RU2586266C2 - Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов - Google Patents

Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов Download PDF

Info

Publication number
RU2586266C2
RU2586266C2 RU2014127447/28A RU2014127447A RU2586266C2 RU 2586266 C2 RU2586266 C2 RU 2586266C2 RU 2014127447/28 A RU2014127447/28 A RU 2014127447/28A RU 2014127447 A RU2014127447 A RU 2014127447A RU 2586266 C2 RU2586266 C2 RU 2586266C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
plate surface
solution
removal
oxide
solar cells
Prior art date
Application number
RU2014127447/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2014127447A (ru
Inventor
Тагир Абдурашидович Исмаилов
Айшат Расуловна Шахмаева
Бийке Алиевна Шангереева
Патимат Расуловна Захарова
Мария Николаевна Литовченко
Азамат Ибрагимович Муртузалиев
Original Assignee
Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) filed Critical Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту)
Priority to RU2014127447/28A priority Critical patent/RU2586266C2/ru
Publication of RU2014127447A publication Critical patent/RU2014127447A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2586266C2 publication Critical patent/RU2586266C2/ru

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Abstract

Изобретение относится к технологии обработки поверхности полупроводниковых пластин, в частности к процессам очистки поверхности пластин между технологическими операциями, для изготовления солнечных элементов. Способ согласно изобретению заключается в том, что с поверхности пластин происходит полное удаление окисла в растворе состоящей из плавиковой кислоты и деионизованной воды, при комнатной температуре раствора. Процесс удаления окисла считается законченным, в том случае, когда раствор скатывается с поверхности обратной стороны кремниевой пластины. Реакция обработки поверхности кремниевой пластины протекает с большой скоростью, длительность процесса составляет не более 20 секунд. При этом не происходит ухудшения качества поверхности кремния. Предлагаемый способ обеспечивает удаление остатков окисла с поверхности обратной стороны перед напылением и способствует улучшению адгезии, благодаря которой увеличивается процент выхода годных кристаллов - 98%. 3 пр.

Description

Изобретение относится к технологии обработки поверхности полупроводниковых пластин, в частности к процессам очистки поверхности пластин между технологическими операциями, для изготовления солнечных элементов.
Известны способы обработки кремниевых пластин перед напылительными процессами: в кислотах, щелочных растворах при температуре 90-100°C, и др. [1].
Основными недостатками этих способов являются неполное удаление окисла, высокая температура и длительность процесса.
Целью изобретения является полное удаление остатка окисла с поверхности обратной стороны кремниевых пластин перед напылением и уменьшение температуры и длительности процесса.
Поставленная цель достигается тем, что удаление окисла перед напылением происходит за счет использования раствора, в состав которого входят фтористоводородная кислота HF и деионизованная вода H2O в следующих соотношениях:
Figure 00000001
Сущность способа заключается в том, что с поверхности пластин происходит полное удаление окисла в растворе, состоящем из плавиковой кислоты и деионизованной воды, при комнатной температуре раствора. Процесс удаления окисла считается законченным, в том случае, когда раствор скатывается с поверхности обратной стороны кремниевой пластины. Реакция обработки поверхности кремниевой пластин протекает с большой скоростью, длительность процесса составляет не более 20 секунд. При этом не происходит ухудшения качества поверхности кремния.
Таким образом, предполагаемый способ по сравнению с прототипом обеспечивает удаление остатков окисла с поверхности обратной стороны перед напылением и способствует улучшению адгезии, благодаря которой увеличивается процент выхода годных кристаллов - 98%.
Сущность изобретения подтверждается следующими примерами:
ПРИМЕР 1. Процесс проводят на установке химической обработки в одной ванне с последующей отмывкой в деионизованной воде при соотношении компонентов:
Figure 00000002
Температура раствора комнатная. Время обработки 60 секунд. Процент выхода годных кристаллов составляет 92%.
ПРИМЕР 2. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят на установке химической обработки в одной ванне с последующей отмывкой в деионизованной воде при соотношении компонентов:
Figure 00000003
Температура раствора комнатная. Время обработки равно 40 секунд. Процент выхода годных кристаллов составляет 95%.
ПРИМЕР 3. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят на установке химической обработки в одной ванне с последующей отмывкой в деионизованной воде при соотношении компонентов:
Figure 00000004
Температура раствора комнатная. Время обработки равно 20 секунд. Процент выхода годных кристаллов составляет 98%.
Таким образом, предполагаемый способ по сравнению с прототипом обеспечивает полное удаление остатка окисла с поверхности обратной стороны кремниевой пластины перед напылением и способствует улучшению адгезии, благодаря которой увеличивается процент выхода годных кристаллов с 93 до 98%.
Литература
1. Курносов А.И., Юдин В.В. Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, М: «Высшая школа», 1986, с.177-178.

