RU98112013A - Полупроводниковый диод с низким сопротивлением контакта - Google Patents
Полупроводниковый диод с низким сопротивлением контактаInfo
- Publication number
- RU98112013A RU98112013A RU98112013/28A RU98112013A RU98112013A RU 98112013 A RU98112013 A RU 98112013A RU 98112013/28 A RU98112013/28 A RU 98112013/28A RU 98112013 A RU98112013 A RU 98112013A RU 98112013 A RU98112013 A RU 98112013A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- type
- layer
- light emitting
- doped
- emitting diode
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 19
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims 1
- 230000003287 optical Effects 0.000 claims 1
Claims (10)
1. Полупроводниковое устройство, содержащее активный слой материала p-типа или n-типа, образующий переход с первым слоем легированного материала n-типа, второй слой легированного материала n-типа, расположенный рядом со слоем легированного материала p-типа, который может быть расположен с или отдельно от других слоев, активный слой материала p-типа или n-типа и средство для обеспечения электрического контакта с устройством, включающее в себя средство для обеспечения электрического контакта через второй слой легированного материала n-типа, с расположенным рядом слоем легированного материала p-типа. отличающееся тем, что второй слой легированного материала n-типа имеет концентрацию примесей в пределах от 1 · 1018 см-3 до менее чем 1 · 1019 см-3, причем энергия запрещенной зоны полупроводника активного слоя составляет менее 0,5 эВ.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что второй слой легированного материала n-типа является прозрачным для излучения, энергия которого больше, чем энергия запрещенной зоны, и которое излучает или поглощает устройство.
3. Устройство по п. 1 или 2, отличающееся тем, что содержит положительный светоизлучающий диод, излучающий с передней поверхности, отрицательный светоизлучающий диод или детектор.
4. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что содержит положительный светоизлучающий диод, излучающий с обратной поверхности, отрицательный светоизлучающий диод или детектор, причем средство для обеспечения электрического контакта через второй слой легированного материала n-типа, с расположенным рядом слоем легированного материала p-типа содержит металлический контакт, а второй слой легированного материала n-типа обеспечивает прозрачную переднюю область контакта для облегчения использования металлического контакта в качестве зеркала.
5. Устройство по п. 2, отличающийся тем, что содержит лазерный диод, а первый и второй слои легированного материала n-типа обеспечивают оптическое удержание в активном слое.
6. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что второй слой легированного материала n-типа обеспечивает электрический путь к исключающему или извлекающему контакту.
7. Устройство по п. 6, отличающееся тем, что содержит полевой транзистор.
8. Устройство по п. 6, отличающееся тем, что содержит биполярный транзистор.
9. Устройство отрицательного светоизлучающего диода, излучающее с передней поверхности, по п. 1, отличающееся тем, что второй слой легированного материала n-типа имеет концентрацию примесей порядка 1 · 1019 см-3.
10. Устройство отрицательного светоизлучающего диода, излучающее с обратной поверхности, по п. 1, отличающееся тем, что второй слой легированного материала n-типа имеет концентрацию примесей порядка 1 · 1019 см-3, средство для обеспечения электрического контакта через второй слой легированного материала n-типа, с расположенным рядом слоем легированного материала p-типа, содержит металлической контакт, а второй слой легированного материала n-типа обеспечивает прозрачную переднюю область контакта для облегчения использования металлического контакта в качестве зеркала.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB9524414.1A GB9524414D0 (en) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | Low resistance contact semiconductor device |
GB9524414.1 | 1995-11-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU98112013A true RU98112013A (ru) | 2000-04-20 |
RU2166222C2 RU2166222C2 (ru) | 2001-04-27 |
Family
ID=10784642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU98112013/28A RU2166222C2 (ru) | 1995-11-29 | 1996-11-27 | Полупроводниковый диод с низким сопротивлением контакта |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6133590A (ru) |
EP (1) | EP0864180B1 (ru) |
JP (1) | JP2000501238A (ru) |
KR (1) | KR19990071863A (ru) |
AU (1) | AU721907B2 (ru) |
CA (1) | CA2238952C (ru) |
DE (1) | DE69632961T2 (ru) |
GB (2) | GB9524414D0 (ru) |
RU (1) | RU2166222C2 (ru) |
WO (1) | WO1997020353A1 (ru) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2011531A6 (es) * | 1987-12-10 | 1990-01-16 | Poyer Michael | Dispositivo de seguridad para aparatos grabadores o reproductores de cassettes de video. |
DE19703612A1 (de) * | 1997-01-31 | 1998-08-06 | Siemens Ag | Halbleiterlaser-Bauelement |
US5936266A (en) * | 1997-07-22 | 1999-08-10 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Semiconductor devices and methods with tunnel contact hole sources |
GB0012925D0 (en) | 2000-05-30 | 2000-07-19 | Secr Defence | Bipolar transistor |
DE10057698A1 (de) * | 2000-11-21 | 2002-06-06 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Übereinander gestapelte Halbleiter-Diodenlaser |
