RU56069U1 - Кремниевый pin-фотодиод большой площади - Google Patents

Кремниевый pin-фотодиод большой площади Download PDF

Info

Publication number
RU56069U1
RU56069U1 RU2005136094/22U RU2005136094U RU56069U1 RU 56069 U1 RU56069 U1 RU 56069U1 RU 2005136094/22 U RU2005136094/22 U RU 2005136094/22U RU 2005136094 U RU2005136094 U RU 2005136094U RU 56069 U1 RU56069 U1 RU 56069U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
silicon pin
large area
pin photodiode
photodiode
radiation
Prior art date
Application number
RU2005136094/22U
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Михайлович Филачев
Николай Владимирович Кравченко
Павел Евгеньевич Хакуашев
Ольга Викторовна Огнева
Инна Викторовна Чинарева
Original Assignee
Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "ОРИОН" (ФГУП "НПО "ОРИОН")
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "ОРИОН" (ФГУП "НПО "ОРИОН") filed Critical Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "ОРИОН" (ФГУП "НПО "ОРИОН")
Priority to RU2005136094/22U priority Critical patent/RU56069U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU56069U1 publication Critical patent/RU56069U1/ru

Links

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

Заявляемый кремниевый pin-фотодиод (ФД) большой площади относится к области полупроводниковых приборов, чувствительных к излучению ближнего ИК-диапазона. Новьм в заявляемом кремниевом pin-фотодиоде является использование пластин определенной толщины (400 мкм) со строго ограниченным интервалом значений удельного сопротивления (р=10-14 кОм·см). В соответствии с формулой полезной модели была разработана структура pin-фотодиода. Для ее реализации разработана серийная технология, изготовлены, испытаны и поставлены заказчикам опытные партии образцов кремниевых pin-фотодиодов большой площади ФД342-02. Совокупность отличительных признаков позволило выпускать унифицированное изделие, чувствительное к излучению с длиной волны 0,9 мкм и 1,06 мкм и предназначенное для использования в оптико-электронных системах определения координат источников излучения, в том числе в условиях высокой фоновой засветки.

