معالجة بلازما بطريقة عنقودية. هنا فيما يلي سوف يتم توضيح نظام معالجة البلازما بالطريقة داخل خط أنابيب المبينة
بالشكل 17. تم تحميل ركيزة 'ن" تم نقلها بواسطة عملية سابقة على صينية الركيزة 'ن" بمكنة تحميل شغل work loader 5 (,1). تفتح صينية الركيزة N حيث يتم عليها تحميل الركيزة 'ن" صمام بوابي G1 gate valve (مفتوح) ويتم نقلها إلى حجرة مقفولة للتحميل load lock room (1). بالتالي يتم غلق الصمام البوابي 61 (مغلق) ويتم سحب الحجزرة المقفولة للتحميل LD لتفريغ الهواء. عند وصول الحجرة المقفولة للتحميل LD إلى درجة تفريغ هواء مثل تلك بحجرة معالجة البلازما M1 يتم فتح الصمام البوابي 62 (مفتوح) ويتم نقل صينية الركيزة 17 إلى حجرة dallas البلازما MI 0 بالتالي يتم غلق الصمام البوابي 62 (مغلق). بعد أن يتم إمداد غاز المعالجة © بمعدل تدفق والذي يتم التحكم فيه (قيد التشغيل) ويتم ضبطه حسب ضغط المعالجة؛ يتم إضافة قدرة التردد (قيد التشغيل) إلى حجرة معالجة البلازما 811 بالتالي يتم بدء معالجة البلازما (تكوين الغشاء). في غضون ذلك؛ يكون من المنطقي أن يتم ضبط لوح تسخين السخان "ح" حسب درجة حرارة المعالجة (درجة حرارة الركيزة المثالية) والتي قد تم تحديدها مُسبقاً. كذلك؛ بعد أن يتم غلق الصمام البوابي 62 (مغلق)؛ يتم إعادة الحجرة المقفولة للتحميل LD إلى الضغط الجوي. يتم فتح الصمام البوابي 1 (مفتوح) وبتم نقل صينية الركيزة N والتي عليها تم وضع الركيزة التالية « إلى الحجرة المقفولة للتحميل (LD بعد أن يتم إنهاء معالجة البلازما (تكوين الغشاء) بحجرة dallas البلازما M1 يتم إيقاف الإمداد بغاز المعالجة 'ز" وقدرة التردد (إيقاف). بعد أن يتم استنفاد الغاز المتخلف بحجرة معالجة البلازما (MI يتم نقل صينية الركيزة 17 إلى حجرة معالجة البلازما التالية 142 ويتم تكرار 0 عملية المعالجة (تكوين الغشاء) باستمرار» بالتالي يتم نقل صينية الركيزة (AN حجرة مقفولة لتفريغ الحمل unload lock room (010). بعد أن يتم إعادة الحجرة المقفولة لتفريغ الحمل ULD إلى الضغط الجوي» يتم نقل صينية الركيزة 15 إلى الحجرة المقفولة لتفريغ الحمل 11.1 التي تفتح صمام بوابي أخير X) GX هو رقم طبيعي) (مفتوح) ويتم حملها للخارج إلى مكنة تفريغ حمولة الشغل .17111. يتم غلق الصمام البوابي الأخير GX (مغلق) ويتم سحب الحجرة المقفولة لتفريغ 5 الحمل ULD إلى تفريغ الهواء وينتظر النظام. بنفس الوقت؛ يتم أخذ الركيزة « إلى الخارج عند مكنة تفريغ حمولة الشغل (WULD) work unloader ويتم إزاحة الركيزة « التي تم أخذها إلى
الخارج إلى العملية التالية. يتم sale) صينية الركيزة 7 التي تم منها أخذ الركيزة « إلى الخارج إلى مكنة تحميل الشغل WLD بواسطة آلية إرجاع return mechanism كما هو مذكور؛ يتم بشكل متعاقب إجراء عملية المعالجة (تكوين الغشاء). وفقاً للنتيجة العملية بالهواء الجوي؛ كان الوقت المستغرق في رفع درجة الحرارة من درجة حرارة الغرفة (30 درجة مئوية) إلى درجة حرارة المعالجة المُحددة lars )190 درجة مئوية - 210 درجة مثوية) حوالي 30 ثانية ~ 50 ثانية. في غضون ذلك؛ انتشار درجة ha السطح (نقطة واحدة للمركز وأريع نقاط بشكل قطري مائل بالدخول للداخل بحوالي 5 مم من محيط الركيزة) كان ضمن + 1 درجة مئوية مقابل درجة حرارة المعالجة المُحددة مُسبقاً. وفقاً للنتيجة العملية بتفريغ الهواء؛ كان الوقت المستغرق في رفع درجة الحرارة من درجة الحرارة (30 درجة مئوية) تحت نفس 0 الظروف بالهواء الجوي إلى درجة حرارة المعالجة المُحددة مُسبقاً )190 درجة مئوية ~ 210 درجة مئوية) حوالي 60 ثانية. في غضون ذلك؛ انتشار درجة حرارة السطح (نقطة واحدة للمركز وأربع نقاط بشكل قطري مائل بالدخول للداخل بحوالي 5 مم من محيط الركيزة) كان ضمن + 3 درجة مئوية مقابل درجة حرارة المعالجة المُحددة مُسبقاً. لا يعتبر الاختراع الحالي مقتصراً على التجسيدات الموضحة أعلاه ولكنه يتضمن أي إنشاء حيث 5 يُمكن أن يتم استبدال أو دمج أي إنشاء أو تركيب تم الكشف عنه هنا بالتجسيد أعلاه بشكل تبادلي؛ أو أي إنشاء حيث يتم تغيير المجال السابق واستبدال أو دمج أي إنشاء تم الكشف عنه بالتجسيد أعلاه بشكل تبادلي. كذلك؛ لا يقتصر التوجه التقني للاختراع الحالي على التجسيد الموضح أعلاه ويتضمن الاختراع JS من المادة التقنية الموضحة بعنصر حماية الاختراع الحالي ومكافئاتها .
