RU94042608A - Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления

Info

Publication number
RU94042608A
RU94042608A RU94042608/25A RU94042608A RU94042608A RU 94042608 A RU94042608 A RU 94042608A RU 94042608/25 A RU94042608/25 A RU 94042608/25A RU 94042608 A RU94042608 A RU 94042608A RU 94042608 A RU94042608 A RU 94042608A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radiation
spatial
projection
transverse
inhomogeneities
Prior art date
Application number
RU94042608/25A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2098797C1 (ru
Inventor
А.В. Курбатов
П.И. Лазарев
Original Assignee
А.В. Курбатов
П.И. Лазарев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by А.В. Курбатов, П.И. Лазарев filed Critical А.В. Курбатов
Priority to RU9494042608A priority Critical patent/RU2098797C1/ru
Priority to JP8518653A priority patent/JPH11502302A/ja
Priority to PCT/RU1995/000255 priority patent/WO1996017240A1/en
Priority to EP95942325A priority patent/EP0795125A4/en
Priority to US08/564,014 priority patent/US5684851A/en
Publication of RU94042608A publication Critical patent/RU94042608A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2098797C1 publication Critical patent/RU2098797C1/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения заключается в том, что поток излучения подвергают пространственной модуляции внесением локальных затенений, контролируют углы отклонения лучей потока после прохождения объекта по отношению к направлению лучей до входа в объект, преобразуют эти угловые отклонения в контраст проекции измерением переноса пространственной модуляции поперечно к потоку излучения. Устройство для осуществления способа содержит источник 1 проникающего излучения, модулятор 3 для создания в нем пространственных поперечных неоднородностей, средство для преобразования угловых отклонений прошедшего через объект 4 излучения в контраст проекции 8 объекта 4, имеющие элемент 5 для измерений поперечного переноса пространственных неоднородностей.

Claims (1)

  1. Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения заключается в том, что поток излучения подвергают пространственной модуляции внесением локальных затенений, контролируют углы отклонения лучей потока после прохождения объекта по отношению к направлению лучей до входа в объект, преобразуют эти угловые отклонения в контраст проекции измерением переноса пространственной модуляции поперечно к потоку излучения. Устройство для осуществления способа содержит источник 1 проникающего излучения, модулятор 3 для создания в нем пространственных поперечных неоднородностей, средство для преобразования угловых отклонений прошедшего через объект 4 излучения в контраст проекции 8 объекта 4, имеющие элемент 5 для измерений поперечного переноса пространственных неоднородностей.
    Figure 00000001
RU9494042608A 1994-11-30 1994-11-30 Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления RU2098797C1 (ru)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU9494042608A RU2098797C1 (ru) 1994-11-30 1994-11-30 Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления
JP8518653A JPH11502302A (ja) 1994-11-30 1995-11-28 対象物の射影を得るために透過性放射線を用いる画像化方法及び装置
PCT/RU1995/000255 WO1996017240A1 (en) 1994-11-30 1995-11-28 Imaging method and apparatus using penetrating radiation to obtain an object projection
EP95942325A EP0795125A4 (en) 1994-11-30 1995-11-28 IMAGING METHOD AND DEVICE FOR GENERATING A PROJECTION OF AN OBJECT WITH PENETRIC RADIATION
US08/564,014 US5684851A (en) 1994-11-30 1995-11-29 Imaging method and apparatus using penetrating radiation to obtain an object projection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU9494042608A RU2098797C1 (ru) 1994-11-30 1994-11-30 Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU94042608A true RU94042608A (ru) 1996-09-20
RU2098797C1 RU2098797C1 (ru) 1997-12-10

Family

ID=20162811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU9494042608A RU2098797C1 (ru) 1994-11-30 1994-11-30 Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5684851A (ru)
EP (1) EP0795125A4 (ru)
JP (1) JPH11502302A (ru)
RU (1) RU2098797C1 (ru)
WO (1) WO1996017240A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999045843A1 (en) * 1998-03-12 1999-09-16 Quanta Vision, Inc. Ultra-small-angle x-ray tomography
WO2002017788A1 (fr) * 2000-09-01 2002-03-07 Quanta Vision, Inc. Diagnostic medical structurel moleculaire

