RU2750732C1 - Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния - Google Patents

Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния Download PDF

Info

Publication number
RU2750732C1
RU2750732C1 RU2020122126A RU2020122126A RU2750732C1 RU 2750732 C1 RU2750732 C1 RU 2750732C1 RU 2020122126 A RU2020122126 A RU 2020122126A RU 2020122126 A RU2020122126 A RU 2020122126A RU 2750732 C1 RU2750732 C1 RU 2750732C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
silicon
gas phase
whiskers
inert gas
hydrogen
Prior art date
Application number
RU2020122126A
Other languages
English (en)
Inventor
Нада Свайкат
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образования учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образования учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образования учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет"
Priority to RU2020122126A priority Critical patent/RU2750732C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2750732C1 publication Critical patent/RU2750732C1/ru

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B3/00Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/005Growth of whiskers or needles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/60Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape characterised by shape
    • C30B29/62Whiskers or needles

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Catalysts (AREA)

Abstract

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов. Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния включает подготовку кремниевой пластины путем нанесения на ее поверхность частиц катализатора из двухкомпонентного сплава металл-кремний эвтектического состава с последующим помещением в ростовую печь, нагревом, подачей в газовую фазу водорода и тетрахлорида кремния, осаждением кремния из газовой фазы по схеме пар → жидкая капля → кристалл при температуре, минимально превышающей температуру эвтектики. При этом дополнительно в газовую фазу подают инертный газ, устанавливают постоянное значение соотношения молярных объемов инертного газа и водорода n, где n≥0,01. Катализатор выбирают из золота, платины, палладия и серебра. Обеспечивается получение нитевидных кристаллов кремния постоянного диаметра. 1 ил., 6 пр.

