RU2678499C2 - Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа - Google Patents

Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа Download PDF

Info

Publication number
RU2678499C2
RU2678499C2 RU2017100424A RU2017100424A RU2678499C2 RU 2678499 C2 RU2678499 C2 RU 2678499C2 RU 2017100424 A RU2017100424 A RU 2017100424A RU 2017100424 A RU2017100424 A RU 2017100424A RU 2678499 C2 RU2678499 C2 RU 2678499C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
probe
coordinates
measuring
projection
laser pattern
Prior art date
Application number
RU2017100424A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2017100424A3 (ru
RU2017100424A (ru
Inventor
Юрий Арнольдович Игнатьев
Original Assignee
Юрий Арнольдович Игнатьев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Юрий Арнольдович Игнатьев filed Critical Юрий Арнольдович Игнатьев
Priority to RU2017100424A priority Critical patent/RU2678499C2/ru
Publication of RU2017100424A3 publication Critical patent/RU2017100424A3/ru
Publication of RU2017100424A publication Critical patent/RU2017100424A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2678499C2 publication Critical patent/RU2678499C2/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/20Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к способу измерения объемных координат перемещаемого щупа. В способе измерения объемных координат перемещаемого щупа путем проецирования лазерного паттерна из двух или более пространственных положений на известную геометрическую поверхность регистрация полученной картинки осуществляется через оптическую систему фотоматрицей, которая сама жестко механически связана как с геометрической поверхностью проецирования, так и с измерительным щупом, и позволяет математически рассчитать положение измерительного щупа относительно известных координат и векторов проецирования источников лазерного паттерна. Технический результат – повышение точности в получении координат щупа. 2 ил.