Description

Заявляемый кремниевый pin-фотодиод (ФД) большой площади относится к области полупроводниковых приборов, чувствительных к излучению с длиной волны 0,9 мкм и 1,06 мкм, и предназначен для использования в оптико-электронных системах определения координат источников излучения, в том числе в условиях высокой фоновой засветки.
Известен аналог - кремниевый pin-фотодиод большой площади ФД141К, разработанный в ОКБ НПО «Кварц» (г.Черновцы, Украина) и содержащий подложку р-типа проводимости, на которой сформирован фоточувствительный элемент (область с типом проводимости, противоположным типу проводимости подложки). Недостатком прибора является узкий спектральный диапазон (рабочая длина волны - 1,06 мкм) и достаточно высокое для pin-фотодиода рабочее напряжение (115 В).
Наиболее близким к заявляемой модели и принятым за прототип является кремниевый pin-фотодиод большой площади ФД342, разработанный нашим предприятием для замены изделия ФД141К. Указанный фотодиод также содержал подложку р-типа проводимости, на которой сформирован фоточувствительный элемент (область с типом проводимости, противоположным типу проводимости подложки). Для изготовления ФД использовались пластины монокристаллического кремния толщиной 400 мкм с удельным сопротивлением ρ=10-40 кОм.см. Приборы изготовленные на основе такого материала обеспечивали основные фотоэлектрические характеристики (емкость С - не более 70 пФ, темновой ток Iт - не более 7 мкА, токовую чувствительность Sλ - не менее 0,2 А/Вт) уже при рабочем напряжении ≤70 В. Вместе с тем ФД342 по-прежнему имеет ограниченную область чувствительности (только на длине волны 1,06 мкм), что не позволяет использовать его в аппаратуре, работающей на длине волны 0,9 мкм, в том числе в условиях высокой фоновой засветки.
Заявляемая полезная модель решает задачу создания унифицированного кремниевого прибора большой площади (А=154 мм2), чувствительного на длинах волн 1,06 мкм и 0,9 мкм, со следующими характеристиками:
- рабочее напряжение Up - не более 50 В;
- токовая чувствительность на длине волны 0,9 мкм Sλ - не менее 0,45 А/Вт;
- токовая чувствительность на длине волны 0,9 мкм в условиях засветки Sλ - не менее 0,35 А/Вт
- токовая чувствительность на длине волны 1,06 мкм Sλ - не менее 0,2 А/Вт;
- емкость С - не более 150 пФ.
Для решения поставленной задачи при изготовлении унифицированного фотодиода используются пластины толщиной ~400 мкм с удельным сопротивлением, лежащем строго в интервале 10-14 кОм.см. Заявляемая полезная модель поясняется:
- таблицами 1-13, в которых представлены результаты расчета допусков по величинам толщины и удельного сопротивления пластин, обеспечивающих выполнение заданного уровня токовой чувствительности;
- фиг.1, на которой представлена топология и сечение А-А полезной модели;
- фиг.2, на которой представлено конструктивное исполнение
полезной модели.
Заявляемый кремниевый pin-фотодиод изготавливался на основе пластин, минимальное удельное сопротивление которых оценивалось, исходя из требований по емкости:
C=εA/W (1),
Где с - емкость ФД=150 пф,
ε - диэлектрическая постоянная кремния =55.10-12,
А - площадь ФД=154 мм2,
W - ширина области пространственного заряда.
Из формулы (1) следует, что W должна быть не менее 300 мкм. Исходя из этого значения определяется концентрация примеси в пластинах кремния:
N=2ε.Up/q/W2=2.1012 см-3 (2),
Этой концентрации примеси в кремниевых пластинах р-типа проводимости соответствует
удельное сопротивление р=10 кОм.см (3)
Коэффициент поглащения α в кремнии на длине волны 0,9 мкм равен 300 см-1, поэтому даже при минимальной толщине структуры (140 мкм) квантовая эффективность должна составить:
η=(1-e-αw)=0,99,
а максимальная стационарная чувсвительность S=0,71 А/Вт.
Относительная импульсная чувствительность S зависит от длительности сигнала Тс, постоянной времени ФД и RC-составляющей tRC:
Sи=Tc/√Tc2+tф2+tRC2 (4)
Постоянная времени ФД tф зависит от ширины W, рабочего напряжения Up, последовательного сопротивления Rn следующим образом:
tф=0,0055. [W2/(Up-Rn).(1+0,151.(Up-Rn)/W (5)
RC - составляющая является произведением следующих величин:
Rn=(ρ/A)/(W-√2.ε.μ.ρ.(Up-Rn) (6)
С=ε.A/√2.ε.μ.ρ.(Up-Rn)(7)
Результаты расчета ширины ОПЗ W, постоянной времени ФД tф, последовательного сопротивления Rn, емкости ФД С, RC-составляющей tRC и чувствительности S в том числе в условиях фоновой засветки представлены в таблицах 1-12. Заштрихованные ячейки таблиц означают условия, при которых не обеспечивается выполнения требуемых параметров, т.е. уменьшение относительной чувствительности при фоновой засветке превышало 0,35/0,45=0,78.
Результаты расчетов сведены в таблицу 13.
Результаты расчета показали, что при использовании пластин толщиной 400 мкм в диапазоне удельного сопротивления 10-14 кОм.см можно обеспечить создание унифицированного кремниевого прибора большой площади, чувствительного на длинах волн 1,06 мкм и 0,9 мкм.
Пример. В соответствии с заявляемой моделью был спроектирован и изготовлен кремниевый pin-фотодиод большой площади. Указанный прибор выполнялся на пластине 1 (фиг.1) монокристаллического кремния р-типа проводимости толщиной 400 мкм с удельным сопротивлением 10-14 кОм.см. Фоточувствительная область 2 и область охранного кольца 3 формировались с помощью диффузии фосфора через пленку двуокиси кремния (SiO2) 3. Необходимая толщина пленки 0,65 мкм достигалась за счет термического окисления пластины кремния при Т=1100°С. Создание омических контактов 4, 5 осуществлялось путем нанесения пленки золота с подслоем титана. Толщина контактного покрытия - 0,5 мкм. Топология прибора обеспечивалась фотолитографическими процессами. Фоточувствительный элемент (ФЧЭ) прибора образовывался после дисковой резки кремниевой пластины на кристаллы размером 16×16 мм. Диаметр фоточувствительной области - 14 мм.
Кристалл ФЧЭ собирался в прецизионном корпусе (фиг.2) в следующей последовательности. Кристалл 1 припаивается на ситалловую изоляционную подложку 6, последняя, в свою очередь, приклеивается на цоколь 7. Цоколь имеет четыре рабочих вывода 8, изолированных с помощью стеклянных изоляторов 9. Электрическое соединение внешних рабочих выводов 8 с контактными площадками ФЧЭ и подложки производится контактной точечной сваркой золотой проволоки 10 диаметров 0,05 мм. Крышка 11 со стеклянным окном 12 герметически приваривалась к цоколю 7 в инертной азотной среде.
Структура, топология и технология изделия позволяют освоить его в производстве и наладить серийный выпуск. Использование заявляемой полезной модели позволило по сравнению с прототипом:
- расширить спектральный диапазон чувствительности прибора (рабочие длины волн -0,9 мкм и 1,06 мкм);
- улучшить эксплуатационные характеристики (снизить рабочее напряжение);
- унифицировать производство фотодиодов для регистрации импульсного излучения в спектральном диапазоне 0,9-1,06 мкм;
- обеспечить работу прибора в условиях высокой фоновой засветки.
Указанные кремниевые pin-фотодиоды (ФД342-02), изготовленные в соответствии с признаками заявляемой полезной модели, обеспечили потребность оптико-электронной аппаратуры - лазерных дальномеров, работающих на длинах волн 0,9 мкм и 1,06 мкм, в том числе - в условиях высокой фоновой засветки. Разработка внедрена в производство в 2003 г. Объем поставок таких приборов превысил 6000 шт. в год.
Up, В Емкость Чувствительность
Уд. Сопр., кОмхсм С, пф б/фон.засветки при U=20B С, пф с фон.засветкой при U=12B S0,9
б/фон.засветки
S0,9C
фон.засветкой
S1,06 б/фон.засветки, А/Вт
9 151 98 0,7 0,43 0,25
10 113 92 0,7 0,41 0,25
14 109 90 0,71 0,35 0,25
15 82 88 0,71 0,34 0,25
- не удовлетворяет заданным требованиям