Claims (1)

  1. Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов, включающий травление кремния с полным удалением остатков окисла с поверхности обратной стороны кремниевой пластины, перед напылением обратной стороны, отличающийся тем, что в качестве травителя используется раствор, в состав которого входят фтористоводородная кислота и деионизованная вода, компоненты раствора выбираются в следующем соотношении:
    Figure 00000001
RU2014127447/28A 2014-07-04 2014-07-04 Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов RU2586266C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014127447/28A RU2586266C2 (ru) 2014-07-04 2014-07-04 Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2014127447/28A RU2586266C2 (ru) 2014-07-04 2014-07-04 Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2014127447A RU2014127447A (ru) 2016-01-27
RU2586266C2 true RU2586266C2 (ru) 2016-06-10

Family

ID=55237201

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014127447/28A RU2586266C2 (ru) 2014-07-04 2014-07-04 Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2586266C2 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4758525A (en) * 1985-07-15 1988-07-19 Hitachi, Ltd. Method of making light-receiving diode
SU1830229A3 (ru) * 1990-07-20 1996-12-10 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН Способ изготовления кремниевых структур
US7241700B1 (en) * 2004-10-20 2007-07-10 Advanced Micro Devices, Inc. Methods for post offset spacer clean for improved selective epitaxy silicon growth
RU2376675C1 (ru) * 2008-07-17 2009-12-20 Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Способ первичного отжига для обработки карбид-кремниевой трубы
RU2395867C2 (ru) * 2008-10-06 2010-07-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) (СПбГЭТУ) ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ СЭНДВИЧ-СТРУКТУРА 3С-SiC/Si, СПОСОБ ЕЕ ПОЛУЧЕНИЯ И ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ МЕМБРАННОГО ТИПА С ЕЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ
RU2419175C2 (ru) * 2009-06-29 2011-05-20 Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Способ обработки подложек в жидкостном травителе

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4758525A (en) * 1985-07-15 1988-07-19 Hitachi, Ltd. Method of making light-receiving diode
SU1830229A3 (ru) * 1990-07-20 1996-12-10 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН Способ изготовления кремниевых структур
US7241700B1 (en) * 2004-10-20 2007-07-10 Advanced Micro Devices, Inc. Methods for post offset spacer clean for improved selective epitaxy silicon growth
RU2376675C1 (ru) * 2008-07-17 2009-12-20 Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Способ первичного отжига для обработки карбид-кремниевой трубы
RU2395867C2 (ru) * 2008-10-06 2010-07-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина) (СПбГЭТУ) ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ СЭНДВИЧ-СТРУКТУРА 3С-SiC/Si, СПОСОБ ЕЕ ПОЛУЧЕНИЯ И ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ МЕМБРАННОГО ТИПА С ЕЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ
RU2419175C2 (ru) * 2009-06-29 2011-05-20 Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Способ обработки подложек в жидкостном травителе

Also Published As

Publication number Publication date
RU2014127447A (ru) 2016-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
MX2018014328A (es) Metodo para preparar estructura texturizada de celda solar de silicio cristalino.
JP2013541212A5 (ru)
JP2019510379A5 (ru)
US6526995B1 (en) Brushless multipass silicon wafer cleaning process for post chemical mechanical polishing using immersion
SG152158A1 (en) Method for cleaning silicon wafer
WO2019067923A3 (en) Stripper solutions and methods of using stripper solutions
WO2012045216A1 (zh) 一种晶体硅rie制绒的表面损伤层清洗工艺
JP2016063226A5 (ru)
JPWO2009044647A1 (ja) シリコンエッチング液およびエッチング方法
TW200902705A (en) Process for cleaning a semiconductor wafer using a cleaning solution
CN102364697B (zh) 一种去除rie制绒后晶体硅表面的微损伤层的方法
TWI612602B (zh) 製程分離型基板處理裝置及處理方法
RU2586266C2 (ru) Способ обработки поверхности пластин для формирования солнечных элементов
RU2534444C2 (ru) Способ удаления окисла с поверхности кремниевых пластин
WO2012001874A1 (ja) 太陽電池基板用半導体ウェーハの洗浄方法
CN103646871A (zh) 一种提高非晶硅表面氧化层均匀性的方法
TW200833824A (en) Solution for removing residue after semiconductor dry process and method of removing the residue using the same
RU2403648C1 (ru) Способ выявления эпитаксиальных дефектов дислокаций
RU2376676C1 (ru) Способ обработки кристаллов кремния
RU2786369C2 (ru) СПОСОБ ОБРАБОТКИ ПЕРЕД НАПЫЛЕНИЕМ ТИТАН-ГЕРМАНИЙ (Ti-Ge)
CN101699615A (zh) 一种浸蚀硅片方法
WO2016032856A3 (en) Sequential etching treatment for solar cell fabrication
KR102109893B1 (ko) 접합 웨이퍼의 제조방법
TW200733209A (en) Method for suppressing oxide growth while performing wet cleaning sequence on semiconductor device on semiconductor substrate
RU2359357C1 (ru) Способы обработки поверхности пластин перед нанесением полиимида

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20160705