Description

Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа путем проецирования лазерного паттерна из двух или более пространственных положений на известную геометрическую поверхность, отличающийся тем, что регистрация полученной картинки осуществляется через оптическую систему фотоматрицей, которая сама жестко механически связана как с геометрической поверхностью проецирования, так и с измерительным щупом, и позволяет математически рассчитать положение измерительного щупа относительно известных координат и векторов проецирования источников лазерного паттерна. Изобретение относится к способам оптического измерения и может быть применено для сборочных операций габаритных конструкций в машиностроении.
Известен способ измерения координат, когда на поверхность проецируют световую точку и регистрируют ее с другого пространственного положения, а расчет координаты световой точки производят по известным триангуляционным формулам, вводя в расчеты полученный по фотоматрице центр светового пятна и заранее известные координаты светоизлучателя и фотоматрицы, а также их вектора поворота в пространстве [1]. Недостатком этого способа является наличие дорогой оптической системы и недешевых фотоматриц с высоким разрешением.
Технический результат изобретения - это возможность получения координаты щупа с большей точностью на недорогом оборудовании. Сущность изобретения заключается в том, что для достижения указанного технического результата в заявленном способе измерения объемных координат применяется проецирование лазерного паттерна на известную геометрическую поверхность с нескольких направлений, отличающееся тем, что данная геометрическая поверхность и фотоматрица жестко механически связаны как между собой, так и с измерительным щупом.
Техническая сущность способа поясняется схемой (Фиг. 1), где 1 и 2 обозначены лазерные излучатели паттерна. 1а, 1б, 1в - трехлинейный паттерн (в данном случае это плоскости излучения и их пересечение с геометрической поверхностью 3) от лазерного излучателя 1, а 2а - однолинейный паттерн (в данном случае - плоскость излучения) от излучателя 2. Свет от них попадает на полуматовую известную геометрическую поверхность 3 (в данном варианте - плоский квадрат) и образует линии 1а, 1б, 1в, 2а, которые регистрируются фотоматрицей 5 через оптическую систему 4. Измерительный щуп 7, фотоматрица 5, оптическая система 4, геометрическая поверхность 3 жестко связаны между собой кронштейнами 6, образуя единый перемещаемый измерительный блок.
Рассмотрим случай, когда излучатель 1 находится в центре системы координат со смещением по оси Z (вверх), центральная плоскость излучения 16 проходит вдоль оси Y через ноль системы координат, а соседние плоскости излучения 1а и 1в имеют равные и противоположные углы вращения по оси Y. Источник 2 находится близко к источнику 1 и проецирует плоскость 2а вдоль оси X через ноль системы координат. Примем исходное положение геометрической поверхности 3 как лежащей на осях X_Y и в нуле системы координат (Фиг. 1). В этом положении фотоматрица 5 получит изображение как на Фиг. 2а. Линии 1а, 1б, 1в будут параллельны и иметь одинаковое расстояние между соседними линиями. Линия 2а будет перпендикулярна 1а, 1б, 1в. Если мы переместим измерительный блок вдоль оси Z (навстречу излучателям 1 и 2), то получим изображение как на Фиг. 2б, где расстояния между соседними линиями 1а-1б и 1б-1в будут тем меньше (по сравнению с Фиг. 2а), чем измерительный блок будет ближе к излучателям (очевидно по геометрическим построениям). Если придать вращение измерительному блоку по оси Y, то получим изображение как на Фиг. 2в, где расстояния между соседними линиями 1а-1б и 1б-1в будут отличаться тем больше, чем больше будет угол вращения. Это также очевидно вытекает из простых геометрических построений при сечении геометрической поверхности 3 лазерными плоскостями 1а, 1б, 1в. Если придать вращение измерительному блоку по оси X, то получим изображение как на Фиг. 2г, где линии 1а и 1в будут наклонены относительно линии 1б. Это также вытекает из геометрических построений пересечений плоскостей. Если придать вращение измерительному блоку по оси Z, то получим изображение как на Фиг. 2д, где линии 1а, 1б, 1в параллельны и с равным расстоянием, но повернуты относительно рамки фотоматрицы. Перемещения измерительного блока вдоль осей X и Y дают похожую на Фиг. 2а картинку, но со смещением линий 1а, 1б, 1в, 2а относительно центра фотоматрицы.
Пусть исходная координата щупа 7 будет XYZ=(0,0,0) и совпадает с центром геометрической поверхности 3. Пусть излучатели 1 и 2 находятся в точке (0,0,1000) и вектора нормалей плоскостей излучения паттерна 1а, 1б, 1в, 2а будут соответственно (-1, 0, 1), (1, 0, 0), (1, 0, 1), (0, 1, 1). Тогда при исходном положении измерительного блока в нуле системы координат (центр геометрической поверхности 3 равен (0, 0, 0)) расстояния между 1а-1б и 1б-1в равны между собой = 1000 мм. Если поднять измерительный блок по оси Z на 500 мм, то получим расстояния между 1а-1б и 1б-1в равными 500 мм, а значит, зная вектора нормалей проекционных плоскостей 1а, 1б, 1в (в нашем случае это углы 45 градусов от вертикали), находим координату щупа по правилу треугольника и получаем (0, 0, 500). Как видим, расчет перемещения по оси Z является элементарной функцией измерения расстояния между линиями 1а-1б и 1б-1в.
Перечень фигур: Фиг. 1 - общая аксонометрическая схема изобретения, Фиг. 2а - вид картинки при нулевом положении измерительного блока, Фиг. 2б - вид картинки при положительном смещении измерительного блока вдоль оси Z, Фиг. 2в - вид картинки при повороте измерительного блока по оси Y, Фиг. 2г - вид картинки при повороте измерительного блока по оси X, Фиг. 2д - вид картинки при повороте измерительного блока по оси Z.
Изобретение технически реализуемо, поскольку применяет известные принципы измерений и использует промышленные лазерные источники паттерна (проекторы или дифракционные решетки) и фотоматрицы с объективами.
Литература
[1] http://en.wikipedia.org/wiki/3D_scanner

Claims (1)

  1. Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа путем проецирования лазерного паттерна из двух или более пространственных положений на известную геометрическую поверхность, отличающийся тем, что регистрация полученной картинки осуществляется через оптическую систему фотоматрицей, которая сама жестко механически связана как с геометрической поверхностью проецирования, так и с измерительным щупом, и позволяет математически рассчитать положение измерительного щупа относительно известных координат и векторов проецирования источников лазерного паттерна.
RU2017100424A 2017-01-09 2017-01-09 Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа RU2678499C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017100424A RU2678499C2 (ru) 2017-01-09 2017-01-09 Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017100424A RU2678499C2 (ru) 2017-01-09 2017-01-09 Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2017100424A3 RU2017100424A3 (ru) 2018-07-09
RU2017100424A RU2017100424A (ru) 2018-07-09
RU2678499C2 true RU2678499C2 (ru) 2019-01-29