Claims (1)

  1. Кремниевый pin-фотодиод большой площади, содержащий подложку р-типа проводимости, на которой сформирован фоточувствительный элемент (область с типом проводимости, противоположным типу проводимости подложки), отличающийся тем, что для его изготовления используются пластины толщиной ~400 мкм с удельным сопротивлением, лежащем строго в интервале 10-14 кОм·см.
    Figure 00000001
RU2005136094/22U 2005-11-21 2005-11-21 Кремниевый pin-фотодиод большой площади RU56069U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005136094/22U RU56069U1 (ru) 2005-11-21 2005-11-21 Кремниевый pin-фотодиод большой площади

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2005136094/22U RU56069U1 (ru) 2005-11-21 2005-11-21 Кремниевый pin-фотодиод большой площади

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU56069U1 true RU56069U1 (ru) 2006-08-27

Family

ID=37061995

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2005136094/22U RU56069U1 (ru) 2005-11-21 2005-11-21 Кремниевый pin-фотодиод большой площади

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU56069U1 (ru)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2532594C1 (ru) * 2013-08-27 2014-11-10 Открытое акционерное общество "НПО "Орион" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВОГО p-i-n ФОТОДИОДА
RU2537087C1 (ru) * 2013-09-10 2014-12-27 Открытое акционерное общество "НПО "Орион" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВОГО p-i-n ФОТОДИОДА
RU2541416C1 (ru) * 2014-02-04 2015-02-10 Открытое акционерное общество "НПО "Орион" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВОГО p-i-n ФОТОДИОДА
RU2548609C1 (ru) * 2013-12-06 2015-04-20 Открытое акционерное общество "Швабе-Фотосистемы" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ pin-ФОТОДИОДОВ С ОХРАННЫМ КОЛЬЦОМ НА ВЫСОКООМНОМ р-КРЕМНИИ
RU168495U1 (ru) * 2016-03-31 2017-02-06 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Новгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого" Кремниевый p-i-n фотодиод с низкими темновыми токами
RU178061U1 (ru) * 2017-08-01 2018-03-21 Акционерное общество "НПО "Орион" Кремниевый pin-фотодиод с повышенным уровнем чувствительности к длине волны 1,06 мкм
RU184980U1 (ru) * 2018-08-29 2018-11-15 Акционерное общество "НПО "Орион" Кремниевый p-i-n-фоточувствительный элемент с повышенным уровнем чувствительности к длине волны 1,06 мкм