العلامات المرجعية 1 ... جسم وعاء التفاعل 3 ... عضو غطاء 4.. وسيلة موائمة تردد عالي 5 5 ... صندوق واقي 7 .. لوح سلكي
8 ... مسار توصيل غاز 9 ... صمولة 0 ... اسطوانة دعم 2 ... تركيبات توصيل 13 ... أنبوب غاز معالجة 4 ... أنبوب إضافة غاز عازل 5 ... مسار توصيل جانبي 7 ... حلقة عازلة 0 ... لوح الكترود مرتفع 0 21 ... شفة معدنية 7 ...لوح واقي 9 ... لوح عازل 0 ... لوح عازل جانبي 1 ... لوح الكترود 32 ... لوح تشتيت غاز 2 ... فتحة صغيرة علوية 3 ... لوح تشتيت وسيط 3 ... فتحة صغيرة وسيطة 4 ... لوح انهمار غاز 0 34 ... فتحة صغيرة سفلية 5 ... فجوة حصر بلازما P ... فراغ تصريف بلازما A ... قضيب الكترود Al ... أنبوب واقي A225 ... أنبوب عازل 3ه ... قناة تردد عالي
A4 ... فتحة توصيل غاز 1 592 583 ... فراغ تشتيت غاز M ... وسيلة معالجة بلازما ...n ركيزة N 5 ... صينية ركيزة 1 ... لوح سخان التسخين 1 ... آلية الشد 0 ... الإطار الخارجي 2 ... الإطار الجانبي الأمامي 0 43 ... الإطار الجانبي الخلفي 5. 45 45ب» 45ج ... فتحة إدراج سلك 6 ... الإطار الجانبي الأيسر 7 ... الإطار الجانبي الأيمن 8 ... مزلاج تحميل 48 ... مسمار 9 9 ... لوح تغطية سلك 0 - 53 ... لوح واقي 4 ... حز استقبال سلك 4 ... حز إدراج سلك 0 55 ... حز سلك ارتداد 6 ... عمود انزلاق 8 ... نابض ملتف 9 ... جسم انزلاق Fe Fb «Fa © ... إطار تقسيم «Fla 01 5 16 216 ... إطار تقسيم جانبي علوي «Fa 2 206 22 ... إطار تقسيم جانبي سفلي
8 ... فراغ تحميل الركيزة 1 الك W2e 171 «<W2b «(W1b (W2a «Wla ... سلك 1 ... جزءٍ دعم ركيزة WLD ... مكنة تحميل Jad WULD 5 ... مكنة تفريغ شغل LD ... حجرة إقفال التحميل ULD ... حجرة إقفال تفريغ الحمل GX ~ 1 ... صمام بوابي MX ~ 1 ... حجرة dallas بلازما. 0 قائمة التتابع: ""- مسقط قطاع عرضي على امتداد lal I'd مسقط قطاع عرضي على امتداد الخط ب-حب "2 300)0 ميكرومتر ..500 ميكرومتر) 9" 11 (1150 ميكرومتر .. 1250 ميكرومتر) a" 15 12 (750 ميكرومتر ...850 ميكرومتر) Fa "yg Wla "y اح" W2a 'ط' Fla 20 ي' F2a 'ك' | Fb (Wib,W2b) "J F1b 0 أن" F2b 5 س' 17117126 ع - Wila,W2a
Fo ف" Fle 'اصض' F2c اق WLD "y
LD 'ش' 5
Mx a
ULD '&
GX fd
WULD لذ 1 fos 0 cs C1 ws ld
LD/ULD 1 z
Tr "1
Claims (1)
- عناصر الحماية1- صينية ركيزة substrate tray ليتم استخدامها بوسيلة تكوين غشاء رقيق thin-film formation«deviceحيث يتم تشكيل فراغات قابلة للتحميل بالركيزة والتي يكون كل منها مُناظراً لشكل ركيزة بواسطةLl تقسيم partition frames تنصيب مصفوفة والتي لكل منها شكل إطار ely الزوايا بداخل5 إطار خارجي وبتقسيم الجزء الداخلي من الإطار الخارجي إلى شبكة؛حيث يتم تتصيب مجموعة من الأسلاك بين أطر جانب الإطار الأمامي والخلفي بشكل تبادليبالإطار الخارجي ويتم توصيل كل إطار تقسيم partition frame ودعمه بواسطة الأسلاك؛ وبحيث تكون الركيزة قابلة للتحميل على ela دعم الركيزة substrate support portion بإطار التقسيمpartition frame السفلي متصلة بالسطح السفلي من إطار القسم العلوي بإطار القسم أو على 0 الأسلاك المتعارضة مع فراغات التحميل بالركيزة.2- صينية الركيزة substrate tray للاستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق thin-film formationdevice وفقاً لعنصر الحماية 1؛حيث كبنية لإدراج وتخلل السلك عبر شمك إطار القسم epartition frame بالحالة حيث تكون فتحة الاختراق عامط penetration مفتوحة بمركز السمك بالحفر؛ يتم تشكل Ua) تقسيم partition frameبوضع إطار التقسيم partition frame العلوي وإطار التقسيم partition frame السفلي باثنتين منالطبقات العلوية والسفلية وبتوصيل إطارات التقسيم partition frames العلوية والسفلية عبر رابطنشر «diffusion bonding لحام نقطي spot welding أو باللولبة؛ وبحيث يتم تثبيت وقمط الأسلاك بحز مُشكل بسطح طبقة على إطارات التقسيم partition frames 0 العلوية والسفلية.3- صينية الركيزة substrate tray للاستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق thin-film formation2 وفقاً لعنصر الحماية 1 أو deviceحيث يكون هناك آلية شد tension mechanism لتوفير الشد للأسلاك على سطح الجانب الخارجي 5 من الإطار الخارجي؛ وبحيث يتم تشكل آلية الشد tension mechanism من جسم انزلاق والذي يتم به توصيل إحدى أطراف السلك؛ أعمدة انزلاق slide shafts لتنفيذ توجيه الانزلاق لجسم الانزلاق ونوابض لولبية coil 85 ملتفة حول أعمدة الانزلاق slide shafts المتخللة بين الإطار الخارجي وجسم الانزلاق. 4- صينية الركيزة substrate tray للاستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق thin-film formationdevice وفقاً لعنصر الحماية 1؛ حيث يكون لأعمدة الانزلاق slide shafts اثنتين من الأعمدة اليسرى واليمنى التي يتم إدراجها ووضعها بالأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق وتوجه الأجزاء اليسرى واليمنى من جسم الانزلاق.10 5- صينية الركيزة substrate tray للاستخدام بوسيلة تكوين الغشاء الرقيق thin-film formation device وفقاً لعنصر الحماية 1؛ حيث يكون هناك مسافة بين السطح السفلي من إطار التقسيم partition frame وجزء دعم الركيزة substrate support portion أو السطح العلوي من السلك الممتد بالنطاق من 1150 ميكرومتر -5 1250 ميكرومتر.Q WER a EN LE اام ا £ ب SX Sa te Sa : = اح ل I Re ا حا اا دهم انحا تعد لالد د الك ايان التجتادج TERR ا ل ا اع ٍ HN ا ينا Po ل ب لفلا ان لمن 7 ary ¥ زمري ب 1 الى 0 لأ الس PEE الب رص ص Ne a WY up . الا The Lo PSR أ لا = اسح Pope SRE Pad Fs EE A ار لاسا LT ' م الا دي امم ب Se, البح en.Sg A ~~ kd Te Ray Fa: i pas " KN Mea #7 i إلا re 3 EN a SY + ب FEES Ped ص ام ay Ss 00 ِ FP a aa ا See Bo) 3 I< Sa د كات با ap كر WE ا م م ب لكي ص ديق ا a ا 0 pag Wl ¢ ht prey pa ب سس het 8 باق مطح يا 1 سن is م VOR 4 > 0 ات bof ١ ¥ a oF J AR NE اج اول ف SRY ¥ Yom] > ب SS ل a 1 ب (I 4 ا الكل ءا ل ا أ ا ا ل الا و ا a a A ER 3 hae ¢ | mA RUE NE ا 7 ECHR مس ee م اد ات en ات ات ااا ب ju J SENNA ب \ tio 0 وس § لايع I Figg ¥V با 2 Nai اال Ho BE AAPA Ba CI TEE “mwa ARR TSN NER NNN NY LL - ا Po . Ba A ال لاا : HEN of لاج ea aan See aaa A i Pd Pl ay ESRI, HE ; 1 بم مم تسمسسسسلللتتتببتبتتتتبببتيتبستوسهيسبتتبسسلبقا( «8 i 1 fod ; 1 .ا ا ل ا EE AN \ 7 ¢ BY Gl | rd ’ we . ud 3 Sa شكل ؟. م 0 N Y : و 3 i i he rds BF د ا ا \ A pre” a | ¥ ب ا" Po | or rs Pe 3 سم اليس لم للم رع NO ied § 3 لي لين 3 ad م A RN BSTC A eae EEE ا "0 i § Ly 5 8 0 oy N بل ) Ned § ا 1 NEO N : ل N N 1 ا وا i 1 re ION 1 BEN Nat # 5 ًٍ NN aa الوم ا ا ال IEEE ا 8 دالا ال ال ال ال ال ال FTN ot ¥ ا ا ا ا ا 5 2 5 : 1 1 7 2 : 8 Fa 9 5 2 ب لي مي أ كن ما ان ا 5 م أ ان ان اال ل N INI = اسان BIN ١ ال ا Nm 7 ا لب J ار ا ob ا ا i SR Rs) { الا SIE RCN RS Jf bs Lo SOTA NON يخاي حا يي a TR TT Ny YT EES 7 NN NNN دا NN ان bm Tn NON > 1 بكي Te كاي الا كا ات NIN NN لحك ANY N Uo ا ا حا ا جا جه اج ل ل > 4 ا انوا تجا حا جل م مي عا اج ا ل 8 AS, a حاط LINEA Ei TAN & ho i” { 50 is £00 I ١ N $ Ra As > و لحان لح اا Pet د i ا ا R71 nA ا EE دع نا ال و حور دسب bY ب fo 0 : ie os A ما م ١ تر ين ص كه ا ل 7 La 5 ايكيا يي يي رد يحي يتاوخا أطي بكي كيه وي ري جيك اي الات 4 ال اا oo 7 الا لخدن الحا الا ل اا ا ا ا ا - اتيش رشحي ov: ? p; Ty > sing ا Eg i م مضي ا ب ال اي ا ا A اس 24 ed اك رتبب 5 4 Hy 1ب عير يأر ل لت ل و لي د أ ين PR 5 8 الا اماك رحاس ا Ta | لمكا لمج ا Soran TT J ا حا تا i ITU ETR ~ #ت 1 حي م م حت EE 3% $ ¥ الممممممع ممه 0 العامة ا ٍ 1 a i 3-2 ا الس 1 i سا ل i i Tv مم77 i k ya io & 5 أ ب= 8 ارا 5 0 N ON ب N NW 5 8 0 oN Vo HT NZ > 2 " 5 ا oh مل A 8 و N 8 1 ا Ye VN \ ” أ pd وي g oN a ! AE i - "a pd و 7 72 TAN م 0 ب ie fr 5 pd Id ب م م no ke] ا ho iY 3 ان م و SRN 7 Sl >, pd rd re : $C wo} IN & pe rd nd oy ON ght ا 5 4 pil rd Ge 5H aN SN ~ 33 oe : & ا و ا ب 1 na ey LT 4 ب الا ب 1 le \ را 1 7 ب وم م 8 08 0 ا ا ا 0 5 ا A Fd AN > Ee RS : ا حا 5 ب ge ل ص 0 wy S40 7 A 2 ب ب 3 AN EN EN a, a AS a 3 we i re rd rd Ea ا ل : ا “i CRN | oo So A El rd SN ا - ل 6 0 0 ; oF rd oo 0 ٍ ب 1 0 1 0 2 ب ا 0 حي Ee Fie Ea LL wb اا ال 1 ra إلا مح رص NY Lilt py "١ ف و rs Ea SN 0 ال ٍ Ppa een = a A rd 8 0 1 i H 3 0 - 5 م ON ض NN piss Hho SN = 0 ب م“ 1 8 ىأ 0 ب سس م 2 AR SH gd Th = ٍ TA a A a oh i و و Re - سين ا AX = 1 ps NOT A a —— NEA Yd كب“ كيد 5 00 JENS 2 VEN ro vd py لكاي ا od & 22 ب ص ب سس ا ا ب وطح 4 i i حكني أ ريب Lp = rs Ea = bo 3 A 1 الس ا ا ا 0 ب ااا pr 1 ل ل AN 1 < : 2 , pres 9 م as 1 AA) BD == د مضي نب 1 Ga 2 اح EN = Elise TR Ha SHE) i i. NR pal So NE i i = az 2 ب 0 A so ZN 4 is io SN 2 ا ns en ب 77 ُ i lip SN Nl Y 34 = 5 J A A Tp a اص ب = 4 1 SR A قحا Lo w ل م ن- ب ¥ ¥ 1 ِ i Ta ¥ re rd 3 7 & ا ¢ ; 5 مر om pay ع ¢ ب" بيEy . ان B=— 3 1 — 4 A TN ك:* #؛ ل A A داع ان Ey جا اا J وو ل ال TE 1 اا PN Song Sa الح ; . & اريت ال ا اللي ا 3 p> LP 2, حا Soa 3 : اح اكد ل 3 ؟ Sa Seve ل SS, a ne. J ~~ ال المي ا حر حر م م سيا ١ ٠ > سح I ا 7 اح VA oli لي“ ص TY > ين ا دك مخ He ; م 25252 > a 2 Ts TIN TYE fat egy الا i بع Ct a SAN TR TN by > RN a d a Eg VL IGE ICESES كت بحي ب م ب Ly ie CREE لا sod ير آل 3 0 = & 7 AN peg od vail aE 5 TRE ل د gy Se TIRE ETN AEE ATT J Ee إل الم الا ل ل 5ج RL FEA ل Ny + 1 + 6 شكلب ب رق PT aay 0 1 ji 1 : J 0 ا i FR 2 : اا - aE HE ايا HER :1 | ا Y wd} bog £ ha Ty : 0 " HI ا 1 4 : \ PRR RRR] ed ممم x iS 00303000 RRR ب 4 94 5 لد Sr حنست SSA DE الات i= BS dam Sas: = اللا rf : I HS Pr *»* 0 لق tad : i 4 3 3 Ji IE SUNN SUN أ ل Naf د ا المسءة Wes ese ovr.Sn (IR ال 3 Sg ملاسو تبك المسستت" اميد FE BE 8 : > عد لحطتا سعد للد لاد فش ا امع 8 yg ; § [ : 1 Li 4ح 1 : Medel 0 | g J fen i : 8 1 i id ع 1 ie ed jie IA - Ron 2 Ri oman RR? RR oases SEO اد i i 1 : [ § : ب ا Fri I EE J : 3 i 1 ; | 0 ال وما الا الوم ١ ANE, SNe ete. الم FE a راح لزه بت مت الا حتت م داب اليا ديه الات ب دمج عه الا SONI SRE.ORE تا i 1 8 : 8 8: 1 1 ا iy 3 J 3 IH ed : ا هل i {len 1 : [ 8 الل Bf Ty ® 1 1 : 1 IH 0" fous IEE J 8 i 1 : 1 18 bi Sled ee Ree i So BR ioe” 3 Ng TTI Ey ا 2S 7 j i ! : 1 IH 8: 1 1 i 1 3 : إٍْ ب ا ليخ ل 1 : 3 | ERY 1 اد ب لمحتب متت INTC: اصح ARAN VEEN, " الح الت ال لمم الم اا لا i ; 7 3 RT Ee | 0 | : 3 odie Y Ra # [ : 1 1 HEE. هلبا ¥ انا ا سا ا 1 : ! ١ # !