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5717733A (en) * 1995-05-31 1998-02-10 Quanta Vision, Inc. X-ray and neutron diffractometric imaging of the internal structure of objects
EP0898704A1 (en) * 1997-01-24 1999-03-03 Quanta Vision, Inc. Inspection equipment using small-angle topography in determining an object's internal structure and composition
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
US6054712A (en) * 1998-01-23 2000-04-25 Quanta Vision, Inc. Inspection equipment using small-angle topography in determining an object's internal structure and composition
US6175117B1 (en) 1998-01-23 2001-01-16 Quanta Vision, Inc. Tissue analysis apparatus
US6281503B1 (en) 1998-05-06 2001-08-28 Quanta Vision, Inc. Non-invasive composition analysis
US6421420B1 (en) 1998-12-01 2002-07-16 American Science & Engineering, Inc. Method and apparatus for generating sequential beams of penetrating radiation
FR2787573B1 (fr) * 1998-12-17 2001-01-19 Snecma Controle par radiographie d'un objet possedant un reseau cristallin
US6157699A (en) * 1999-05-14 2000-12-05 Scannex, Inc. Method and apparatus for non-destructive detection of hidden flaws
US6394650B1 (en) * 1999-10-27 2002-05-28 Konica Corporation Photographic combination for use in radiography
US6422750B1 (en) * 2000-12-22 2002-07-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Digital x-ray imager alignment method
WO2002103338A1 (en) * 2001-06-20 2002-12-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray device for medical examination and method of improving the image quality thereof
US6711235B2 (en) * 2002-05-31 2004-03-23 General Electric Cormpany X-ray inspection apparatus and method
US7359488B1 (en) * 2004-05-25 2008-04-15 Michel Sayag Technique for digitally removing x-ray scatter in a radiograph
DE102006017291B4 (de) * 2006-02-01 2017-05-24 Paul Scherer Institut Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, Röntgensystem mit einem solchen Fokus/Detektor-System sowie zugehöriges Speichermedium und Verfahren
DE102006015356B4 (de) * 2006-02-01 2016-09-22 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System
GB2441578A (en) * 2006-09-08 2008-03-12 Ucl Business Plc Phase Contrast X-Ray Imaging
DE102008017838A1 (de) * 2008-04-08 2009-12-10 Dürr Systems GmbH Lackieranlage mit einer Messzelle zur Schichtdickenmessung
JP5675169B2 (ja) 2009-06-18 2015-02-25 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
WO2011070493A1 (en) * 2009-12-10 2011-06-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Apparatus for phase-contrast imaging comprising a displaceable x-ray detector element and method
FR2966716B1 (fr) 2010-10-29 2012-12-21 Gen Electric Methode d'estimation et de correction de la diffusion en mammographie.
GB201112537D0 (en) * 2011-07-21 2011-08-31 Ucl Business Plc X-ray imaging
US9597050B2 (en) * 2012-01-24 2017-03-21 Koninklijke Philips N.V. Multi-directional phase contrast X-ray imaging
JP6168383B2 (ja) * 2012-12-27 2017-07-26 三星電子株式会社Ｓａｍｓｕｎｇ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ Ｃｏ．，Ｌｔｄ． 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
EP3757545B1 (en) * 2016-02-24 2023-03-01 TOMRA Sorting NV Method and apparatus for the detection of acrylamide precursors in raw potatoes
TWI636234B (zh) * 2016-12-13 2018-09-21 由田新技股份有限公司 外形量測方法、外形量測設備及形變檢測設備
CN106973218B (zh) 2017-01-23 2019-09-27 北京小米移动软件有限公司 智能飞行设备的拍摄方法及智能飞行设备
CN106955121B (zh) * 2017-03-14 2020-06-23 杭州电子科技大学 X射线调制的x射线激发发光成像方法
US10525286B2 (en) * 2017-05-18 2020-01-07 Wisconsin Alumni Research Foundation Compact sharpening filter for orthovoltage x-rays
GB2585673B (en) * 2019-07-10 2022-05-04 The Nottingham Trent Univ A sample inspection system