GB0030204D0 (en) * | 2000-12-12 | 2001-01-24 | Secr Defence | Reduced noise semiconductor photodetector |
JP2003086898A (ja) * | 2001-09-07 | 2003-03-20 | Nec Corp | 窒化ガリウム系半導体レーザ |
US6813293B2 (en) | 2002-11-21 | 2004-11-02 | Finisar Corporation | Long wavelength VCSEL with tunnel junction, and implant |
US7170097B2 (en) * | 2003-02-14 | 2007-01-30 | Cree, Inc. | Inverted light emitting diode on conductive substrate |
US7560750B2 (en) * | 2003-06-26 | 2009-07-14 | Kyocera Corporation | Solar cell device |
US7019330B2 (en) * | 2003-08-28 | 2006-03-28 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Resonant cavity light emitting device |
DE102004047313B3 (de) * | 2004-09-29 | 2006-03-30 | Siced Electronics Development Gmbh & Co. Kg | Halbleiteranordnung mit einem Tunnelkontakt und Verfahren zu deren Herstellung |
US7274040B2 (en) * | 2004-10-06 | 2007-09-25 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Contact and omnidirectional reflective mirror for flip chipped light emitting devices |
JP2006313773A (ja) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
US7535034B2 (en) | 2006-02-27 | 2009-05-19 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | PNP light emitting transistor and method |
US7953133B2 (en) | 2007-10-12 | 2011-05-31 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Light emitting and lasing semiconductor devices and methods |
US7813396B2 (en) | 2007-10-12 | 2010-10-12 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Transistor laser devices and methods |
TWI427824B (zh) * | 2008-03-14 | 2014-02-21 | Asahi Kasei Emd Corp | 紅外線發光元件 |
JP5093063B2 (ja) | 2008-11-11 | 2012-12-05 | 住友電気工業株式会社 | 集積化半導体光素子及び半導体光装置 |
WO2010131639A1 (ja) * | 2009-05-12 | 2010-11-18 | 国立大学法人筑波大学 | 半導体装置およびその製造方法並びに太陽電池 |
GB201000756D0 (en) | 2010-01-18 | 2010-03-03 | Gas Sensing Solutions Ltd | Gas sensor with radiation guide |
GB201018417D0 (en) | 2010-11-01 | 2010-12-15 | Gas Sensing Solutions Ltd | Apparatus and method for generating light pulses from LEDs in optical absorption gas sensors |
GB201018418D0 (en) | 2010-11-01 | 2010-12-15 | Gas Sensing Solutions Ltd | Temperature calibration methods and apparatus for optical absorption gas sensors, and optical absorption gas sensors thereby calibrated |
JP7355740B2 (ja) * | 2018-08-24 | 2023-10-03 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 発光素子 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2614135B1 (fr) * | 1987-04-14 | 1989-06-30 | Telecommunications Sa | Photodiode hgcdte a reponse rapide |
GB9100351D0 (en) * | 1991-01-08 | 1991-02-20 | Secr Defence | Semiconductor heterostructure device |
US5166761A (en) * | 1991-04-01 | 1992-11-24 | Midwest Research Institute | Tunnel junction multiple wavelength light-emitting diodes |
US5338944A (en) * | 1993-09-22 | 1994-08-16 | Cree Research, Inc. | Blue light-emitting diode with degenerate junction structure |
US5892784A (en) * | 1994-10-27 | 1999-04-06 | Hewlett-Packard Company | N-drive p-common surface emitting laser fabricated on n+ substrate |
-
1995
- 1995-11-29 GB GBGB9524414.1A patent/GB9524414D0/en active Pending
-
1996
- 1996-11-27 WO PCT/GB1996/002914 patent/WO1997020353A1/en active IP Right Grant
- 1996-11-27 US US09/068,943 patent/US6133590A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-27 CA CA002238952A patent/CA2238952C/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-27 KR KR1019980704147A patent/KR19990071863A/ko active IP Right Grant
- 1996-11-27 RU RU98112013/28A patent/RU2166222C2/ru active
- 1996-11-27 DE DE69632961T patent/DE69632961T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-27 GB GB9810627A patent/GB2321783B/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-11-27 AU AU76360/96A patent/AU721907B2/en not_active Expired
- 1996-11-27 EP EP96939228A patent/EP0864180B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-27 JP JP9520270A patent/JP2000501238A/ja active Pending
-
2000
- 2000-08-11 US US09/636,741 patent/US6455879B1/en not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU98112013A (ru) | Полупроводниковый диод с низким сопротивлением контакта | |
US7745901B1 (en) | Highly-depleted laser doped semiconductor volume | |
US3987476A (en) | Thyristor | |
JPH0656898B2 (ja) | 半導体装置 | |
MY110622A (en) | Blu-green laser diode | |
US4984032A (en) | Semiconductor photodiode | |
CA1125423A (en) | Light-emitting and light-receiving diode, particularly for optical telecommunications | |
GB1110281A (en) | Semiconductor junction device for generating optical radiation | |
US5272364A (en) | Semiconductor photodetector device with short lifetime region | |
US4021833A (en) | Infrared photodiode | |
JPH07221326A (ja) | プレーナ型半導体素子 | |
RU2261501C2 (ru) | Полупроводниковый источник инфракрасного излучения | |
RU2001116192A (ru) | Полупроводниковый источник инфракрасного излучения | |
KR900008704A (ko) | 반도체 장치 | |
KR20200122591A (ko) | 베타-산화 갈륨을 이용한 이종접합 애벌런치 포토 다이오드 | |
US3412252A (en) | Infrared sensing by quenching in junction semiconductor | |
JPS61204988A (ja) | 半導体受光素子 | |
JPH03285360A (ja) | 太陽電池 | |
JPH02291180A (ja) | フォトダイオード | |
JPS6244714B2 (ru) | ||
GB1069780A (en) | Electroluminescent device | |
JPS5591892A (en) | Semiconductor laser light emission device | |
JPS564275A (en) | Semiconductor device | |
SU730227A1 (ru) | Способ переключени полупроводникового прибора | |
JPS5763867A (en) | Compound semiconductor avalanche diode |