يوا * يع الممسسسا TTR TT re Dent Re Nr fr ١ ١ i Pond HI Pod i ERR SERRE JUROR J SOR 0 Lg لتم PL تمع i 3 § E i 1 1 > C3 8 : a Y £9 : fx = = _ « £ ,5 باخ <> وب a 7 Te a مح ص oF ERE ال oo ea “ee, pe ha PRE Pa Ta ا oo Se TS ee Sm - . الي 10 انس ع ا ب اا اصن يي ل نت ١ 7 ب Reo ا ا Pca امو ال ا ص ae 3 Sen, Cis 8 اص مح ال P r A ل امج Ie, SEE Sea, BogSS. r= > 2 اح : 5 J الا الوا الام 1 SE ا Pras “ef he = ST pd rt إل ih AS ra ا امنا ar PSC مم ا - ا ob Sg ْ صر gE اج شكل by 0 3 0 84 pe 1 » ب A ااا id sv 58 = : + % أ 33 ¥ ب سس سس H + 1 " IA a ع = إٍْ ا : $y 0 V ® قا 1 * 3x 3ا * % rs =[ + , و a 0" ق ” go وا 0 8 2 مس ْ ؤ : Hi H [ETT 1 اكات Wows | il ل | ا CN كك اي ترج ناي gE سسا 8 الاجر ec SR 7 AY Pod لج me سسا Sod TY A H : 1 3 1 3 1 i we 1 7لا 1 bod A 3 1 i Pd 08 اا ا ف سا 1 8 0 8 * HN + 3 جٍِ ري 1s | ا اث | i ag Pod 1 0 PE | لوث aq.AN SO i 1 i ¢ iu re 4 ا 8 : 5 Wadd { i Re ; ; 0 I 1 8 1 i afr : "0 اس سسا ; سس سس الس مجم يه لاس صر Er ا 0 1 1 8 جد خب MN 4 4: 1 1 0 4 0 1 الس Zi مسمس Gi: | ES ا | | 7 ال امتسسسستتبستت AN م . Pod ٍ ليق dy A {JR rom beg 0 TTT اي ِ P R te FAITE Ra fre k ! k Sor , oA «x SET ee dy Ee ot كل“ 1 ; يا eden LE ا لح الل NEBR ا ey ا ا ا لاي ا ال MR ةا NNN كا حا الو ا لي ب اح حال حتيا NERS NR سد NE LR oN AUC ¢ ORR VN NE he 4 A x A he جح RTE SNE oa ) te FRR 5 i A ! { 1 ااا سام i <5 / ب 3 * رس ذعد عدا © ie PN oy A SSE 61 5 ب 2 eee a © © ف 0 OF oO ون ان انق انق : شكل 4£ ii] i" Er 4 > ا kd ب م ١ $ ب x ¥ & & a § 0 :8 £ 2 ل 5 4 2 ان 3 RY y 0 5 7 Pr ioe ل ra ny ججح لح د در ددج دجا لح ماي لجس ّ oes TE Sr i ress الج ده جا تيه بوي بواج برج بواج مجك ذا NN DANA ; 1 ا > 0 ) DER vw www ON NN A 1 1 0 1 1 HH 41 ب aE 3 26 a 8 ha 2 wrt INC ...... BE } NI OA > i 1 NN Nn IN 1 H ا { { as eh ¥ £y &Y دك \ % Er Hoo 1 وه سرس لس Ed { Td 3 So 3 a : \ 3 rs Py 3 I > ! و 3 1 5 1 a oo Zl Ed rd a a et Fe rd N و ب بن fo AA pis صن ا ب Fl ay ry i ا VT SY و tan i jess EA Aa لت 0 و / 1 0 Fd 7 0 : 7 > i Es >" aT و اا سسا 140 ب th H 0 و ب 0 2 اران لك مر مجرتي رم لت با ب نب لو ال سك لك لبد ع ل ل مرحي لمي لالع ال مر يبلن الع الم لس ب كل ار ا عن أ أ ا S50 3 1 اليا Ey : > الك لاا ا 0 تعش Rafe ENG A 3 اي كيك A : aN ا لa . + 4 5 8 5 1 0 5 : 5 : ٍ : { 1 : { 1 £Y sp 9% ov 2% شكل ١١ wo ¥ 8 0 : E 3 تْ $ Nom > H A : ا # > اراي الوح يي ره ام دي اد ار دن اع نه اد دن حي مر مه i رحا م Te ri npn رن aman ame ne حو > PRUEEIAIL ا RR 0 واي موي ER rt . Sine, | EE ال Ni PA preted ZL SSE SIN La ery ا ا ne لاع TS Tb A ا ا FL TE PIN Te, Tn 1 a re + at و 0 ا اا CE I > الي ا 0 لي اا تك ا 3 1 8 :0 £4 2 ْ ا احلا 8 > 3 3 8 ا الاب ب > BS i 5 pS SN BON AN 0 hN > < الك ل >“ اخ اح اك اح اح ا اح ل اح اخ ا“ انك اح اخ دح TE TEE لك ا نا د آذ ا ذا ا اد ١ ا عدم د ا نا ا لخدن ذا اخ اح اح الك 4 2 واي ام الا kL t 3 ] rd : السب 4# E FESTUS... ATT J 4 0: ! © شكل ٠١Ho 4 i bi :8 . 1 لين 1 4 - ف sy ل T 1 3 إْ ٌ { 2 1 } H Po / ; i { 1 لس لأا ييه JRO. VE - ; FI i 1 3 ry yr ال فلا٠١ الل اا ادام HE GB 1 4 H 5 5 i £ | LJ Po JE. J 1 5 Foie a ووو حت هلح SP و3 I RN rs SE dd Ta : FY RN 7 ch سوا اي i: ا جب AI 1 AN] 7 إْ أ ل ا HEN ا ال اال NN I 0 ; i Hii HN IR NEN NEN ناسل "م H 1 ا ل ا ا ا i ne Boar i i CO ENN ON NN ty A FEAR ود اال ا HOA NL ud er Re Ee EL EE 8 < = SEL To a YE او اا لا ا 1 NNR Rea NI EE 0 ا £8 1 ا إ A الب NL ل ال ال i A SR NN ENN NEE ا الأ an PORNO EN tg : NL ا أ ا اا اا اد ال اال ا 4 إ a ا ادا A ال ا اال nd Ee لد ال NE ل ANN Lid LS EE Sa الوا a SaaS Ys Yee i PN Eo NO BN Lo ل i ا اا ا ا E a i ل ا ال ةج؛* AN LL : LL Nh Le 00 ل ا 0 اا NE Re ل Tod Fn