Description

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых нано- и микроструктурных материалов, предназначено для выращивания нитевидных кристаллов (НК) постоянного диаметра методом газотранспортных химических реакций в открытой проточной системе.
В настоящее время известен способ синтеза нитевидных нанокристаллов восстановлением четыреххлористого кремния водородом с участием золота в качестве катализатора процесса роста [А. Мао, Н. Т. Ng, Р. Nguyen, М. McNeil, and М. Meyyappan, Silicon nanowire synthesis by a vapor-liquid-solid approach // J. Nanosci. Nanotechnol, 2005. V. 5, No. 5, P. 831-835]. Достоинствами способа являются высокая восстановительная способность, простота дозировки, возможность глубокой очистки Н2 и малая вероятность загрязнения водородом получаемого кристаллического материала. Недостатки данного способа - покрытие частиц катализатора кристаллизуемым веществом и их дезактивация, химическое травление капли продуктами восстановительной реакции (хлористым водородом), непостоянство диаметра, характеризуемого высокой величиной конусности (отношение изменения радиуса к длине нитевидного кристалла) и искривление кристаллов в процессе роста.
Также известен способ создания регулярно-упорядоченных систем наноразмерных НК заданного диаметра, использующий в своей основе принцип задания одинаковых размеров частиц металла-катализатора [патент №2117081, МПК6 С30В 029/62, 025/02 Способ получения регулярных нитевидных кристаллов кремния / А.А. Щетинин, В.А. Небольсин, Дунаев А.И., Попова Е.Е., Болдырев П.Ю.]. Здесь маскирование поверхности гладкой кремниевой пластины осуществляется фоторезистом методами фотолитографии, а металл-катализатор на подлложку наносят электрохимическим осаждением из раствора электролита. Недостатками этого способа являются наличие начального конусовидного участка нитевидного кристалла по причине изменения контактного угла капли катализатора при отрыве от подложки, сложность поддержания в процессе роста постоянного поперечного сечения кристалла по его длине из-за химического уноса материала капли и значительных флуктуаций состава газовой фазы, а также непригодность для создания наноразмерных НК из-за физических пределов применяемых фотолитографических методов, поскольку не удается методами фотолитографии в фоторезисте сформировать цилиндрические отверстия диаметрами существенно менее 250 нм.
Известен способ выращивания регулярных систем нитевидных кристаллов Si, описанный в патенте [Патент №2336224 МПК6 С30В 29/62 В82В 3/00 Способ получения регулярных систем нитевидных кристаллов кремния / В.А. Небольсин, А.А. Щетинин, А.И. Дунаев, М.А. Завалишин]. Отличие этого способа состоит в том, что цилиндрические отверстия в фоторезисте создают диаметром менее 250 нм импринт-литографией. Недостатком способа является невозможность обеспечить постоянство диаметра нитевидных кристаллов как на начальном участке, так и в целом по длине кристалла по причине невозможности минимизировать химическое воздействие агрессивной газовой среды на материал капли катализатора и стабилизировать состав газовой фазы в процессе роста нитевидных кристаллов, следствием чего является разбаланс поперечного размера кристалла вдоль его длины и образование конусных кристаллов.
Также известен способ управления конусностью нитевидных кристаллов в процессе роста, предложенный в [Патент РФ №2526066, МПК6 С30В 29/62, В82В 3/00 Способ получения нитевидных нанокристаллов полупроводников / В.А. Небольсин, А.А. Долгачев, А.И. Дунаев, С.С. Шмакова]. Способ позволяет контролировать конусность по длине НК, выращивать НК с положительной, нулевой и отрицательной конусностью и создавать кристаллы с различными профилями. Недостатками способа являются, во-первых, допускаемая возможность использования в качестве катализаторов химически нестойких металлов, расходуемых в процессе роста и приводящих к сужению нитевидных кристаллов, а, во-вторых, даже при средней нулевой конусности из-за значительных флуктуаций состава газовой фазы и пересыщений в капле наблюдается мофологическая неустойчивость нитевидных кристаллов с наличием участков сужения и расширения, что не позволяет обеспечить постоянство диаметра нитевидного кристалла по его длине.
Наиболее близким техническим решением, выбранным нами в качестве прототипа, является способ выращивания нитевидных нанокристаллов полупроводников постоянного диаметра [Патент РФ №2456230, МПК6 В82В 3/00, С30В 29/62 Способ получения эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов полупроводников постоянного диаметра / В.А. Небольсин, А.И. Дунаев, М.А. Завалишин, Г.А. Сладких, А.Ф. Татаренков], позволяющий выращивать нитевидные кристаллы постоянного диаметра на начальной стадии роста, т.е. не имеющих сужающихся начальных участков у оснований. Но недостатком способа является разброс поперечного размера кристалла вдоль всей его длины вследствие отклонений состава газовой фазы и колебаний пересыщений и скорости на стационарной стадии роста.
Целью изобретения является эпитаксиальное выращивание нитевидных кристаллов кремния постоянного диаметра вдоль всей длины от подложки до вершины.
Поставленная цель достигается тем, что дополнительно в газовую фазу подают инертный газ, устанавливают постоянное значение соотношения молярных объемов инертного газа и водорода n, где n удовлетворяет неравенству n≥0,01, а катализатор выбирают из золота, платины, палладия и серебра.
Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния постоянного диаметра осуществляют следующим образом. На поверхность полупроводниковой пластины определенной кристаллографической ориентации наносится катализатор из микро- и нанодисперсных частиц двухкомпонентного сплава металл-кремний эвтектического состава. Затем подложка помещается в кварцевый реактор, продуваемый водородом, нагревается до температуры, минимально превышающей температуру эвтектики для данного двухкомпонентного сплава. Затем дополнительно в газовую фазу подается инертный газ, устанавливается постоянное значение соотношения молярных объемов инертного газа и водорода n, где n удовлетворяет неравенству n≥0,01, подается тетрахлорид кремния и производится выращивание нитевидных кристаллов осаждением кремния из газовой фазы по схеме пар → жидкая капля → кристалл. При этом катализатор выбирают из золота, платины, палладия и серебра.