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2526575A1 (fr) * 1982-05-04 1983-11-10 Thomson Csf Procede de traitement d'image radiologique en vue de corriger ladite image des defauts dus au rayonnement diffuse
US4549307A (en) * 1982-09-07 1985-10-22 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford, Junior University X-Ray imaging system having radiation scatter compensation and method
HU187820B (en) * 1982-12-16 1986-02-28 Teleki,Peter,Hu Method and device /modification body/ for generating radiology image, preferably for applying at material testing
US4534051A (en) * 1982-12-27 1985-08-06 John K. Grady Masked scanning X-ray apparatus
JPS60181638A (ja) * 1984-02-29 1985-09-17 Toshiba Corp 放射線像撮影装置
JPS60210087A (ja) * 1984-04-03 1985-10-22 Toshiba Corp Ｘ線診断装置
JPS61109549A (ja) * 1984-10-31 1986-05-28 株式会社東芝 Ｘ線診断装置
JPS61249452A (ja) * 1985-04-30 1986-11-06 株式会社東芝 Ｘ線診断装置
US4727562A (en) * 1985-09-16 1988-02-23 General Electric Company Measurement of scatter in x-ray imaging
EP0263210B1 (en) * 1986-10-08 1991-09-11 Shimadzu Corporation High-contrast x-ray image detecting apparatus
SU1402871A1 (ru) * 1986-11-13 1988-06-15 Предприятие П/Я А-1758 Способ получени теневых картин внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучени
US4868857A (en) * 1987-10-30 1989-09-19 Duke University Variable compensation method and apparatus for radiological images
US5233193A (en) * 1991-01-10 1993-08-03 Fuji Photo Film Co., Ltd. Radiation image recording apparatus
RU2012872C1 (ru) * 1991-05-14 1994-05-15 Виктор Натанович Ингал Способ получения изображения внутренней структуры объекта
WO1995005725A1 (en) * 1993-08-16 1995-02-23 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Improved x-ray optics, especially for phase contrast imaging
DE69413212T2 (de) * 1994-06-23 1999-03-25 Agfa Gevaert Nv Verfahren zur Kompensation von Streustrahlung in einem Röntgen-Abbildungssystem

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999045843A1 (en) * 1998-03-12 1999-09-16 Quanta Vision, Inc. Ultra-small-angle x-ray tomography
WO2002017788A1 (fr) * 2000-09-01 2002-03-07 Quanta Vision, Inc. Diagnostic medical structurel moleculaire

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11502302A (ja) 1999-02-23
EP0795125A1 (en) 1997-09-17
WO1996017240A1 (en) 1996-06-06
EP0795125A4 (en) 1998-06-03
US5684851A (en) 1997-11-04
RU2098797C1 (ru) 1997-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU94042608A (ru) Способ получения проекции объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления
ATE64006T1 (de) Photoelektrische messeinrichtung.
RU94043357A (ru) Способ получения изображения объекта с помощью проникающего излучения и устройство для его осуществления
ATE120275T1 (de) Verfahren und tragbarer apparat zur bestimmung eines gases aus der ferne.
ES479990A1 (es) Dispositivo de plano de referencia.
FR2594820B1 (fr) Procede et generateur pour engendrer de l'iode atomique a l'etat fondamental, et laser chimique a iode en faisant application
FR2503921B1 (ru)
EP1223638A3 (de) Gruppenantennensystem
JPS52149070A (en) Locating and inspecting method for semiconductor parts and die bonding device using the same
RU94043356A (ru) Способ получения изображения внутренней структуры объекта с помощью проникающего излучения
SE9800937D0 (sv) An apparatus and a method for measuring radiation
Hawkesworth Radiography with neutrons
SE8504814L (sv) Modulator
DE68918871T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur bidimensionalen lokalisierung nichtgeladener partikel, insbesondere bei geringer zählrate.
BG51268A3 (en) Method and device for open-air information conveyance by guided beams from electromagnetic waves with lengths under 10 mm
KR970062725A (ko) 디지털 선량변환장치(Dose conversion unit)를 이용한 환경방사선 조사선량률 측정방법
IT1261814B (it) Metodo e dispositivo di ispezione di rocche di filo.
FR2549242B1 (fr) Procede et dispositif optique de concentration d'une energie rayonnante sur un element recepteur, et application a la captation d'energie telle que l'energie solaire
Lu et al. TC corrections to the single-top-quark production at the Fermilab Tevatron
Reid et al. Detecting the radiation amplitude zeros in pp→ Xγ and pp¯→ Xγ
JPH0320737B2 (ru)
DK496375A (da) Fremgangsmade til transport af godning og apparat til udovelse af fremgangsmaden
JPS5650583A (en) Semiconductor high frequency oscillator
Nussbaumer Superconducting tunnelling junctions as x-ray detectors
JPS5399967A (en) Wire diameter measuring apparatus