SE LL الل ا ا أ اي © SAS امد جا د د دما ا حب حت انر ا اا ٍْ DUAN ل RE Vee 1 خخ NE Hi SIR NAN NE Ne aN Tei 2 Sob ب ااا ا ا i i, NN NEA INN RE Ne Lido EWN NL ol AT ل . د = LLY Wa SO ir i ا اا الي NN Ig : ENA ا - NN 8 ا ER WO LNG 1 : ENE ON Na SEAN Ne 13 i CURL EN CONGR Noy Ud ro RC FER RN SRS N CE HS a. PA SSN ا ENN اي Nay i Lid = aE Ve aN SE ماج الح ا a : NN NL 0 ا د ا SE Set sat و 1 خخخ I IN i SAN ENN 10 إٍْ 3 . a) Ra i NY NY “© Le i 18 J : ال ال EN NE EN A NaN NN i Eo \ Nn AN NO ب ا No 3 8 fn pe, 0 ااي ل ا لإ ته ال ا ل : nro HR Adar AN A ER La YER EIEN ik Hh T : 1 ١ : i ; fed . 1 bod ٍ ذا 3 1 \ iY 3 0 £1 oY EE ١“ شكل4 و oe, 1 صو / ال EI a piconet nee J السك A TT a ال ا ميته : 5 A Pn ay TT ree a rd a Pe ~N _— 2 res any es oe Vaal ¥ Tl a oF oo 3 ابح ال لي Pa Pads A RE IT yg صر es Fd res = % WP re oe spel To T A ATE ره ا ب د LA an pa oe - ص - .~ mi, a A ل د م م Ra Sy Ney Tre, hav Spell Co Pg بن Fe ات انتب رعس i ا التي ا or نص TE er” ال الها سس A.~~ م ا ا . c= Ret i i H Js i 0 3 be 11 J Ne ~~ SE Ng Ne SY اناك البح لمحا ed Fos يج مسح ا “i اسع ب لب + ااا مستي = يب ط py SS. SE Pr a HN ري م .سب NS pa pd سر 0 ار ات 3يي .تمه داق قدا ا 2 ا ال ااا داك ا الا ho a انح Se ra Pats oe اما Pats pa gy AE ال ا I a ا مر نل اليك NSN oF es ا و RE SZ i Ee AE A SF ATI Pl NG Sa SE يب الا الاي اتح A ate fae ني و ص a ام ا موك مسا ا Cd اك ل ب rs الي ros “es I oe A Es جا لات Tra Se ~~ op Pr Pa i Se en FE Fos وا الا 3 الي i aN شار ال fi Nap NT / م اسح Ta 1 غء it اذ تنب[ ; igo i Tg ~~ i } 2 A 3 { JL ب i د“ # go٠ 3 8 ٠ 1 3 pve Fu pr fay الا on ور اران ال ان NA رجا ام ا الات الور حتت ار ا مه yr 1 لد. ا NE po - 1 ا العا yd 3 VRAD yi. 4 i ps ; ارا تمي محا \ TN 7 “١ 4 Su NEL red bs ey Bin, hy AEE -- ق ميا أ Mn ra 8 0: A > م 1 ا ا Wr SE 0 ل 7 اد الت { ال ال نا ! NY 1 # J Ped 1 ل he شكل مروسسيس سو Qe Jui alt IA Ni “y oR 11 wf = 1 م اين 2 oF ا AN ب ال ات اند 8 7 Nn to bY ® i 1 ب شكل ماج— 3 9 — w <1 ل nt AEN EN poi ب< الخ حك ب جح ا * 9 3 إن المح تتا ا Sy ميج ب كوي ال 1 ا م » 7 a ¥ I 33 0 ب ا 3 RE Ve os ا Paty 4 ا ل NN Ne SR h AEE et NP ري ا 5 al 4 Ne RARE: FENN SG RSC I: ¥ Ve SN. مرا - Ea I قالح | اما ١١ * Sa عند ب ٠ ا ا ا SEE is AA % A] STN of EL aN “ا مح رالا 1 = ni 5 ~ % RETR زاب 4) PN Ye Va ISSN ts 3 : rer aly ل بو ال / “Se الا REE 0 ل 5 Pr قي تت 0 ال اليد Fog, Sr 0 ww RENN RX: 0 A Ny N pS rn 0 El > حت يب wal 1 ل 0 H NN 3 ف bed سن _ Es = أس” 1 A] = 0 I< 7 لود سسسسسسلسد سوسس ات ين ١ ؛! + ِب 3 5 1 it * 14 و أو ؟؟“ ا اا تصني gee لات ا لل:ك>> ا kN ; =) Bl & a 3 4 = Ee z شكلالل | ٠ نحة ا اللا و اللقلت قا ل د |! الت i 0 ين fi AAA AAA AAA 1 oe اي لي H AT cag SIE AE ححي 1 ات ; 1 ١ الح رح H - I acti § i] ner re+. bl ١ : i i . ]أ ال ٍ ان: . N : he el BEL aa ا i CS il SF I و | Hd بيب ا eT H Jp سن 1 — ye EH 4 1 التي |.. رن .