В качестве инертного газа могут быть использованы аргон, гелий, азот и др.
Дополнительная подача в газофазную ростовую атомосферу инертного газа определяется тем, что с помощью инертного газа обеспечивается рост нитевидных кристаллов кремния постоянного диаметра по всей длине кристалла. При наличии газа с очень низкой химической реактивностью производится разбавление реакционной смеси SiCl42. Фактор разбавления означает одновременное уменьшение концентрации всех частиц в газовой фаз. В соответствии с принципом Ле Шателье такое воздействие приводит к смещению равновесия в сторону реакции, идущей с увеличением числа частиц. Реакция водородного восстановления кремния SiCl4+2Н2⇔Si+4HCl (1) протекает с увеличением числа молей. Следовательно, при разбавлении газовой среды инертным газом равновесие смещается в сторону протекания данной реакции, т.е. вправо, степень восстановления возрастает. Реакция Au+2HCl⇔AuCl22 (2), наоборот, идет с уменьшением числа частиц. И разбавление ростовой атмосферы инертным газом приводит к смещению этой реакции в сторону исходных веществ. Поскольку рост нитевидных кристаллов в соответствии с реакцией (1) поддерживается, а реакция (2) тормозится, то объем капли катализатора в процессе всего роста нитевидных кристаллов сохраняется, обеспечивая постоянство диаметра кристалла.
Условие, устанавливаемое неравенством n≥0,01, обуславливается тем, что влияние инертного газа на рост нитевидных кристаллов постоянного диаметра обеспечивается в широком интервале молярных отношений n. Но при n<0,01 концентрация инертного газа является пренебрежимо малой и, практически не сказывается на росте нитевидных кристаллов.
Поскольку форма и линейный размер капли катализатора определяют диаметр будущего нитевидного кристалла, то, задавая соответствующий объем капли двухкомпонентного сплава, можно выращивать кристаллы наперед заданных поперечных размеров. Однако, в процессе роста нитевидных кристаллов в отсутствие жесткого формообразования поверхность капли и положение трехфазной границы испытывают возмущения, отражающиеся как на форме выращиваемого кристалла, так и на его будущих электрофизических характеристиках. Поэтому необходимость выбора металла-катализатора из золота, платины, палладия и серебра, определяется тем, что эти металлы, слабо подвержены высокотемпературной коррозии и окислению, в отличие от всех других, благодаря своей химической стойкости способствуют стабилизации объема капли в процессе роста, и, как следствие, способствуют постоянству диаметра нитевидных кристаллов.
Использование предлагаемого способа позволяет выращивать нитевидные кристаллы кремния постоянного диаметра по всей длине кристалла от подложки до вершины и, тем самым, исключить спонтанное появление поверхностных дефектов в кремнии и стабилизировать удельное электрическое сопротивление вдоль оси квазиодномерного монокристалла. Все это позволяет облегчить решение проблемы воспроизводимости характеристик нитевидных кристаллов и создания на их базе различных электронных устройств.
Примеры осуществления способа.
Пример 1
Для проверки выполнения изобретения в качестве металла-катализатора была выбрана платина. На монокристаллические пластины кремния с кристаллографической ориентацией {111} наносились микро- и наноразмерные частицы двухкомпонентного расплава Pt-Si эвтектического состава (~67% (атомн.) Si), имеющие средний характерный линейный размер 70-100 нм. Подготовленные подложки помещались в ростовую печь. Температура печи повышалась до 995(±2)°С при одновременной подаче водорода. Затем в газовую фазу подавали аргон и устанавливали постоянное значение соотношения молярных объемов аргона и водорода n=0,6. Затем в газовую фазу подавали тетрахлорид кремния при молярном соотношении SiCl4/H2=0,008 и выращивали НК кремния. Время выращивания составляло (2-10) мин в зависимости от необходимой длины кристаллов. Выращенные кристаллы были вертикально ориентированы и имели постоянный диаметр по всей длине от подложки до вершины, а конусность составляла К≈1⋅10-3.
Полученные результаты выращивания нитевидных кристаллов постоянного диаметра показаны на фотографии фиг.1.
Пример 2
Выращивание НК проводилось аналогично примеру 1, но в качестве инертного газа использовался азот. Полученные результаты соответствовали результатам примера 1.
Пример 3
Выращивание НК проводилось аналогично примеру 1, но в качестве катализатора выбран палладий и для выращивания использовались двухкомпонентные частицы Pd-Si эвтектического состава (~52% (атомн.) Si). Температура выращивания составляла 895(±2)°С. Выращенные кристаллы были вертикально ориентированы и имели постоянный диаметр по всей длине от подложки до вершины, а конусность составляла К≈1⋅10-3.
Пример 4
Выполнение изобретения осуществлялось аналогично примеру 1, но в качестве катализатора процесса использовались частицы Cu-Si (~30% (атомн.) Si), а соотношение молярных объемов аргона и водорода составляло n=1,5. Температура выращивания составляла 820(±2)°С. Полученные результаты соответствовали результатам примеров 1 -3, а конусность составляла К≈1⋅10-2.
Пример 5
Выращивание НК проводилось аналогично примеру 1, но в качестве катализатора использовались нанодисперсные двухкомпонентные частицы Ag-Si эвтектического состава (~11% (атомн.) Si). Температура выращивания составляла 850(±2)°С. Выращенные кристаллы были вертикально ориентированы и имели постоянный диаметр по всей длине от подложки до вершины, а конусность составляла К≈1⋅10-3.
Пример 6
Выращивание НК проводилось аналогично примеру 1, но в качестве катализатора использовались нанодисперсные двухкомпонентные частицы Au-Si эвтектического состава (~31% (атомн.) Si). Температура выращивания составляла 1000(±2)°С. Выращенные кристаллы были вертикально ориентированы и имели постоянный диаметр по всей длине от подложки до вершины, а конусность составляла К≈1⋅10-3.