Family

ID=62814002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017100424A RU2678499C2 (ru) 2017-01-09 2017-01-09 Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2678499C2 (ru)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5365673A (en) * 1991-01-08 1994-11-22 Franz Haimer Multi-coordinate sensing gauge
RU2034509C1 (ru) * 1990-05-25 1995-05-10 Санкт-Петербургский институт текстильной и легкой промышленности им.С.М.Кирова Способ бесконтактного измерения поверхности стопы
RU2208370C2 (ru) * 2001-07-27 2003-07-20 Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна Способ бесконтактного измерения топографии поверхности объекта и устройство для его осуществления
US7111410B2 (en) * 2002-12-13 2006-09-26 Franz Haimer Maschinenbau Kg Centering device, in particular for a probe measuring device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2034509C1 (ru) * 1990-05-25 1995-05-10 Санкт-Петербургский институт текстильной и легкой промышленности им.С.М.Кирова Способ бесконтактного измерения поверхности стопы
US5365673A (en) * 1991-01-08 1994-11-22 Franz Haimer Multi-coordinate sensing gauge
RU2208370C2 (ru) * 2001-07-27 2003-07-20 Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна Способ бесконтактного измерения топографии поверхности объекта и устройство для его осуществления
US7111410B2 (en) * 2002-12-13 2006-09-26 Franz Haimer Maschinenbau Kg Centering device, in particular for a probe measuring device

Also Published As

Publication number Publication date
RU2017100424A3 (ru) 2018-07-09
RU2017100424A (ru) 2018-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110178156B (zh) 包括可调节焦距成像传感器的距离传感器
US10088296B2 (en) Method for optically measuring three-dimensional coordinates and calibration of a three-dimensional measuring device
US9602811B2 (en) Method for optically measuring three-dimensional coordinates and controlling a three-dimensional measuring device
Lilienblum et al. A structured light approach for 3-D surface reconstruction with a stereo line-scan system
JP2017528727A (ja) 2dカメラ画像からの3d画像の生成に当たり3d計量器と併用される拡張現実カメラ
US20130293700A1 (en) Method and apparatus of measuring depth of object by structured light
US10078898B2 (en) Noncontact metrology probe, process for making and using same
JPWO2006013635A1 (ja) 3次元形状計測方法及びその装置
Xu et al. An omnidirectional 3D sensor with line laser scanning
JP2019039909A (ja) 製造中または他の作業中における対象物のライブ計測
Xu et al. 3D multi-directional sensor with pyramid mirror and structured light
WO2016040271A1 (en) Method for optically measuring three-dimensional coordinates and controlling a three-dimensional measuring device
JP2018189497A (ja) 特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置
US20210243423A1 (en) Handheld three dimensional scanner with an autoaperture
Barone et al. Structured light stereo catadioptric scanner based on a spherical mirror
JP2013178174A (ja) 複数の格子を用いた三次元形状計測装置
RU2678499C2 (ru) Способ измерения объемных координат перемещаемого щупа
JP2014134611A (ja) 幾何歪み補正装置、プロジェクタ装置、及び幾何歪み補正方法
JP2017037053A (ja) 多数カメラによる高速度計測方法および装置
Yang et al. Effect of field of view on the accuracy of camera calibration
AKATSUKA et al. Three-dimensional Shape Measurement Using Optimal Number of Phase-shifting Steps Based on Light-source-stepping Method
JP2006308452A (ja) 3次元形状計測方法および装置
De Ruvo et al. An omnidirectional range sensor for environmental 3-D reconstruction
US11085761B2 (en) Determining surface structures of objects
Jin et al. Shadow-Based Lightsource Localization with Direct Camera-Lightsource Geometry

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20190110