ا سسا ٍ الل wap dd BREET Fo EER : teen i ha نح * ١٠+ شكل a ¥ ty J 0 rom <<» أ N ص إٍْ : 8 0 ب : : H H £4 a زو I EE RE صن الها الا ا الاسم ام a % “Na \ vo ين م 0 5 ألا 0 ٍ YN 3 - زر ا ra AY _— a oh & FN 1 i a, Jey we ! Lo 2 a Pal Se ا 1 يح TF No 2 ا Hy | م م 0 i Rae A nf BS COMUNE OPER. : بن 3 / 7 AF 0 { NN SOA م 4 م ب٠ SOROS 5 اسمن 1 از الا اا الا من ل ام بك 2 0 : ب م م م م ا > ًً 8 rd ون ا Fz of 7 ب م > ٍ N A ل و ري ا rd re 3 0 % a FA م x \ 3 8 وبا مج ركبا ادص SREP 1 حمل ااا ad er pe cot ب VOR so SAL | وح 4 oo 8 i 1 ye ب اي RY : 1 تت 7 د م ب bi 1 H م ا ص د ب َ ea ب< كك ا خض h ار امن id a { oT kN ™ X Se Pr LTS م 3 oo ا رم ا مم الي يات i AUR 3 ب i 9 ا > x oe : Spain ey oi Se 3 Fd kN مي i Ry ne 1 { Ton J ¢ ال “عجوي لجح - pe an = 3 Ne 0 . م yo xX ا من تي TT LL ef rd او ا ¢ BN ~ 5 ad 5 : N ب ا Fe a 2 fo I. “ae, i A ب 1 : 1 ٌ i ! : 7 pn إْ : م 1 i th را شا ا كز Ne oT ض | اج 3 y _— 1 المي لتكت EP م ا بي 1 I eT fod 7 FRY إ Cu ل Fr ١ ليسي ل ثم ELE باس الا ل EN nnn] - ١» hdd bd dd | k i ; bi الثتتتئتن) + - 3 : wunnanl Lo jenununiB ا ا لع بع hina nnniil Umm} : اللا نا ا اللا الل fbb LIAR لاطا : 7 الاج E ¢ } x i ; 2 1 ا[ { 1 i 0 ا 1 ا أل ا 0 ا 8 ؟! i ¥ Ty اض ٠ب yp YA ( شكا ْ*. LIلاله الهيلة السعودية الملضية الفكرية ا Sued Authority for intallentual Property RE .¥ + \ ا 0 § 8 Ss o + < م SNE اج > عي كي الج TE I UN BE Ca a ةا ww جيثة > Ld Ed H Ed - 2 Ld وذلك بشرط تسديد المقابل المالي السنوي للبراءة وعدم بطلانها of سقوطها لمخالفتها ع لأي من أحكام نظام براءات الاختراع والتصميمات التخطيطية للدارات المتكاملة والأصناف ع النباتية والنماذج الصناعية أو لائحته التنفيذية. Ad صادرة عن + ب ب ٠. ب الهيئة السعودية للملكية الفكرية > > > فهذا ص ب 101١ .| لريا 1*١ v= ؛ المملكة | لعربية | لسعودية SAIP@SAIP.GOV.SA
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2016/056685 WO2017149740A1 (ja) | 2016-03-03 | 2016-03-03 | 薄膜形成装置に用いる基盤トレイ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SA518392340B1 true SA518392340B1 (ar) | 2021-03-29 |
Family
ID=59743636
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SA518392340A SA518392340B1 (ar) | 2016-03-03 | 2018-09-03 | صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11174554B2 (ar) |
JP (1) | JP6445735B2 (ar) |
CN (1) | CN109154083B (ar) |
SA (1) | SA518392340B1 (ar) |
WO (1) | WO2017149740A1 (ar) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111979522A (zh) * | 2020-08-14 | 2020-11-24 | 苏州迈为科技股份有限公司 | 支撑装置 |
CN112038269A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-12-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 托盘及其加热装置、显示基板翘曲的修复方法 |
CN114686857A (zh) * | 2020-12-30 | 2022-07-01 | 中微半导体设备(上海)股份有限公司 | 一种基片托盘及其所在的反应器 |
CN114318278A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-04-12 | 南通玖方新材料科技有限公司 | 一种可调平面度的硅片承载装置 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5954929U (ja) * | 1982-10-02 | 1984-04-10 | 三和システムエンジニアリング株式会社 | ハイブリツドic等の薄板状ワ−クの保持用治具 |
JP3977935B2 (ja) * | 1998-08-05 | 2007-09-19 | 松下電器産業株式会社 | プラズマ処理方法及び装置 |
WO2003078678A1 (fr) * | 2002-03-19 | 2003-09-25 | Kabushiki Kaisha Ekisho Sentan Gijutsu Kaihatsu Center | D'interconnexion, procede de formation selective de metal, appareil de formation selective de metal et appareil de substrat |
WO2004075233A1 (ja) | 2003-02-18 | 2004-09-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | プラズマディスプレイパネルの製造方法および基板保持具 |
JP4470518B2 (ja) * | 2003-02-18 | 2010-06-02 | パナソニック株式会社 | プラズマディスプレイパネルの製造方法 |
US7771538B2 (en) * | 2004-01-20 | 2010-08-10 | Jusung Engineering Co., Ltd. | Substrate supporting means having wire and apparatus using the same |
JP2006319005A (ja) * | 2005-05-11 | 2006-11-24 | Ichiro Asada | 液晶ガラス基板の枚葉搬送トレー |