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2532594C1 (ru) * 2013-08-27 2014-11-10 Открытое акционерное общество "НПО "Орион" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВОГО p-i-n ФОТОДИОДА
RU2537087C1 (ru) * 2013-09-10 2014-12-27 Открытое акционерное общество "НПО "Орион" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВОГО p-i-n ФОТОДИОДА
RU2548609C1 (ru) * 2013-12-06 2015-04-20 Открытое акционерное общество "Швабе-Фотосистемы" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ pin-ФОТОДИОДОВ С ОХРАННЫМ КОЛЬЦОМ НА ВЫСОКООМНОМ р-КРЕМНИИ
RU2541416C1 (ru) * 2014-02-04 2015-02-10 Открытое акционерное общество "НПО "Орион" СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КРЕМНИЕВОГО p-i-n ФОТОДИОДА
RU168495U1 (ru) * 2016-03-31 2017-02-06 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Новгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого" Кремниевый p-i-n фотодиод с низкими темновыми токами
RU178061U1 (ru) * 2017-08-01 2018-03-21 Акционерное общество "НПО "Орион" Кремниевый pin-фотодиод с повышенным уровнем чувствительности к длине волны 1,06 мкм
RU184980U1 (ru) * 2018-08-29 2018-11-15 Акционерное общество "НПО "Орион" Кремниевый p-i-n-фоточувствительный элемент с повышенным уровнем чувствительности к длине волны 1,06 мкм

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU56069U1 (ru) Кремниевый pin-фотодиод большой площади
US10209125B2 (en) Monolithic integration of ultraviolet and infrared radiation detectors and manufacturing process thereof
Yang et al. Transparent schottky photodiode based on AgNi NWs/SrTiO3 contact with an ultrafast photoresponse to short‐wavelength blue light and UV‐shielding effect
US4910570A (en) Photo-detector for ultraviolet and process for its production
JP6730820B2 (ja) 光検出器およびこれを用いたライダー装置
US9978802B2 (en) Multiband optoelectronic device for colorimetric applications and related manufacturing process
KR20100087017A (ko) 자외선용 포토디텍터 및 그 제조 방법
CN110047957A (zh) 一种中红外光探测器及其制备方法
JP2022524919A (ja) 積層されたコロイド状量子ドットフォトダイオードを使用したマルチバンド赤外線イメージング
CN102832286B (zh) 一种垂直结构双工作模式紫外探测器及其制备方法
US10371572B2 (en) Integrated electronic device for detecting ultraviolet radiation
Adamo et al. Measurements of silicon photomultipliers responsivity in continuous wave regime
Mousa et al. Hybrid p-Au@ PbI2/n-Si heterojunction photodetector prepared by pulsed laser ablation in liquid
JP2009070950A (ja) 紫外線センサ
US9806216B2 (en) Semiconductor device for a system for measuring the temperature, and manufacturing method thereof
CN111987185A (zh) 一种具有光电二极管效应的双钙钛矿薄膜器件及其制备方法和应用
RU82381U1 (ru) КРЕМНИЕВЫЙ pin-ФОТОДИОД
Lajvardi et al. Ni/TiO2 ultraviolet detector
KR101942094B1 (ko) 산소 리치 바나듐산화물 전자파 센서 및 그 시스템
CN113745360A (zh) 一种窄带响应紫外光电二极管及其制备方法
Martínez-Goyeneche et al. Multimodal photodetectors with vacuum deposited perovskite bilayers
Chen et al. Excellent Responsivity and Low Dark Current Obtained with Metal-Assisted Chemical Etched Si Photodiode
Xu Fabrication and characterization of photodiodes for silicon nanowire applications and backside illumination
CN111947792B (zh) 一种基于二硒化钯/超薄硅/二硒化钯肖特基结的颜色探测系统及其制备方法
Ciancaglioni et al. Secondary electron emission in extreme-UV detectors: Application to diamond based devices