Claims (1)

  1. Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния, включающий подготовку кремниевой пластины путем нанесения на ее поверхность частиц катализатора из двухкомпонентного сплава металл-кремний эвтектического состава с последующим помещением в ростовую печь, нагревом, подачей в газовую фазу водорода и тетрахлорида кремния, осаждением кремния из газовой фазы по схеме пар → жидкая капля → кристалл при температуре, минимально превышающей температуру эвтектики, отличающийся тем, что дополнительно в газовую фазу подают инертный газ, устанавливают постоянное значение соотношения молярных объемов инертного газа и водорода n, где n удовлетворяет неравенству n≥0,01, а катализатор выбирают из золота, платины, палладия и серебра.
RU2020122126A 2020-06-29 2020-06-29 Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния RU2750732C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020122126A RU2750732C1 (ru) 2020-06-29 2020-06-29 Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020122126A RU2750732C1 (ru) 2020-06-29 2020-06-29 Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2750732C1 true RU2750732C1 (ru) 2021-07-01

Family

ID=76820119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020122126A RU2750732C1 (ru) 2020-06-29 2020-06-29 Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2750732C1 (ru)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0443920A1 (fr) * 1990-02-23 1991-08-28 Thomson-Csf Procédé de croissance controlée de cristaux aciculaires, et application à la réalisation de microcathodes à pointes
RU2456230C2 (ru) * 2009-12-02 2012-07-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ получения эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов полупроводников постоянного диаметра
RU2617166C1 (ru) * 2015-11-16 2017-04-21 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ выращивания легированных нитевидных нанокристаллов кремния
RU2681037C2 (ru) * 2017-01-11 2019-03-01 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет" Способ выращивания нитевидных нанокристаллов диоксида кремния

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0443920A1 (fr) * 1990-02-23 1991-08-28 Thomson-Csf Procédé de croissance controlée de cristaux aciculaires, et application à la réalisation de microcathodes à pointes
RU2456230C2 (ru) * 2009-12-02 2012-07-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ получения эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов полупроводников постоянного диаметра
RU2617166C1 (ru) * 2015-11-16 2017-04-21 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" Способ выращивания легированных нитевидных нанокристаллов кремния
RU2681037C2 (ru) * 2017-01-11 2019-03-01 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный технический университет" Способ выращивания нитевидных нанокристаллов диоксида кремния

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4188683B2 (ja) 無機フラーレン様ナノ粒子製造のための方法および装置
Zhang et al. Synthesis of thin Si whiskers (nanowires) using SiCl4
JP4512094B2 (ja) 気体透過性の坩堝壁面によるAlN単結晶の製造方法と装置
Messing et al. The use of gold for fabrication of nanowire structures
Weyher Some notes on the growth kinetics and morphology of VLS silicon crystals grown with platinum and gold as liquid-forming agents
Han et al. Controllable III–V nanowire growth via catalyst epitaxy
RU2750732C1 (ru) Способ выращивания нитевидных кристаллов кремния
EP0220174A1 (en) Continuously pulled single crystal silicon ingots
RU2456230C2 (ru) Способ получения эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов полупроводников постоянного диаметра
Colli et al. Deterministic shape-selective synthesis of nanowires, nanoribbons and nanosaws by steady-state vapour-transport
Li et al. Critical review: Growth mechanisms of the self-assembling of silicon wires
Nebol'sin et al. Capillary stability of vapor-liquid-solid crystallization processes and their comparison to Czochralski and Stepanov growth methods
RU2681037C2 (ru) Способ выращивания нитевидных нанокристаллов диоксида кремния
JP4888242B2 (ja) シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法
Chang et al. Growth of ZnO nanowires without catalyst on porous silicon
d’Abbadie et al. Nucleation and growth mechanisms of ZnO heterostructures controlled by temperature and pressure of CVD
Weyher The liquid surface tension as a factor influencing the VLS growth of silicon crystals
KR101855950B1 (ko) 금속 촉매의 형상 제어를 통한 나노와이어 형성 방법
Soam et al. Controlling the geometrical orientation of hot-wire chemical vapor process grown silicon nanowires
KR100447167B1 (ko) 탄소나노튜브의 수직합성 방법
RU2653026C1 (ru) Способ выращивания острийных нитевидных кристаллов кремния
US3607054A (en) Method for extending the growth of vapor-liquid-solid grown crystals
RU2568217C2 (ru) Способ получения массивов наноразмерных нитевидных кристаллов кремния с управляемой поверхностной плотностью
JPS6152120B2 (ru)
Yanase et al. Fe whisker growth revisited: effect of Au catalysis for [021 [combining macron]] oriented nanowires with 100 nm diameter