US8557093B2 (en) * | 2007-03-22 | 2013-10-15 | Sunpower Corporation | Deposition system with electrically isolated pallet and anode assemblies |
US20090120368A1 (en) * | 2007-11-08 | 2009-05-14 | Applied Materials, Inc. | Rotating temperature controlled substrate pedestal for film uniformity |
DE102008037387A1 (de) * | 2008-09-24 | 2010-03-25 | Aixtron Ag | Verfahren sowie Vorrichtung zum Abscheiden lateral strukturierter Schichten mittels einer magnetisch auf einem Substrathalter gehaltenen Schattenmaske |
JP5478058B2 (ja) * | 2008-12-09 | 2014-04-23 | 国立大学法人東北大学 | プラズマ処理装置 |
CN201962361U (zh) * | 2010-12-30 | 2011-09-07 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 加热器底座及加热器 |
JP2012162752A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 気相成長装置 |
CN103766001B (zh) * | 2011-09-09 | 2016-06-29 | 东芝三菱电机产业系统株式会社 | 等离子体产生装置及cvd装置 |
JP2013184717A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-19 | Toppan Printing Co Ltd | 基板輸送トレイ及び基板の輸送方法及び基板の取り出し方法及び基板の収納方法 |
-
2016
- 2016-03-03 US US16/080,380 patent/US11174554B2/en active Active
- 2016-03-03 WO PCT/JP2016/056685 patent/WO2017149740A1/ja active Application Filing
- 2016-03-03 CN CN201680083066.9A patent/CN109154083B/zh active Active
- 2016-03-03 JP JP2018502466A patent/JP6445735B2/ja active Active
-
2018
- 2018-09-03 SA SA518392340A patent/SA518392340B1/ar unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210180186A1 (en) | 2021-06-17 |
JPWO2017149740A1 (ja) | 2018-12-06 |
CN109154083A (zh) | 2019-01-04 |
US11174554B2 (en) | 2021-11-16 |
CN109154083B (zh) | 2021-02-05 |
WO2017149740A1 (ja) | 2017-09-08 |
JP6445735B2 (ja) | 2018-12-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SA518392340B1 (ar) | صينية ركيزة للاستخدام بوسيلة تكوين غشاء رقيق | |
US6605777B1 (en) | Earthquake-resistant electronic equipment frame | |
CN107723659B (zh) | 用于蒸镀的掩膜板及制备方法 | |
US8151729B2 (en) | Mask assembly and method of fabricating the same | |
Peck et al. | Cold-formed steel framed gypsum shear walls: In-plane response | |
KR20200011047A (ko) | 디스플레이 패널 및 이를 제조하기 위한 마스크 | |
US8354652B2 (en) | Ion source including separate support systems for accelerator grids | |
ITMI940630A1 (it) | Armadio per strumenti | |
CN108559946A (zh) | 掩膜组件、主掩膜板及配合掩膜板 | |
CN108251791A (zh) | 一种精细金属掩膜板制作方法及其制作平台 | |
JP2008066269A (ja) | 表示素子製造用マスク | |
US20130161431A1 (en) | Compact Machine for Unwinding Multiple Strands of Material | |
EP1752990A1 (en) | A fuel spacer for a nuclear fuel bundle | |
Fleming | The MicroBooNE Technical Design Report | |
ATE481751T1 (de) | Bipolarplatte für eine brennstoffzelle mit dichtrippen | |
US20020144861A1 (en) | Soundproofing element and soundproofing wall | |
EP1163694B1 (en) | Color picture tube having a lower expansion tension mask attached to a higher expansion frame | |
CN204415957U (zh) | 防爆变频器通用运输支架 | |
US1921222A (en) | Storage rack | |
JP7256354B2 (ja) | 鋼管端部の形状保持構造及び鋼管の段積み方法 | |
US20080289284A1 (en) | Process chamber and load-lock split frame construction | |
JP3214589U (ja) | パレットラック | |
TW322587B (ar) | ||
CN217324291U (zh) | Mocvd盘支撑工装 | |
US3443800A (en) | Gas circulating separator |